JP5284040B2 - チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 - Google Patents
チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5284040B2 JP5284040B2 JP2008283570A JP2008283570A JP5284040B2 JP 5284040 B2 JP5284040 B2 JP 5284040B2 JP 2008283570 A JP2008283570 A JP 2008283570A JP 2008283570 A JP2008283570 A JP 2008283570A JP 5284040 B2 JP5284040 B2 JP 5284040B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- movable stage
- stage portion
- adhesive sheet
- negative pressure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 9
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 58
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 58
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 32
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 16
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 claims description 11
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 10
- 206010040844 Skin exfoliation Diseases 0.000 description 57
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 24
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 15
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
第2のチップ剥離方法は、上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離方法において、固定ステージ部と可動ステージ部とを備えたステージ上に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すように設置した後、可動ステージ部の隆起による可動ステージ部と固定ステージ部とに隙間が形成された状態において、この隙間と外部とを遮断する上下動可能な遮断部材にて構成したシール手段を介して、反はみ出し側の粘着シートの下方をシールしつつ、はみ出し部の下方に形成される空隙に負圧通路を介して負圧を作用ながら、この空隙が大きくなるように可動ステージ部を水平方向にスライドさせるものである。
16 ステージ
16a 可動ステージ部
16b 固定ステージ部
19 空隙
30 負圧通路
31 はみ出し部
35 傾斜面
40 シール手段
46 遮断部材
Claims (6)
- 上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離方法において、
固定ステージ部と可動ステージ部とを備えたステージ上に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すように設置した後、
可動ステージ部の反はみ出し側の上面に、スライド方向に向けて下り傾斜となるとともに、その下り端が固定ステージ部の上面と同一高さ位置となる傾斜面にて構成したシール手段を介して、反はみ出し側の粘着シートの下方をシールしつつ、はみ出し部の下方に形成される空隙に負圧通路を介して負圧を作用させながら、この空隙が大きくなるように可動ステージ部を水平方向にスライドさせることを特徴とするチップ剥離方法。 - 上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離方法において、
固定ステージ部と可動ステージ部とを備えたステージ上に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すように設置した後、
可動ステージ部の隆起による可動ステージ部と固定ステージ部とに隙間が形成された状態において、この隙間と外部とを遮断する上下動可能な遮断部材にて構成したシール手段を介して、反はみ出し側の粘着シートの下方をシールしつつ、はみ出し部の下方に形成される空隙に負圧通路を介して負圧を作用させながら、この空隙が大きくなるように可動ステージ部を水平方向にスライドさせることを特徴とするチップ剥離方法。 - 可動ステージ部を水平方向にスライドさせるときには、可動ステージ部を負圧作用開始時よりも下降させることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のチップ剥離方法。
- 請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のチップ剥離方法を用いて半導体装置を製造する半導体装置製造方法。
- 上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離装置において、
固定ステージ部と可動ステージ部とを備えると共に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すようにした状態で、チップのはみ出し部の下方に空隙を形成するステージと、
反はみ出し側の粘着シートの下方をシールするシール手段と、
前記空隙に負圧通路を介して負圧を作用させる負圧供給手段と、
前記はみ出し側とは反対側に前記可動ステージ部を水平方向にスライドさせるスライド手段とを備え、
可動ステージ部の反はみ出し側の上面に、スライド方向に向けて下り傾斜となるとともに、その下り端が固定ステージ部の上面と同一高さ位置となる傾斜面を設け、この傾斜面にて前記シール手段を構成したことを特徴とするチップ剥離装置。 - 上面にチップを貼り付けた粘着シートから前記チップを剥離させるチップ剥離装置において、
固定ステージ部と可動ステージ部とを備えると共に、剥離すべきチップを可動ステージ部に対応させかつこのチップの周縁部の少なくとも一部が可動ステージ部からはみ出すようにした状態で、チップのはみ出し部の下方に空隙を形成するステージと、
反はみ出し側の粘着シートの下方をシールするシール手段と、
前記空隙に負圧通路を介して負圧を作用させる負圧供給手段と、
前記はみ出し側とは反対側に前記可動ステージ部を水平方向にスライドさせるスライド手段とを備え、
可動ステージ部の隆起による可動ステージ部と固定ステージ部とに隙間が形成された状態において、この隙間と外部とを遮断する上下動可能な遮断部材を配置し、この遮断部材にて前記シール手段を構成したことを特徴とするチップ剥離装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008283570A JP5284040B2 (ja) | 2008-11-04 | 2008-11-04 | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008283570A JP5284040B2 (ja) | 2008-11-04 | 2008-11-04 | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010114156A JP2010114156A (ja) | 2010-05-20 |
JP5284040B2 true JP5284040B2 (ja) | 2013-09-11 |
Family
ID=42302513
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008283570A Active JP5284040B2 (ja) | 2008-11-04 | 2008-11-04 | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5284040B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7240422B2 (en) * | 2004-05-11 | 2007-07-10 | Asm Assembly Automation Ltd. | Apparatus for semiconductor chip detachment |
JPWO2008004270A1 (ja) * | 2006-07-03 | 2009-12-03 | キヤノンマシナリー株式会社 | ピックアップ方法およびピックアップ装置 |
JP2009064937A (ja) * | 2007-09-06 | 2009-03-26 | Shinkawa Ltd | 半導体ダイのピックアップ装置及びピックアップ方法 |
JP4215818B1 (ja) * | 2008-06-30 | 2009-01-28 | 株式会社新川 | 半導体ダイのピックアップ装置及びピックアップ方法 |
-
2008
- 2008-11-04 JP JP2008283570A patent/JP5284040B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010114156A (ja) | 2010-05-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI381985B (zh) | Pickup device for semiconductor grain and picking method | |
KR20150145255A (ko) | 반도체 다이의 픽업 장치 및 픽업 방법 | |
JP4215818B1 (ja) | 半導体ダイのピックアップ装置及びピックアップ方法 | |
JPWO2008004270A1 (ja) | ピックアップ方法およびピックアップ装置 | |
JP5201990B2 (ja) | 半導体チップのピックアップ装置 | |
JP4850916B2 (ja) | ピックアップ方法およびピックアップ装置 | |
JP4198745B1 (ja) | 半導体ダイのピックアップ装置及びピックアップ方法 | |
JP4668361B2 (ja) | チップ剥離方法、チップ剥離装置、及び半導体装置製造方法 | |
TWI423349B (zh) | Pickup device for semiconductor wafers | |
JP5284040B2 (ja) | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 | |
JP4924316B2 (ja) | 半導体製造装置及び半導体製造方法 | |
JP5184303B2 (ja) | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 | |
JP4704516B2 (ja) | チップ剥離方法、チップ剥離装置、および半導体装置製造方法 | |
JP5214739B2 (ja) | チップ剥離方法、半導体装置の製造方法、及びチップ剥離装置 | |
JP5980875B2 (ja) | チップ剥離装置及びチップ剥離方法 | |
JP4613838B2 (ja) | チップピックアップ装置およびチップピックアップ方法 | |
JP2002124525A (ja) | 半導体チップ剥離装置及び方法 | |
JP7458773B2 (ja) | 電子部品のピックアップ装置及び実装装置 | |
KR101033771B1 (ko) | 순차적 진공흡착 방식에 의한 다이 접착 장비 및 픽업 방법 | |
KR20240143912A (ko) | 실장 툴 및 실장 장치 | |
JP2024137735A (ja) | 実装ツールおよび実装装置 | |
TW202238750A (zh) | 安裝工具及安裝裝置 | |
KR20210076472A (ko) | 다이 픽업 장치 및 다이 픽업 장치의 동작방법 | |
JP2007201119A (ja) | チップピックアップ装置およびチップピックアップ方法ならびにチップ剥離装置およびチップ剥離方法 | |
JPH11204550A (ja) | ダイボンディング装置及びダイボンディング方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111011 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121025 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121029 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121217 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130516 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130529 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5284040 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |