JP5160368B2 - 表面実装方法 - Google Patents

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本発明は、表面実装方法、特に基板に対する電子部品の搭載精度を向上する際に適用して好適な表面実装方法に関する。
一般に、表面実装装置においては、搭載ヘッドに装着されている吸着ノズルで吸着保持した電子部品を、該搭載ヘッドをXYロボットにより移動させ、所定の搭載領域に位置決めされている基板上の目標位置に搭載することが行なわれている。
このように搭載ヘッドをXY方向に移動させるXYロボットには、搭載ヘッドをX方向に案内するX軸ビームの歪みやたわみに加えて、該XビームをY方向に案内するY軸ガイドレールの歪みやたわみによる直線性の崩れが、電子部品を基板全面に均一に搭載することを妨げる誤差要因になっている。
このような要因による誤差を、表面実装装置自体で補正する従来の技術としては、例えば特許文献1には、複数のマークを記したダミー基板を所定位置に位置決めした状態で搭載ヘッドに備えられている基板マークを検出するためのCCDカメラ等の基板認識カメラによって撮像し、撮像された画像上のマーク位置と理論上のマーク位置との誤差から、XYロボットの誤差量を得て補正量とする方法が提案されている。
又、特許文献2には、搭載領域の全域に複数のマークが設けられたガラス治具基板を位置決めし、該ガラス治具基板に対して搭載ヘッドを用いて電子部品の搭載を実際に行ない、搭載された電子部品とマークを基板認識カメラにより同時に撮像して補正量を取得する方法が提案されている。
ところが、通常、XYロボットの歪みやたわみは、XY方向への平面的な誤差を生じるだけではない。搭載ヘッドに装着されている吸着ノズルは、理想的にはどのXY座標においても常に基板平面に対しては垂直の関係を保つようにすることが望ましいが、XYロボットの歪みやたわみによって、座標毎に基板平面に対する垂直関係に狂いが生じ、傾斜していることがある。
このような垂直方向からの傾斜成分が吸着ノズルに存在すると、基板認識カメラにより観察される目標座標からの理論上のずれ量と、同目標座標に電子部品を実際に搭載した場合の搭載ずれ量が一致しない誤差要因となるため、前記特許文献1のように単に基板認識カメラで観察されたマークのずれ量だけで補正したのでは、搭載位置に対する高精度な補正が保証されないという問題があった。
そのために、特許文献2のように、ガラス治具基板の全面に実際に電子部品を搭載し、搭載した電子部品を基板認識カメラで観察することにより、搭載位置に対する精度の高い補正量を取得する方法が必要となっている。
特開2001−136000号公報 特開2001−244696号公報
しかしながら、前記特許文献2に開示されている方法には、電子部品をガラス治具基板の全面に実際に搭載し、その電子部品の全てを基板認識カメラにより順次撮像する必要があるため、搭載に使用する電子部品を大量に用意する必要がある上に、データの取得に時間がかかるという問題があった。
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、搭載ヘッドに装着されている吸着ノズルの傾斜に起因する誤差を含む電子部品の搭載位置ずれ量を、大量の電子部品を用意することなく、従って短時間で補正データを取得することができる上に、精度の高い補正を実現することができる表面実装方法を提供することを課題とする。
本発明は、下端部に吸着ノズルが装着可能なノズル可動部と共に、下方を撮像する基板認識カメラを有する搭載ヘッドをXY移動させ、該吸着ノズルに吸着された電子部品を、搭載領域に位置決めされている基板上に搭載する表面実装方法において、複数マークが縦横に所定の間隔を隔てた直線上に配列形成されている治具基板を、前記搭載領域に位置決めした状態で、任意の一直線上のマークを基板認識カメラにより認識し、各マークについて得られたX方向、Y方向の認識ずれ量を記憶するステップと、得られた認識ずれ量の差がX方向、Y方向それぞれについて最大となる各2点の計4点のマークを抽出し、当該4点のマークの近傍にそれぞれ設定した搭載予定位置に実際に電子部品を搭載すると共に、搭載された各電子部品と対応するマークを同一視野内でそれぞれ基板認識カメラにより撮像し、撮像された画像に基づいてマークを基準とする電子部品の搭載ずれ量を取得するステップと、X方向、Y方向について取得された前記各2点のマークに関する認識ずれ量の差の最大値と、対応する前記搭載ずれ量の差との比を係数として求めるステップと、求められた係数を、前記一直線上の各マークについて記憶されている認識ずれ量に乗算し、該直線上の搭載ずれ量を推定するステップと、推定された搭載ずれ量に基づいて搭載位置を補正して電子部品を基板上に搭載するステップと、を有することにより、前記課題を解決したものである。
本発明においては、前記任意の一直線が、X方向及びY方向の各一直線であるようにしてもよい。
本発明によれば、治具基板に格子上に配列形成されているマークの1列(任意の一直線上のマーク)について基板認識カメラにより認識ずれ量を求め、その中の4つのマークに対してのみ実際に電子部品を搭載し、その搭載ずれ量のみに基づいて、該列に対する係数を求め、それ以外のマークについては該係数を認識ずれ量に乗算して求めるようにしたので、該列の全てのマークについてノズル軸の傾斜を考慮した精度の高い搭載ずれ量を推定することができる。このように1つの直線上のマークについて搭載ずれ量を求めることにより、例えばX方向について対応する位置に対する精度の高い補正が実現でき、該直線と直交する一直線上のマークについて同様に処理することにより、Y方向について対応する位置に対する精度の高い補正が実現できる。従って、全てのマークに対して実際に電子部品を実装して各マーク毎の補正量を取得する場合に比べて、少ない部品点数で済むことから、短時間でデータを取得することができる上に、高精度の補正ができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明に係る一実施形態の表面実装装置を模式的に示す概略平面図である。
この表面実装装置では、搭載ヘッド10が、XYロボットを構成するX軸ビーム12によりX方向(横方向)に案内移動されると共に、該X軸ビーム12と一体で左右のY軸ガイドレール14によりY方向(縦方向)に案内移動されるようになっている。
又、この表面実装装置では、フロント側部品供給部16及びリア側部品供給部18からなるフィーダにそれぞれ供給される電子部品を、搭載ヘッド10により保持した後、搭載領域に位置決めされている基板S上の目標位置に搭載する。
図2には、図1における搭載ヘッド10を正面から見た状態を拡大して示す。この搭載ヘッド10には、図示されているように複数のヘッド可動部20が配設され、それぞれ下端部に装着される吸着ノズル22により電子部品Pを吸着保持したり、リリースしたりするための電磁弁、該吸着ノズル22を上下動させるためのZ軸サーボモータ及び吸着ノズル22を回転させるためのθ軸サーボモータを備えている。
又、この搭載ヘッド10には、レーザを照射した際の遮光幅によりノズル中心に対する部品吸着位置のずれを検出する機能を有する部品認識装置24が備えられている。
又、この搭載ヘッド10には、CCDカメラからなる基板認識カメラ26が備えられ、この基板認識カメラ26によって位置決めされている基板S上の基準マーク(図示せず)を認識することができる共に、後述する治具基板のマークを認識することができるようになっている。
更に、この搭載ヘッド10では、前記フロント側部品供給部16、リア側部品供給部18から電子部品Pを吸着し、基板Sの目標搭載位置に移動する間に、前記部品認識装置24によって吸着した電子部品Pのノズル中心からのずれ量や角度ずれを認識することが可能であり、搭載ヘッド10は移動中に認識したこれらXY及びθのずれ量をノズル可動部20により補正し、基板S上の目標位置に電子部品Pを搭載するようになっている。
図3は、本実施形態において使用される治具基板30を模式的に示した平面図であり、該治具基板30はガラスでできた基板の縦横に、基板認識カメラ26で認識可能な複数のマークMが一定間隔の直線上に配列形成されている。
本実施形態においては、前記図1に示した基板Sが位置決めされている搭載領域に、該基板Sの代わりに図3に示した治具基板30を、マークMの配列方向とXY方向を合せて位置決めする。
そして、この治具基板30に配列形成されている多数のマークMにおける任意の横方向(もしくは縦方向)一列(直線上)のマークMを基板認識カメラ26で認識し、各々の理論座標に対するカメラによる認識ずれ量、即ちXYロボットに起因するずれ量を補正値として記憶すると共に、得られたずれ量の中から、X方向ずれ量の差が最大となる2点と、Y方向ずれ量の差が最大となる2点の、計4点のマークを抽出する。
次いで、抽出された4点のマーク近傍に電子部品Pを実際に搭載し、搭載された電子部品Pの理論座標からのずれ量を、該電子部品PとマークMとを基板認識カメラ26により同一視野内に撮像して認識する。本来であれば、マーク中心を目標位置に電子部品Pを搭載するべきであるが、マークM上に搭載すると該マークMと搭載された電子部品Pとの位置関係を画像上で把握することができなくなるため、対象のマークMに対して一定距離だけ離れた位置関係にあるマークMの近傍の理論座標(搭載予定位置)上に搭載する。
このように基板認識カメラ26による認識ずれ量の差が最大となったマークMの近傍座標へ電子部品Pを搭載した際の搭載ずれ量を求め、後述する(1)式に示すように(搭載ずれ量の差/認識ずれ量の差の最大値)の比を係数として算出し、算出された係数を横一列(もしくは縦一列)の直線上の基板認識カメラ26による各認識ずれ量に乗算することにより、代表4点のマークに対する認識結果から横一列(もしくは縦一列)の搭載補正量を推定し、生産時に基板上に電子部品Pを搭載する際の補正に反映させるようにする。
以下、本実施形態について、具体例を挙げて詳細に説明する。
ここでは、X方向を代表させ、横一列の直線上に対する補正量の算出方法について説明する。
まず補正データの取得方法について、前記図3に示した治具基板30における任意の横一列のマークを基板認識カメラ26により画像認識し、各々の認識結果から得られたn個の理論座標からの認識ずれ量:(dXccd[0],dYccd[0]),(dXccd[1],dYccd[1])..(dXccd[n-1],dYccd[n-1])を、XYロボットによる位置ずれに対する補正値として記憶する。なお、各ずれ量の添字ccdは基板認識カメラ26によるマークMのみの認識を意味する。
図4には、マーク認識イメージを模式的に示す。1つマークMの中心(理論座標)に基板認識カメラ26の中心(図中ccd認識中心)が一致するようにXYロボットにより搭載ヘッド10を移動させ、停止させた際の両中心間の差が、ここで言う認識ずれ量である。
次に、記憶したn個のずれ量から、+側に最もずれたマークMと、−側に最もずれたマークMを、X方向、Y方向のそれぞれに対して抽出する。図5には、X方向一列のマークMについて、Y方向を例とした認識ずれ量と、その最大値、最小値の関係のグラフイメージを示す。図示は省略するが、同列のマークMについてX方向のずれ量も同様に得られる。
これにより、X方向について認識ずれ量の差が最大となる2点(dXccdMax, dXccdMin)、Y方向について認識ずれ量の差が最大となる2点(dYccdMax, dYccdMin)の、計4点のマークMが抽出される事になる。前記図5には、Y方向に対してのみ併記する。
以上の方法により抽出された4点のマークMに対し、基板認識カメラ26が同一視野内で撮像可能な一定距離だけ離れた搭載予定位置(理論座標)に電子部品Pを実際に搭載し、今度は基板認識カメラ26により、各マークMの中心から搭載された電子部品Pの中心までの距離を認識し、理論上の搭載座標(マーク中心から(X,Y)の搭載予定位置)と実際に電子部品Pが搭載された位置(マーク中心から(X+X’,Y+Y’)の実際搭載位置)とのずれ量(X’,Y’)を取得する。この場合の1つのマークMに対する部品認識のイメージを図6に模式的に示す。
得られたずれ量から、X方向用の2点の認識結果からはX’に相当するX方向搭載ずれ量:dXheadMax、dXheadMinを、Y方向用の2点の認識結果からはY’に相当するY方向搭載ずれ量:dYheadMax、dYheadMinを記憶する。前記図5には、Y方向を例としたマーク中心の理論座標を基準とした搭載ずれ量のグラフイメージを併せて示す。
次に取得された補正データの利用方法であるが、前記の方法で抽出された、X方向とY方向について最大、最小の各2点からなる計4点の結果を利用して、基板認識カメラ26による認識ずれ量の差の最大値と、この2点に対応する前記搭載ずれ量の差の比を次式で計算し、係数Kyを求める。
Ky=(dYheadMax − dYheadMin)/(dYccdMax − dYccdMin) ・・・(1)
そして、算出された係数Kyを最初に横一列分のデータとして保管しておいたn個の理論座標からのずれ量に掛け算する事により、搭載ずれ量に対する横一列分の補正値を算出する。図7には、Y方向を例として算出された前記図5に対応するずれ量のグラフイメージを示す。ここでは簡略化のため、1ノズル可動部分についての方法を記載したが、係数は表面実装装置が有するノズル可動部20の個数分取得する必要がある。
また、同一の方法を治具基板のY方向の任意の縦一列分(直線上)のマークMに対して適用すれば、Y方向に対する同様の補正値を取得することができる。
従って、X方向及びY方向の任意の一直線上についてそれぞれ同様に係数を求めることにより、搭載領域全体に対する電子部品Pの搭載位置を正確に補正することが可能となる。
又、認識ずれ量の差が最大となるマークのみから搭載ずれ量を取得するようにしたので、係数の計算精度を上げることができる。
以上詳述したように本実施形態によれば、以下の効果が得られる。
(1)X軸ビーム12のねじれやたわみに対し、基板認識カメラ26による認識ずれ量と、実搭載による搭載ずれ量の2種類を取得することにより、XYロボットによるずれ量とノズル可動部の倒れ(垂直方向に対する傾斜)によるずれ量との両者の差を正しく補正することが可能となる。
(2)搭載によるずれ量を、基板認識カメラ26による認識ずれ量の差が最大となるポイントにのみ電子部品Pを搭載し、基板認識カメラ26による認識ずれ量の差の最大値と、対応する搭載ずれ量の差の比を係数として求め、それを一直線上の他の認識ずれ量に掛ける事によって、該直線方向の搭載によるずれ量を推定する仕組みを設けた事により、データ取得のための搭載に使用する部品数を削減することができ、従って補正用データの取得時間を削減することができる。
本発明に係る一実施形態の表面実装装置を模式的に示す概略平面図 本実施形態の表面実装装置が備えている搭載ヘッドを模式的に示す概略正面図 本実施形態に適用される治具基板を模式的に示す平面図 基板認識カメラによるマーク認識の画像イメージを示す説明図 直線上に配列されたマークと基板認識カメラによる認識ずれ量の関係のイメージを示す説明図 基板認識カメラにより実搭載部品とマークを同一画像上で認識している画像イメージを示す説明図 電子部品の搭載位置のずれ量の係数による推定イメージを示す説明図
符号の説明
10…搭載ヘッド
12…X軸ビーム
14…Y軸ガイドレール
16…フロント側部品供給部
18…リア側部品供給部
20…ヘッド可動部
22…吸着ノズル
24…部品認識装置
26…基板認識カメラ
30…治具基板
M…マーク
P…電子部品
S…基板

Claims (2)

  1. 下端部に吸着ノズルが装着可能なノズル可動部と共に、下方を撮像する基板認識カメラを有する搭載ヘッドをXY移動させ、該吸着ノズルに吸着された電子部品を、搭載領域に位置決めされている基板上に搭載する表面実装方法において、
    複数マークが縦横に所定の間隔を隔てた直線上に配列形成されている治具基板を、前記搭載領域に位置決めした状態で、任意の一直線上のマークを基板認識カメラにより認識し、各マークについて得られたX方向、Y方向の認識ずれ量を記憶するステップと、
    得られた認識ずれ量の差がX方向、Y方向それぞれについて最大となる各2点の計4点のマークを抽出し、当該4点のマークの近傍にそれぞれ設定した搭載予定位置に実際に電子部品を搭載すると共に、搭載された各電子部品と対応するマークを同一視野内でそれぞれ基板認識カメラにより撮像し、撮像された画像に基づいてマークを基準とする電子部品の搭載ずれ量を取得するステップと、
    X方向、Y方向について取得された前記各2点のマークに関する認識ずれ量の差の最大値と、対応する前記搭載ずれ量の差との比を係数として求めるステップと、
    求められた係数を、前記一直線上の各マークについて記憶されている認識ずれ量に乗算し、該直線上の搭載ずれ量を推定するステップと、
    推定された搭載ずれ量に基づいて搭載位置を補正して電子部品を基板上に搭載するステップと、を有することを特徴とする表面実装方法。
  2. 前記任意の一直線が、X方向及びY方向の各一直線であることを特徴とする請求項1に記載の表面実装方法。
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