JP5106942B2 - メモリリード制御回路 - Google Patents

メモリリード制御回路 Download PDF

Info

Publication number
JP5106942B2
JP5106942B2 JP2007198753A JP2007198753A JP5106942B2 JP 5106942 B2 JP5106942 B2 JP 5106942B2 JP 2007198753 A JP2007198753 A JP 2007198753A JP 2007198753 A JP2007198753 A JP 2007198753A JP 5106942 B2 JP5106942 B2 JP 5106942B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
data
mask
circuit
data strobe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007198753A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009037287A (ja
Inventor
秀望 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Electronics Corp
Original Assignee
Renesas Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Electronics Corp filed Critical Renesas Electronics Corp
Priority to JP2007198753A priority Critical patent/JP5106942B2/ja
Priority to US12/219,521 priority patent/US7826281B2/en
Publication of JP2009037287A publication Critical patent/JP2009037287A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5106942B2 publication Critical patent/JP5106942B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/16Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
    • G06F13/1668Details of memory controller
    • G06F13/1689Synchronisation and timing concerns

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Memory System (AREA)

Description

本発明は、メモリリード制御回路に関し、特に、DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)からデータを読み出すためのリード制御回路に関する。
IT(Information Technology)技術の急速な進歩に伴って、伝送路を通信されるデータの伝送速度は、ますます高速化が進んでいる。その為、伝送路に接続される機器に搭載される電気回路は、大規模で高速処理を行う機能が求められており、DDR SDRAMを用いた回路設計が、頻繁に行われている。
DDR SDRAMでは、レシーバにデータを転送するタイミングを知らせるために、データストローブ信号(DQS)を用いている。DQSは、双方向のストローブ信号であって、リード/ライト動作時にデータ入出力の動作基準クロックとして機能する。リード動作では、DQSのエッジとリードデータのエッジは一致するので、DDR SDRAMからリードデータを受け取る場合、受け取ったDQSをリードデータの中央まで、内部で遅らせるようにする。
DDR SDRAMがアクティブ状態のときにリードコマンド(READ)を受け取ると、DQSは、ハイインピーダンス(Hi−Z)状態からローレベルに変化する。このローレベルの期間がプリアンブルである。プリアンブルは最初のデータが出力される約1クロック前に生ずる。プリアンブルに続いて、DQSは、データがデータ入出力端子(DQ)上に有効データがあるバースト長に相当する期間、クロック信号と同一の周波数でトグルする。最後のデータが転送された後のローレベルの期間がポストアンブルである。ポストアンブルは最後のデータのエッジから約1/2クロックの間生ずる。
DQSは、ハイインピーダンス状態からプリアンブルに遷移し、また、ポストアンブルからハイインピーダンス状態に移行する。このハイインピーダンス状態における中間レベルがメモリインタフェース内部に不定レベルの信号となって伝播すると、リードデータがデータ同期部でラッチされる前にデータ取込み部のリードデータが破壊されてしまう虞がある。そこで、このようなデータが不定となることを回避するために、DQSの入力側に不定レベルが伝播しないようにするためのDQSマスク回路が、メモリリード側の回路に搭載されている(例えば特許文献1、2参照)。
このようなDQSマスク回路を備えるメモリインタフェース制御回路は、メモリとメモリコントローラLSIとの間における読出しデータの転送に際して、読出しデータのグリッジノイズ耐性を向上し、かつ、メモリとメモリコントローラLSIとの間の物理的な配置関係の制限を緩和することができる。
特開2005−276396号公報 特開2006−260322号公報
以下の分析は本発明において与えられる。
特許文献1、2において、リードコマンドに対応してバースト転送されるデータに対するデータストローブ信号に関しグリッジノイズ耐性に優れたインタフェース制御回路が開示されている。具体的には、リードコマンドに対応してバースト転送が4あるいは8の場合における例が記載されている。しかし、より汎用性を持たせようとする場合、例えばバースト転送が1であって、連続したリードコマンドに適用させようとするような場合には、転送モードに対応して回路の再設計が必要となる。すなわち、製品毎に応じたカスタマイズ設計が必要であり、汎用性に欠けてしまう。
本発明の1つのアスペクト(側面)に係るメモリリード制御回路は、メモリから出力されるデータストローブ信号のプリアンブルを検出するデータストローブ検出回路と、データストローブ信号をマスク信号でマスク可能とするマスク回路と、メモリに対するデータリード要求に係るデータリード数の情報を入力し、データストローブ信号がプリアンブルの後に所定の回数の遷移を繰り返したことを、該データリード数の情報を元に判断してマスク信号をマスク状態とするように制御するマスク制御回路と、を備える。マスク制御回路は、データリード数の情報として、データストローブ信号の継続長を表す信号を入力し、データストローブ信号の継続長を表す信号がアクティブである期間におけるクロック数をカウントアップまたはカウントダウンし、データリード要求に対応するデータストローブ信号の一方のエッジの数をカウントダウンまたはカウントアップし、クロック数と一方のエッジ数との一致を検出するアップダウンカウンタを含み、クロック数と一方のエッジ数とが一致したことに基づいて、マスク信号をマスク状態とするように制御する。
本発明によれば、データストローブ信号が所定の回数の遷移を繰り返したことをデータリード数の情報を元に判断してマスク信号をマスク状態とする。したがって、データストローブ信号がデータリード数に因らず安定的にマスク制御される。この結果、製品毎に応じたカスタマイズ設計が不要となり汎用性を持たせた回路設計が可能になる。
本発明の実施形態に係るメモリリード制御回路は、データストローブ検出回路と、マスク回路と、マスク制御回路と、を備える。データストローブ検出回路は、メモリから出力されるデータストローブ信号のプリアンブルを検出する。マスク回路は、データストローブ信号をマスク信号でマスク可能とする。マスク制御回路は、メモリに対するデータリード要求に係るデータリード数の情報を入力し、データストローブ信号がプリアンブルの後に所定の回数の遷移を繰り返したことを、該データリード数の情報を元に判断してマスク信号をマスク状態とするように制御する。
また、マスク制御回路は、データリード数とデータリード要求に対応するデータストローブ信号の一方のエッジ数とが一致したことに基づいて、マスク信号をマスク状態とするように制御してもよい。
ここで、データリード数は、リードコマンド数であってもよい。
さらに、マスク制御回路は、データリード数をカウントアップまたはカウントダウンし、データリード要求に対応するデータストローブ信号の一方のエッジの数をカウントダウンまたはカウントアップし、データリード数と一方のエッジ数との一致を検出するアップダウンカウンタを含み、アップダウンカウンタの検出結果を元にマスク信号をマスク状態とするように制御してもよい。
アップダウンカウンタは、データリード数をカウントアップまたはカウントダウンする替わりに、データストローブ信号の継続長を表す信号がアクティブである期間におけるクロック数をカウントアップまたはカウントダウンしてもよい。
データストローブ検出回路は、サンプリングクロック信号を入力し、該サンプリングクロック信号でデータストローブ信号のプリアンブル期間を計数して計数値が所定値となった場合に、マスク制御回路におけるデータストローブ信号の一方のエッジのカウントを開始してもよい。
以上のようなメモリリード制御回路によれば、アップダウンカウンタとDQS検出回路を用いてDQSマスク回路を動作させることで、製品に応じたカスタマイズ設計を必要とせず、汎用性を持たせた回路構成とすることができる。
以下、実施例に即し、図面を参照して詳しく説明する。
図1は、本発明の第1の実施例に係るメモリリード制御回路の構成を示すブロック図である。図1において、メモリリード制御回路12は、DQS検出回路13、アップダウンカウンタ14、フリップフロップ回路FF1、FF2、AND回路AND1、AND2、AND3、OR回路OR1を備える。DQS検出回路13は、フリップフロップ回路FF3、バッファ回路BUF、抵抗素子R1を備える。
メモリリード制御回路12は、外部から与えられるリード要求に係るコマンド信号CMDIを入力し、RAM11にコマンド信号CMDOとして出力する。また、RAM11からコマンド信号CMDOに対応して図示されないリードデータおよびリードデータのタイミングを示すDQS信号を入力する。
フリップフロップ回路FF1は、図示されないユーザ回路から、DQS信号の長さを示す信号DQSIENを入力し、クロック信号CLKでリタイミングする。AND回路AND1は、フリップフロップ回路FF1の出力信号と、クロック信号CLKの否定論理との論理積をとり、アップダウンカウンタ14のアップ信号入力端子Upに出力する。OR回路OR1は、2つの入力端をアップダウンカウンタ14の出力端子OUTとフリップフロップ回路FF1の出力端子(Q)とに接続し、双方の論理和を取ったマスク制御信号MSCをフリップフロップ回路FF2のセット端子(S)に出力する。
一方、DQS検出回路13において、バッファ回路BUFは、入力端を抵抗素子R1を介して接地(プルダウン)すると共に、RAM11からDQS信号を入力してフリップフロップ回路FF3のクロック入力端子およびAND回路AND2の一方の入力端に出力する。フリップフロップ回路FF3は、D端子を電源に接続し、DQS信号の立ち上がりで出力信号DETをハイレベルとし、AND回路AND3の一方の入力端に出力する。
フリップフロップ回路FF2は、クロック入力端子にAND回路AND2の出力を接続し、D端子を接地し、Q端子からマスク信号MSをAND回路AND2の他方の入力端に出力する。AND回路AND2は、出力端をフリップフロップ回路FF2のクロック入力端子およびAND回路AND3の他方の入力端に接続する。AND回路AND3は、出力をアップダウンカウンタ14のダウン信号入力端子Downに接続すると共に信号DQSINを外部に出力する。リセット信号RSTは、フリップフロップ回路FF1、FF3のリセット端子(R)に供給される。
図2は、本発明の第1の実施例に係るメモリリード制御回路の動作を表すタイミングチャートである。始めにフリップフロップ回路FF1、FF3は、リセット信号RSTによってリセット状態にあるものとする。図2において、コマンド信号CMDIがクロック信号CLKの5クロック分続けて入力され、1クロック分遅延されてコマンド信号CMDOとしてRAM11に出力される。また、信号DQSIENが入力され、クロック信号CLKを用いてフリップフロップ回路FF1でリタイミングされ、アップダウンカウンタのアップ信号入力端子Up側に入力される。この時、DQSIEN信号のハイレベル(Hi)区間は、DQS信号のパルス数の長さ(図2の例では5)を表す。これによってアップダウンカウンタ14のUp側のカウント値は、1、2、3、4、5と増加する。すなわち、図2では、リードコマンドが5個連続であるので、DQS信号のパルス数の長さは、クロック信号CLKが5クロック分に相当する。
RAM11は、READのコマンド信号CMDOを受けて、5パルス分のレベル遷移を有するDQS信号を出力する。DQS検出回路13において、DQS信号をバッファ回路BUFを介してフリップフロップ回路FF3のクロック入力端子に入力する。信号DET(フリップフロップ回路FF3のQ)は、DQS信号がリードのプリアンブル時間tRPRE後にハイレベルに立ち上がった最初のパルスの立ち上がりによって、ハイレベルに立ち上がる。信号DETがハイレベルとなった結果、アップダウンカウンタ14のダウン側のカウントを可能にする。Down側のカウント値は、1、2、3、4、5と増加する。
アップダウンカウンタ14のアップ側には、AND回路AND1の出力信号を入力し、ダウン側には、AND回路AND3の出力を入力する。この結果、信号DQSIENのハイレベル区間におけるクロック信号CLKをカウントした値から、信号DQSINにおけるパルス数が引かれていく。したがって、アップダウンカウンタ14のカウント値(OUT)は、1、1、1、1、0と変化する。
マスク制御信号MSCは、フリップフロップ回路FF1の出力(Q)が立ち上がった後、アップダウンカウンタ14のカウント値が0になるまで間、ハイレベルとなり、フリップフロップ回路FF2はセット状態になる。そして、フリップフロップ回路FF2は、マスク解除期間を表すハイレベルであるマスク信号MSをAND回路AND2に出力する。また、DQS信号がAND回路AND2およびAND回路AND3を通って、信号DQSINとして内部回路へ入力可能になる。内部回路では、信号DQSINのタイミングを適宜遅延しRAM11からのリードデータをラッチする。
さらに、DQS信号の最後のクロックを入力し、アップダウンカウンタ14のカウント値が0、すなわち出力OUTがローレベルになると、マスク制御信号MSCは、ローレベルになり、フリップフロップ回路FF2におけるセット状態を解除する。DQS信号における最後の立ち下がりエッジをフリップフロップ回路FF2で検出すると、マスク信号MSは、マスク期間を表すローレベルになる。したがって、AND回路AND2の出力は、ローレベルに変化し、DQS信号を内部回路へ出力しないようにマスクする。すなわち、信号DQSINは、ローレベルに保持される。このようにマスク動作が行われることで、DQS信号のハイインピーダンス(Hi−Z)状態にのるノイズによって生ずる信号DQSINの不要なレベル遷移を防止することができる。
以上のようなメモリリード制御回路12は、アップダウンカウンタ14とDQS検出回路13を用いてDQS信号のマスク動作を行う。すなわち、アップダウンカウンタ14のカウント値を元にDQS信号のハイインピーダンス(Hi−Z)状態に対応してマスク動作を行い、内部回路におけるデータ取込み時におけるリードデータの破壊の可能性を防止する。この際、アップダウンカウンタ14が用いられるため、転送モードに因らず安定的にマスク期間が設定される。したがって、カスタマイズ設計を必要とせず、汎用性を持たせた回路構成とすることができる。
図3は、本発明の第2の実施例に係るDQS検出回路の回路図である。図3において、図1のDQS検出回路13は、DQS検出回路13aに置き換えられる。DQS検出回路13aは、フリップフロップ回路FF3a、FF4〜FF8、AND回路AND4、バッファ回路BUFa、抵抗素子R2を備える。
バッファ回路BUFaは、入力端を抵抗素子R2を介して電源に接続(プルアップ)すると共に、DQS信号を入力し、出力端をAND回路AND4に接続する。AND回路AND4は、一方の入力端にバッファ回路BUFaの出力の反転信号を入力し、他方の入力端に高速のクロック信号HCKを入力する。また、出力端から出力するサンプリング信号SMPをフリップフロップ回路FF4〜FF8のそれぞれのクロック入力端子に与える。フリップフロップ回路FF4〜FF8のそれぞれのD端子は、それぞれフリップフロップ回路FF8、FF4、FF5、FF6、FF7のそれぞれのQ端子に接続される。また、フリップフロップ回路FF3aは、D端子を電源に接続し、クロック入力端子をフリップフロップ回路FF8のQ端子に接続し、Q端子から信号DETを出力する。さらに、フリップフロップ回路FF3a、FF4〜FF8のそれぞれのリセット端子(R)には、リセット信号RSTが与えられる。
図4は、本発明の第2の実施例に係るDQS検出回路の動作を表すタイミングチャートである。ここでは、高速クロック信号HCKの周波数は、クロック信号CLKの周波数(DQS信号のトグル周波数)の6倍とする。始めにフリップフロップ回路FF3a、FF4〜FF8は、リセット信号RSTによって全てリセット状態にあるものとする。AND回路AND4は、DQS信号のローレベルを高速クロック信号HCKでサンプリングし、サンプリング信号SMPを出力する。サンプリング信号SMPは、フリップフロップ回路FF4〜FF8で構成されているカウンタに入力され、サンプリングの数を数える。プリアンブルを示すtRPREの期間に所定数のサンプリング数があれば(図3の回路構成では5個)、フリップフロップ回路FF8の出力がハイレベルになる。この結果、フリップフロップ回路FF3aの出力である信号DETがハイレベルとなり、図1のAND回路AND3にハイレベルを出力する。
以降、DQS信号がプリアンブル期間の終了においてアップダウンカウンタ14のダウンカウント動作がなされる。この動作は、実施例1で説明したのと同様であるので、説明を省略する。
第2の実施例に係るDQS検出回路によれば、クロック信号HCKをカウントすることでDQS信号のプリアンブル期間を安定的に検出することができる。したがって、メモリリード制御回路におけるマスク動作もより安定して行われる。
なお、前述の特許文献等の各開示を、本書に引用をもって繰り込むものとする。本発明の全開示(請求の範囲を含む)の枠内において、さらにその基本的技術思想に基づいて、実施形態ないし実施例の変更・調整が可能である。また、本発明の請求の範囲の枠内において種々の開示要素の多様な組み合わせないし選択が可能である。すなわち、本発明は、請求の範囲を含む全開示、技術的思想にしたがって当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
本発明の第1の実施例に係るメモリリード制御回路の構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施例に係るメモリリード制御回路の動作を表すタイミングチャートである。 本発明の第2の実施例に係るDQS検出回路の回路図である。 本発明の第2の実施例に係るDQS検出回路の動作を表すタイミングチャートである。
符号の説明
11 RAM
12 メモリリード制御回路
13、13a DQS検出回路
14 アップダウンカウンタ
AND1、AND2、AND3、AND4 AND回路
BUF、BUFa バッファ回路
FF1、FF2、FF3、FF3a、FF4〜FF8 フリップフロップ回路
OR1 OR回路
R1、R2 抵抗素子

Claims (3)

  1. メモリから出力されるデータストローブ信号のプリアンブルを検出するデータストローブ検出回路と、
    前記データストローブ信号をマスク信号でマスク可能とするマスク回路と、
    前記メモリに対するデータリード要求に係るデータリード数の情報を入力し、前記データストローブ信号が前記プリアンブルの後に所定の回数の遷移を繰り返したことを、該データリード数の情報を元に判断して前記マスク信号をマスク状態とするように制御するマスク制御回路と、
    を備え
    前記マスク制御回路は、
    前記データリード数の情報として、前記データストローブ信号の継続長を表す信号を入力し、
    前記データストローブ信号の継続長を表す信号がアクティブである期間におけるクロック数をカウントアップまたはカウントダウンし、前記データリード要求に対応するデータストローブ信号の一方のエッジの数をカウントダウンまたはカウントアップし、前記クロック数と前記一方のエッジ数との一致を検出するアップダウンカウンタを含み、
    前記クロック数と前記一方のエッジ数とが一致したことに基づいて、前記マスク信号をマスク状態とするように制御することを特徴とするメモリリード制御回路。
  2. 前記データリード数は、リードコマンド数であることを特徴とする請求項記載のメモリリード制御回路。
  3. 前記データストローブ検出回路は、サンプリングクロック信号を入力し、該サンプリングクロック信号で前記データストローブ信号のプリアンブル期間を計数して計数値が所定値となった場合に、前記マスク制御回路における前記データストローブ信号の一方のエッジのカウントを開始することを特徴とする請求項記載のメモリリード制御回路。
JP2007198753A 2007-07-31 2007-07-31 メモリリード制御回路 Expired - Fee Related JP5106942B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007198753A JP5106942B2 (ja) 2007-07-31 2007-07-31 メモリリード制御回路
US12/219,521 US7826281B2 (en) 2007-07-31 2008-07-23 Memory read control circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007198753A JP5106942B2 (ja) 2007-07-31 2007-07-31 メモリリード制御回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009037287A JP2009037287A (ja) 2009-02-19
JP5106942B2 true JP5106942B2 (ja) 2012-12-26

Family

ID=40337970

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007198753A Expired - Fee Related JP5106942B2 (ja) 2007-07-31 2007-07-31 メモリリード制御回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7826281B2 (ja)
JP (1) JP5106942B2 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5258687B2 (ja) 2009-07-13 2013-08-07 ルネサスエレクトロニクス株式会社 メモリインタフェース制御回路
JP2011024150A (ja) * 2009-07-21 2011-02-03 Elpida Memory Inc 出力ドライバ、出力ドライバを含むメモリ、メモリコントローラ及びメモリシステム
KR101113331B1 (ko) * 2010-07-30 2012-03-15 주식회사 하이닉스반도체 데이터입력회로
US9230621B2 (en) * 2013-03-05 2016-01-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device with signal reshaping and method of operating the same
KR102070616B1 (ko) * 2013-03-05 2020-01-29 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법
WO2014191838A2 (en) * 2013-05-28 2014-12-04 Marvell World Trade Ltd. Systems and methods for dqs gating
JP6190697B2 (ja) * 2013-11-07 2017-08-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
KR102390917B1 (ko) 2015-10-16 2022-04-27 삼성전자주식회사 리드 인터페이스 장치의 클린 데이터 스트로브 신호 생성회로
CN106875966B (zh) * 2017-01-09 2020-02-07 上海兆芯集成电路有限公司 数据选通信号处理系统以及处理方法
US10360951B1 (en) * 2018-01-19 2019-07-23 Micron Technology, Inc. Internal write adjust for a memory device
US10176862B1 (en) * 2018-01-26 2019-01-08 Micron Technology, Inc. Data strobe gating
KR20200052649A (ko) * 2018-11-07 2020-05-15 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법
CN112309451B (zh) 2019-07-30 2023-10-31 星宸科技股份有限公司 存储器控制器、存储器的读取控制的方法及相关存储系统
CN116501268B (zh) * 2023-06-28 2024-02-27 牛芯半导体(深圳)有限公司 应用于ddr phy的数据读取方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6407963B1 (en) * 1999-10-19 2002-06-18 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory device of DDR configuration having improvement in glitch immunity
JP5568204B2 (ja) * 1999-10-19 2014-08-06 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 半導体記憶装置
JP2002007200A (ja) * 2000-06-16 2002-01-11 Nec Corp メモリ制御装置及び動作切替方法並びにインターフェース装置、半導体集積チップ、記録媒体
US6807613B1 (en) * 2000-08-21 2004-10-19 Mircon Technology, Inc. Synchronized write data on a high speed memory bus
US6918016B1 (en) * 2001-07-17 2005-07-12 Advanced Micro Devices, Inc. Method and apparatus for preventing data corruption during a memory access command postamble
KR100521049B1 (ko) * 2003-12-30 2005-10-11 주식회사 하이닉스반도체 더블 데이터 레이트 싱크로너스 디램의 쓰기 회로
JP4284527B2 (ja) * 2004-03-26 2009-06-24 日本電気株式会社 メモリインターフェイス制御回路
JP4747621B2 (ja) 2005-03-18 2011-08-17 日本電気株式会社 メモリインターフェイス制御回路
JP4773738B2 (ja) * 2005-03-31 2011-09-14 キヤノン株式会社 メモリ制御装置
JP4936421B2 (ja) * 2005-09-14 2012-05-23 エルピーダメモリ株式会社 Dram、入力制御回路、及び入力制御方法
US7558132B2 (en) * 2007-03-30 2009-07-07 International Business Machines Corporation Implementing calibration of DQS sampling during synchronous DRAM reads

Also Published As

Publication number Publication date
US7826281B2 (en) 2010-11-02
JP2009037287A (ja) 2009-02-19
US20090034346A1 (en) 2009-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5106942B2 (ja) メモリリード制御回路
JP6190697B2 (ja) 半導体装置
CN111406284B (zh) 用于存储器装置的写入操作的决策反馈均衡器调节
JP4747621B2 (ja) メモリインターフェイス制御回路
JP2008103013A (ja) メモリリード制御回路およびその制御方法
JP5802046B2 (ja) データ入力回路
US20110063931A1 (en) Interfaces, circuits, and methods for communicating with a double data rate memory device
US10482946B2 (en) Management of strobe/clock phase tolerances during extended write preambles
JP2009118479A (ja) オンダイターミネーションの制御回路およびその制御方法
JP2007109203A (ja) 半導体集積回路装置
JP2005276396A (ja) メモリインターフェイス制御回路
JP2012137913A (ja) メモリインターフェース回路、メモリインターフェース方法、および電子機器
WO2005041055A3 (en) Echo clock on memory system having wait information
US10629255B2 (en) Processing system and method for data strobe signal
JP5258687B2 (ja) メモリインタフェース制御回路
CN101521040B (zh) 半导体存储器件和用于操作半导体存储器件的方法
US8179117B2 (en) Pulse detection device and pulse detection method
JP6466529B2 (ja) 半導体装置
US20240250674A1 (en) Semiconductor systems with data clock applied
JP2012212385A (ja) メモリインターフェイス制御回路及び半導体集積回路
JP2000010850A (ja) メモリアクセスシステム
KR20060091075A (ko) 반도체 메모리 디바이스의 신호 제어 방법 및 이에 의해 동작하는 반도체 메모리 디바이스
WO2001052015A2 (en) Circuit and method for filtering oscillations and synchronizing signals

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100419

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120726

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120731

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120910

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121002

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121003

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5106942

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151012

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees