JP5152407B2 - 太陽電池セルおよびその製造方法 - Google Patents

太陽電池セルおよびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5152407B2
JP5152407B2 JP2011511270A JP2011511270A JP5152407B2 JP 5152407 B2 JP5152407 B2 JP 5152407B2 JP 2011511270 A JP2011511270 A JP 2011511270A JP 2011511270 A JP2011511270 A JP 2011511270A JP 5152407 B2 JP5152407 B2 JP 5152407B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
aluminum
back electrode
solar cell
silicon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011511270A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2010125728A1 (ja
Inventor
正洋 藤川
繁 松野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2011511270A priority Critical patent/JP5152407B2/ja
Publication of JPWO2010125728A1 publication Critical patent/JPWO2010125728A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5152407B2 publication Critical patent/JP5152407B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0236Special surface textures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0236Special surface textures
    • H01L31/02363Special surface textures of the semiconductor body itself, e.g. textured active layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L31/068Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic System
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/028Inorganic materials including, apart from doping material or other impurities, only elements of Group IV of the Periodic System
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/036Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
    • H01L31/0368Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including polycrystalline semiconductors
    • H01L31/03682Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including polycrystalline semiconductors including only elements of Group IV of the Periodic System
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/186Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
    • H01L31/1868Passivation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Description

本発明は、太陽電池セルおよびその製造方法に関する。
従来のPN接合を有する結晶系シリコン太陽電池の多くは、p型多結晶シリコン基板の受光面側の主面である表主面(以下、表面と記載)には全体にn型の拡散層が形成され、表面の受光面側に微小な凹凸と表面電極が設けられている。この太陽電池セルの受光面側と反対側の主面である裏主面(以下、裏面と記載)には、BSF(Back Surface Field、以下BSFとのみ記載)及びBSR(Back Surface Reflection、以下BSRとのみ記載)が施され、BSFによる光生成キャリアの反射及びBSRによる入射光の反射によって太陽電池セルの交換効率の向上を図っている。
このような太陽電池セルでは、ベース層の厚さが薄くなるに従いBSRの機能が十分に発揮されないため、分離したBSFとBSRを有し、電極形成が容易な太陽電池セル構造を持つものがある(例えば、特許文献1参照)。
また、薄くて大面積の基板に対して、Alペースト材料を全面に印刷焼成する方法でBSF層を形成すると、基板の反りや割れが生じることを防止するためにAlペースト材料をドット状に印刷焼成する方法、又はBBrを用いて熱拡散法で全面に形成する方法等があるが、このような方法を用いると十分な変換効率が得られないことから、解決法として、基板の裏面全面に平面状裏面電界層を形成し、基板の裏面の所定に位置に平面状裏面電極より深いドット状裏面電界層とを設けたものがある(例えば、特許文献2参照)。
特開平1−179373号公報 特開平4−044277号公報
しかしながら、特許文献1に記載されている発明では、裏面で光の反射が小さく、裏面電極で光が吸収されるため基板を透過する光の利用率が小さい。
一方、特許文献2に記載されている発明のように、裏面電極において、表面保護膜であるパッシベーション膜の開口部をドット状に形成し、電極焼成後に裏面反射膜を形成する、もしくはそのまま太陽電池セルを複数枚か並べてフィルムや強化ガラスなどで挟み込み一体化した太陽電池モジュールを形成し、該太陽電池モジュールの太陽電池セルの背面に配置し、紫外線、水蒸気又は塩などから太陽電池モジュールを保護する対候性フィルムであるバックシートの反射により長波長の光利用率をあげることができるように構成することもできる。
しかし、このような構成をとった場合、粒径数μmのアルミニウム粉末と樹脂と有機溶剤とを混合したペーストを用いて、印刷法によりドットを形成することから、乾燥した状態ではアルミニウム粒子が集合した形状であり、構造強度が弱い。そのため、焼成工程までの表面電極印刷工程や搬送時などにドット状の裏面電極が剥離して、アルミニウム合金層やP+層のBSFが十分に形成されず、コンタクト抵抗が増し、太陽電池セルの特性が低下する不具合があった。
また、アルミニウム粒子を含む電極は700〜800℃の電極焼成工程を経ても粒子の密着性が低く、表面酸化などによる抵抗成分の増加に伴い、裏面電極全体の直列抵抗成分が増加し、太陽電池セルの特性が低下する不具合があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたもので、裏面保護と裏面反射の十分な効果が得られ、かつ、構造強度が大きく、抵抗成分の小さい裏面電極を得ることにより、丈夫で特性の優れた太陽電池セルを得ることを目的とする。
この発明に係る太陽電池セルは、半導体基板と、前記半導体基板の受光面側の主面上に形成された導を有する半導体層と、を有する太陽電池セルにおいて、前記半導体基板の裏面側の主面上にパッシベーション膜を形成し、該パッシベーション膜に少なくとも1つの開口部を設け、前記パッシベーション膜上で前記開口部が占める面積の全ての部分と重複し、かつ、前記開口部を覆う第1の裏面電極と、前記パッシベーション膜上で前記第1の裏面電極が占める面積の全ての部分と重複し、かつ、前記第1の裏面電極を覆う第2の裏面電極とを設けたものである。
この発明は、アルミニウム裏面電極と積層するアルミニウムとシリコンを含む裏面電極をさらに持つことこれにより、構造強度を増し、製造中の電極剥離を防止するとともに、導電性に優れた裏面電極を得ることにより、丈夫で、優れた裏面保護効果と裏面反射効果を併せ持つ変換効率の高い太陽電池セルを得ることができる。
この発明の実施の形態1における太陽電池セルの一部を裏面側から見た透視図である。 図1に示すA−Bに沿って切断した場合の断面図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程の一形態を示した図である。 この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造工程を示したフロー図である。 この発明の実施の形態2における太陽電池セルの一部を裏面側から見た透視図である。
実施の形態1.
次に、図面を用いて、この発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には、同一又は類似の符号を付している。但し、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な寸法等は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。
図1は、この発明の実施の形態1における太陽電池セルの一部を裏面側から見た透視図(裏面側下層電極を表示)である。また、図2は、図1に示すA−Bに沿って切断した場合の断面図である。
図において、太陽電池セル1は、半導体基板であるp型の単結晶もしくは多結晶からなるシリコン基板2と、シリコン基板2の受光面側の主面には、光を閉じ込めるための表面凹凸部3が10μm程度の深さで形成されている。表面凹凸部3には、受光面側に沿って0.2μm程度の厚みで、導電型を有する多結晶半導体層であるn型拡散層4が形成され、PN接合部を構成している。n型拡散層4のさらに受光面側には、反射を低減し光利用率を向上させるための反射防止膜5が形成され、これらから光電変換部が構成されている。反射防止膜5の上面には、複数のグリッド電極と直交する複数のバス電極からなる表面電極6が形成されている。なお、シリコン基板2は、p型の単結晶もしくは多結晶に限定されるものではなく、n型の単結晶もしくは多結晶であってもかまわない。
シリコン基板2の裏面側の主面上には、シリコンの欠陥を水素で終端し、少数キャリアの再結合を抑制するパッシベーション膜7が形成されている。このパッシベーション膜7には開口部8が設けられている。開口部8を裏面側から覆うように第1の裏面電極であるドット状のアルミニウム電極9が形成され、アルミニウム電極9の受光面側でシリコン基板2内には、焼成によるアルミニウムとシリコンの合金層10が形成されている。合金層10の受光面側を覆うようにアルミニウム拡散によるP層であるBSF層11が形成されている。
パッシベーション膜7の裏面側で、アルミニウム電極9を覆い、かつ、アルミニウム電極9間をライン接続するように第2の裏面電極であるAl−Si電極12が形成されている。さらに、これらパッシベーション膜7、アルミニウム電極9、及び、Al−Si電極12を覆い、シリコン基板2の裏面側の主面全体を覆うように裏面反射膜13であるBSRが形成されている。
次に、この発明の実施の形態1における太陽電池セルの製造方法について、図3〜図12、及び、図13を参照して説明する。ここで、図3〜図12はこの発明の太陽電池セルの製造工程ごとの形態を示した図であり、図13は太陽電池セルの製造工程を示したフロー図である。図13において、S1は開始、S2は基板洗浄、S3は表面エッチング、S4はn型拡散層形成、S5は反射防止膜形成、S6は裏面エッチング、S7はパッシベーション膜形成、S8は開口部形成、S9は第1の裏面電極形成、S10は第2の裏面電極形成、S11は表面電極形成、S12は熱処理焼成、S13は裏面反射膜形成、及び、S14は完了の各工程である。以下図13のフローに沿って、図3〜図12の段階ごとに説明する。
図3において、シリコン基板2としてp型多結晶シリコン基板を用い、シリコン基板2をフッ化水素および純水で洗浄する。
図4において、例えばアルカリ溶液NaOHとイソプロピルアルコールの混合溶液にシリコン基板2を浸し、表面の凹凸が10μm程度になるようにウェットエッチングを行い、表面凹凸部3を形成する。また、RIE(リアクティブイオンエッチング)法などのドライエッチングプロセスで表面に1〜3μm程度の凹凸を形成したり、プラズマCVDを用いて表面にエッチングマスクを形成し、そこに複数の開口部を形成してからフッ硝酸でエッチングして半球状の微小凹凸部を形成しても良い。後者の凹凸形成方法では、シリコン基板2の面方位によらず規則正しい配列の凹凸が形成でき、光閉じ込め効率が高くなる。
図5において、表面に表面凹凸部3を形成したシリコン基板2をオキシ塩化リン(POCl)ガス中で気相拡散法により高温で熱拡散させてn型拡散層4を形成する。拡散させるリン濃度は、POClガスの濃度および雰囲気温度、加熱時間等により制御可能である。拡散後の基板のシート抵抗は40〜80Ω/cmになる。拡散工程後に、反射防止膜5を形成する。ここでは、プラズマCVDによりシランとアンモニアの混合ガスを用いて窒化シリコン膜を80nm形成した。
次に裏面電極の印刷形成工程に移る。図6において、まず、前記拡散工程で裏面もn型拡散層が形成されているのでアルカリエッチングで除去したのち、パッシベーション膜7を形成する。パッシベーション膜7は、例えば酸化シリコン膜又は膣化シリコン膜などであるが、ここでは、反射防止膜5と同じ膣化シリコン膜をプラズマCVD法で200nmの厚さで形成した。
図7において、成膜したパッシベーション膜7に複数の開口部10を形成する。開口部8を形成する方法には、レジスト塗布、露光、エッチング処理による写真製版法や機械的な開口方法があるが、ここでは、短時間で処理可能なYAGレーザー(波長532nm)を用いた開口を行う。稼働ステージにシリコン基板2を吸着固定し、ステージをX方向にレーザーをY方向に移動させて0.7mmピッチで開口径0.2mmのパターンをレーザーの照射で開口する。
レーザーパターンのピッチと開口径は、電極面積とパッシベーション膜7の面積との関係で変わるので、開口径が大きくなれば十分なBSF層11が形成できアルミニウム電極9とシリコン基板2間の抵抗が小さくなる。逆に開口径が小さくなればBSF層11の形成が浅くなるため、アルミニウム電極9とシリコン基板2間の抵抗が大きくなる。また、パッシベーション効果からすると、開口径が大きくなればパッシベーション膜7の面積は小さくなり効果は小さくなる。逆に開口径が小さくなればパッシベーション膜7の面積は大きくなり十分な効果が得られ、開放電圧Vocや短絡電流Iscの値を高くすることができる。
図8において、開口部8に合わせて第1の裏面電極であるアルミニウム電極9を印刷法によりドット状に形成する。印刷装置でアルミニウムを含むペーストをレーザー開口パターンと同位置に設計された印刷マスクを用いて印刷し、アルミニウム電極9を形成する。このとき、アルミニウム電極9の形成は、印刷位置精度及びマスク精度を考慮し、レーザー開口径より大きい0.3〜0.4mm程度の径で行う。印刷マスクとしてステンレス250メッシュ仕様を用いた場合、電極の厚さは20μm程度になる。
印刷されたアルミニウム電極は約200℃で乾燥する。
図9において、ドット状のアルミニウム電極9を形成した上に重ねてアルミニウム粒子とシリコン粒子とを含むAl−Siペーストを印刷し、第2の裏面電極であるAl−Si電極12を形成する。アルミニウム電極9はパッシベーション膜7に重なるように印刷されているので印刷パターンより0.03〜0.05mm程度広がる。よって、Al−Si電極12の大きさは、アルミニウム電極9の印刷マスクより大きく0.35〜0.45mm程度の径とし、下層を覆うように設計する。Al−Si電極12の印刷マスクは、アルミニウム電極9の印刷マスクと同じ250メッシュ仕様を用いた場合、電極の厚さは10〜20μm程度になる。またアルミニウム電極9を覆い、かつ、アルミニウム電極9間をライン接続するAl−Si電極12の幅は、広くとれば導体抵抗が下がるが、裏面反射膜13による反射効率が下がるので0.3〜0.4mm程度の幅とした。
ここで用いるAl−Siペーストのアルミニウム粒子とシリコン粒子の配合比は、シリコン粒子の混合比が多くなるとアルミニウム電極9との密着力が強くなるが導体抵抗は大きくなる傾向がある。アルミニウム100重量部に対するシリコンの組成比は5〜20重量部であるが、この混合比が剥離しない電極強度を保持し、十分な導体抵抗値を持つ望ましい値である。シリコンの組成比が5重量部以下になると電極強度が弱くなり、20重量部以上になると導体抵抗が低下する傾向にある。印刷されたAl−Si電極12は約200℃で乾燥する。
以上で裏面電極の印刷形成工程が完了し、次に表面電極を形成する。表面電極は複数の太いバス電極と、当該バス電極に直交する複数の細いグリッド電極からなるパターンを印刷法で形成する。印刷には、銀の粒子を含む樹脂や有機溶剤などからなるペーストを用いる。印刷形成された電極は、約200℃で乾燥する。
次に表裏面の電極焼成を行う。ここでは、焼成は赤外線加熱炉を用いて800℃で行う。図10において、焼成工程により、先に形成しておいた表面電極6がファイヤースルーによりシリコンとコンタクトし、また、図11に示すように、アルミニウム電極9のアルミニウムがシリコンと溶融し合金層10を形成する。併せて合金層10を覆うようにAl拡散によるP層であるBSF層11が形成される。電極の膜厚は20〜25μm程度で、合金層10は10〜20μm程度に形成される。これにより4〜8μm程度の十分なBSF層11が得られる。
図12に示すように、焼成後、水素雰囲気400℃で加熱したのち裏面反射膜13を形成する。裏面反射膜13はスパッタ法を用いて、Agを厚さ500〜1000nm程度に成膜した。
実施の形態2.
図14は、この発明の実施の形態2における太陽電池セルの一部を裏面側から見た透視図(裏面側下層電極を表示)である。前記実施の形態1では、アルミニウム電極9がドット状である場合について説明したが、本発明に係る裏面パッシベーション構造の太陽電池セルでは、多結晶シリコンにおいて、開口部面積が小さくなると結晶粒界によりシリコンの反応が変わりコンタクト状態が安定しないので十分な特性が得られない可能性がある。
そこで、この発明の実施の形態2における太陽電池セル1では、パッシベーション膜7の開口形状と第1の裏面電極であるアルミニウム電極9の電極形状を多結晶の各粒界を通るようにストライプ形状としたストライプ電極14により構成し、コンタクト面積を大きくとるようにする。
ここで、上記実施の形態1に示すようにドット形状とし、ドットが占める面積を大きくしても良いが、アルミニウム電極9が多結晶の各粒界を通るようにするためには、直径をかなり大きく取らねばならず、非効率的である。
この発明の実施の形態2で示すストライプ形状の開口部とストライプ電極14を形成するためには、前記実施の形態1で示したYAGレーザーの加工パターン及び印刷マスクのパターン形状を変更することで極めて容易に対応することができる。ここで、本発明の実施の形態2では、裏面電極をストライプ形状とした場合について説明したが、縦と横にラインが交差するクロス形状、または、効率面で少し劣るが円形状又は四角形状にしても良い。
次に、実施の形態2に示す太陽電池セル1の製造方法の具体的一例と得られた太陽電池セル1の性能を示す。
この実施の形態2に係る発明では、シリコン基板2として、150×150mm角、板厚0.18mmのp型多結晶シリコン基板を用いた。ここで、パッシベーション膜7を反射防止膜5と同じ膣化シリコン膜をプラズマCVD法で200nmの厚さで成膜する工程までは上記実施の形態1と同様であるため説明を省略する。なお、この実施の形態では、n型拡散層4を形成する工程で、表面をシート抵抗50〜60Ω/cmになるようにn型拡散した。
次に成膜したパッシベーション膜7にYAGレーザーを用い、幅60μm、ピッチ1.5mmでストライプ状にパッシベーション膜7を除去し、複数のストライプ状の開口部を形成する。
裏面電極形成は、まずアルミニウムペーストを用い、上記複数のストライプ状の開口部を覆うように幅60μmのストライプ電極14を印刷法で形成する。約200℃で乾燥後、アルミニウムと、アルミニウム100重量部に対し、シリコンの組成比が12重量部であるシリコン混合ペーストを用い、幅100μmでストライプ電極14と重なるように1.5mmピッチの格子状にAl−Si電極12を印刷法で形成する。
次に、銀を含むペーストを用いて、表面電極6を電極幅2.0mmの複数の太いバス電極と電極幅0.1mmの複数の細いグリッド電極が交差するように印刷法でパターン形成する。その後、200℃で乾燥し、赤外線加熱炉を用い800℃で焼成する。最後に裏面反射膜13を形成する。裏面反射膜13はスパッタ法を用いて、Agを厚さ800nm程度に成膜した。このように形成された太陽電池セル1には、裏面の電極剥離は見られなかった。
上記方法で得られた実施の形態2に係る太陽電池セルについて、太陽光シミュレータを用いてセル特性を測定した。比較として裏面をパッシベーション膜7がなくアルミニウムを含むペーストで全面塗布焼成した従来型の太陽電池セルを用いた。その結果、全面アルミニウム電極の従来型の太陽電池セルが開放電圧Voc 620mV 短絡電流密度Jsc 32.5A/cm 変換効率Eff 16.5%であるのに対し、実施の形態2に係る太陽電池セルはVoc 625mV、Jsc 34.5A/cm、変換効率Eff 17.0%と光‐電子変換効率が向上することを確認した。
実施の形態3
上記実施の形態1では、アルミニウム電極を形成した上に重ねてアルミニウム粒子とシリコン粒子とを含むAl−Siペーストを印刷し、第2の裏面電極であるAl−Si電極を形成していたが、アルミニウムとシリコンとを溶融したAl−Si合金を用い、当該合金を粒状にした粉体からなるペースト、または、当該粉体を含むペーストを用いてもよい。
このAl−Si合金におけるアルミニウムとシリコンの組成比は、アルミニウム粒子とシリコン粒子とを用いた場合の混合比と同様アルミニウム100重量部に対しシリコンを5〜20重量部とする。
Al−Si合金から成る粉体を用いた場合は、アルミニウム粒子とシリコン粒子との混合粉から成るペーストを用いた場合に比べ、シリコン基板に対する反応性が少し低いので、基板の反りを小さく抑えることができる。
1 太陽電池セル、2 シリコン基板、3 表面凹凸部、4 n型拡散層、5 反射防止膜、6 表面電極、7 パッシベーション膜、8 開口部、9 アルミニウム電極、10 合金層、11 BSF層、12 Al−Si電極、13 裏面反射膜、14 ストライプ電極

Claims (6)

  1. 半導体基板と、該半導体基板の受光面側の主面上に形成された導を有する半導体層と、を有する太陽電池セルにおいて、前記半導体基板の裏面側の主面上にパッシベーション膜を形成し、該パッシベーション膜に少なくとも1つの開口部を設け、前記パッシベーション膜上で前記開口部が占める範囲の全ての部分と重複し、かつ、前記開口部を覆う第1の裏面電極と、前記パッシベーション膜上で前記第1の裏面電極が占める範囲の全ての部分と重複し、かつ、前記第1の裏面電極を覆う第2の裏面電極とを設けたことを特徴とする太陽電池セル。
  2. 前記半導体基板は受光面側の主面上に形成された表面凹凸部を備え、前記半導体層は前記表面凹凸部に沿って形成され、前記半導体層の受光面側に形成された反射防止膜を備える請求項1に記載の太陽電池セル。
  3. 前記第2の裏面電極は少なくともアルミニウムとシリコンを含む合金からなることを特徴とする請求項1または2に記載の太陽電池セル。
  4. 前記第2の裏面電極に含まれるアルミニウムとシリコンの組成比は、アルミニウム100重量部に対してシリコンが5〜20重量部であることを特徴とする請求項記載の太陽電池セル。
  5. 前記開口部及び前記第1の裏面電極がストライプ状であることを特徴とする請求項1乃至請求項のいずれか記載の太陽電池セル。
  6. 前記開口部に合わせて第1の裏面電極を印刷法により形成する工程と、前記第1の裏面電極を形成した上に重ねて第2の裏面電極を印刷法により形成する工程とを含むこと特徴とする請求項1記載の太陽電池セルの製造方法。
JP2011511270A 2009-04-29 2010-03-02 太陽電池セルおよびその製造方法 Expired - Fee Related JP5152407B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011511270A JP5152407B2 (ja) 2009-04-29 2010-03-02 太陽電池セルおよびその製造方法

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009110206 2009-04-29
JP2009110206 2009-04-29
PCT/JP2010/001394 WO2010125728A1 (ja) 2009-04-29 2010-03-02 太陽電池セルおよびその製造方法
JP2011511270A JP5152407B2 (ja) 2009-04-29 2010-03-02 太陽電池セルおよびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2010125728A1 JPWO2010125728A1 (ja) 2012-10-25
JP5152407B2 true JP5152407B2 (ja) 2013-02-27

Family

ID=43031888

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011511270A Expired - Fee Related JP5152407B2 (ja) 2009-04-29 2010-03-02 太陽電池セルおよびその製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20120037224A1 (ja)
JP (1) JP5152407B2 (ja)
CN (1) CN102414833B (ja)
DE (1) DE112010001822T8 (ja)
WO (1) WO2010125728A1 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103180964B (zh) * 2010-10-05 2015-12-16 三菱电机株式会社 光电动势装置及其制造方法
US8586403B2 (en) * 2011-02-15 2013-11-19 Sunpower Corporation Process and structures for fabrication of solar cells with laser ablation steps to form contact holes
TWI470816B (zh) * 2011-12-28 2015-01-21 Au Optronics Corp 太陽能電池
JP5924945B2 (ja) * 2012-01-11 2016-05-25 東洋アルミニウム株式会社 ペースト組成物
WO2013115076A1 (ja) * 2012-02-02 2013-08-08 東洋アルミニウム株式会社 ペースト組成物
TW201349255A (zh) * 2012-02-24 2013-12-01 Applied Nanotech Holdings Inc 用於太陽能電池之金屬化糊劑
US20140158192A1 (en) * 2012-12-06 2014-06-12 Michael Cudzinovic Seed layer for solar cell conductive contact
KR20160034250A (ko) * 2013-05-10 2016-03-29 에르체테 솔루션즈 게엠베하 태양 전지 및 그 제조 방법
KR20140135881A (ko) * 2013-05-16 2014-11-27 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 이의 제조 방법
CN104465798A (zh) * 2013-09-24 2015-03-25 李岱殷 太阳能电池结构及其形成方法
CN103474486B (zh) * 2013-09-25 2015-12-23 常州天合光能有限公司 晶体硅太阳电池的背面梁桥式接触电极及其制备方法
JP6502651B2 (ja) * 2014-11-13 2019-04-17 信越化学工業株式会社 太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュールの製造方法
TWI539613B (zh) * 2015-07-16 2016-06-21 有成精密股份有限公司 高功率太陽能電池模組
NL2015844B1 (en) * 2015-11-23 2017-06-07 Stichting Energieonderzoek Centrum Nederland Enhanced metallization of silicon solar cells.
CN111969071B (zh) * 2020-08-25 2022-03-15 常州时创能源股份有限公司 一种金属化方法和太阳能电池

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002246625A (ja) * 2001-02-21 2002-08-30 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
JP2007214372A (ja) * 2006-02-09 2007-08-23 Sharp Corp 太陽電池およびその製造方法
JP2008294209A (ja) * 2007-05-24 2008-12-04 Mitsubishi Electric Corp 太陽電池基板の製造方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6444277A (en) 1987-08-11 1989-02-16 Nippon Kokan Kk Temperature control method
JPH01179373A (ja) 1988-01-06 1989-07-17 Hitachi Ltd 太陽電池素子
JP2007096040A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Sharp Corp 太陽電池の製造方法および太陽電池
CN101840962A (zh) * 2005-11-08 2010-09-22 Lg电子株式会社 高效太阳能电池及其制备方法
US20070169808A1 (en) * 2006-01-26 2007-07-26 Kherani Nazir P Solar cell
EP2149155B9 (en) * 2007-05-07 2012-04-25 Georgia Tech Research Corporation Formation of high quality back contact with screen-printed local back surface field

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002246625A (ja) * 2001-02-21 2002-08-30 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
JP2007214372A (ja) * 2006-02-09 2007-08-23 Sharp Corp 太陽電池およびその製造方法
JP2008294209A (ja) * 2007-05-24 2008-12-04 Mitsubishi Electric Corp 太陽電池基板の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2010125728A1 (ja) 2012-10-25
WO2010125728A1 (ja) 2010-11-04
US20120037224A1 (en) 2012-02-16
DE112010001822T5 (de) 2012-06-14
CN102414833A (zh) 2012-04-11
CN102414833B (zh) 2014-07-09
DE112010001822T8 (de) 2012-09-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5152407B2 (ja) 太陽電池セルおよびその製造方法
JP4287473B2 (ja) 太陽電池素子の製造方法
US20120222734A1 (en) Solar battery cell and method of manufacturing the same
TWI597856B (zh) Solar cell and manufacturing method thereof
JP2009147070A (ja) 太陽電池の製造方法
JP6282635B2 (ja) 太陽電池の製造方法
JP2007266327A (ja) 太陽電池素子
JP2008034543A (ja) 光電変換素子およびその製造方法
WO2011074280A1 (ja) 光起電力装置およびその製造方法
TWI459572B (zh) Light power device and its manufacturing method
JP5323827B2 (ja) 光起電力装置およびその製造方法
JP2013030665A (ja) 光電変換装置モジュール、光電変換装置モジュールの製造方法、及び光電変換装置
JP2015138959A (ja) 光起電力装置および光起電力装置の製造方法
JP5496354B2 (ja) 光起電力装置およびその製造方法
WO2010150358A1 (ja) 光起電力装置およびその製造方法
EP2634816A1 (en) Solar battery cell and method of manufacturing the same
WO2014054605A1 (ja) 光電変換装置、光電変換装置の製造方法および光電変換モジュール
JP5452755B2 (ja) 光起電力装置の製造方法
JP5501549B2 (ja) 光電変換素子、およびそれから構成される光電変換モジュール
JP6125042B2 (ja) 太陽電池セルの製造方法
TWI584486B (zh) Solar cell and manufacturing method thereof
JP2008112808A (ja) 太陽電池素子
JP2011222630A (ja) 光起電力装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121119

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151214

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5152407

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151214

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees