JP5131730B2

JP5131730B2 - Ｘ線検査装置および生産システム

Info

Publication number: JP5131730B2
Application number: JP2007061443A
Authority: JP
Inventors: 隆司株本; 修廣瀬
Original assignee: Ishida Co Ltd
Current assignee: Ishida Co Ltd
Priority date: 2007-03-12
Filing date: 2007-03-12
Publication date: 2013-01-30
Anticipated expiration: 2027-03-12
Also published as: JP2008224346A; WO2008111522A1; US8019040B2; CN101632014A; KR20090123913A; CN101632014B; KR101118681B1; US20100135459A1; EP2163886A1

Description

本発明は、Ｘ線検査装置および前記Ｘ線検査装置を含む生産システムに関するものである。

従来より、異物等が混入した商品を出荷しないために、Ｘ線検査装置を用いて商品の検査を行っている。前記Ｘ線検査装置では、電源投入時などにＸ線の検出の診断テストを行っている。一方、Ｘ線検査装置では、Ｘ線源などの劣化が進むので、前記電源投入時の診断テストの他に、前記異物等に相当するテストピースを検査にかけ、当該テストピースの検出を行うことで装置の状態をチェックするテストモードを備えたＸ線検査装置が提案されている。（特許文献１参照）。
特開２００５−３４８１（要約書）

しかし、従来の装置では、商品の生産ラインを一旦停止して、Ｘ線検査装置をテストモードに切り換える必要がある。そのため、商品の生産を停止する必要が生じるため、生産効率が著しく低下する。

したがって、本発明の主目的は、商品の生産を停止することなく、Ｘ線検査装置の状態をチェックし得るＸ線検査装置を提供することである。

前記目的を達成するために、本発明のＸ線検査装置は、物品を搬送しながら物品にＸ線を照射して物品の検査を行うＸ線検査装置であって、物品を搬送する搬送手段と、前記物品を透過したＸ線を検出するラインセンサと、前記ラインセンサで検出された透過Ｘ線に基づいてＸ線透過画像を作成するＸ線画像処理手段と、前記Ｘ線透過画像に映し出された形状に基づいて前記物品がテストピースか商品かを分別する分別手段と、前記商品の合否を判定する判定手段と、前記分別手段による分別の結果、前記物品が商品であると判断された場合に当該商品の合否判定を行い、前記分別手段による分別の結果、前記物品がテストピースであると判断された場合に、前記テストピースにおけるテスト異物が正常に判別できているかをチェックしてその結果を表示する制御部とを備えている。

本発明によれば、分別手段により商品かテストピースかを分別できるので、商品の流れを止めなくても、テストピースを流すことにより、自動的にテストモードに移行することができる。

本発明において、前記テストピースに照射されたＸ線の透過画像を所定の分別基準と比較することで、前記分別手段が前記テストピースか商品かを分別するのが好ましい。
本態様によれば、Ｘ線透過画像を利用して前記分別を行うので、ソフトウエアを追加するだけで別途、ハード機器を設ける必要がないので、大幅なコストアップを招くおそれがない。

本発明において、前記分別を行うための所定の閾値および形状を記憶する第１記憶部を更に備え、前記分別手段は、物品に照射されたＸ線の透過画像と、前記第１記憶部に記憶された閾値および形状に基づいて前記分別を行うのが好ましい。
本態様によれば、分別を行うための閾値を設けることで、テストピースの自動判定が可能となる。

本発明において、テストピースのＸ線透過画像を記憶させるための登録モードを更に備えているのが好ましい。
本態様によれば、登録モードを用いることで、テストピースの登録が容易になる。

本発明において、前記テストピースに設けた異物に応じた閾値を前記登録モードにおいて記憶する第２記憶部を更に備え、前記第２記憶部に記憶された閾値と、前記テストモードにおいて検出したテストピースのＸ線透過画像に基づいて装置のチェックを行ってもよい。
本態様によれば、異なる異物に対応する閾値をそれぞれ第２記憶部に記憶させることにより、異物の種類に応じた閾値の設定が可能となる。したがって、種々の異物について本装置をテストすることができるので、該装置のチェックを、より詳細に行うことができる。

本発明において、前記物品が搬送されるタイミングに基づいて、前記分別手段が前記テストピースか商品かを分別するのが好ましい。
本態様によれば、物品が搬送されるタイミングに基づいて、テストピースを自動投入することができるので、Ｘ線検査装置のソフトウエアの作成が容易になる。

前記Ｘ線検査装置の上流に生産機を更に備えた生産システムであって、前記テストピースが前記生産機で投入されてもよい。
本態様によれば、テストピースの投入が容易になる。

以下、本発明の実施例を図面にしたがって説明する。
図１〜図４は実施例１を示す。
全体構成：
図１に示すように、物品のＸ線検査装置１０は、コンベヤ（搬送手段の一例）５０および光学系２０を備えている。前記光学系２０は、Ｘ線源２１およびラインセンサ２２を備えている。前記Ｘ線源２１はＸ線Ｌを発生させ、該Ｘ線Ｌをラインセンサ２２に向って照射する。

前記Ｘ線源２１は、コンベヤ５０上を搬送される物品Ｍに対してＸ線Ｌを照射する。前記ラインセンサ２２は、コンベヤ５０の下方に、物品Ｍの搬送方向Ｙに略直交する幅方向Ｄに配設されており、該物品Ｍを透過したＸ線Ｌを検出する。
図２（ｂ）に示すように、Ｘ線検査装置１０の下流には振分装置３０が設けられている。Ｘ線検査装置１０により異物の混入などが検出され不合格と判定された商品ＭおよびテストピースＰ（図４）は、振分装置３０によってラインアウトされる。

テストピースＰ；
一方、前記コンベヤ５０には、図４（ａ）に示すテストピースＰが、適時、投入されて搬送される。テストピースＰは、Ｘ線検査装置１０の装置の状態をチェックするためのものであり、図４（ａ）に示すように、たとえば、方形の樹脂板Ｐｂ上に円環状のマーカーＰ１と、該マーカーＰ１内の円形領域の中心にテスト異物Ｐ２が貼着されている。

前記マーカーＰ１は、ラインセンサ２２（図１）により、商品ＭのＸ線透過画像の最も暗い部分よりも更に暗く撮像されることで、後述する画像処理を施すのが容易な、たとえば厚い金属板や金属ワイヤなどで形成されている。テスト異物Ｐ２は、商品Ｍに混入する可能性のある金属箔やガラスからなる。

機器構成：
図２（ａ）に示すように、Ｘ線検査装置１０は、たとえばマイコンからなる制御部１１を有している。前記制御部１１には、前記Ｘ線源２１、ラインセンサ２２、ローカル制御装置２５およびタッチスクリーン２６などが、図示しないインターフェイスを介して、それぞれ互いに接続されている。

前記ローカル制御装置２５は、前記コンベヤ５０の運転や振分装置３０などの動作を制御する。
タッチスクリーン２６は、たとえば、液晶画面のようなディスプレイ画面に、Ｘ線透過画像や種々の情報を表示すると共に、該表示の一部をタッチすることによって入力や設定を行うことが可能である。

制御部１１：
前記制御部１１はＣＰＵ１２およびメモリ（記憶部）１３を備えている。
前記ＣＰＵ１２は、通常モード、テストモードおよび登録モードでＸ線検査装置１０を運転させる運転制御手段１２１を備えている。
通常モードはＸ線検査装置１０に搬送された物品が商品Ｍであると判断された場合に、当該商品Ｍの合否の判定を行うモードである。
テストモードは、Ｘ線検査装置１０に搬送された物品がテストピースＰであると判断された場合にＸ線検査装置１０の状態をチェックするモードである。
登録モードは、前記テストモードに用いるテストピースＰの分別基準（Ｘ線透過画像など）を記憶させるためのモードである。

メモリ１３：
前記メモリ１３は、画像一時記憶部１３ａ、ＮＧ画像記憶部１３ｂ、第１記憶部１３ｃ、第２記憶部１３ｄおよび第３記憶部１３ｅを備えている。
画像一時記憶部１３ａには、図３に示すように、ラインセンサ２２からの撮像信号によって構成されたＸ線透過画像が一時的に記憶される。
ＮＧ画像記憶部１３ｂには、判定手段１２ｃによって不合格とされた商品ＭなどのＸ線透過画像が記憶される。

第１記憶部１３ｃには、前記登録モードにおいてラインセンサ２２によって撮像されたＸ線透過画像に基づいて、商品Ｍと前記テストピースＰとの分別を行うための所定の第１閾値およびマーカーＰ１の形状からなる前記分別基準が記憶される。
第２記憶部１３ｄには、テストピースＰのＸ線透過画像において所定の異物であるか否かのチェックを行うための第２閾値が記憶される。
第３記憶部１３ｅには、商品ＭのＸ線透過画像において異物を含むか否かを判別するための第３閾値が記憶される。

ＣＰＵ１２：
ＣＰＵ１２は、前記運転制御手段１２１の他に、Ｘ線画像処理手段１２ａ、分別手段１２ｂ、判定手段１２ｃ、装置チェック手段１２ｄおよび登録手段１２ｅなどを備えている。

Ｘ線画像処理手段１２ａ：
Ｘ線画像処理手段１２ａは、図１に示す物品がコンベヤ５０上を搬送されるタイミングに基づいて、前記ラインセンサ２２からの出力を受信順に連続的に処理することにより、図３に示す透過Ｘ線の量に応じた明暗の分布を有するＸ線透過画像を作成する。なお、この図において、網点で示す領域がテストピースＰの樹脂部分であり、ハッチングで示す領域がテスト異物Ｐ２であり、黒く塗り潰した領域がマーカーＰ１の画像である。

Ｘ線透過画像：
前記ラインセンサ２２（図１）は、多数の検出素子Ｓ_i（ｉ＝１〜ｎの自然数）を概ね直線状にｎ個並べて形成されている。前記Ｘ線透過画像は、前記検出素子Ｓ_iが検出した透過Ｘ線量を時系列に沿って所定時間Ｔ_mに渡って記録した複数の画素からなる画像である。したがって、前記Ｘ線透過画像は、検出素子Ｓ_iと所定時刻Ｔ_iからなる座標（Ｓ_i，Ｔ_i）上に表される。

前記Ｘ線透過画像には、バックグラウンドＢｇが明るく表示され、物品が存在する部分については、Ｘ線の透過量に応じて暗く表示される。たとえば、図３に示すテストピースＰのＸ線透過画像には、網点で示すように樹脂板Ｐｂ部分が薄暗く表示され、一方、マーカーＰ１部分が最も暗く表示される。図３の斜線で示すテスト異物Ｐ２の検出部分は、当該テスト異物Ｐ２に応じて前記樹脂板Ｐｂよりも暗く、かつ、マーカーＰ１よりも明るく表示される。前記マーカーＰ１の部分のＸ線の透過量（検出値）よりも若干大きい値が前記第１閾値として設定される。

分別手段１２ｂ：
図２（ａ）に示す分別手段１２ｂは、前記Ｘ線透過画像に基づき、コンベヤ５０（図１）上を搬送される物品が商品ＭかテストピースＰかの判別を行う。分別手段１２ｂは、テストピースＰに照射されたＸ線の透過画像（図３）を第１記憶部１３ｃから読み出した前記分別基準と比較することにより行う。

分別手段１２ｂは、第１記憶部１３ｃから第１閾値を読み出し、当該Ｘ線透過画像において、前記第１閾値を越える部分について、第１記憶部１３ｃから読み出した形状にマッチするか否かの判別を行うことにより、商品ＭとテストピースＰとの分別を行う。
分別手段１２ｂは、Ｘ線透過画像の第１閾値を越える部分に、前記形状にマッチするマーカーＰ１が存在すると判断した場合には、当該物品をテストピースＰであると判断すると共に、前記形状にマッチしない場合には、当該物品を商品Ｍと判断する。

商品ＭとテストピースＰの分別方法：
Ｘ線透過画像における第１閾値を越える部分が第１記憶部１３ｃから読み出した形状と一致するか否かの判別方法としては、たとえば、マーカーＰ１部分の２値化された面積と周囲長などの特徴から、Ｘ線透過画像の第１閾値を越える部分と一致するか否かを比較するテンプレートマッチングやパターンマッチングなど種々の周知の画像マッチングの方法を用いることができる。

以下、前記画像マッチングの一例として、パターンマッチング方式について簡単に説明する。
前記第１記憶部１３ｃには、後述する登録モードにおけるテストピースＰの登録時のＸ線透過画像において、前記第１閾値を越える部分を抽出した２値化した画像（以下、「登録画像という」）からなる前記マーカーＰ１の形状が予め記憶される。

一方、分別手段１２ｂは、図３のテストピースＰのＸ線透過画像において、前記第１閾値を基準に当該Ｘ線透過画像を２値化し、前記画素単位で素子方向Ｓおよび時系列方向Ｔにおける全ての組合せについて前記登録画像とマッチする部分を検索し、前記組合せにおいて前記登録画像と当該Ｘ線透過画像の第１閾値を越える部分とが最も一致する位置を求める。

その後、前記最も一致する位置において、当該Ｘ線透過画像の第１閾値を越える部分と登録画像とが一致しない画素数とをカウントして２つの画像の差とし、この差分が所定の範囲を下回るか越えた場合には、当該物品は商品Ｍであると分別する。一方、前記差分が所定の範囲内の場合には、当該物品をテストピースＰであると分別する。

前記分別手段１２ｂによる分別時において、図４（ａ）の前記マーカーＰ１は、図４（ｂ），（ｃ）に示すマーカーＰ１とは異なり、円環状に形成されている。そのため、前記登録画像を回転させて比較する処理が不要となるので、画像マッチングをより一層効率的に行うことができる。

分別手段１２ｂが当該物品を商品Ｍであると分別した場合には、ＣＰＵ１２が通常モードに設定される。一方、分別手段１２ｂが該物品をテストピースＰであると分別した場合には、ＣＰＵ１２がテストモードに設定される。

判定手段１２ｃ：
前記通常モードにおいて、判定手段１２ｃは、当該商品ＭのＸ線透過画像に基づき、異物の混入があるか否かの判別を行う。判定手段１２ｃは、当該Ｘ線透過画像に基づき、周辺の部位に対して明度の異なる部位があるか否かを判別することで、当該商品Ｍに異物が混入ないし付着しているか否かの判別を行う。すなわち、判定手段１２ｃは、第３記憶部１３ｅから第３閾値（異物検出の閾値）を読み出し、Ｘ線透過画像において該第３閾値を越える箇所がある場合には、当該商品Ｍに異物が混入していると判断する。

装置チェック手段１２ｄ：
一方、前記テストモードにおいて、装置チェック手段１２ｄは、テストピースＰにおけるテスト異物Ｐ２の判別を行う。テストモードでは、前記分別手段１２ｂにおいて認識された、図３に示す円環状のマーカーＰ１の座標における中心部分の所定範囲（テスト異物Ｐ２に相当する部分）Ｏにおいて、第２記憶部１３ｄから読み出した第２閾値を検出値が越えているか否かの判断を行う。

装置チェック手段１２ｄは、マーカーＰ１の座標の前記中心部分の範囲Ｏにおいて、第２閾値を越える検出値の画素の数が所定値の範囲内である場合には、本Ｘ線検査装置１０が当該テストピースＰのテスト異物Ｐ２を正常に判別できる正常状態であると判断する。
一方、装置チェック手段１２ｄは、前記中心部分の範囲Ｏにおいて、第２閾値を越える検出値の画素の数が所定の範囲外である場合には、正常に異物検査が行われていないと判断する。

制御部１１は、装置チェック手段１２ｄの判断結果に基づき、Ｘ線検査装置１０が正常に動作していると判断した場合には、その旨をタッチスクリーン２６に表示させる。一方、装置チェック手段１２ｄが正常に異物検査が行なえないと判断した場合には、異常状態であると共に、Ｘ線検査装置１０の再設定等が必要である旨をタッチスクリーン２６に表示させる。

登録手段１２ｅ：
登録手段１２ｅは、前記登録モードにおいて撮像されたテストピースＰのＸ線透過画像に基づき、前記分別基準および第２閾値を第１記憶部１３ｃおよび第２記憶部１３ｄにそれぞれ記憶させる。

つぎに、本システムの動作について説明する。
登録モード：
まず、本システムを起動した後、オペレータが図２（ａ）のタッチスクリーン２６を用いて所定の操作を行い、ＣＰＵ１２を登録モードに設定する。その後、テストピースＰを撮像し、当該Ｘ線透過画像に基づき、図３のマーカーＰ１を検出するための第１閾値および前記登録画像からなるマーカーＰ１の形状を設定すると共に、テスト異物Ｐ２を検出するための第２閾値を設定する。かかる設定により、前記第１閾値および形状からなる分別基準が第１記憶部１３ｃに記憶されると共に、前記第２閾値が第２記憶部１３ｄに記憶される。

その後、商品Ｍをコンベヤ５０に搬送させて、Ｘ線検査装置１０による商品Ｍの異物検査を行うための第３閾値が商品ごとに第３記憶部１３ｅに記憶される。

商品の検査を行う通常モードにおいて、商品Ｍの搬送（生産）が途絶えた際などに、テストピースＰが適時投入される。

テストピースＰの投入には、オペレータが自らテストピースＰを投入してもよいし、高速で商品Ｍが搬送されている場合には、図２（ｂ）に示すテストピースＰの投入装置４０を用いて隣合う商品Ｍ間にテストピースＰを投入してもよい。
テストピースＰの投入タイミングとしては、たとえば、上流に組合せ計量装置１（図５）が存在する場合、所定量の組合せが存在せず、商品Ｍの搬送ライン上の商品ＭがとぎれたタイミングにテストピースＰを投入してもよい。

図２（ａ）のＸ線画像処理手段１２ａは、ラインセンサ２２（図１）が所定のタイミングで受光したＸ線Ｌに基づき、Ｘ線透過画像（図３）を画像一時記憶部１３ａに記憶させる。

その後、分別手段１２ｂが、第１記憶部１３ｃから分別基準を読み出し、当該分別基準に基づきＸ線透過画像の物品が商品ＭであるかテストピースＰであるかの分別を行う。
すなわち、分別手段１２ｂは、第１記憶部１３ｃから第１閾値を読み出し、前記第１閾値を越える部分について、第１記憶部１３ｃから読み出した形状にマッチするか否かの判別を行う。

分別手段１２ｂは、Ｘ線透過画像に、当該形状にマッチするマーカーＰ１が存在すると判断した場合には、当該物品をテストピースＰとして分別し、ＣＰＵ１２をテストモードに設定する。
一方、前記第１閾値を越える部分が存在しない場合や、第１閾値を越える部分が前記形状にマッチしない場合には、当該物品を商品Ｍとして分別し、ＣＰＵ１２を通常モードに設定する。

通常モード：
ＣＰＵ１２が通常モードに設定されると、判定手段１２ｃが第３記憶部１３ｅから第３閾値を読み出す。判定手段１２ｃは、当該商品ＭのＸ線透過画像において、前記第３閾値を越える部分が存在しない場合、当該商品Ｍを異物の混入していない合格品として判断する。
一方、前記Ｘ線透過画像において、第３閾値を越える部分が存在する場合には、当該商品Ｍを異物が混入している不合格品として判断する。判定手段１２ｃは、該不合格品である商品Ｍに対応する振り分け信号をローカル制御装置２５を介して振分装置３０に送信すると共に、当該商品Ｍの撮像されたＸ線透過画像をＮＧ画像記憶部１３ｂに記憶させる。振分装置３０は、前記振り分け信号を受け取ると、当該振り分け信号に該当する不合格品の商品Ｍをラインアウトさせる。

テストモード：
ＣＰＵ１２がテストモードに設定されると、装置チェック手段１２ｄが第２記憶部１３ｄから第２閾値を読み出す。装置チェック手段１２ｄは、当該テストピースＰのＸ線透過画像において、円環状のマーカーＰ１の中心部分の所定の範囲Ｏに前記第２閾値を越える部分が存在するか否かの判別を行う。

当該Ｘ線透過画像において、第２閾値を越える画素の数が所定の範囲内である場合には、Ｘ線検査装置１０が正常に設定されていると判断する。かかる場合には、ＣＰＵ１２がタッチスクリーン２６にＸ線検査装置１０が正常に動作していてる旨の表示を行わせる。
一方、第２閾値を越える画素の数が所定の範囲を越える場合、ＣＰＵ１２はＸ線検査装置１０が正常な異物検査が行われていない異常状態であると共に、Ｘ線検査装置１０の再設定等が必要である旨をタッチスクリーン２６に表示させる。判定手段１２ｃは、テストピースＰのＸ線透過画像をＮＧ画像記憶部１３ｂに記憶させると共に、当該テストピースＰを振分装置３０によりラインアウトさせる。

このように、本発明によれば、分別手段により商品ＭかテストピースＰかを分別できるので、商品Ｍの流れを止めなくても、テストピースＰを流すことにより、自動的にテストモードに移行することができる。
したがって、従来とは異なり、生産ラインを一旦停止して、組合せ計量装置をテストモードに切り換えることなく、しかも、ランダムに組合せ計量装置のチェックを行うことができるから、生産性の低下を招くことなく、かつ、異物検査の信頼性を著しく向上こさせることができる。
また、テストピースＰのＸ線透過画像をＮＧ画像記憶部１３ｂに記憶させることにより、Ｘ線検査装置１０の検査履歴を残すことができるので、不合格商品Ｍの原因追求を容易に行うことができる。なお、ＮＧ画像記憶部１３ｂに記憶されるＸ線透過画像に当該画像が撮像された日時を関連付けてＮＧ画像記憶部１３ｂに記憶させてもよい。

図５は実施例２を示す。
本実施例２では、組合せ計量装置（生産機の一例）１にテストピースＰを随時ランダムに投入する投入機２００を備える。

以下、一般的な組合せ計量装置１について簡単に説明する。
図５に示すように、搬送コンベヤ１００は、被計量物である物品Ｍを分散部２に落下させる。なお、物品Ｍは数個ないし多数個が集められて後に袋詰めされて商品になる。

各供給トラフ３ｉは分散部２上の物品Ｍを、各供給トラフ３ｉの下流に設けられた多数のプールホッパ４ｉに落下させて供給する。これら各プールホッパ４ｉには、ゲート５ｉが設けられ、前記各供給トラフ３ｉから供給されて受け取った物品Ｍを一時的に収容して貯留する。前記各プールホッパ４ｉの下流には計量ホッパ６ｉが設けられている。これら各計量ホッパ６ｉには、前記プールホッパ４ｉから該計量ホッパ６ｉに投入された物品Ｍの重量を検出する重量検出器７ｉを備えた計量ヘッドおよびゲート８ｉが設けられている。ゲート８ｉの下方には大きな集合シュート９が設けられており、前記各重量検出器７ｉで検出された物品Ｍの計量値を組み合わせることで、物品Ｍを一まとめにして目標値もしくは目標値に近い値とし、下流の製袋包装機（図示せず）等に物品Ｍを落下させる。

前記投入機２００は組合せ計量された物品のない場合や、ロット替えの際などにテストピースを集合シュート９に排出する。
このように、Ｘ線検査装置１０の上流の生産機にテストピースＰが投入されることにより、テストピースＰが混入された商品ＭをＸ線検査装置にランダムに流すことができる。

なお、テストピースＰとしては、マーカーＰ１によってテスト異物Ｐ２の位置が特定できるようにマーカーＰ１を形成すればよく、たとえば、図４（ｂ）に示すように、マーカーＰ１がテスト異物Ｐ２を囲むように点在していてもよいし、図４（ｃ）に示すように、テスト異物Ｐ２を中心に放射状の直線からなるマーカーＰ１を配置してもよい。Ｘ線透過画像におけるマーカーＰ１の中心部分の範囲Ｏの座標は、たとえば、第１閾値を基準として、当該画像を２値化した後、マーカーＰ１を矩形抽出して該マーカーＰ１の座標を求め、各マーカーＰ１で構成される図形の中心から特定することができる。

また、複数種類のテスト異物Ｐ２，Ｐ２を検出する場合には、図４（ｄ）および図４（ｅ）に示すように、テスト異物Ｐ２の位置を特定するためのマーカーＰ１の他に、テスト異物Ｐ２の種類に対応する第２マーカーＰ３を配置してもよい。第２マーカーＰ３と当該テスト異物Ｐ２とが互いに関連付けられて第１記憶部１３ｃに記憶される。
このように、複数種類のテスト異物Ｐ２を用いることにより、複数種類のテスト異物Ｐ２を正常に検出できているか否かのチェックを行うことができる。

以上のとおり、図面を参照しながら好適な実施形態を説明したが、当業者であれば、本明細書を見て、自明な範囲で種々の変更および修正を容易に想定するであろう。
たとえば、Ｘ線源およびラインセンサを２組設け、互いに異なる２つの断面について検査を行って、更に、検査の精度を向上させてもよい。
したがって、そのような変更および修正は、請求の範囲から定まる本発明の範囲内のものと解釈される。

本発明にかかるＸ線検査装置を示す概略斜視図である。（ａ）はＸ線検査装置および振分装置を示す概略構成図、（ｂ）は物品の流れを示す概略構成図である。テストピースのＸ線透過画像を示す概略平面図である。テストピースを示す概略平面図である。一般的な組合せ計量装置を示す概略構成図である。

符号の説明

１：組合せ計量装置（生産機の一例）
１０：Ｘ線検査装置
１２１：運転制御手段
１２ｂ：分別手段
１２ｃ：判定手段
１３ｃ：第１記憶部
１３ｄ：第２記憶部
５０：コンベヤ（搬送手段の一例）
Ｍ：商品
Ｐ：テストピース

Claims

物品を搬送しながら物品にＸ線を照射して物品の検査を行うＸ線検査装置であって、
物品を搬送する搬送手段と、
前記物品を透過したＸ線を検出するラインセンサと、
前記ラインセンサで検出された透過Ｘ線に基づいてＸ線透過画像を作成するＸ線画像処理手段と、
前記Ｘ線透過画像に映し出された形状に基づいて前記物品がテストピースか商品かを分別する分別手段と、
前記商品の合否を判定する判定手段と、
前記分別手段による分別の結果、前記物品が商品であると判断された場合に当該商品の合否判定を行い、前記分別手段による分別の結果、前記物品がテストピースであると判断された場合に、前記テストピースにおけるテスト異物が正常に判別できているかをチェックしてその結果を表示する制御部とを備えたＸ線検査装置。
請求項１において、前記分別を行うための所定の閾値および形状を記憶する第１記憶部を更に備え、
前記分別手段は、物品に照射されたＸ線の透過画像と、前記第１記憶部に記憶された閾値および形状に基づいて前記分別を行うことを特徴とするＸ線検査装置。
請求項２において、テストピースのＸ線透過画像を記憶させるための登録モードを備えるとともに、前記テストピースに設けたテスト異物に応じた閾値を前記登録モードにおいて記憶する第２記憶部を更に備え、
前記第２記憶部に記憶された閾値と、前記テストピースのＸ線透過画像に基づいて前記テスト異物が正常に判別できているかのチェックを行うことを特徴とするＸ線検査装置。