JP5094428B2 - 部品認識装置および実装機 - Google Patents
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Description
また、2方向の画像を得るために設けられた2つの光源の光が影響しあって画像が不鮮明になり、電子部品の吸着姿勢を正確に認識できないことも懸念される。
また、前記プリズムは、前記一方の光を反射させて前記撮像装置へ導く反射面を備えているものとしてもよい。
このような構成によれば、第1光源からの光により電子部品の反射画像が撮像され、第2光源からの光により電子部品の投影画像が撮像される。そして、光学フィルタにより、第2光源の光の光路内への第1光源の光の入り込みが制限されるから、第1光源の光の影響を受けて電子部品の投影画像が不鮮明になることを防止することができる。また、第1光源の光の投影画像への影響を考慮する必要がないから、第1光源の光を十分明るくすることができ、もって鮮明な電子部品の反射画像を得ることができる。したがって、両光源の光の光路内にそれぞれ光学フィルタを配置しなくても、鮮明な2方向の画像を得ることができる。
このような構成によれば、第1光源からの光により電子部品の反射画像が撮像され、第2光源からの光により電子部品の投影画像が撮像される。ここで第1光源は、鮮明な反射画像を得るために十分明るくする必要があるものである。したがって、第1光源を、発光効率の良い長波長の光源とすることにより、効率のよい電力消費を実現することができる。
本実施形態における実装機1は、電子部品2を基板3に実装する装置であって、基台10上に設置された一対のコンベア11と、部品供給部12から電子部品2をピックアップして基板3に搭載し得るヘッドユニット13などを備えている。以下、各構成部材において、図1の下側を前方、上側を後方、図2の上側を上方、下側を下方として説明する。
部品認識装置20は、ヘッドユニット13に対して吸着ノズル15の並び方向(X軸方向)にスライド移動可能に取り付けられている。この部品認識装置20は、常にはヘッドユニット13の左右いずれか一方の端部に配され、部品認識を行う際にもう一方の端部へスライド移動するようになっている。
まず、実装対象の基板3が、コンベア11により実装機1のほぼ中央位置(図1に二点鎖線で示した実装作業位置)に運ばれて停止する。そして、この基板3の搬入作業と並行して、部品搬送制御手段41により電子部品2の搬送作業が行われる。電子部品2の搬送作業は、部品搬送制御手段41がヘッドユニット13を部品供給部12の上方へ移動させて吸着ノズル15を下降させ、負圧発生装置を制御して吸着ノズル15の先端に電子部品2を吸着して保持し、次いで吸着ノズル15を上昇させるとともに、ヘッドユニット13を実装作業位置に移動させることによりなされる。
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
2…電子部品
3…基板
15…吸着ノズル
20…部品認識装置
22…部品カメラ(撮像装置)
25…第1光源
26…第2光源
27…第1反射部材(光学手段)
28…プリズム部材(光学手段およびプリズム)
28B…第2反射面
28C…第3反射面
29…第2反射部材(光学手段)
30…光学フィルタ
Claims (7)
- 吸着ノズルに吸着された電子部品を撮像して同電子部品の吸着姿勢を認識する部品認識装置であって、
前記電子部品の第1の方向を照らす第1光源と、
前記第1光源から照射される光とは異なる波長の光を照射して前記電子部品の前記第1の方向とは異なる第2の方向を照らす第2光源と、
前記第1および第2の光源から各々照射される光の前記電子部品に対する投影光もしくは反射光を一台の撮像装置へ導く光学手段と、
前記第1光源からの光と前記第2光源からの光とのうち少なくとも一方の光の前記電子部品から前記撮像装置までの光路内に配置され、前記一方の光の透過率よりも他方の光の透過率が低い光学フィルタと、を備え、
前記電子部品に対して前記部品認識装置をスライドさせながら前記電子部品の反射画像と透過画像を前記撮像装置によって撮影するものであって、
前記反射画像と前記透過画像の撮影位置が、前記部品認識装置のスライド方向に離間しており、離間した各撮影位置に対応して前記第1の光源と前記第2の光源が前記スライド方向に離間して配置されていることを特徴とする部品認識装置。 - 前記光学手段には、前記電子部品に対する投影光もしくは反射光のうち少なくとも一方の光を透過させてこの一方の光の光路長を他方の光の光路長と等しくさせるプリズムが備えられ、前記光学フィルタは前記プリズムの表面にコーティングされていることを特徴とする請求項1に記載の部品認識装置。
- 前記プリズムは、前記一方の光を反射させて前記撮像装置へ導く反射面を備えていることを特徴とする請求項2に記載の部品認識装置。
- 前記第1光源から照射される光が前記電子部品に対する反射光となり、前記第2光源から照射される光が前記電子部品に対する投影光となるものにおいて、
前記光学フィルタは前記第2光源からの光の光路内のみに配置されていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載の部品認識装置。 - 前記第1光源から照射される光が前記電子部品に対する反射光となり、前記第2光源から照射される光が前記電子部品に対する投影光となるものにおいて、
前記第1光源からの光の波長は前記第2光源からの光の波長よりも長いものであることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の部品認識装置。 - 前記第1光源から照射される光が前記電子部品に対する反射光となり、前記第2光源から照射される光が前記電子部品に対する投影光となるものにおいて、
前記第1光源は、前記第2光源よりも前記電子部品に接近した位置に配置されていることを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の部品認識装置。 - 電子部品を基板に実装する実装機であって、
前記電子部品を吸着する吸着ノズルと、前記吸着ノズルに吸着された前記電子部品を撮像して同電子部品の吸着姿勢を認識する部品認識装置とを備え、
前記部品認識装置は、
前記電子部品の第1の方向を照らす第1光源と、
前記第1光源から照射される光とは異なる波長の光を照射して前記電子部品の前記第1の方向とは異なる第2の方向を照らす第2光源と、
前記第1および第2の光源から各々照射される光の前記電子部品に対する投影光もしくは反射光を一台の撮像装置へ導く光学手段と、
前記第1光源からの光と前記第2光源からの光とのうち少なくとも一方の光の前記電子部品から前記撮像装置までの光路内に配置され、前記一方の光の透過率よりも他方の光の透過率が低い光学フィルタと、を備え、
前記電子部品に対して前記部品認識装置をスライドさせながら前記電子部品の反射画像と透過画像を前記撮像装置によって撮影するものであって、
前記反射画像と前記透過画像の撮影位置が、前記部品認識装置のスライド方向に離間しており、離間した各撮影位置に対応して前記第1の光源と前記第2の光源が前記スライド方向に離間して配置されていることを特徴とする実装機。
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