JPH06123732A - 渦流式探傷プローブ - Google Patents
渦流式探傷プローブInfo
- Publication number
- JPH06123732A JPH06123732A JP4272896A JP27289692A JPH06123732A JP H06123732 A JPH06123732 A JP H06123732A JP 4272896 A JP4272896 A JP 4272896A JP 27289692 A JP27289692 A JP 27289692A JP H06123732 A JPH06123732 A JP H06123732A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coils
- eddy current
- exciting
- detection
- coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 励磁により発生する磁界の影響を減少させ、
本来の欠陥検出に係わる信号成分を良好に検知し、それ
により欠陥検出性能を向上させうる渦流式探傷プローブ
を提供する。 【構成】 励磁用一次コイル（２，２ａ，２ｂ）および
これとほぼ同一径の検出用二次コイル（３，３ａ，３
ｂ）を共通の軸心上に軸方向に並置した渦流式探傷プロ
ーブ。
本来の欠陥検出に係わる信号成分を良好に検知し、それ
により欠陥検出性能を向上させうる渦流式探傷プローブ
を提供する。 【構成】 励磁用一次コイル（２，２ａ，２ｂ）および
これとほぼ同一径の検出用二次コイル（３，３ａ，３
ｂ）を共通の軸心上に軸方向に並置した渦流式探傷プロ
ーブ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は励磁用一次コイルおよび
検出用二次コイルを有する渦流式探傷プローブに関する
ものである。
検出用二次コイルを有する渦流式探傷プローブに関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】渦流探傷試験に使用される渦流式探傷プ
ローブには、社団法人日本非破壊検査協会発行の渦流探
傷試験II（１９８９）の図５．６に示されているよう
に、一般に自己誘導形試験コイルを用いるものと相互誘
導形試験コイルを用いるものとの２種類がある。いずれ
にしても、同図に示されているように、励磁用一次コイ
ルと被検査体との間に検出用二次コイルが位置するよう
に構成されるのが普通である。
ローブには、社団法人日本非破壊検査協会発行の渦流探
傷試験II（１９８９）の図５．６に示されているよう
に、一般に自己誘導形試験コイルを用いるものと相互誘
導形試験コイルを用いるものとの２種類がある。いずれ
にしても、同図に示されているように、励磁用一次コイ
ルと被検査体との間に検出用二次コイルが位置するよう
に構成されるのが普通である。
【０００３】図６は従来の相互誘導形試験コイルを備え
た渦流式探傷プローブを示すものである。プローブボビ
ン１０１に円筒形の励磁用一次コイル１０２が巻装され
ている。この励磁用一次コイル１０２の外周上に同軸的
に軸方向に並置された２組の検出用二次コイル１０３ａ
および１０３ｂが全体として一次コイル１０２に対して
同心的に巻装されている。このようなコイルを有する探
傷プローブは円筒形の被検査体１０４の中に配置され、
軸方向に移動しながら渦流探傷試験を行う。
た渦流式探傷プローブを示すものである。プローブボビ
ン１０１に円筒形の励磁用一次コイル１０２が巻装され
ている。この励磁用一次コイル１０２の外周上に同軸的
に軸方向に並置された２組の検出用二次コイル１０３ａ
および１０３ｂが全体として一次コイル１０２に対して
同心的に巻装されている。このようなコイルを有する探
傷プローブは円筒形の被検査体１０４の中に配置され、
軸方向に移動しながら渦流探傷試験を行う。
【０００４】一次コイル１０２には発振器５から出力増
幅器６を介して探傷に適した周波数および振幅の励磁電
流が供給される。二次コイル１０３ａ，１０３ｂはそれ
ぞれ外部に引き出されてブリッジ回路７に接続されてい
る。常時は両二次コイル１０３ａ，１０３ｂの出力信号
は平衡しており、したがってブリッジ回路７もまた平衡
しており、その出力はゼロである。被検査体１０４に欠
陥が存在する等により検出用二次コイル１０３ａ，１０
３ｂの出力信号に不平衡が生ずると、その不平衡分が位
相検波器８に検知され出力される。
幅器６を介して探傷に適した周波数および振幅の励磁電
流が供給される。二次コイル１０３ａ，１０３ｂはそれ
ぞれ外部に引き出されてブリッジ回路７に接続されてい
る。常時は両二次コイル１０３ａ，１０３ｂの出力信号
は平衡しており、したがってブリッジ回路７もまた平衡
しており、その出力はゼロである。被検査体１０４に欠
陥が存在する等により検出用二次コイル１０３ａ，１０
３ｂの出力信号に不平衡が生ずると、その不平衡分が位
相検波器８に検知され出力される。
【０００５】この種の探傷プローブにおいては、図７に
示すように励磁用一次コイル１０２に励磁電流を流すこ
とによって被検査体１０４のコイル周辺に励磁磁束１０
９を生じさせることにより、被検査体１０４中に渦電流
１１０を生じさせる。渦電流１１０の周囲には、励磁用
一次コイル１０２による励磁磁束１０９とは逆向きの渦
電流磁束１１１が生ずることになる。ところが、渦電流
１１０の振幅は被検査体１０４中の欠陥の有無等の物理
的要因に依存して変化する。この渦電流１１０の振幅変
化の結果として生ずる渦電流磁束１１１の変化を、両検
出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂの出力信号の不平衡
として検知することにより欠陥検査を行うことができ
る。
示すように励磁用一次コイル１０２に励磁電流を流すこ
とによって被検査体１０４のコイル周辺に励磁磁束１０
９を生じさせることにより、被検査体１０４中に渦電流
１１０を生じさせる。渦電流１１０の周囲には、励磁用
一次コイル１０２による励磁磁束１０９とは逆向きの渦
電流磁束１１１が生ずることになる。ところが、渦電流
１１０の振幅は被検査体１０４中の欠陥の有無等の物理
的要因に依存して変化する。この渦電流１１０の振幅変
化の結果として生ずる渦電流磁束１１１の変化を、両検
出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂの出力信号の不平衡
として検知することにより欠陥検査を行うことができ
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の渦流式探傷プローブには以下に述べるような不
都合があった。
た従来の渦流式探傷プローブには以下に述べるような不
都合があった。
【０００７】欠陥検出の際、励磁用一次コイル１０２に
よって生ずる磁界のため、検出用二次コイル１０３ａ，
１０３ｂには励磁磁束１０９によって常に起電力が生じ
ており、その状態のままさらに渦電流１１０によって生
じた渦電流磁束１１１の変化を検出する必要がある。す
なわち、検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂは常に励
磁周波数ｆ１の交流バイアスがかかった状態のもとで被
検査体１０４の欠陥による微小な欠陥信号を検出する必
要がある。ここで励磁周波数ｆ１と、探傷プローブの移
動に伴い渦電流１１０が変化して生ずる磁界の変化周波
数ｆ２とは一般に異なるため、平滑作用や位相検波によ
って周波数ｆ１の影響を排除して周波数ｆ２の成分のみ
を抽出することになるが、周波数ｆ１と周波数ｆ２とが
接近している場合や、周波数ｆ１の信号に対して周波数
ｆ２の信号が極端に微小である場合など、検出が困難に
なる場合が多かった。
よって生ずる磁界のため、検出用二次コイル１０３ａ，
１０３ｂには励磁磁束１０９によって常に起電力が生じ
ており、その状態のままさらに渦電流１１０によって生
じた渦電流磁束１１１の変化を検出する必要がある。す
なわち、検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂは常に励
磁周波数ｆ１の交流バイアスがかかった状態のもとで被
検査体１０４の欠陥による微小な欠陥信号を検出する必
要がある。ここで励磁周波数ｆ１と、探傷プローブの移
動に伴い渦電流１１０が変化して生ずる磁界の変化周波
数ｆ２とは一般に異なるため、平滑作用や位相検波によ
って周波数ｆ１の影響を排除して周波数ｆ２の成分のみ
を抽出することになるが、周波数ｆ１と周波数ｆ２とが
接近している場合や、周波数ｆ１の信号に対して周波数
ｆ２の信号が極端に微小である場合など、検出が困難に
なる場合が多かった。
【０００８】検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂによ
って得られる周波数ｆ１の検出信号成分の振幅は、励磁
用一次コイル１０２に流す励磁電流、および励磁用一次
コイル１０２と検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂと
の間の相互インダクタンスに大きく依存する。従来装置
では励磁用一次コイル１０２と被検査体１０４との間に
検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂが位置するため被
検査体１０４と励磁用一次コイル１０２とを近付けるの
には限界があり、検査に必要な大きさの渦電流を流し検
出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂに所望の大きさの検
出信号を得るためには、より大きな励磁電流を流す必要
がある。また、励磁用一次コイル１０２と検出用二次コ
イル１０３ａ，１０３ｂの両者が半径方向に接近して配
置されるため、検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂは
励磁用一次コイル１０２による磁界の中に入ってしま
い、より大きな渦電流を得るべく両者間の相互インダク
タンスを小さくすることも困難である。
って得られる周波数ｆ１の検出信号成分の振幅は、励磁
用一次コイル１０２に流す励磁電流、および励磁用一次
コイル１０２と検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂと
の間の相互インダクタンスに大きく依存する。従来装置
では励磁用一次コイル１０２と被検査体１０４との間に
検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂが位置するため被
検査体１０４と励磁用一次コイル１０２とを近付けるの
には限界があり、検査に必要な大きさの渦電流を流し検
出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂに所望の大きさの検
出信号を得るためには、より大きな励磁電流を流す必要
がある。また、励磁用一次コイル１０２と検出用二次コ
イル１０３ａ，１０３ｂの両者が半径方向に接近して配
置されるため、検出用二次コイル１０３ａ，１０３ｂは
励磁用一次コイル１０２による磁界の中に入ってしま
い、より大きな渦電流を得るべく両者間の相互インダク
タンスを小さくすることも困難である。
【０００９】そこで本発明は、励磁により発生する磁界
の影響を減少させ、本来の欠陥検出に係わる信号成分を
良好に検知し、それにより欠陥検出性能を向上させうる
渦流式探傷プローブを提供することを目的とする。
の影響を減少させ、本来の欠陥検出に係わる信号成分を
良好に検知し、それにより欠陥検出性能を向上させうる
渦流式探傷プローブを提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の渦流式探傷プローブは、励磁用一次コイルお
よびこれとほぼ同一径の検出用二次コイルを共通の軸心
上に軸方向に並置したものである。
に本発明の渦流式探傷プローブは、励磁用一次コイルお
よびこれとほぼ同一径の検出用二次コイルを共通の軸心
上に軸方向に並置したものである。
【００１１】
【作用】本発明の渦流式探傷プローブにおいては、励磁
用一次コイルと検出用二次コイルとを軸方向に並置する
ことによって両コイル間の相互インダクタンスを小さく
し、それにより励磁電流によって生ずる磁界による検出
コイルへの影響を小さくし、渦電流によって発生する磁
束すなわち被検査体の欠陥検出に係る磁束を効率よく検
出することができる。
用一次コイルと検出用二次コイルとを軸方向に並置する
ことによって両コイル間の相互インダクタンスを小さく
し、それにより励磁電流によって生ずる磁界による検出
コイルへの影響を小さくし、渦電流によって発生する磁
束すなわち被検査体の欠陥検出に係る磁束を効率よく検
出することができる。
【００１２】より良好な検出性能を達成するためには、
両コイルの巻幅および間隔を、使用周波数、被検査体の
肉厚および材質等の条件を考慮して適宜定めればよい。
両コイルの巻幅および間隔を、使用周波数、被検査体の
肉厚および材質等の条件を考慮して適宜定めればよい。
【００１３】励磁用一次コイルを２つの単位一次コイル
に分割して軸方向に並置し、両単位一次コイルの間に検
出用二次コイルを配置することによって、各励磁コイル
からの磁界によって発生した渦電流を中間部分に配置し
た検出用二次コイルが効率よく検出することができる。
さらに、検出用二次コイルを２つの単位二次コイルに分
割して軸方向に並置し、両単位二次コイルの間に励磁用
一次コイルを配置することも可能であり、この場合は、
各励磁コイルによって発生した磁界によって生ずる渦電
流を両端の検出用二次コイルが検出するため、励磁用一
次コイルを分割した場合に比べて磁界の乱れが少なく、
安定した探傷検査を行うことができる。
に分割して軸方向に並置し、両単位一次コイルの間に検
出用二次コイルを配置することによって、各励磁コイル
からの磁界によって発生した渦電流を中間部分に配置し
た検出用二次コイルが効率よく検出することができる。
さらに、検出用二次コイルを２つの単位二次コイルに分
割して軸方向に並置し、両単位二次コイルの間に励磁用
一次コイルを配置することも可能であり、この場合は、
各励磁コイルによって発生した磁界によって生ずる渦電
流を両端の検出用二次コイルが検出するため、励磁用一
次コイルを分割した場合に比べて磁界の乱れが少なく、
安定した探傷検査を行うことができる。
【００１４】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明をより詳細
に説明する。
に説明する。
【００１５】図１は本発明に係る渦流式探傷プローブの
一実施例を付属の電気回路と共に示すものである。
一実施例を付属の電気回路と共に示すものである。
【００１６】図１（ａ）に示すように、励磁用一次コイ
ルおよび検出用二次コイルは共に同一構造の２組のコイ
ル２ａ，２ｂ，３ａ，３ｂに分割され、これらのコイル
は、２組の励磁用一次コイル２ａ，２ｂの中間に２組の
検出用二次コイル３ａ，３ｂが位置するようにプローブ
ボビン１に対し同軸的に軸方向に相互間隔Ｓで並置され
ている。励磁用一次コイル２ａ，２ｂおよび検出用二次
コイル３ａ，３ｂは共にほぼ同一の外径を有し、双方の
コイルの軸方向の中間点Ｏで左右対称にるように配置さ
れている。両コイル２ａ，２ｂおよび３ａ，３ｂはそれ
ぞれ被検査体４の寸法に応じて、軸方向寸法が１〜３mm
程度、直径が８〜３０mm程度である。
ルおよび検出用二次コイルは共に同一構造の２組のコイ
ル２ａ，２ｂ，３ａ，３ｂに分割され、これらのコイル
は、２組の励磁用一次コイル２ａ，２ｂの中間に２組の
検出用二次コイル３ａ，３ｂが位置するようにプローブ
ボビン１に対し同軸的に軸方向に相互間隔Ｓで並置され
ている。励磁用一次コイル２ａ，２ｂおよび検出用二次
コイル３ａ，３ｂは共にほぼ同一の外径を有し、双方の
コイルの軸方向の中間点Ｏで左右対称にるように配置さ
れている。両コイル２ａ，２ｂおよび３ａ，３ｂはそれ
ぞれ被検査体４の寸法に応じて、軸方向寸法が１〜３mm
程度、直径が８〜３０mm程度である。
【００１７】一次コイル２ａ，２ｂには発振器５から出
力増幅器６を介して所定の周波数および振幅の励磁電流
が供給される。二次コイル３ａ，３ｂの出力端はそれぞ
れ外部に引き出されブリッジ回路７に接続されている。
二次コイル３ａ，３ｂの不平衡出力がブリッジ回路７お
よび位相検波器８を介してに検知され欠陥検出信号とし
て出力される。
力増幅器６を介して所定の周波数および振幅の励磁電流
が供給される。二次コイル３ａ，３ｂの出力端はそれぞ
れ外部に引き出されブリッジ回路７に接続されている。
二次コイル３ａ，３ｂの不平衡出力がブリッジ回路７お
よび位相検波器８を介してに検知され欠陥検出信号とし
て出力される。
【００１８】この場合、図１（ｂ）に示すように、励磁
用一次コイル２ａ，２ｂに出力増幅器６から励磁電流が
供給されることによって、コイルの周辺には被検査体４
に作用する励磁磁束９ａ，９ｂが生じ、それにより被検
査体４に渦電流１０ａ，１０ｂが発生する。渦電流１０
ａ，１０ｂの周囲には励磁用一次コイル２ａ，２ｂによ
る磁界とは逆向きの渦電流磁束１１ａ，１１ｂが生ずる
ことになる。この渦電流１０ａ，１０ｂが被検査体４に
存在する欠陥等の物理的要因によって変化し、結果とし
て生ずる磁界の変化を検出用二次コイル３ａ，３ｂの出
力変化として検出することにより欠陥検査を行うことが
できる。
用一次コイル２ａ，２ｂに出力増幅器６から励磁電流が
供給されることによって、コイルの周辺には被検査体４
に作用する励磁磁束９ａ，９ｂが生じ、それにより被検
査体４に渦電流１０ａ，１０ｂが発生する。渦電流１０
ａ，１０ｂの周囲には励磁用一次コイル２ａ，２ｂによ
る磁界とは逆向きの渦電流磁束１１ａ，１１ｂが生ずる
ことになる。この渦電流１０ａ，１０ｂが被検査体４に
存在する欠陥等の物理的要因によって変化し、結果とし
て生ずる磁界の変化を検出用二次コイル３ａ，３ｂの出
力変化として検出することにより欠陥検査を行うことが
できる。
【００１９】その場合、励磁用一次コイル２ａ，２ｂに
よって生じた励磁磁束９ａ，９ｂが検出用二次コイル３
ａ，３ｂに影響を及ぼし、励磁周波数ｆ１の交流バイア
スが常に検出用二次コイル３ａ，３ｂに加わることにな
ることは既に述べた従来装置の場合と同様であるが、本
発明による渦流式探傷プローブの場合は、励磁用一次コ
イル２ａ，２ｂが検出用二次コイル３ａ，３ｂと半径方
向に重なるような配置関係すなわち同心配置ではなく、
軸方向に並置される同軸配置であるため、励磁磁束９
ａ，９ｂによる被検査体４の渦電流１０ａ，１０ｂを変
えずに、すなわち励磁用一次コイル２ａ，２ｂと被検査
体４との間の間隔を変えずに、励磁用一次コイル２ａ，
２ｂと検出用二次コイル３ａ，３ｂとの間の間隔を変え
ることができる。この間隔変化によって一次・二次両コ
イル間の相互インピーダンスを変化させることは容易で
あり、相互インピーダンスを低下させることによって、
検出用二次コイル３ａ，３ｂに生ずる交流バイアス成分
を低減させることができる。一方、励磁磁束９ａ，９ｂ
によって被検査体４に生じた渦電流１０ａ，１０ｂは被
検査体４の内部を周方向に流れながら比較的長い距離を
伝達されることから、検出用二次コイル３ａ，３ｂは励
磁用一次コイル２ａ，２ｂからの交流バイアスの影響が
十分低下する距離、例えば、両コイルの軸方向寸法に対
応して０．５〜１５０mm程度の距離だけ離しても、周波
数ｆ２の渦電流磁束１１ａ，１１ｂの変化を検知するこ
とができる。この結果、周波数ｆ２成分に対する周波数
ｆ１成分の占める割合が減少する。すなわち、本発明に
よる探傷プローブにおいては励磁用一次コイル２ａ，２
ｂから発生する直接的な磁束９ａ，９ｂの影響を排除
し、渦電流１０ａ，１０ｂの変化によって生ずる間接的
な磁束１１ａ，１１ｂを良好に検出することができる。
よって生じた励磁磁束９ａ，９ｂが検出用二次コイル３
ａ，３ｂに影響を及ぼし、励磁周波数ｆ１の交流バイア
スが常に検出用二次コイル３ａ，３ｂに加わることにな
ることは既に述べた従来装置の場合と同様であるが、本
発明による渦流式探傷プローブの場合は、励磁用一次コ
イル２ａ，２ｂが検出用二次コイル３ａ，３ｂと半径方
向に重なるような配置関係すなわち同心配置ではなく、
軸方向に並置される同軸配置であるため、励磁磁束９
ａ，９ｂによる被検査体４の渦電流１０ａ，１０ｂを変
えずに、すなわち励磁用一次コイル２ａ，２ｂと被検査
体４との間の間隔を変えずに、励磁用一次コイル２ａ，
２ｂと検出用二次コイル３ａ，３ｂとの間の間隔を変え
ることができる。この間隔変化によって一次・二次両コ
イル間の相互インピーダンスを変化させることは容易で
あり、相互インピーダンスを低下させることによって、
検出用二次コイル３ａ，３ｂに生ずる交流バイアス成分
を低減させることができる。一方、励磁磁束９ａ，９ｂ
によって被検査体４に生じた渦電流１０ａ，１０ｂは被
検査体４の内部を周方向に流れながら比較的長い距離を
伝達されることから、検出用二次コイル３ａ，３ｂは励
磁用一次コイル２ａ，２ｂからの交流バイアスの影響が
十分低下する距離、例えば、両コイルの軸方向寸法に対
応して０．５〜１５０mm程度の距離だけ離しても、周波
数ｆ２の渦電流磁束１１ａ，１１ｂの変化を検知するこ
とができる。この結果、周波数ｆ２成分に対する周波数
ｆ１成分の占める割合が減少する。すなわち、本発明に
よる探傷プローブにおいては励磁用一次コイル２ａ，２
ｂから発生する直接的な磁束９ａ，９ｂの影響を排除
し、渦電流１０ａ，１０ｂの変化によって生ずる間接的
な磁束１１ａ，１１ｂを良好に検出することができる。
【００２０】以上の実施例においては励磁用一次コイル
および検出用二次コイルをそれぞれ２組ずつ設けるもの
として説明したが、実はそれぞれ１組であっても上述の
ことは全く同様に妥当するものである。
および検出用二次コイルをそれぞれ２組ずつ設けるもの
として説明したが、実はそれぞれ１組であっても上述の
ことは全く同様に妥当するものである。
【００２１】ところで、図１に示した実施例では、励磁
用一次コイル２ａ，２ｂが検出用二次コイル３ａ，３ｂ
の両側に分割して配置されているために、２組の励磁用
一次コイル２ａ，２ｂにより発生された渦電流１０ａ，
１０ｂが両コイル２ａ，２ｂの中間部分で重畳されるこ
とになる。そのため、渦電流１０ａ，１０ｂの流れに乱
れを生じ、特に両一次コイル２ａ，２ｂの条件、例えば
巻数や、配置、巻ムラ等に差異がある場合、不規則な乱
れが生ずることになるさらに、例えば励磁用一次コイル
２ａと検出用二次コイル３ａとの間に欠陥等が存在した
場合でも、検出用二次コイル３ａには反対側の励磁用一
次コイル２ｂによって発生した渦電流による渦電流磁束
１１ｂが常に印加されているため、欠陥の存在による渦
電流磁束１１ｂの変化分を検出する感度が低下すること
になる。
用一次コイル２ａ，２ｂが検出用二次コイル３ａ，３ｂ
の両側に分割して配置されているために、２組の励磁用
一次コイル２ａ，２ｂにより発生された渦電流１０ａ，
１０ｂが両コイル２ａ，２ｂの中間部分で重畳されるこ
とになる。そのため、渦電流１０ａ，１０ｂの流れに乱
れを生じ、特に両一次コイル２ａ，２ｂの条件、例えば
巻数や、配置、巻ムラ等に差異がある場合、不規則な乱
れが生ずることになるさらに、例えば励磁用一次コイル
２ａと検出用二次コイル３ａとの間に欠陥等が存在した
場合でも、検出用二次コイル３ａには反対側の励磁用一
次コイル２ｂによって発生した渦電流による渦電流磁束
１１ｂが常に印加されているため、欠陥の存在による渦
電流磁束１１ｂの変化分を検出する感度が低下すること
になる。
【００２２】図２（ａ）の実施例は上述の不都合を除去
すべくなされたものであり、１組の励磁用一次コイル２
を２組の検出用二次コイル３ａ，３ｂの間に配設してい
る。この実施例によれば、励磁用一次コイル２は１つし
かないため、上述の渦電流の重畳や他の励磁用一次コイ
ルによる渦電流磁束のバイアスがかかることがないた
め、感度の良好な検査を実現することができる。
すべくなされたものであり、１組の励磁用一次コイル２
を２組の検出用二次コイル３ａ，３ｂの間に配設してい
る。この実施例によれば、励磁用一次コイル２は１つし
かないため、上述の渦電流の重畳や他の励磁用一次コイ
ルによる渦電流磁束のバイアスがかかることがないた
め、感度の良好な検査を実現することができる。
【００２３】図２（ｂ）に示すように、この実施例で
は、励磁用一次コイル２によって励磁磁束９が発生し、
被検査体４に渦電流１０が生ずることになる。渦電流１
０によって発生する渦電流磁束１１は励磁用一次コイル
２の両側に配置された検出用二次コイル３ａ，３ｂによ
ってそれぞれ検出される。その際、励磁用一次コイル２
と検出用二次コイル３ａ，３ｂとの間の間隔を適当に選
択することによって、励磁磁束９の影響を少なくして渦
電流磁束１１の検出感度を向上させることができるのは
前述の通りである。この場合、渦電流１０は励磁用一次
コイル２によってのみ発生させられるため、渦電流１０
の変化はコイルの条件に依存せず、被検査体４の物理的
条件、例えば欠陥の存在等を効率的に検出することがで
きる。
は、励磁用一次コイル２によって励磁磁束９が発生し、
被検査体４に渦電流１０が生ずることになる。渦電流１
０によって発生する渦電流磁束１１は励磁用一次コイル
２の両側に配置された検出用二次コイル３ａ，３ｂによ
ってそれぞれ検出される。その際、励磁用一次コイル２
と検出用二次コイル３ａ，３ｂとの間の間隔を適当に選
択することによって、励磁磁束９の影響を少なくして渦
電流磁束１１の検出感度を向上させることができるのは
前述の通りである。この場合、渦電流１０は励磁用一次
コイル２によってのみ発生させられるため、渦電流１０
の変化はコイルの条件に依存せず、被検査体４の物理的
条件、例えば欠陥の存在等を効率的に検出することがで
きる。
【００２４】図３（ａ）および（ｂ）は、それぞれ図１
および図２に示した実施例における励磁用一次コイル２
ないし２ａ，２ｂと検出用二次コイル３ないし３ａ，３
ｂとの間に磁気シールド１２を配設した実施例を示すも
のである。磁気シールド１２は例えば鉄、鉄合金、パー
マロイ、センアロイ、フェライト等の高透磁率材料によ
って作られる。励磁用一次コイルから発生する励磁磁束
が検出用二次コイルのバイアスとなって検出感度を低下
させることは既に述べた通りである。この実施例におい
ては、励磁用一次コイルと検出用二次コイルとの間に磁
気シールド１２を配設することによって、励磁磁束９の
検出用二次コイルへの影響をさらに減少させたものであ
って、渦電流磁束１１の変化をより高感度に検出するこ
とができる。
および図２に示した実施例における励磁用一次コイル２
ないし２ａ，２ｂと検出用二次コイル３ないし３ａ，３
ｂとの間に磁気シールド１２を配設した実施例を示すも
のである。磁気シールド１２は例えば鉄、鉄合金、パー
マロイ、センアロイ、フェライト等の高透磁率材料によ
って作られる。励磁用一次コイルから発生する励磁磁束
が検出用二次コイルのバイアスとなって検出感度を低下
させることは既に述べた通りである。この実施例におい
ては、励磁用一次コイルと検出用二次コイルとの間に磁
気シールド１２を配設することによって、励磁磁束９の
検出用二次コイルへの影響をさらに減少させたものであ
って、渦電流磁束１１の変化をより高感度に検出するこ
とができる。
【００２５】図４は図１の実施例に対する一変形例を示
すものである。この実施例においては、２分割された励
磁用一次コイル２ａ，２ｂの間に非分割の１組の検出用
二次コイル３を配設している。図１の実施例では２組の
検出用二次コイル３ａ，３ｂが設けられていたが、この
場合は１組の検出用二次コイル３の検出出力を、ブリッ
ジ回路を通すことなく、単に増幅器に通すことにより、
その出力信号から絶対値法に基づく渦流式探傷試験を実
施することができる。
すものである。この実施例においては、２分割された励
磁用一次コイル２ａ，２ｂの間に非分割の１組の検出用
二次コイル３を配設している。図１の実施例では２組の
検出用二次コイル３ａ，３ｂが設けられていたが、この
場合は１組の検出用二次コイル３の検出出力を、ブリッ
ジ回路を通すことなく、単に増幅器に通すことにより、
その出力信号から絶対値法に基づく渦流式探傷試験を実
施することができる。
【００２６】図５は図２の実施例に対する一変形例を示
すものである。この実施例においては、２分割された検
出用二次コイル３ａ，３ｂの間に２分割された励磁用一
次コイル２ａ，２ｂを配設している。この場合、２つの
励磁用一次コイル２ａ，２ｂによりその中間部分にわず
かに渦電流を生ずるものの、検出用二次コイル３ａ，３
ｂは励磁用一次コイル２ａ，２ｂの外側に配置されてい
るため、図２の実施例において述べたと同様の作用・効
果を得ることができる。また、コイルを分割したことに
よる乱れの影響はわずかであり、この場合、励磁用一次
コイル２ａ，２ｂと検出用二次コイル３ａ，３ｂとの間
の相互インピーダンスと励磁磁束の大きさを細かく調整
することができるという利点がある。
すものである。この実施例においては、２分割された検
出用二次コイル３ａ，３ｂの間に２分割された励磁用一
次コイル２ａ，２ｂを配設している。この場合、２つの
励磁用一次コイル２ａ，２ｂによりその中間部分にわず
かに渦電流を生ずるものの、検出用二次コイル３ａ，３
ｂは励磁用一次コイル２ａ，２ｂの外側に配置されてい
るため、図２の実施例において述べたと同様の作用・効
果を得ることができる。また、コイルを分割したことに
よる乱れの影響はわずかであり、この場合、励磁用一次
コイル２ａ，２ｂと検出用二次コイル３ａ，３ｂとの間
の相互インピーダンスと励磁磁束の大きさを細かく調整
することができるという利点がある。
【００２７】以上詳述したごとく、本発明によれば、励
磁用一次コイルおよびこれとほぼ同一径の検出用二次コ
イルを共通の軸心上に軸方向に並置することによって、
両コイル間の相互インダクタンスを小さくし、かつ渦電
流によって発生する磁界を効率よく検出することができ
る。
磁用一次コイルおよびこれとほぼ同一径の検出用二次コ
イルを共通の軸心上に軸方向に並置することによって、
両コイル間の相互インダクタンスを小さくし、かつ渦電
流によって発生する磁界を効率よく検出することができ
る。
【００２８】また、２組の励磁用一次コイルとその中間
部に検出用二次コイルを配設することによって、各励磁
用一次コイルからの磁界によって発生した渦電流を中間
部分に巻線した検出用二次コイルが効率よく検出するこ
とができる。さらに、２組の検出用二次コイルとその中
間部に励磁用一次コイルを配設することによって、各励
磁用一次コイルによって発生した磁界によって生じた渦
電流を両端側の検出用二次コイルが検出するため、励磁
用一次コイルを分割した場合に比べ磁界の乱れが少な
く、安定した探傷試験を行うことができる。
部に検出用二次コイルを配設することによって、各励磁
用一次コイルからの磁界によって発生した渦電流を中間
部分に巻線した検出用二次コイルが効率よく検出するこ
とができる。さらに、２組の検出用二次コイルとその中
間部に励磁用一次コイルを配設することによって、各励
磁用一次コイルによって発生した磁界によって生じた渦
電流を両端側の検出用二次コイルが検出するため、励磁
用一次コイルを分割した場合に比べ磁界の乱れが少な
く、安定した探傷試験を行うことができる。
【００２９】検出用二次コイルと励磁用一次コイルとの
間に磁気シールドを配設することにより、両コイル間の
相互インダクタンスがさらに低下し、検出性能がさらに
向上する。
間に磁気シールドを配設することにより、両コイル間の
相互インダクタンスがさらに低下し、検出性能がさらに
向上する。
【００３０】
【発明の効果】このように本発明によれば、励磁用一次
コイルおよびこれとほぼ同一径の検出用二次コイルを共
通の軸心上に軸方向に並置することによって、両コイル
間の相互インダクタンスを小さくし、かつ渦電流によっ
て発生する磁界を効率よく検出することの可能な高感度
の渦流式探傷プローブを提供することができる。
コイルおよびこれとほぼ同一径の検出用二次コイルを共
通の軸心上に軸方向に並置することによって、両コイル
間の相互インダクタンスを小さくし、かつ渦電流によっ
て発生する磁界を効率よく検出することの可能な高感度
の渦流式探傷プローブを提供することができる。
【図１】（ａ）は本発明による渦流式探傷プローブの一
実施例を示す断面図、（ｂ）は同実施例の作用説明図。
実施例を示す断面図、（ｂ）は同実施例の作用説明図。
【図２】（ａ）は本発明による渦流式探傷プローブの他
の実施例を示す断面図、（ｂ）は同実施例の作用説明
図。
の実施例を示す断面図、（ｂ）は同実施例の作用説明
図。
【図３】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明による渦流式
探傷プローブにおいて一次コイルと二次コイルとの間に
磁気シールドを配設した実施例を示す図。
探傷プローブにおいて一次コイルと二次コイルとの間に
磁気シールドを配設した実施例を示す図。
【図４】２組の励磁用一次コイルの間に１組の検出用二
次コイルを配設した実施例を示す図。
次コイルを配設した実施例を示す図。
【図５】２組の検出用二次コイルの間に２組の励磁用一
次コイルを配設した実施例を示す図。
次コイルを配設した実施例を示す図。
【図６】従来の渦流式探傷プローブの断面図。
【図７】図６の探傷プローブの作用説明図。
１ プローブボビン ２，２ａ，２ｂ 励磁用一次コイル ３，３ａ，３ｂ 検出用二次コイル ４ 被検査体 ５ 発振器 ６ 出力増幅器 ７ ブリッジ回路 ８ 位相検波器 ９，９ａ，９ｂ 励磁磁束 １０，１０ａ，１０ｂ 渦電流 １１，１１ａ，１１ｂ 渦電流磁束
Claims (5)
- 【請求項１】励磁用一次コイルおよびこれとほぼ同一径
の検出用二次コイルを共通の軸心上に軸方向に並置した
渦流式探傷プローブ。 - 【請求項２】前記励磁用一次コイルを２組備え、前記検
出用二次コイルを前記２組の励磁用一次コイルの間に配
置した請求項１記載の渦流式探傷プローブ。 - 【請求項３】前記検出用二次コイルを２組備え、前記励
磁用一次コイルを前記２組の検出用二次コイルの間に配
置した請求項１記載の渦流式探傷プローブ。 - 【請求項４】励磁用一次コイルと検出用二次コイルとの
間に磁気シールドを配置した請求項１ないし３のいずれ
かに記載の渦流式探傷プローブ。 - 【請求項５】励磁用一次コイルおよび検出用二次コイル
は、それぞれの軸方向寸法が１〜３mm、直径が８〜３０
mmであり、両コイル間の間隔が０．５〜１５０mmである
請求項１ないし４のいずれかに記載の渦流式探傷プロー
ブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4272896A JPH06123732A (ja) | 1992-10-12 | 1992-10-12 | 渦流式探傷プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4272896A JPH06123732A (ja) | 1992-10-12 | 1992-10-12 | 渦流式探傷プローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06123732A true JPH06123732A (ja) | 1994-05-06 |
Family
ID=17520272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4272896A Pending JPH06123732A (ja) | 1992-10-12 | 1992-10-12 | 渦流式探傷プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06123732A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005164593A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | General Electric Co <Ge> | パルス渦電流センサプローブ及び検査方法 |
| JP2009092388A (ja) * | 2007-10-03 | 2009-04-30 | Sumitomo Light Metal Ind Ltd | 渦流探傷プローブ |
-
1992
- 1992-10-12 JP JP4272896A patent/JPH06123732A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005164593A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-06-23 | General Electric Co <Ge> | パルス渦電流センサプローブ及び検査方法 |
| JP2009092388A (ja) * | 2007-10-03 | 2009-04-30 | Sumitomo Light Metal Ind Ltd | 渦流探傷プローブ |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4107605A (en) | Eddy current flaw detector utilizing plural sets of four planar coils, with the plural sets disposed in a common bridge | |
| US5548214A (en) | Electromagnetic induction inspection apparatus and method employing frequency sweep of excitation current | |
| US3611120A (en) | Eddy current testing systems with means to compensate for probe to workpiece spacing | |
| JPH06331602A (ja) | 長物磁性材の構造欠陥を非破壊的に検査する方法および装置 | |
| JP2639264B2 (ja) | 鋼体の探傷装置 | |
| CA2240045A1 (en) | Eddy current flaw detector | |
| US3422346A (en) | Eddy current inspection system | |
| US3443211A (en) | Magnetometer inspection apparatus for ferromagnetic objects | |
| US3900793A (en) | Eddy current testing apparatus including a rotating head with probe and null circuit means mounted thereon including rotary transformer windings | |
| JP2882856B2 (ja) | 渦流探傷装置 | |
| JP2848081B2 (ja) | 磁気探傷装置 | |
| US4659990A (en) | Eddy current test system including a member of high permeability material effective to concentrate flux in a very small region of a part | |
| JPH06123732A (ja) | 渦流式探傷プローブ | |
| JPH11281678A (ja) | 電流センサ | |
| JPS6232355A (ja) | 渦流探傷試験装置 | |
| JPH0815229A (ja) | 高分解能渦電流探傷装置 | |
| JPS61198055A (ja) | 渦流探傷用内插型プロ−プ | |
| JPH06242076A (ja) | 電磁気探傷装置 | |
| JPH09269316A (ja) | 渦流探傷方法及び渦流探傷器 | |
| JPH06148139A (ja) | 欠陥検出装置 | |
| JP3584453B2 (ja) | 微小欠陥検出装置 | |
| JPH03105245A (ja) | リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ | |
| Gu et al. | The principle and application of a new technique for detecting wire rope defects | |
| JP3268219B2 (ja) | 渦電流探傷子 | |
| JP3530472B2 (ja) | 棒鋼の傷検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050426 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20050509 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080527 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090527 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090527 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 5 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100527 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110527 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 6 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110527 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 7 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120527 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120527 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130527 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130527 Year of fee payment: 8 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |