JP5135911B2 - 温度試験ブースおよび温度試験ブース内の環境生成方法 - Google Patents
温度試験ブースおよび温度試験ブース内の環境生成方法 Download PDFInfo
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Description
温度試験ブースの天井には好ましくは開閉自在な放熱用ファン、温度試験ブースの側壁部あるいは床部には加熱用ヒータを備えた複数の送風用ファン、被試験装置や温度試験ブース内部の適所に温度センサ、また、温度センサにより検知された前記温度試験ブース内の温度情報に基づき温度試験ブース内の温度制御を行うCPUを内臓するコントローラとを備えている。
さらに、矩形の切り欠きとは別に、仕切り板には仕切り板の表裏面を貫通する開閉自在な通気孔が1つ以上設けられている。
所望の高さにおける境界領域Cを境として、それぞれ温度の異なる領域A42と領域B43をつくるため、複数の温度センサ45を温度試験ブース40内に配し、領域A42には温度T1の空気の循環を、また、領域B43には温度T2の空気の循環を生成する。ここで温度センサ45によって検出された各部における温度をもとに、図示されていない、CPUを内臓したコントローラにより、送風用ファン41の加熱用ヒータの温度と送風量を必要に応じて調節し、かつ、温度試験ブース40内部の温度が高くなり過ぎないように開閉口付きの放熱用ファン42を作動させるようになっている。
所望の高さにおける境界領域D46、境界領域D47を境として、それぞれ温度の異なる3つの領域をつくるため、複数の温度センサ45を温度試験ブース40内に配し、第1の領域には温度T3の空気の循環を、第2の領域には温度T4の空気の循環を、また、第3の領域には温度T5の空気の循環を生成する。ここで温度センサ45によって検出された各部における温度をもとに、図示されていない、CPUを内臓したコントローラにより、送風用ファン41の加熱用ヒータの温度と送風量を必要に応じて調節し、かつ、温度試験ブース40内部の温度が高くなり過ぎないように開閉口付きの放熱用ファン42を作動させるようになっている。3つの領域は、各々の領域の上部の位置する送風用ファン41の風向と風量とがコントローラによって制御されている。
31、102、202 放熱用ファン
32、107、210 被試験装置
41、101、201 送風用ファン
42 領域A
43 領域B
44 境界領域
45、103、203 温度センサ
46 境界領域D
47 境界領域E
104、204 コントローラ
105、205 A部
106、206 B部
108、208 空気循環A
109、209 空気循環B
110 A部とB部との境界
207 仕切り板
211 床
Claims (4)
- 電子機器等の温度試験に用いられる温度試験ブース内において、
放熱用ファン、加熱用ヒータを備えた風向を調節可能な送風用ファン、温度センサ、および前記温度センサにより検知される前記温度試験ブース内の温度情報に基づき前記温度試験ブース内の温度制御を行うコントローラとを備え、
前記コントローラは、前記送風用ファンの風向と風量および前記放熱用ファンの風量を調整することにより、前記温度試験ブース内に一定温度に保持された領域を水平面に垂直な方向に層状に複数生成することを特徴とする試験環境生成方法。 - 電子機器等の温度試験に用いられる温度試験ブースであって、
前記温度試験ブースは、
加熱用ヒータを備えた風向を調節可能な送風用ファンと、
放熱用ファンと、
温度センサと、
前記温度センサにより検知される前記温度試験ブース内の温度情報に基づき前記温度試験ブース内の温度制御を行うコントローラとを備え、
前記コントローラは前記送風用ファンの風向と風量および前記放熱用ファンの風量を調整し、水平面に垂直な方向に対して多層にかつ各層毎にほぼ一定の所望温度の温度試験環境を生成することを特徴とする温度試験ブース。 - 前記温度試験ブース内に水平面に略平行な仕切り板を有し、
前記仕切り板は被試験体の一部を取り囲み、
前記仕切り板は前記仕切り板の表裏面を貫通する開閉自在な通気孔を有することを特徴とする請求項2記載の温度試験ブース。 - 前記仕切り板の一部は前記被試験体の周囲の少なくとも一面に対して着脱可能であることを特徴とする請求項3記載の温度試験ブース。
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