JP5178809B2 - 液晶表示装置の作製方法 - Google Patents
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Description
る)の構成に関する。特に液晶に所定の電圧を印加するための電極の構造に関する技術で
ある。
重量、消費電力が大きく、特に、大面積の表示装置には適していなかった。そこで、近年
、CRTに比べて軽量化、低消費電力化及び大画面化で有利な液晶表示装置(以下、液晶
パネルと呼ぶ)が注目されている。
いた駆動方法が知られている。これは、液晶物質が分子軸の長軸方向と短軸方向とで誘電
率が異なるという性質を利用し、光の偏光や透過量、さらには散乱量を制御するという駆
動方法である。液晶材料としては、ネマティック液晶、強誘電性液晶、反強誘電性液晶な
どが用いられる。
形成し、そのTFTでもって回路を組んだ液晶パネルの開発が急速に進んでいる。この様
な液晶パネルは特にアクティブマトリクス型液晶パネルと呼ばれている。
射型とがある。反射型液晶パネルは、液晶層を透過した光が各画素に設けられた画素電極
で反射され、その反射光(映像情報を含んだ光)が利用者の目に入ることで映像を見るこ
とができる。
て有効な画素面積が広いという利点がある。これは透過型液晶パネルの様に開口率に制限
されるということがないからである。そのため、反射型は透過型に較べて明るい表示が可
能である。
ている。従って、反射型LCDの最大の課題は入射した光を如何に有効に活用するかにあ
る。即ち、より明るい表示を行うためには、可能な限り多くの光を利用し、光損失を低減
することが必要不可欠な要素となる。
射率が低いと光の利用効率が極端に落ち、表示全体が暗くなってしまうからである。また
、バックライトの光量を高めて明るい表示にしても、消費電力の増加や発熱の問題等に対
する対策で結局はコストアップにつながる。
ニウム系材料(純アルミニウム、アルミニウム合金、又は不純物を含むアルミニウムなど
)が用いられる。なお、銀電極はさらに反射率が高いという特徴があるが、加工性に難が
あるため、取扱いの比較的容易なアルミニウム系材料を用いる場合が多い。
当てた場合に較べて、電極表面に配向膜の様な高屈折率物質が形成された状態では反射率
が大幅に低下してしまうことが判明した。
るため、反射率向上に向けてさらなる工夫が望まれる。
射率を向上させ、反射型LCDに入射した光の利用効率を向上させるための技術を開示す
るものである。
液晶パネルを表示ディスプレイとして搭載した電子機器を実現することを課題とする。
反射膜を形成することによって、反射光を増幅させ、光の有効利用を図るというものであ
る。
、誘電体ミラーは8層以上もの積層を行って形成する場合が殆どであり、誘電体ミラーに
よって形成される直接接続された容量は非常に小さいものであった。
合成容量(Clc)とが直列に接続されるので、総容量をCtotal とすると、
1/Ctotal =1/Cd +1/Clc
の関係が成り立つ。
層膜にかかる電圧をVd とすると、
Ctotal Vtotal =Cd Vd =ClcVlc
と表される。これを変形して液晶にかかる電圧を求めると、
Vlc=Cd Vtotal /(Clc+Cd )
となる。即ち、誘電体多層膜によって形成される容量が小さいと、液晶にかかる電圧が小
さくなってしまうという問題が生じてしまっていた。
、積層数も2層または4層といった具合に非常に少ない。即ち、誘電体多層膜による容量
が液晶による容量に較べて大きいので、液晶に印加される電圧が小さくなるといった問題
を生じないという利点が得られる。
晶セルのピーク電圧をVLC,peak 、TFT等スイッチング素子の耐電圧をVmax とすると
、誘電体多層膜を設けた液晶セルをTFTの耐電圧内で駆動するためには、VLC,peak ≦
Cd Vmax /(Clc+Cd )となる様に誘電体多層膜の層数及び膜厚を調節すべきである
。
性、即ち液晶セルに印加される電圧(V)と液晶セルの明るさ(T)を示すV−Tカーブ
において、明るさの最大値を100%、最小値を0%とした場合、ノーマリブラックモー
ドで明るさ100%、ノーマリホワイトモードで明るさ0%を示す電圧をいう。
上させることが可能となった。また、その反射光は波長 400〜700 nmの可視光領域におい
てほぼ一定値となる様なフラットな特性を示した。
が良好であり、また、増反射膜自体の膜厚が薄くて済むので液晶の電圧損失を極力抑える
ことができた。
長依存性が大きくなってしまう傾向にあるが、本願発明を実施することでその様な波長依
存性の少ないフラットな反射特性を得ることができた。
ム系材料を用いて反射率91%以上(好ましくは93%以上)の画素電極を有する液晶表
示装置を作製することが可能となり、低コストで液晶表示装置を得ることが可能となった
。
を抑えても明るい表示が可能となった。即ち、バックライトが消費する消費電力を低減し
、コストパフォーマンスの高い液晶表示装置を実現することが可能となった。
は液晶プロジェクター等)のコントラストや輝度を向上させることが可能となった。
を構成するアクティブマトリクス基板(TFTで回路を構成した基板)の画素の断面構造
である。
たTFTである。TFT102は本出願人による特開平7−135318号公報に記載さ
れた技術を利用することで容易に作製できる。
TFT102と接続する画素電極104が形成される。画素電極104は反射率の高い材
料、具体的にはアルミニウム系材料が好ましい。勿論、他の金属膜(銀、タンタル、クロ
ムなど)を利用しても構わない。
5は屈折率が 1.2〜1.6 程度と低めの材料を用いる。具体的には、アクリル、ポリイミド
、フッ化マグネシウム、二酸化シリコンなどが挙げられる。
電体膜106は第1の誘電体膜105よりも屈折率が高い材料、好ましくは屈折率が 1.8
〜2.5 と高めの材料を用いる。具体的には、二酸化チタン、ジルコニア、ITO(酸化イ
ンジウムスズ)、窒化シリコン、二酸化セリウムなどが挙げられる。
蒸着法などの気相法を用いても良いが、溶液塗布によるスピンコート法を用いることも有
効である。スピンコート法を用いると、画素電極による段差を緩和して誘電体多層膜全体
の平坦化が図れるという利点が得られる。
H )との差が大きいほど高い反射率が得られる。この事は、次式に示す誘電体多層膜の反
射率計算式からも明らかである。
屈折率(nH )との差が大きいと、nL /nH が小さくなるため反射率(R)は1に近づ
く、即ち全反射に近い状態になることが判る。
を満たす様な屈折率と膜厚の関係を持たせる必要がある。薄膜の増反射条件とは薄膜表面
で反射した光と薄膜を透過してから薄膜表面で反射した光とが互いに強め合う条件であり
、次式で与えられる。
長である。なお、中心波長とは増反射可能な光のピーク波長を意味する。この様に、薄膜
の光学膜厚(屈折率×膜厚)を光の中心波長(λ)の1/4となる様に設定した時、その
薄膜をλ/4膜と呼ぶ。
まる。換言すれば、屈折率が薄膜固有の値と考えると、反射率が最も高くなる波長(中心
波長)をどこに設定するかを、誘電体膜の膜厚で制御することができる。
射光の波長依存性に大きく影響するため重要である。
ェクターなどに本願発明の反射型LCDを適用する場合、広範囲な可視光領域(約 400〜
700 nmの波長領域)において反射率がほぼ一定であることが望ましい。こうすることで、
赤、緑、青のどの色が入射しても同じ様な反射率を確保することが可能となる。
折率の薄膜(高屈折率膜と呼ぶ。この屈折率をnH で表す)とを2層だけ積層した誘電体
多層膜を例示しているが、低屈折率膜と高屈折率膜との2層構造を一組として、その組を
複数回重ねた構造とすることも可能である。
の異なる誘電体膜を交互に偶数層重ねていくことで理論的には増反射効果が高くなる。従
って、増反射効果だけを考えれば、積層回数を増やした方が高い反射率を得ることができ
る。
、その結果、液晶に印加される電圧が小さくなってしまうという弊害(誘電体膜による電
圧損失)がある。この様なことが起こると、画素を駆動するための駆動電圧が高くなり、
消費電力の増加につながってしまう。
り、液晶に印加される電圧を上げるためには、誘電体多層膜によって形成される容量を大
きくする必要がある。
を高めることと、誘電体膜による電圧損失を抑えることとの兼ね合いによって誘電体膜の
積層回数を決定することが望ましい。
反射効果が得られる。従って、誘電体多層膜の構成としては、画素電極/低屈折率膜/高
屈折率膜の組み合わせか、もしくは画素電極/低屈折率膜/高屈折率膜/低屈折率膜/高
屈折率膜の組み合わせが良いと言える。
成される容量分による損失である。これは低屈折率膜の方が必然的に比誘電率が小さく、
形成しうる容量も小さくなりやすいからである。従って、低屈折率膜による容量を大きく
することが誘電体膜による電圧損失を抑制する上で非常に有効に働く。
波長を長波長側にすることは有効である。なぜならば、この様な構成とすることで、必然
的に低屈折率膜の方が膜厚が薄くなり、低屈折率膜によって形成される容量を大きくする
方向に作用するからである。
説明を行うこととする。
ーに対応した反射型LCDに適用する場合について説明する。
た画素が配置された構成からなっている。即ち、光源から到達した入射光(白色光)がカ
ラーフィルターを通過することによって、赤、緑、青の各色に対応した波長光となって各
色に対応した画素に入射する。
反射しなければならず、可視光領域(約 400〜700 nm)において波長依存性を持たないフ
ラットな反射特性を必要とする。
単な2層構造(低屈折率膜と高屈折率膜とを2層に積層した構造)を採用する場合につい
て説明する。なお、この構造は図1に示す構造であるので、説明には図1を用いることに
する。
多層膜の組み合わせを検討した。ここでは、まずその実験データに基づいて本実施例の構
成を説明する。
化シリコン膜を想定し、屈折率を 1.43 とした。また、第2の誘電体膜106(高屈折率
膜)としてジルコニア膜を想定し、屈折率を 2.04 とした。
どの位に設定するかを系統的にシミュレーションで調べた。また、今回のシミュレーショ
ンもnL =1.43、nH =2.04の場合(nL /nH =0.7の場合)について調べた。
平均反射率(以下、単に平均反射率と呼ぶ)が0.91以上(91%以上)となる条件を
ボーダーラインとして、それ以上の平均反射率となる条件を選定した。
ニウム系材料を用いる限り、従来の方法ではこれ以上の反射率の実現は困難である。即ち
、0.91以上の平均反射率を実現するということは、従来の技術では成しえなかった高
反射率を実現することに他ならない。
率をプロットしている。
、500 nm、550 nm、600 nmと変えた時の反射率特性を表している。また、図2(B)は高
屈折率膜の中心波長を 600nmに固定して低屈折率膜の中心波長を 400nm、450 nm、500 nm
、550 nmと変えた時、また、図2(C)は高屈折率膜の中心波長を 550nmに固定して低屈
折率膜の中心波長 400nm、500 nm、550 nmと変えた時の場合である。
折率膜の中心波長を長波長側に設定するほど反射率が低下する傾向にある。即ち、低屈折
率膜の中心波長は短波長側にする方がより高い反射率が得られるので好ましい。
(A)、(B)は横軸に低屈折率膜の中心波長、縦軸に可視光領域( 400〜700 nm)の平
均反射率をプロットしたグラフである。
射率が0.91以上であるプロットを抽出することで、中心波長の最適な設定条件を選定
することが可能である。
抽出してまとめると、次の様な二つの条件となる。
(1) 350nm≦λL ≦ 550nm、 380nm≦λH ≦ 700nm
(2) 450nm≦λL ≦ 650nm、 300nm≦λH ≦ 450nm
ただし、λL は低屈折率膜の中心波長、λH は高屈折率膜の中心波長を示している。(
1)又は(2)のいずれかの範囲内の組み合わせであれば、平均反射率を0.91以上と
することが可能である。
視光領域における平均反射率が92%以上となる条件は、
(1) 400nm≦λL ≦ 500nm、 400nm≦λH ≦ 700nm
(2) 500nm≦λL ≦ 600nm、 300nm≦λH ≦ 450nm
であることがシミュレーション結果から得られている。なお、λL 、λH 等の定義は前述
の通りであり、(1)又は(2)のいずれかの条件を満たせば良い。
≦ 700nm(λL 、λH 等の定義は前述の通り)である。
ている。即ち、平均反射率が高くなる様な条件を設定するほど、可視光領域の全域でほぼ
同一の反射率が得られる。
決まるので、膜厚制御を行うことで所望の中心波長に調節することができる。この様に本
願発明では誘電体膜の膜厚制御によって、所望の増反射膜を形成することができる。
決められる。即ち、第1の誘電体膜105の屈折率をnL 、膜厚をdL とし、第2の誘電
体膜106の屈折率をnH 、膜厚をdH とした時、λL =4nL dL 、λH =4nH dH
の関係を満たす様な膜厚に調節される。
、上記2式により膜厚に換算することで第1の誘電体膜105及び第2の誘電体膜106
の膜厚が決定される。
電体膜による電圧損失を考慮すると、さらに良好な条件を選定することが可能である。即
ち、低屈折率膜の形成する容量を大きくする、換言すれば高屈折率膜の膜厚よりも低屈折
率膜の膜厚を薄くすることが有効である。
が2.04である場合についてシミュレーションを行ったが、本シミュレーションの結果はこ
の屈折率の組み合わせに限定されるものではない。
。従って、屈折率比(nL /nH )が0.7以下であっても反射率は全体的に高くなる傾
向に向かうため、平均反射率が0.91以上であるというボーダーラインを下回ることは
ない。即ち、前述の中心波長の設定範囲はnL /nH ≦0.7という条件の中では常に成
り立つと言える。
回重ねた場合(誘電体膜の4層構造とした場合)の構成について説明する。説明には図4
を用いる。
成されたTFTである。TFT402は平坦化膜403で覆われ、その上にはコンタクト
ホールを介してTFT402と接続する画素電極404が設けられている。本実施例では
画素電極404として1wt% のチタンを含有させたアルミニウム膜を用いた。勿論、この
材料に限定される必要はない。
体膜406(高屈折率膜)、第3の誘電体膜407(低屈折率膜)、第4の誘電体膜40
8(高屈折率膜)を積層形成する。第1及び第3の誘電体膜には屈折率が 1.2〜1.6 程度
と低めの材料を用い、第2及び第4の誘電体膜には屈折率が 1.8〜2.5 と高めの材料を用
いた。
(A)409と呼ぶ。また、第3及び第4の誘電体膜でなる誘電体多層膜を誘電体(B)
410と呼ぶ。この時、実施例1における第1の誘電体膜105に相当するのが誘電体(
A)409であり、第2の誘電体膜106に相当するのが誘電体(B)410であると考
えれば良い。
体(A)409の中心波長λA に相当)に設定し、第3の誘電体膜407及び第4の誘電
体膜408を同一中心波長(誘電体(B)410の中心波長λB に相当)に設定した。そ
して、可視光領域内において両者の中心波長を幅広く組み合わせたシミュレーションを行
ない、最適な増反射条件を求めた。
る。図4(B)に示す様に、金属膜411(画素電極)上には低屈折率膜と高屈折率膜と
が交互に形成される。ここで(低)とは低屈折率膜を、(高)とは高屈折率膜を意味する
。
(E)は横軸に波長、縦軸に反射率をプロットしたグラフであり、誘電体(A)の中心波
長を 400nm、 500nm、 550nm、 600nm、 650nmに固定した場合のそれぞれについて、誘電
体(B)の中心波長を変化させた場合を表している。図中において、実線や点線で描かれ
た曲線が誘電体(B)の各中心波長に対応した反射率特性を示している。
体(A)の中心波長も誘電体(B)の中心波長も長波長側に設定するほど反射率の低下す
る波長域が長波長側に移動する傾向にある。
に誘電体(B)410の中心波長、縦軸に可視光領域における平均反射率をとり、誘電体
(A)409の中心波長を 400〜650 nmの範囲で振った時のデータをプロットしている。
また、屈折率は実施例1と同様に、低屈折率膜は1.43とし、高屈折率膜は2.04とした。
00nm≦λA ≦ 570nm、 400nm≦λB ≦ 800nm(ただしλA は誘電体(A)の中心波長、λ
B は誘電体(B)の中心波長とする)であるとした。さらに、平均反射率が0.93以上
となる様な条件は、 400nm≦λA ≦ 500nm、 600nm≦λB ≦ 700nm(ただしλA 、λB は
の定義は上述の通り)であるとした。
H とし、第1、第2、第3及び第4の誘電体膜の膜厚を各々d1 、d2 、d3 、d4 とす
る時、第1、第2、第3及び第4の誘電体膜の膜厚は、 400nm≦λA ≦570 、 400nm≦λ
B ≦800 又は 400nm≦λA ≦ 500nm、 600nm≦λB ≦ 700nm(ただしλA =4nL d1 =
4nH d2 、λB =4nL d3 =4nH d4 )を満たす様に調節される。
適切に設定することで0.91以上(好ましくは0.93以上)の高い平均反射率の画素
電極を形成することができる。
制御することで所望の中心波長に調節し、上述の様な構造の増反射膜を形成する。
との比(nL /nH )が0.7以下となる組み合わせであれば、上述の波長範囲は全て有
効となる。
折率膜の膜厚を高屈折率膜の膜厚より薄くすることが有効である。
ので、図4と同一の部分に関しては同一の符号を用いることにする。本実施例では画素電
極404の上に第1の誘電体膜701(低屈折率膜)、第2の誘電体膜702(高屈折率
膜)、第3の誘電体膜703(低屈折率膜)、第4の誘電体膜704(高屈折率膜)を積
層形成する。
い、第2及び第4の誘電体膜には屈折率(nH )が 1.8〜2.5 と高めの材料を用いた。
(C)705と呼び、第3及び第4の誘電体膜でなる誘電体多層膜を誘電体(D)706
と呼ぶことにする。
長を変化させてシミュレーションを行った。即ち、第1の誘電体膜701及び第3の誘電
体膜703(どちらも低屈折率膜)の中心波長を同一波長(λL )に設定し、第2の誘電
体膜702及び第4の誘電体膜704(どちらも高屈折率膜)の中心波長を同一波長(λ
H )に設定する様にした。
るが、それぞれ異なる屈折率としても構わない。本実施例の場合、誘電体(C)及び誘電
体(D)という単位の中で低屈折率膜と高屈折率膜の積層構造とを形成していれば問題は
ない。
シミュレーションを行ない、最適な増反射条件を求めた。
)に示す様に、金属膜707(画素電極)上には低屈折率膜と高屈折率膜とが交互に形成
される。勿論、(低)とは低屈折率膜を、(高)とは高屈折率膜を意味する。
(C)は横軸に波長、縦軸に反射率をプロットしたグラフであり、高屈折率膜の中心波長
を 550nm、 600nm、 650nmに固定した場合のそれぞれについて、低屈折率膜の中心波長を
変化させた場合を表している。
折率膜の中心波長も高屈折率膜の中心波長も長波長側に設定するほど、反射率の低下する
波長域が長波長側に移動する傾向にある。
に高屈折率膜(702と704の誘電体膜)の中心波長、縦軸に可視光領域における平均
反射率をとり、低屈折率膜(701と703)の誘電体膜)の中心波長を 350〜600 nmの
範囲で振った時のデータをプロットしている。また、屈折率は実施例1、2と同様に、低
屈折率膜は1.43とし、高屈折率膜は2.04とした。
(1) 500nm≦λL ≦ 550nm、 400nm≦λH ≦ 500nm
(2) 350nm≦λL ≦ 500nm、 500nm≦λH ≦ 550nm
(3) 350nm≦λL ≦ 500nm、 550nm≦λH ≦ 750nm
であるとした。ただしλL は低屈折率膜の中心波長、λH は高屈折率膜の中心波長とする
。勿論、設定する中心波長は(1)、(2)又は(3)のいずれかの条件を満たす様に選
択すれば良い。
(4) 500nm≦λL ≦ 525nm、 400nm≦λH ≦ 500nm
(5) 450nm≦λL ≦ 500nm、 500nm≦λH ≦ 550nm
(6) 400nm≦λL ≦ 450nm、 550nm≦λH ≦ 650nm
(7) 350nm≦λL ≦ 400nm、 600nm≦λH ≦ 700nm
であるとした。ただしλL 、λH はの定義は上述の通りであり、(4)、(5)、(6)
又は(7)のいずれかの条件を満たせば良い。
厚並びに屈折率を各々dL 、nL とし、第2及び第4の誘電体膜の膜厚並びに屈折率を各
々dH 、nH とする時、第1及び第3の誘電体膜の膜厚dL 並びに前記第2及び第4の誘
電体膜の膜厚dH は、 500nm≦λL ≦550 nm、 400nm≦λH ≦500 nm(ただしλL =4n
L dL 、λH =4nH dH )を満たす様に調節される。勿論、他の(2)〜(7)の条件
範囲においても同様である。
好ましくは0.93以上)の高い平均反射率の画素電極を形成することができる。
制御することで所望の中心波長に調節し、上述の様な構造の増反射膜を形成する。
との比(nL /nH )が0.7以下となる組み合わせであれば、上述の波長範囲は全て有
効となる。
折率膜の膜厚を高屈折率膜の膜厚より薄くすることが有効である。
用しない場合とについて反射率の比較を行ったところ、図10に示す様な結果が得られた
。なお、本実施例では画素電極としてアルミニウム膜に1wt% のチタンを含有させた材料
を用いた。膜厚は 200nmである。
μm)、配向膜( 240nm)、透明導電膜( 120nm)、ガラス基板が設けられており、これ
らを透過した光が画素電極表面で反射される。従って、ここで得られた反射率は配向膜等
による光損失を含めた反射率である。
た画素電極の構造では明らかに反射率が向上することが確認された。なお、本願発明を採
用しない場合には視光領域における平均反射率は80.1%であったが、実施例1の構造
を採用した画素電極では平均反射率が85.5%、実施例2の構造を採用した画素電極で
は平均反射率が86.8%と、大幅に反射率を改善することができた。
した。その結果、本願発明を適用することで液晶のしきい値特性及び応答速度に影響はな
く、液晶の電気特性に悪影響を与える様な弊害は生じないことが確認された。
み立ててみたところ、従来に較べて明るい表示が可能となり、輝度及びコントラストの向
上が実現された。
場合について説明する。なお、実施例1〜実施例4に示したデータは誘電体膜をスピンコ
ート法により成膜している。
を分散させたコロイド溶液を用いれば良い。膜厚は溶液の濃度、スピンコート時の回転数
、スピン時間などで決定される。この条件は成膜する誘電体膜の種類によっても異なるの
で実施者が適宜設定すれば良い。
000(屈折率2.04)を1/3に希釈した溶液を用いた。その際、L−1001の塗布条
件(スピン時間と回転数)は、1st :500rpm、5sec、2nd :2000rpm 、20sec とした。ま
た、H−1000の塗布条件は、1st :500rpm、5sec、2nd :1000rpm 、20sec とした。
、250℃2時間のポストベークを行った。勿論、この様なベーク工程(キュア工程とも
呼ぶ)は本実施例の条件に限定されるものではない。こうして所望の屈折率と膜厚を有す
る誘電体膜を得た。
後)に誘電体膜を形成するため、画素電極によって形成された段差を覆う様にして誘電体
膜を形成しなければならない。
効である。スピンコート法を利用することで段差を十分に平坦化する様な状態で誘電体膜
が形成され、その上に形成される配向膜は十分に平坦なものとなる。従って、液晶層は平
坦面上に形成されることになり、段差によるディスクリネーションの発生などを防止する
ことができる。
層膜上に配向膜を形成する。また、対向電極と配向膜とを備えた対向基板を用意し、TF
T側基板と対向基板との間に液晶材料を封入すれば図11に示す様な構造のアクティブマ
トリクス型液晶表示装置が完成する。液晶材料を封入する工程は、公知のセル組工程を用
いれば良いので詳細な説明は省略する。
はソースドライバー回路、14はゲイトドライバー回路、15は対向基板、16はFPC
(フレキシブルプリントサーキット)、17は信号処理回路である。
ICで代用していた様な処理を行う回路を形成することができる。勿論、ガラス基板上に
ICチップを設けて、ICチップ上で信号処理を行うことも可能である。
ス型の表示装置であればEL(エレクトロルミネッセンス)表示装置やEC(エレクトロ
クロミックス)表示装置に本願発明を適用することも可能であることは言うまでもない。
な電子機器としては、ビデオカメラ、スチルカメラ、プロジェクター、プロジェクション
TV、ヘッドマウントディスプレイ、カーナビゲーション、パーソナルコンピュータ、携
帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話等)などが挙げられる。それらの一例を図
12に示す。
03、表示装置2004、操作スイッチ2005、アンテナ2006で構成される。本願
発明を表示装置2004等に適用することができる。
103、操作スイッチ2104、バッテリー2105、受像部2106で構成される。本
願発明を表示装置2102に適用することができる。
、カメラ部2202、受像部2203、操作スイッチ2204、表示装置2205で構成
される。本願発明は表示装置2205等に適用できる。
、バンド部2303で構成される。本発明は表示装置2302に適用することができる。
2403、偏光ビームスプリッタ2404、リフレクター2405、2406、スクリー
ン2407で構成される。本発明は表示装置2403に適用することができる。
装置2503、光学系2504、スクリーン2505で構成される。本発明は表示装置2
503に適用することができる。
とが可能である。
Claims (3)
- 前記スイッチング素子に電気的に接続された金属膜上に、第1の誘電体膜を形成する第1の工程と、
前記第1の誘電体膜上に、第2の誘電体膜を形成する第2の工程と、
前記第2の誘電体膜上に、第3の誘電体膜を形成する第3の工程と、
前記第3の誘電体膜上に、第4の誘電体膜を形成する第4の工程と、を有し、
(A)前記第1の誘電体膜の屈折率をnL1としたとき、前記第1の誘電体膜の膜厚dL1(nm)は、350/4nL1≦dL1≦500/4nL1となるように形成され、
(B)前記第2の誘電体膜の屈折率をnH2としたとき、前記第2の誘電体膜の膜厚dH2(nm)は、500/4nH2≦dH2≦750/4nH2となるように形成され、
(C)前記第3の誘電体膜の屈折率をnL3としたとき、前記第3の誘電体膜の膜厚dL3(nm)は、350/4nL3≦dL3≦500/4nL3となるように形成され、
(D)前記第4の誘電体膜の屈折率をnH4としたとき、前記第4の誘電体膜の膜厚dH4(nm)は、500/4nH4≦dH4≦750/4nH4となるように形成され、
(E)前記dL1は、前記dH2よりも小さく、
(G)前記dL3は、前記dH4よりも小さく、
(H)前記nL1は、前記nH2よりも小さく、
(I)前記nL3は、前記nH4よりも小さいことを特徴とする液晶表示装置の作製方法。 - 前記スイッチング素子に電気的に接続された金属膜上に、第1の誘電体膜を形成する第1の工程と、
前記第1の誘電体膜上に、第2の誘電体膜を形成する第2の工程と、
前記第2の誘電体膜上に、第3の誘電体膜を形成する第3の工程と、
前記第3の誘電体膜上に、第4の誘電体膜を形成する第4の工程と、を有し、
(A)前記第1の誘電体膜の屈折率をnL1としたとき、前記第1の誘電体膜の膜厚dL1(nm)は、350/4nL1≦dL1≦500/4nL1となるように形成され、
(B)前記第2の誘電体膜の屈折率をnH2としたとき、前記第2の誘電体膜の膜厚dH2(nm)は、500/4nH2≦dH2≦750/4nH2となるように形成され、
(C)前記第3の誘電体膜の屈折率をnL3としたとき、前記第3の誘電体膜の膜厚dL3(nm)は、350/4nL3≦dL3≦500/4nL3となるように形成され、
(D)前記第4の誘電体膜の屈折率をnH4としたとき、前記第4の誘電体膜の膜厚dH4(nm)は、500/4nH4≦dH4≦750/4nH4となるように形成され、
(E)前記dL1は、前記dH2よりも小さく、
(G)前記dL3は、前記dH4よりも小さく、
(H)前記nL1は1.2〜1.6であり、
(I)前記nH2は1.8〜2.5であり、
(J)前記nL3は1.2〜1.6であり、
(K)前記nH4は1.8〜2.5であることを特徴とする液晶表示装置の作製方法。 - 前記スイッチング素子に電気的に接続された金属膜上に、第1の誘電体膜を形成する第1の工程と、
前記第1の誘電体膜上に、第2の誘電体膜を形成する第2の工程と、
前記第2の誘電体膜上に、第3の誘電体膜を形成する第3の工程と、
前記第3の誘電体膜上に、第4の誘電体膜を形成する第4の工程と、を有し、
(A)前記第1の誘電体膜の屈折率をnL1としたとき、前記第1の誘電体膜の膜厚dL1(nm)は、350/4nL1≦dL1≦500/4nL1となるように形成され、
(B)前記第2の誘電体膜の屈折率をnH2としたとき、前記第2の誘電体膜の膜厚dH2(nm)は、500/4nH2≦dH2≦750/4nH2となるように形成され、
(C)前記第3の誘電体膜の屈折率をnL3としたとき、前記第3の誘電体膜の膜厚dL3(nm)は、350/4nL3≦dL3≦500/4nL3となるように形成され、
(D)前記第4の誘電体膜の屈折率をnH4としたとき、前記第4の誘電体膜の膜厚dH4(nm)は、500/4nH4≦dH4≦750/4nH4となるように形成され、
(E)前記dL1は、前記dH2よりも小さく、
(G)前記dL3は、前記dH4よりも小さく、
(H)前記第1の誘電体膜とは、第1のアクリル膜、第1のポリイミド膜、第1のフッ化マグネシウム膜、又は第1の二酸化シリコン膜のいずれかであり、
(I)前記第2の誘電体膜とは、第1の二酸化チタン膜、第1のジルコニア膜、第1のITO膜、第1の窒化シリコン膜、又は第1の二酸化セリウム膜のいずれかであり、
(J)前記第3の誘電体膜とは、第2のアクリル膜、第2のポリイミド膜、第2のフッ化マグネシウム膜、又は第2の二酸化シリコン膜のいずれかであり、
(K)前記第4の誘電体膜とは、第2の二酸化チタン膜、第2のジルコニア膜、第2のITO膜、第2の窒化シリコン膜、又は第2の二酸化セリウム膜のいずれかであることを特徴とする液晶表示装置の作製方法。
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