JP5184303B2 - チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 27
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 76
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 76
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 30
- 206010040844 Skin exfoliation Diseases 0.000 description 72
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 27
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 19
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
12 粘着シート
16 ステージ
16a 可動ステージ部
16b 固定ステージ部
19 空隙
30 負圧通路
30a 吸引口
31 はみ出し部
50 駆動機構
Claims (8)
- 上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離方法において、
固定ステージ部と可動ステージ部とを備えたステージ上に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すように設置して、このはみ出し部の下方に空隙を設け、
次に、空隙に負圧通路を介して負圧を作用させ、
その後、前記可動ステージ部を、前記ステージの鉛直方向下方領域内に限定して配設した駆動手段を介して駆動するようにし、
その駆動は、前記可動ステージ部を一旦上昇させてから元の位置まで下降させ水平方向にスライドすることを特徴とするチップ剥離方法。 - 上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離方法において、
固定ステージ部と可動ステージ部とを備えたステージ上に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すように設置して、このはみ出し部の下方に空隙を設け、
次に、空隙に負圧通路を介して負圧を作用させ、
その後、前記可動ステージ部を、前記ステージの鉛直方向下方領域内に限定して配設した駆動手段を介して駆動するようにし、
その駆動は、前記可動ステージ部を一旦上昇させてから元の位置よりは高い中間高さ位置まで下降させ水平方向にスライドすることを特徴とするチップ剥離方法。 - 前記可動ステージ部を、はみ出し側とは反対方向に水平方向にスライドさせることを特徴とする請求項1又は2に記載のチップ剥離方法。
- 前記空隙を、前記可動ステージ部の上面を固定ステージ部の上面よりも高位として設けることを特徴とする請求項1又は2に記載のチップ剥離方法。
- 前記空隙を、可動ステージ部のはみ出し側を上昇させるように傾動させて設けることを特徴とする請求項1又は2に記載のチップ剥離方法。
- 請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載のチップ剥離方法を用いて半導体装置を製造する半導体装置製造方法。
- 上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離装置において、
固定ステージ部と可動ステージ部とを備えると共に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すようにした状態で、このはみ出し部の下方に空隙を形成するステージと、
前記空隙に負圧通路を介して負圧を作用させる負圧供給手段と、
前記可動ステージ部を一旦上昇させてから元の位置まで下降させ、前記はみ出し側とは反対側に前記可動ステージ部を水平方向にスライドさせる駆動手段とを備え、
前記駆動手段を、前記ステージの鉛直方向下方領域内に限定して配設したことを特徴とするチップ剥離装置。 - 上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離装置において、
固定ステージ部と可動ステージ部とを備えると共に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すようにした状態で、このはみ出し部の下方に空隙を形成するステージと、
前記空隙に負圧通路を介して負圧を作用させる負圧供給手段と、
前記可動ステージ部を一旦上昇させてから元の位置よりは高い中間高さ位置まで下降させ、前記はみ出し側とは反対側に前記可動ステージ部を水平方向にスライドさせる駆動手段とを備え、
前記駆動手段を、前記ステージの鉛直方向下方領域内に限定して配設したことを特徴とするチップ剥離装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008283576A JP5184303B2 (ja) | 2008-11-04 | 2008-11-04 | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008283576A JP5184303B2 (ja) | 2008-11-04 | 2008-11-04 | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010114157A JP2010114157A (ja) | 2010-05-20 |
JP5184303B2 true JP5184303B2 (ja) | 2013-04-17 |
Family
ID=42302514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008283576A Active JP5184303B2 (ja) | 2008-11-04 | 2008-11-04 | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5184303B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20230158376A (ko) | 2022-05-11 | 2023-11-20 | 삼성전자주식회사 | 칩 박리 장치 및 칩 박리 방법 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5669137B2 (ja) * | 2011-03-01 | 2015-02-12 | 富士機械製造株式会社 | ダイピックアップ装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7240422B2 (en) * | 2004-05-11 | 2007-07-10 | Asm Assembly Automation Ltd. | Apparatus for semiconductor chip detachment |
JP4429883B2 (ja) * | 2004-11-30 | 2010-03-10 | キヤノンマシナリー株式会社 | ペレットピックアップ方法及びピックアップ装置 |
WO2008004270A1 (fr) * | 2006-07-03 | 2008-01-10 | Canon Machinery Inc. | Méthode de ramassage et appareil de ramassage |
JP4215818B1 (ja) * | 2008-06-30 | 2009-01-28 | 株式会社新川 | 半導体ダイのピックアップ装置及びピックアップ方法 |
-
2008
- 2008-11-04 JP JP2008283576A patent/JP5184303B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20230158376A (ko) | 2022-05-11 | 2023-11-20 | 삼성전자주식회사 | 칩 박리 장치 및 칩 박리 방법 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010114157A (ja) | 2010-05-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160125 Year of fee payment: 3 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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