JP5094713B2 - 電子部品を設置する方法及び電子部品処理機 - Google Patents
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- 電子部品の側縁にパラメータ試験を行う方向に前記電子部品を設置しかつ保持するように、電子部品処理機の試験台座に電子部品を設置する方法であって、
一対の第1の対向側面、一対の第2の対向側面および一対の端面を有する本体を含む電子部品を提供することを含み、前記一対の第1の対向側面の各々は前記一対の第2の対向側面の側縁を共有した対向側縁を有し、前記一対の第1の対向側面は、前記一対の端面の第1の対向側縁によって規定される第1の距離だけ離隔し、前記一対の第2の対向側面は、前記一対の端面の第2の対向側縁によって規定される第2の距離だけ離隔し、前記電子部品は、前記一対の第1の対向側面の一面に第1の電気接触領域を形成するために、前記一対の第1の対向側面の1つの前記対向側縁を巻く第1の巻き電極と、前記一対の第1の対向側面の他の一面に第2の電気接触領域を形成するために前記一対の第1の対向側面の別の1つの前記対向側縁を巻く第2の巻き電極とを含み、
互いに対向する第1の台座側面および第2の台座側面を有する側部材が伸びるベース面を含む試験台座を提供することを含み、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面は、ノッチを形成するためにより狭いノッチ端部からより広いノッチ端部への距離をほぼ増加させることによって分離され、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面は、前記狭いノッチ端部に開口を形成するために離隔され、
前記電子部品の端面の1つが前記ベース面に接触し、前記電子部品の第1の対向側面および前記電子部品の第2の対向側面の1つと、前記電子部品の第1の対向側面および前記電子部品の第2の対向側面の別の1つとが、それぞれ、前記第1の台座側面と前記第2の台座側面に設置されるように、前記試験台座に前記電子部品を設置することを含み、前記第1の巻き電極および前記第2の巻き電極の1つによって覆われる前記側縁の1つが前記開口を通して突出し、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面に近接していない、第1の巻き電極および前記第2の巻き電極の別の1つによって覆われる前記側縁の1つが前記広いノッチ端部によって露出される、電子部品処理機の電子部品設置方法。 - 前記試験台座のより狭いノッチ端部の前記開口から外方に伸びる前記電子部品の前記側縁にパラメータ試験を行うことを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記試験台座の前記電子部品の設置は吸引プロセスまたは空気吹き付けプロセスの1つによって行われる、請求項1に記載の方法。
- 前記試験台座の前記第1の対向台座側面及び第2の対向台座側面が概ね直角に角度的に配列されている、請求項1に記載の方法。
- 前記パラメータ試験は、電気的試験、画像試験、および視覚試験からなる群から選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記電子部品はチップキャパシタおよび統合化受動部品の1つである、請求項1に記載の方法。
- 前記パラメータ試験は、前記試験台座の前記狭いノッチ端部および前記広いノッチ端部から外方に突出する前記電子部品の各側縁に行われる、請求項1に記載の方法。
- 多数の規則正しく方向付けられた電子部品を受け取り、前記電子部品が制御された方向を有するように、試験台座に前記電子部品を設置し、前記電子部品のパラメータ試験を行うことができる電子部品処理機であって、
前記電子部品の各々は、一対の第1の対向側面、一対の第2の対向側面および一対の端面を有する本体を含み、前記一対の第1の対向側面の各々は前記一対の第2の対向側面の側縁を共有した対向側縁を有し、前記一対の第1の対向側面は、前記一対の端面の第1の対向側縁によって規定される第1の距離だけ離隔し、前記一対の第2の対向側面は、前記一対の端面の第2の対向側縁によって規定される第2の距離だけ離隔し、
前記一対の第1の対向側面の一面に第1の電気接触領域を形成するために、前記一対の第1の対向側面の1つの前記対向側縁を巻く第1の巻き電極と、
前記一対の第1の対向側面の他の一面に第2の電気接触領域を形成するために前記一対の第1の対向側面の別の1つの前記対向側縁を巻く第2の巻き電極と、を備える前記電子部品と、
中心軸に取り付けられた、前記中心軸に同心である外縁を含む、第1の方向に回転可能な供給ホイールであって、前記供給ホイールは、前記電子部品を受け取ることができる上面と、前記供給ホイールの前記外縁に近接して形成された電子部品の大きさの空洞に終端する、多数の放射状に伸びる離隔されたボスとを含み、各電子部品の大きさの空洞は制御された方向を有する単一の電子部品を前記空洞において受け取りかつ保持するように構成される前記供給ホイールと、
前記供給ホイールに平面状に位置付けされかつ離隔された、第2の方向に回転可能な搬送ホイールであって、前記搬送ホイールは搬送プレートを含み、接線方向に隣接して配列された、前記供給ホイールの前記外縁に同期周速度で回転する環状の周辺壁は前記搬送プレートから上方に伸び、
前記周辺壁は多数の、離隔された試験台座を含み、各試験台座は、前記供給ホイールに前記電子部品の大きさの空洞の1つに整列でき、またベース面を含み、第1の対向台座側面および第2の対向台座側面を有する側部材は前記ベース面から伸び、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面は、ノッチを形成するためにより狭いノッチ端部からより広いノッチ端部への距離をほぼ増加させることによって分離され、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面は、前記狭いノッチ端部に開口を形成するために離隔され、
前記電子部品の端面の1つが前記ベース面に接触し、前記電子部品の第1の対向側面および前記電子部品の第2の対向側面の1つと、前記電子部品の第1の対向側面および前記電子部品の第2の対向側面の別の1つとが、それぞれ、前記第1の台座側面と前記第2の台座側面に設置されるように、前記第1の巻き電極および前記第2の巻き電極の1つによって覆われる前記側縁の1つが前記開口を通して突出し、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面に近接していない、第1の巻き電極および前記第2の巻き電極の別の1つによって覆われる前記側縁の1つが前記広いノッチ端部によって突出するように、前記供給ホイールの前記電子部品の大きさの空洞から、放射状に、前記搬送ホイールの前記試験台座に、前記電子部品を移動することができる前記搬送ホイールを含む推進システムと、
前記試験台座の前記狭いノッチ端部に前記開口から外方に突出する前記電子部品の前記側縁にパラメータ試験を行うために位置付けされた試験装置と、を含む、電子部品処理機。 - 前記電子部品の両面パラメータ試験を行うために前記試験台座の前記狭いノッチ端部および前記広いノッチ端部から外方に突出する前記電子部品の各側縁にパラメータ試験を行う第1の試験装置および第2の試験装置を含む、請求項8に記載の電子部品処理機。
- 前記電子部品はチップキャパシタおよび統合化受動電子部品の1つである、請求項8に記載の電子部品処理機。
- 前記試験台座の前記第1の対向台座側面及び第2の対向台座側面が概ね直角に角度的に配列されている、請求項8に記載の電子部品処理機。
- 前記推進システムは、吸引プロセスまたは空気吹き付けプロセスの1つを使用して動作する、請求項8に記載の電子部品処理機。
- 前記ボスは前記供給ホイールの前記外縁に沿って一様に角度的に離隔されている、請求項8に記載の電子部品処理機。
- 前記試験台座は前記搬送ホイールの前記周辺壁に沿って一様に角度的に離隔されている、請求項8に記載の電子部品処理機。
- 前記試験台座は前記搬送ホイールの前記周辺壁に沿って一様に角度的に離隔されている、請求項8に記載の電子部品処理機。
- 前記パラメータ試験は、電気的試験、および視覚試験からなる群から選択される、請求項8の電子部品処理機。
- 一対の第1の対向側面、一対の第2の対向側面および一対の端面を有する本体を含む電子部品を受け取り、前記電子部品にパラメータ試験を行うことができる電子部品処理機において、
前記一対の第1の対向側面の各々は前記一対の第2の対向側面の側縁を共有した対向側縁を有し、前記一対の第1の対向側面は、前記一対の端面の第1の対向側縁によって規定される第1の距離だけ離隔し、前記一対の第2の対向側面は、前記一対の端面の第2の対向側縁によって規定される第2の距離だけ離隔し、前記電子部品は、前記一対の第1の対向側面の一面に第1の電気接触領域を形成するために、前記一対の第1の対向側面の1つの前記対向側縁を巻く第1の巻き電極と、前記一対の第1の対向側面の他の一面に第2の電気接触領域を形成するために前記一対の第1の対向側面の別の1つの前記対向側縁を巻く第2の巻き電極と、を含み、
互いに対向する第1の台座側面および第2の台座側面を有する側部材が伸びるベース面を含む試験台座を含み、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面は、ノッチを形成するためにより狭いノッチ端部からより広いノッチ端部への距離をほぼ増加させることによって分離され、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面は、前記狭いノッチ端部に開口を形成するために離隔され、
前記試験台座は、前記電子部品の端面の1つが前記ベース面に接触し、前記電子部品の第1の対向側面および前記電子部品の第2の対向側面の1つと、前記電子部品の第1の対向側面および前記電子部品の第2の対向側面の別の1つとが、それぞれ、前記第1の台座側面と前記第2の台座側面に設置されるように、前記第1の巻き電極および前記第2の巻き電極の1つによって覆われる前記側縁の1つが前記開口を通して突出し、前記第1の台座側面および前記第2の台座側面に近接していない、第1の巻き電極および前記第2の巻き電極の別の1つによって覆われる前記側縁の1つが前記広いノッチ端部から外方に突出するように、前記電子部品を前記試験台座に保持する大きさおよび形状を有する、電子部品処理機。 - 前記電子部品は、チップキャパシタおよび統合化受動電子部品の1つである、請求項17を電子部品処理機。
- 前記試験台座の第1の対向台座側面及び第2の対向台座側面は、概ね直角で角度的に配列される、請求項17を電子部品処理機。
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US5785484A (en) * | 1996-08-23 | 1998-07-28 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method and apparatus for orienting miniature components |
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US6100707A (en) * | 1998-09-25 | 2000-08-08 | Electro Scientific Industries, Inc. | Apparatus for testing multi-terminal electronic components |
US6441315B1 (en) * | 1998-11-10 | 2002-08-27 | Formfactor, Inc. | Contact structures with blades having a wiping motion |
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