JP5185160B2 - 反射型液晶セルのチルト角測定方法及び装置 - Google Patents
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Description
本発明は、特にマルチドメイン構造を有するVA反射型液晶セルにおいて、当該反射型液晶セルのチルト角を測定する方法及び装置に関するものである。
また、マルチドメイン構造を有する液晶セルの場合、前述の従来法の光学系では、各ドメイン別のチルトを打ち消してしまい、平均のチルト角の測定しかできない。そこでドメイン別にチルト角を測定しようとすれば、顕微光学系を用いて測定スポットをドメインの大きさに合わせる必要があった。このため、精密な顕微光学系が必要であった。
本発明は、反射型液晶セルの反射光強度を、角度を変えずに1回測定するだけで済み、顕微光学系の必要のない反射型液晶セルのチルト角測定方法及び装置を提供することを目的とする。
本発明の反射型液晶セルのチルト角測定方法は、光源(21)の光から直線偏光成分の光を取り出し、この偏光成分の光を反射型液晶セル(23)に、当該光の光軸(B)が反射型液晶セル(23)の法線と斜めの入射角(θ)になるようにして当て、反射型液晶セル(23)の反射層(23a)を反射した光の、偏光成分と直角な方向の偏光成分における光強度に基づいて光強度反射率(Rc)を求め、この光強度反射率(Rc)と、液晶の常光屈折率(no)及び異常光屈折率(ne)と、入射角(θ)と、液晶の厚さ(d)と、反射層の屈折率(nr)とを用いて、液晶のチルト角(β)を求める方法である。
反射型液晶セル(23)が、一画素内で複数のドメイン(D)を含み、液晶は、各ドメイン(D)ごとに別の方向にチルトしている反射型液晶セル(23)であれば、光強度反射率(Rc)は、反射型液晶セル(23)の全ドメインの面積のうち、チルト角(β)が光軸(B)に平行でない方向に向いているドメインの面積の割合を係数(A)として含むことが好ましい。この係数(A)を考慮することにより、光が反射型液晶セル(23)に当たった範囲で、別々の方向を向いたチルト角(β)を、打ち消しあうことなく求めることができる。
また光強度反射率Rcは、反射型液晶セル(23)を反射した光の、偏光成分と直交する偏光成分における光強度を、反射型液晶セル(23)を反射した光の、偏光成分と直角な方向の偏光成分における光強度と反射型液晶セル(23)を反射した光の、偏光成分と平行な方向の偏光成分における光強度との合計値で割ることにより計算してもよい。
<装置構成>
図1は、本発明のプレチルト角測定方法を実施する測定装置の構成図である。
この測定装置は、ハロゲンランプなどの光源21、光源21の出射光から直線偏光を取り出す偏光子22、サンプル設置台に設置されたVA反射型液晶セル23、VA反射型液晶セル23の底面ガラス基板に形成された反射層23aを反射した光から直線偏光を取り出す検光子24、検光子24を通過した光から単色光を得るためのモノクロメータ25、モノクロメータ25から出射された光の強度を検出する検出器26及びデータ処理装置27を有する。なお、モノクロメータ25に代えて、ポリクロメータを配置しても良い。またモノクロメータ25を使用する場合、モノクロメータ25の位置は偏光子22の前でもよい。前記反射層23aの材質はアルミニウム、銀、ニッケル、クロムなど光を反射するものであれば何でも良い。
偏光子22は、光の電界が入射面(光の進行方向と反射型液晶セルの法線yを含む面)に対して平行に振動する偏光(p偏光)を作るように、その偏光方向がセットされている。検光子24は、偏光子22に対して垂直な方向に、その偏光方向がセットされているので、いわゆる「クロスニコル」の状態で検光子24を通過した光を検出することができる。
反射層23aとして通常の平面反射層を使用した液晶セルの場合、θin=θoutでの測定になるが、拡散反射層を使用した液晶セルの場合、必ずしもθin=θoutである必要がない。しかし以下の例では、特に断りの無い限り、反射層23aは平面であり、θin=θoutの条件で測定するものとする。
なお、VA反射型液晶セル23への入射角θinを変えるのに、フレームを固定し、VA反射型液晶セル23を載せるサンプル設置台を傾斜させる機構を採用してもよい。
図2は測定装置の変形例を示す図である。この測定装置は、図1の装置と異なるところは、偏光子22は、光の電界が入射面に対して垂直に振動する偏光(s偏光)を作るように、その偏光方向がセットされていることである。検光子24は、偏光子22に対して垂直な方向に、その偏光方向がセットされているので、いわゆる「クロスニコル」の状態で検光子24を通過した光を検出することができる。
図3は、マルチドメイン垂直配向(MVA)モードの反射型液晶セルにおける、電圧オフ時の画素内のチルト方向を示す、y方向から見た平面図である。
四角の枠が一画素Pを示し、その中が4つのドメインD1〜D4に分かれている。ここで角度の定義をすると、上方向を0度とし、時計周りに90度、180度、270度と数えることにする。4つのドメインD1〜D4のうち、右上のドメインD1は0〜90度の領域、右下のドメインD2は90〜180度の領域、左下のドメインD3は180〜270度の領域、左上のドメインD4は270〜360度(0度)の領域にあるものとする。
図4において、反射型液晶セルは、上下のガラス基板11,12の間に液晶分子が充填されている。ガラス基板11,12の面に垂直な法線方向をy、光軸Bに垂直かつガラス基板11,12の面に平行な方向をxとする。液晶分子は、4つのプレチルト方向に対応した方向に配向されている。液晶分子a1は光軸Bからみればx−y面内で左に傾斜しているように見える。液晶分子a3は光軸Bからみればx−y面内で右に傾斜しているように見える。液晶分子a2,a4は光軸Bからみれば傾斜していないように見える。
図6は、液晶内部における、光が伝搬する光軸Bと、各座標軸x,y,zとを描いた座標図である。液晶分子a3は、ガラス基板11,12の法線方向yに対して、x−y面内で角度β傾斜し、液晶分子a1は方向yに対して、x−y面内で角度−β傾斜しているものとする。角度βは、液晶のチルト角であり、
ここで、光軸Bに垂直な平面x−y′を定義する。そして、平面x−yにある液晶分子a3を、平面x−y′に投影する。この投影した液晶分子をa3′と書く。液晶分子a3′はy′軸に対して平面x−y′上で角度β′傾いているとする。角度β′は、光軸Bの方向から見た液晶分子の軸ズレを表わし、式
また、液晶分子a3′の平面x−y′上での座標y′と、平面x−y上での座標yとの関係は、平面x−y′と平面x−yとのなす角度が90度−θ′であることを考慮すると、
そこで、角度β′と角度βとの関係は、前出の式[数1][数4][数5]を使えば、
一方、液晶の屈折率nは、入射する偏光がs偏光(図2)の場合、
光の偏光がs偏光の場合、これらの[数6]と[数7]を用いてβとβ′の関係が分かる。また、光の偏光がp偏光の場合、これらの[数6]と[数8]を用いてβとβ′の関係が分かる。
そこで以下、光強度反射率Rcとβ′との関係を求める。反射光の偏光状態Eは、ジョーンズ行列を用いれば以下の式で示される。
上の式において、偏光子(φp)は1行2列(1×2)の行列であり、検光子(φa)は2行2列(2×2)の行列である。偏光子(φp)と検光子(φa)は以下のように表される。
往路J(Δnd′,β′)、M、復路J(Δnd′,β′)はそれぞれ2行2列(2×2)の行列である。ここで屈折率差Δnは斜め入射時の異常光線(extra ordinary wave)の屈折率neと、常光線(ordinary wave)の屈折率noとの差である。
光軸Bと液晶分子a3とのなす角度をθa(図6参照)とすると、角度θaと光の入射角θ′と液晶分子のチルト角βとの間には、
Jは液晶層のジョーンズ行列であり往路、復路ともに、
反射光強度Iを使って、光強度反射率Rcは、s偏光入射の場合、
[数1]〜[数20]を用いて、チルト角βを求める手順を説明する。
入射角θ、液晶の厚さd、液晶の常光屈折率no及び異常光屈折率ne、反射層23aの屈折率nrは反射層23aの材質を特定していれば既知である。(1)no及びneを[数7]、[数8]に当てはめて屈折率nをβの関数で表わすことができる。この屈折率nを[数6]に代入すれば、βとβ′の1つの関係式が求まる。(2)次に、屈折率nrが分かっているので[数17]により反射層23a内での光軸傾斜角θrをβ,β′の関数で表わすことができる。したがって[数16][数15]を使って反射層23aのジョーンズ行列Mをβ,β′の関数で表わすことができる。(3)偏光子の回転角φpを90度及び検光子の回転角φaを0度としたとき、並びに偏光子の回転角φpを90度及び検光子の回転角φaを90度としたとき、[数10]を用いて偏光子(φp)と検光子(φa)のジョーンズ行列を求める。(4)Δnd′は、[数2][数11][数12]を考慮すればβ,β′の関数で表わされるので、このΔnd′を用いて、液晶層のジョーンズ行列Jをβ,β′の関数で表わすことができる。(5)以上の反射層23aのジョーンズ行列M、偏光子(φp)と検光子(φa)のジョーンズ行列、液晶層のジョーンズ行列Jを[数9]に代入して、反射光の偏光状態のベクトルEを、β,β′の関数で表わすことができる。(6)このベクトルEを[数18]に当てはめて反射光強度Iをβ,β′の関数で表わすことができる。(7)反射光強度Iを[数19][数20]に当てはめて光強度反射率Rcをβ,β′の関数で表わすことができる。この場合、前述したようにβとβ′の1つの関係が分かっているので、光強度反射率Rcをβの関数で表わすことができる。(8)一方、光強度反射率Rcは検出器26によって測定できる量であるので、上の(7)で求めた理論値Rcをこの測定値Rcで置き換えれば、チルト角βを求めることができる。
すなわち、各画素内には、図4に示すように、チルト角βが光軸Bに平行な液晶分子a2,a4と、チルト角βが光軸Bに平行でない液晶分子a1,a3とが存在する。チルト角βが光軸Bに平行な液晶分子a2,a4は、[数9]において、β′=0となり、光を反射させない。
なおドメインを持たず、単一方向にチルトしている反射型液晶セルの場合であっても、チルト方向とは違う方向に光軸を傾斜させることで同等の測定が可能となる。この場合前記係数Aの値は“1”とする。
(1)測定手順1
本発明による測定手順を、フローチャート(図7)に基づいて説明する。
まず、図1又は図2の測定装置において、サンプルとする反射型液晶セル23をセットし、光源21から白色洸を、所定範囲スポット照射し、入射角θinをある値に設定する。
一般的に偏光素子は性能の良いものでも消光比は10-5程度である。そのため、光強度反射率Rc<10-4になると、背景ノイズ(迷光)のために測定は困難になると考えている。そこで、下記の[表2]の条件で、プレチルト角=1度のときに、光強度反射率Rc<10-4以上になる入射角θinとして30度を下限値に設定した。
さらに好ましい範囲について議論すると、ガラス基板11の表面の反射光をできるだけ小さくするためにセルに入射する光はs偏光よりもp偏光が好ましい、さらにp偏光入射の場合、入射角θinはブリュースター角付近、例えばブリュースター角±10度に設定することが望ましい。ガラスの屈折率が1.5の場合、ブリュースター角は約56°になり、したがって入射角θinの望ましい範囲は46度〜66度となる。
まず、反射型液晶セルについてリファレンス測定を行う。反射型液晶セルに光を照射した場合、反射型液晶セル23の表面での反射もあり、表面での反射以外にカラーフィルター基板の吸収等もあるので、絶対的な光反射率を求めようとすると、計算処理が複雑になる。そこで(a)図1,2の装置構成から検光子24のみを取り外して光強度を求めるか、または(b)図1,2の装置構成で検光子24を平行ニコル状態とクロスニコル状態としてそれぞれ光強度を測定し、2種類の光強度の合計値をリファレンスとする(ステップS0)。このリファレンス光強度をRと書く。
反射型液晶セルのセルギャップdと、異常光線(extra ordinary wave)の屈折率neと、常光線(ordinary wave)の屈折率noとは反射型液晶セルの定数である。反射層の屈折率のデータも既知である。入射角θinは上述のような範囲に設定した値であり定数、係数Aも定数である。これらの値を用いて、前述した手順に従ってチルト角βを求めることができる。この「チルト角β」は、詳しく言えば、光源21の出射光をVA反射型液晶セル23に照射したスポットの範囲に存在する液晶分子について、チルト角βの平均値である(ステップS2,S3)。
液晶の異常光線(extra ordinary wave)の屈折率neと、常光線(ordinary wave)の屈折率noと、反射層の屈折率nrは波長λの関数である。入射角θinと、セルギャップdと、係数Aとは波長と無関係であり、既知の数値である。そこで、前述した手順にしたがって液晶分子のチルト角βをパラメータとして、光強度反射率Rcと波長λとの関係Rc(λ,β)を求めることができる。
このグラフを用いれば、複数の波長について光強度反射率Rcを測定し、その測定点を、このグラフにプロットし、フィットさせれば、チルト角βを正確に求めることができる。
21 光源
22 偏光子
23 VA反射型液晶セル
23a 反射層
24 検光子
25 モノクロメータ
26 検出器
27 データ処理装置
Claims (8)
- 反射型液晶セルのチルト角を測定する方法であって、
光源から直線偏光成分の光を取り出し、
この偏光成分の光を反射型液晶セルに、当該光の光軸が前記反射型液晶セルの法線と斜めの入射角になるようにして当て、
前記反射型液晶セルの反射層を反射した光の、前記偏光成分と直角方向の偏光成分における光強度を測定して光強度反射率を求め、
この光強度反射率と、前記液晶の常光屈折率及び異常光屈折率と、前記入射角と、前記液晶の厚さと、前記反射層の屈折率とを用いて、前記液晶のチルト角を求めることを特徴とする反射型液晶セルのチルト角測定方法。 - 前記反射型液晶セルは一画素内で複数のドメインを含み、
前記液晶は、前記ドメインごとに異なる方向にチルトしており、
前記光強度反射率は、前記反射型液晶セルの全ドメインの面積のうち、チルト角が前記光軸に平行でない方向に向いているドメインの面積の割合を係数として含む請求項1記載の反射型液晶セルのチルト角測定方法。 - 前記光軸が前記反射型液晶セルの法線となす斜めの入射角は、30度〜80度の範囲にある請求項1記載の反射型液晶セルのチルト角測定方法。
- 前記光強度反射率は、前記反射型液晶セルを反射した光の、前記偏光成分と直角な方向の偏光成分における光強度を、前記反射型液晶セルを反射した光の光強度で割ったものである請求項1記載の反射型液晶セルのチルト角測定方法。
- 前記光強度反射率は、前記反射型液晶セルを反射した光の、前記偏光成分と直角な方向の偏光成分における光強度を、前記反射型液晶セルを反射した光の前記偏光成分と直角な方向の偏光成分における光強度と前記反射型液晶セルを反射した光の前記偏光成分と平行な方向の偏光成分における光強度との合計値で割ったものである請求項1記載の反射型液晶セルのチルト角測定方法。
- 波長の関数としての前記液晶の常光屈折率及び異常光屈折率のデータと、前記入射角と前記液晶の厚さとを用いて、液晶分子のチルト角をパラメータとする光強度反射率と波長との関係を求め、
複数の波長について前記光強度反射率を測定し、その測定点を前記関係に当てはめることにより、チルト角を求める請求項1記載の反射型液晶セルのチルト角測定方法。 - 光源から直線偏光成分を取り出す偏光子と、
この偏光子の光を反射型液晶セルに、当該光の光軸が反射型液晶セルの法線と斜めの入射角になるようにして当てることのできる光軸設定手段と、
前記反射型液晶セルの反射層を反射した光の、前記偏光成分と直角な方向の偏光成分を取り出す検光子と、
前記検光子を透過した光の光強度を測定する検出器と、
前記検出器で検出した光強度に基づいて光強度反射率を算出し、前記液晶の常光屈折率及び異常光屈折率と、前記入射角と、前記液晶の厚さと、前記反射層の屈折率を用いて、前記液晶のチルト角を求めるデータ処理装置とを備えることを特徴とする反射型液晶セルのチルト角測定装置。 - 前記検光子を透過した光を分光する分光器をさらに含み、
前記データ処理装置は、波長λの関数としての前記液晶の常光屈折率及び異常光屈折率と、前記入射角と、前記液晶の厚さとを用いて、液晶分子のチルト角をパラメータとして、光強度反射率と波長との関係を求め、複数の波長について測定された光強度反射率の測定点を、この関係に当てはめることにより、チルト角を決定するものである請求項7記載の反射型液晶セルのチルト角測定装置。
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