JP5096940B2 - プリント配線板の検査方法及びその装置 - Google Patents
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Description
検査対象ワークをワーク載置台に固定する工程と、
前記ワークの回路構成部を撮像する撮像手段の位置を連続的に変化させることで前記回路構成部の画像焦点が合う最適な位置を決定する工程と、
前記ワークに照明を照射して前記撮像手段で複数箇所の回路構成部を一括して撮像する工程と、
撮像された画像の回路構成部のみを2色のうちの一方の1色で表示する2値化処理を行う工程と、
前記2値化処理を行った2値化処理画像に対して、基準値以下の回路構成部間距離では回路構成部同士が短絡するまで前記回路構成部を膨張させる膨張処理を行う工程と、
前記膨張処理を行った回路構成部の色面積を取得し、前記色面積が検査合格となる基準値内にあるか否かを判定する工程を実施することを特徴とするものである。
検査対象ワークを固定するワーク載置台と、
前記ワーク載置台の前記ワークの複数箇所の回路構成部を一括して撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した画像に対して前記回路構成部のみを2色のうちの一方の1色で表示する2値化処理を行う2値化処理装置と、
前記2値化処理を行った2値化処理画像に対して、基準値以下の回路構成部間距離では回路構成部同士が短絡するまで前記回路構成部を膨張させる膨張処理を行う膨張処理装置と、
前記膨張処理を行った回路構成部の色面積を計算する演算装置と、この演算装置で計算した前記回路構成部の色面積が検査合格となる基準値内にあるか否かを判定する比較判断装置を備えた制御装置と、で構成されていることを特徴とするものである。
3 ワーク
5 半導体チップ(電子部品)
7 プリント配線板
13 ワイヤ
15 検査エリア
17 X−Yステージ(ワーク載置台)
19 CCDカメラ(撮像手段)
23 制御装置
27 照明装置
29 ステージ移動装置
31 画像処理装置
33 2値化処理装置
35 膨張処理装置
43 メモリ(記憶装置)
45 演算装置
47 比較判断装置
49 指令部
51 収縮処理装置
53 2値化処理画像
55 膨張処理画像
57 検査範囲
59 異物
61 収縮処理画像
Claims (14)
- プリント配線板の回路パターンにおける回路構成部の短絡の有無を検査するプリント配線板の検査方法において、
検査対象ワークをワーク載置台に固定する工程と、
前記ワークの回路構成部を撮像する撮像手段の位置を連続的に変化させることで前記回路構成部の画像焦点が合う最適な位置を決定する工程と、
前記ワークに照明を照射して前記撮像手段で複数箇所の回路構成部を一括して撮像する工程と、
撮像された画像の回路構成部のみを2色のうちの一方の1色で表示する2値化処理を行う工程と、
前記2値化処理を行った2値化処理画像に対して、基準値以下の回路構成部間距離では回路構成部同士が短絡するまで前記回路構成部を膨張させる膨張処理を行う工程と、
前記膨張処理を行った回路構成部の色面積を取得し、前記色面積が検査合格となる基準値内にあるか否かを判定する工程を実施することを特徴とするプリント配線板の検査方法。 - 前記回路構成部が、プリント配線板に実装された電子部品と前記プリント配線板とをワイヤで接続するワイヤボンディングのワイヤ部であることを特徴とする請求項1記載のプリント配線板の検査方法。
- 前記回路構成部が、プリント配線板に実装された電子部品と前記プリント配線板とをワイヤで接続するワイヤボンディングのボンディング部であることを特徴とする請求項1記載のプリント配線板の検査方法。
- 前記回路構成部が、回路パターンを構成する回路であることを特徴とする請求項1記載のプリント配線板の検査方法。
- 前記撮像手段で前記ワークにおいて隣接する異なった視野の検査を行う際に、隣接する視野の端となる部分を重複させて検査することを特徴とする請求項1、2、3又は4記載のプリント配線板の検査方法。
- 前記膨張処理を行う工程の前後に、前記2値化処理を行った2値化処理画像に対して必要に応じて収縮処理を行う工程を実施することを特徴とする請求項1、2、3、4又は5記載のプリント配線板の検査方法。
- 前記撮像手段による撮像画像、前記2値化処理を行った2値化処理画像、前記収縮処理を行った収縮処理画像、あるいは前記膨張処理を行った膨張処理画像の少なくとも一つ以上を保存することを特徴とする請求項1、2、3、4、5又は6記載のプリント配線板の検査方法。
- プリント配線板の回路パターンにおける回路構成部の短絡の有無を検査するプリント配線板の検査装置において、
検査対象ワークを固定するワーク載置台と、
前記ワーク載置台の前記ワークの複数箇所の回路構成部を一括して撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した画像に対して前記回路構成部のみを2色のうちの一方の1色で表示する2値化処理を行う2値化処理装置と、
前記2値化処理を行った2値化処理画像に対して、基準値以下の回路構成部間距離では回路構成部同士が短絡するまで前記回路構成部を膨張させる膨張処理を行う膨張処理装置と、
前記膨張処理を行った回路構成部の色面積を計算する演算装置と、この演算装置で計算した前記回路構成部の色面積が検査合格となる基準値内にあるか否かを判定する比較判断装置を備えた制御装置と、で構成されていることを特徴とするプリント配線板の検査装置。 - 前記回路構成部が、プリント配線板に実装された電子部品と前記プリント配線板とをワイヤで接続するワイヤボンディングのワイヤ部であることを特徴とする請求項8記載のプリント配線板の検査装置。
- 前記回路構成部が、プリント配線板に実装された電子部品と前記プリント配線板とをワイヤで接続するワイヤボンディングのボンディング部であることを特徴とする請求項8記載のプリント配線板の検査装置。
- 前記回路構成部が、回路パターンを構成する回路であることを特徴とする請求項8記載のプリント配線板の検査装置。
- 前記制御装置が、前記ワークにおいて隣接する異なった視野の端となる部分を重複させて撮像する指令を前記撮像手段に与える指令部を備えていることを特徴とする請求項8、9、10又は11記載のプリント配線板の検査装置。
- 前記膨張処理装置の前後に、前記2値化処理装置で2値化処理を行った2値化処理画像に対して必要に応じて収縮処理を行う収縮処理装置を設けてなることを特徴とする請求項8、9、10、11又は12記載のプリント配線板の検査装置。
- 前記制御装置が、前記撮像手段による撮像画像、前記2値化処理を行った2値化処理画像、前記収縮処理を行った収縮処理画像、あるいは前記膨張処理を行った膨張処理画像の少なくとも一つ以上を記憶する記憶装置を備えていることを特徴とする請求項8、9、10、11、12又は13記載のプリント配線板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008011688A JP5096940B2 (ja) | 2008-01-22 | 2008-01-22 | プリント配線板の検査方法及びその装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2008011688A JP5096940B2 (ja) | 2008-01-22 | 2008-01-22 | プリント配線板の検査方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009176826A JP2009176826A (ja) | 2009-08-06 |
| JP5096940B2 true JP5096940B2 (ja) | 2012-12-12 |
Family
ID=41031643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008011688A Expired - Fee Related JP5096940B2 (ja) | 2008-01-22 | 2008-01-22 | プリント配線板の検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5096940B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11367703B2 (en) * | 2017-10-26 | 2022-06-21 | Shinkawa Ltd. | Bonding apparatus |
| CN115439418A (zh) * | 2022-08-17 | 2022-12-06 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 一种固体火箭发动机包覆药柱银丝位置视觉识别定位方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61293658A (ja) * | 1985-06-21 | 1986-12-24 | Matsushita Electric Works Ltd | 半田付け外観検査方法 |
| JPH07307371A (ja) * | 1994-05-16 | 1995-11-21 | Hitachi Ltd | X線検査装置 |
| JPH1163932A (ja) * | 1997-08-25 | 1999-03-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ワイヤボンディングにおけるワイヤの高さ検査方法 |
| JP2000012628A (ja) * | 1998-06-25 | 2000-01-14 | Nippon Inter Connection Systems Kk | テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検査システム |
| JP2002076070A (ja) * | 2000-08-29 | 2002-03-15 | Mitsubishi Electric Corp | ワイヤ接合の検査方法および装置 |
-
2008
- 2008-01-22 JP JP2008011688A patent/JP5096940B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2009176826A (ja) | 2009-08-06 |
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| A621 | Written request for application examination |
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| A977 | Report on retrieval |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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