JP5127411B2 - 走査型電子顕微鏡 - Google Patents
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- 電子源から放出された電子線を試料上に収束させる電子レンズと、
前記電子線の照射によって前記試料から発生した二次信号を検出する検出器であって、所定の間隔をおいて設けられた一対の第1および第2の検出器と、第3の検出器と、
前記試料に対する前記電子線の焦点を複数回変化させ、それぞれの焦点において前記第1、第2、および第3の検出器で検出された二次信号から第1、第2、および第3の二次信号データを生成し保存する保存手段と、
それぞれの焦点における前記第1、第2、および第3の二次信号データについて演算処理を行うデータ演算手段と、
前記第1、第2、および第3の検出器のうちの少なくともいずれかひとつの検出器を選択する検出器選択手段と、
前記検出器選択手段によって選択された検出器に対して、前記電子線の焦点を変化させて二次信号データを生成し、該生成した二次信号データに対して所定のデータ変換処理を施して得られた強度信号に基づいて前記変化させたそれぞれの焦点における二次信号データの評価値を求め、該評価値に対応するフィッティング関数を決定し、前記評価値と前記フィッティング関数との誤差を算出し、該誤差が所定の基準範囲内である場合は、前記フィッティング関数のピーク値を与える焦点を用いて、前記試料に対する前記電子線の焦点を調整し、該誤差が所定の基準範囲外である場合は、前記検出器選択手段により選択された検出器とは別の検出器を選択し、該別の検出器に対する評価値とフィッティング関数との誤差を算出し、該誤差が所定の基準範囲に入る焦点を用いて、前記試料に対する前記電子線の焦点を調整する焦点調整手段とを有することを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1の記載において、
前記焦点調整手段は、前記検出器選択手段における前記検出器の選択を繰り返し行っても前記誤差が所定の基準範囲外である場合は、前記試料に対する前記電子線の焦点を維持することを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1の記載において、
前記検出器選択手段は、前記第1、第2、および第3の検出器の全てを選択し、
前記焦点調整手段は、該選択された検出器のそれぞれについて算出された前記評価値と前記フィッティング関数との誤差の中から、所定の基準範囲内であって最小である誤差に対応する焦点を用いて、前記試料に対する前記電子線の焦点を調整することを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1の記載において、
前記検出器選択手段は、前記第1、第2、および第3の検出器の全てを選択し、
前記焦点調整手段は、該選択された検出器のそれぞれについて算出された前記評価値と前記フィッティング関数との誤差の中から、所定の基準範囲内である誤差に対応する検出器について前記評価値の平均値を求め、該評価値の平均値に対応する前記フィッティング関数のピーク値を与える焦点を用いて、前記試料に対する前記電子線の焦点を調整することを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1の記載において、
前記検出器選択手段により選択された検出器の選択履歴を保存する記憶手段を有し、前記検出器選択手段による検出器の選択が、該選択履歴に基づいて実行されることを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項5の記載において、
前記選択履歴は消去可能であることを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1の記載において、
前記検出器選択手段による検出器の選択が、確率または統計手法に基づいて実行されることを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1の記載において、
前記検出器選択手段は、検査対象物の製造工程に応じて検出器を選択することを特徴とする走査型電子顕微鏡。
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