JP5083780B2 - ナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法及びこれを利用したled素子の製造方法 - Google Patents
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Description
チタン(Ti)の感光性金属有機物前駆体溶液を合成するために、チタン(VI)(n−ブトキシド)2(2−エチルヘキサノアート)2[Ti(VI)(n−butoxide)2(2−ethylhexanoate)2、合成]1.0000g及びヘキサン(Hexane、Aldrich Co.,米国)5.000gを投入して混合し、24時間攪拌して、0.27モル濃度のTiO2ゾルを製造した。
合成されたチタンの感光性金属有機物前駆体溶液をシリコン基板の上端一側に3,000rpmの条件でスピンコーティングした後、柱(pillar)または線(line)形状のパターンが形成されたモールドを圧着させた。
錫(Sn)の感光性金属有機物前駆体溶液を合成するために、錫(VI)2−エチルヘキサノアート[Sn(II)2−ethylhexanoate、Alfa Aesar Co.,米国]1.0000g及びヘキサン(Hexanes、AldrichCo.,米国)6.000gを投入して混合し、24時間攪拌して、0.21モル濃度のSnO2ゾルを製造した。
多様な錫(Sn)の感光性金属有機物前駆体溶液を合成するために、錫(VI)2−エチルヘキサノアート[Sn(II)2−ethylhexanoate、Alfa Aesar Co.,米国]1.0000g及びMIBK(4−methyl−2−pentanone、Aldrich Co.,米国)6.000gを投入して混合し、24時間攪拌して、0.25モル濃度のSnO2ゾル(II)を製造した。
ジルコニウムの感光性金属有機物前駆体溶液を合成するために、ジルコニル(VI)2−エチルヘキサノアート[Zr(VI)2−ethylhexanoate、Strem Co.,米国]1.6893g及びヘキサン(Hexanes、Aldrich Co.,米国)10.6749gを投入して混合し、24時間攪拌して、0.063モル濃度のZrO2ゾルを製造した。
部分的に高さが異なるように形成されたマイクロ・ナノスケール複合パターンを有するTiO2薄膜を形成するために、前記実施例1で合成されたチタンの感光性金属有機物前駆体溶液をシリコン基板の上部に3,000rpmの条件でスピンコーティングした後、マイクロ・ナノ複合形態の凹凸構造を有するモールドを圧着した。
直接パターン化されたTiO2薄膜をLED素子の光結晶構造に適用するために、実施例1で合成されたチタンの感光性金属有機物前駆体溶液をp−type GaN/MQW layer/n−type GaN/GaN buffer‐layer/sapphire substrateの上端一側に3,000rpmの条件でコーティングした後、柱(pillar)形状のパターンが形成されたモールドを圧着させた。
○実施例6−1:パターン化されたTiO2薄膜
○実施例6−2:パターン化された薄膜を400℃で1時間焼成したTiO2薄膜
○比較例1:パターン化されていないTiO2薄膜
○比較例2:パターン化されていない薄膜を400℃で1時間焼成したTiO2薄膜
紫外線ナノインプリント工程によって直接パターン化されたTiO2薄膜または加熱式ナノインプリント工程によって直接パターン化されたZrO2薄膜をLED素子の光結晶構造に適用するために、実施例1及び実施例4で合成されたチタンまたはジルコニウムの感光性金属有機物前駆体溶液をITO layer/p−type GaN/MQW layer/n−type GaN/GaN buffer‐layer/sapphire substrateの上端一側に3,000rpmの条件でコーティングした後、柱(pillar)形状のパターンが形成されたモールドを圧着させた。
○実施例7−1:紫外線ナノインプリント工程によって直接パターン化されたTiO2薄膜
○実施例7−2:紫外線ナノインプリント工程によって直接パターン化された薄膜を400℃で1時間焼成したTiO2薄膜
○実施例7−3:加熱式ナノインプリント工程によって直接パターン化されたZrO2薄膜
○実施例7−4:加熱式ナノインプリント工程によって直接パターン化された薄膜を400℃で1時間焼成したZrO2薄膜
20 パターン化されたモールド
30 感光性金属有機物前駆体コーティング層
31 金属酸化薄膜パターン
50 LED素子
52 GaNバッファー層
53 n型GaN層
54 発光層
55 p型GaN層
56 n電極
57 p電極
58 導電層
59 金属層
60 光結晶層
70 保護膜
Claims (34)
- 基板に金属に有機物リガンドが結合して合成された金属有機物前駆体を含む感光性金属有機物前駆体溶液をコーティングして感光性金属有機物前駆体コーティング層を形成する段階と、
凹凸構造がパターン化されたモールドを準備する段階と、
前記パターン化されたモールドで前記感光性金属有機物前駆体コーティング層を加圧する段階と、
前記加圧された感光性金属有機物前駆体コーティング層を加熱するか、または加熱すると同時に紫外線を照射して前記感光性金属有機物前駆体に含まれている有機物が分解されて、前記感光性金属有機物に含まれている金属と大気中の酸素が結合して作られる金属酸化薄膜パターンを形成する段階と、
前記パターン化されたモールドを前記金属酸化薄膜パターンから除去する段階と、
を含む、ナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。 - 前記パターン化されたモールドを準備する段階でモールドにパターン化された前記凹凸構造は、互いに異なる高さで形成されたことを特徴とする、請求項1に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記除去段階後に実行され、前記金属酸化薄膜パターンを焼成する焼成段階をさらに含むことを特徴とする、請求項1に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記金属酸化薄膜パターンを形成する段階で加熱温度は30℃ないし350℃であり、加熱時間は15秒ないし2時間であることを特徴とする、請求項1に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記金属酸化薄膜パターンを形成する段階で紫外線照射時間は1秒ないし10時間であることを特徴とする、請求項1に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記金属有機物前駆体を構成する金属元素は、リチウム、ベリリウム、ホウ素、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウム、ケイ素、リン、硫黄、カリウム、カルシウム、スカンジウム、チタン、バナジウム、クロム、マンガン、鉄、コバルト、ニッケル、銅、亜鉛、ガリウム、ゲルマニウム、砒素、セレン、ルビジウム、ストロンチウム、イットリウム、ジルコニウム、ニオブ、モリブデン、ルテニウム、ロジウム、インジウム、錫、テルリウム、アンチモン、バリウム、ランタン、セリウム、プラセオジム、ネオジム、プロメチウム、ガドリニウム、ハフニウム、タンタル、タングステン、イリジウム、鉛、ビスマス、ポロニウム、ウラニウムからなる群より選択されたいずれか一つまたは二つ以上の金属からなることを特徴とする、請求項1に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記有機物リガンドは、ヘキサン酸エチル、アセチルアセトナート、ジアルキルジチオカルバメート、カルボン酸、カルボキシラート、ピリジン、ジアミン、アルシン、ジアルシン、ホスフィン、ジホスフィン、ブトキシド、イソプロポキシド、エトキシド、塩化物、アセテート、カルボニル、カルボネート、水酸化物、アレナス、ベータ−ジケトナート、2−ニトロベンズアルデヒド、及びこれらの混合物を含む群より選択されることを特徴とする、請求項1に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記金属有機物前駆体は、ヘキサン、4−メチル−2−ペンタノン、ケトン、メチルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、水、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、ジメチルスルホキシド、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、アセトン、アセトニトリル、テトラヒドロフラン、テカン、ノナン、オクタン、ヘプタン、及びペンタンからなる群より選択された溶媒に溶解されることを特徴とする、請求項1に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 請求項1〜8のいずれか一項による方法によって形成された、金属酸化薄膜パターン。
- 基板に金属に有機物リガンドが結合して合成された金属有機物前駆体を含む感光性金属有機物前駆体溶液をコーティングして感光性金属有機物前駆体コーティング層を形成する段階と、
凹凸構造がパターン化されたモールドを準備する段階と、
前記パターン化されたモールドで前記感光性金属有機物前駆体コーティング層を加圧する段階と、
前記加圧された感光性金属有機物前駆体コーティング層に加熱または紫外線照射のうち、いずれか一つを利用して前記感光性金属有機物前駆体に含まれている有機物が分解されて、前記感光性金属有機物に含まれている金属と大気中の酸素が結合して作られる金属酸化薄膜パターンを形成する段階と、
前記パターン化されたモールドを前記金属酸化薄膜パターンから除去する段階と、
を含み、
前記モールドにパターン化された前記凹凸構造は、互いに異なる高さで形成されることを特徴とする、ナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。 - 前記除去段階後に実行され、前記金属酸化薄膜パターンを焼成する焼成段階をさらに含むことを特徴とする、請求項10に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記金属酸化薄膜パターンを形成する段階で、加熱温度は30℃ないし350℃であり、加熱時間は15秒ないし2時間であることを特徴とする、請求項10に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記金属酸化薄膜パターンを形成する段階で紫外線照射時間は1秒ないし10時間であることを特徴とする、請求項10に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記金属有機物前駆体を構成する金属元素は、リチウム、ベリリウム、ホウ素、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウム、ケイ素、リン、硫黄、カリウム、カルシウム、スカンジウム、チタン、バナジウム、クロム、マンガン、鉄、コバルト、ニッケル、銅、亜鉛、ガリウム、ゲルマニウム、砒素、セレン、ルビジウム、ストロンチウム、イットリウム、ジルコニウム、ニオブ、モリブデン、ルテニウム、ロジウム、インジウム、錫、テルリウム、アンチモン、バリウム、ランタン、セリウム、プラセオジム、ネオジム、プロメチウム、ガドリニウム、ハフニウム、タンタル、タングステン、イリジウム、鉛、ビスマス、ポロニウム、ウラニウムからなる群より選択されたいずれか一つまたは二つ以上の金属からなることを特徴とする、請求項10に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記有機物リガンドは、ヘキサン酸エチル、アセチルアセトナート、ジアルキルジチオカルバメート、カルボン酸、カルボキシラート、ピリジン、ジアミン、アルシン、ジアルシン、ホスフィン、ジホスフィン、ブトキシド、イソプロポキシド、エトキシド、塩化物、アセテート、カルボニル、カルボネート、水酸化物、アレナス、ベータ−ジケトナート、2−ニトロベンズアルデヒド、及びこれらの混合物を含む群より選択されることを特徴とする、請求項10に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 前記金属有機物前駆体は、ヘキサン、4−メチル−2−ペンタノン、ケトン、メチルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、水、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、ジメチルスルホキシド、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、アセトン、アセトニトリル、テトラヒドロフラン、テカン、ノナン、オクタン、ヘプタン、及びペンタンからなる群より選択された溶媒に溶解されることを特徴とする、請求項10に記載のナノインプリントを利用した金属酸化薄膜パターンの形成方法。
- 請求項10〜16のいずれか一項による方法によって形成された、金属酸化薄膜パターン。
- 光結晶構造を有するLED素子の製造方法において、
基板上の前記光結晶構造を形成する層に金属に有機物リガンドが結合して合成された金属有機物前駆体を含む感光性金属有機物前駆体溶液をコーティングして感光性金属有機物前駆体コーティング層を形成する段階と、
前記光結晶構造に対応する凹凸構造を有するようにパターン化されたモールドを準備する段階と、
前記パターン化されたモールドで前記感光性金属有機物前駆体コーティング層を加圧する段階と、
前記加圧された感光性金属有機物前駆体コーティング層に加熱または紫外線のうちのいずれか一つを利用して前記感光性金属有機物前駆体に含まれている有機物が分解されて、前記感光性金属有機物に含まれている金属と大気中の酸素が結合して作られる光結晶構造の金属酸化薄膜パターンを形成する段階と、
前記モールドを前記光結晶構造の金属酸化薄膜パターンから除去する段階と、を含む、ナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。 - 前記パターン化されたモールドを準備する段階でモールドにパターン化された前記凹凸構造は、互いに異なる高さで形成されたことを特徴とする、請求項18に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記光結晶構造の金属酸化薄膜パターンを焼成する段階をさらに含むことを特徴とする、請求項18に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記金属酸化薄膜パターンを形成する段階で加熱温度は30℃ないし350℃であり、加熱時間は15秒ないし2時間であることを特徴とする、請求項18に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記金属酸化薄膜パターンを形成する段階で紫外線照射時間は1秒ないし10時間であることを特徴とする、請求項18に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記感光性金属有機物前駆体溶液をコーティングする段階で、前記光結晶構造を形成する層は、透明酸化電極または金属からなる導電層であることを特徴とする、請求項18に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記導電層の厚さは1nmないし200nmであることを特徴とする、請求項23に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記導電層が透明酸化電極である場合、前記透明酸化電極は、ITO、ZnO、n型ZnO、p型ZnO、SnO2のうち、いずれか一つからなることを特徴とする、請求項23に記載のナノインプリントを利用したLDE素子の製造方法。
- 前記透明酸化電極を形成する物質がn型ZnOであれば、nドーピング物質は、アルミニウム、ホウ素、ガリウム、インジウム、スカンジウム、イットリウムのうち、いずれか一つであることを特徴とする、請求項25に記載のナノインプリントを利用したLDE素子の製造方法。
- 前記透明酸化電極を形成する物質がp型ZnOであれば、pドーピング物質は、窒素、砒素、リン、リチウム、ナトリウム、カリウムのうち、いずれか一つであることを特徴とする、請求項25に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記導電層が金属である場合、前記金属は、銀、金、白金、銅、アルミニウムのうち、いずれか一つからなることを特徴とする、請求項23に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記導電層の下部には金属層がさらに形成されることを特徴とする、請求項23に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記金属層の厚さは1nmないし200nmであることを特徴とする、請求項29に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記金属有機物前駆体を構成する金属元素は、リチウム、ベリリウム、ホウ素、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウム、ケイ素、リン、硫黄、カリウム、カルシウム、スカンジウム、チタン、バナジウム、クロム、マンガン、鉄、コバルト、ニッケル、銅、亜鉛、ガリウム、ゲルマニウム、砒素、セレン、ルビジウム、ストロンチウム、イットリウム、ジルコニウム、ニオブ、モリブデン、ルテニウム、ロジウム、インジウム、錫、テルリウム、アンチモン、バリウム、ランタン、セリウム、プラセオジム、ネオジム、プロメチウム、ガドリニウム、ハフニウム、タンタル、タングステン、イリジウム、鉛、ビスマス、ポロニウム、ウラニウムからなる群より選択されたいずれか一つまたは二つ以上の金属からなることを特徴とする、請求項18に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記有機物リガンドは、ヘキサン酸エチル、アセチルアセトナート、ジアルキルジチオカルバメート、カルボン酸、カルボキシラート、ピリジン、ジアミン、アルシン、ジアルシン、ホスフィン、ジホスフィン、ブトキシド、イソプロポキシド、エトキシド、塩化物、アセテート、カルボニル、カルボネート、水酸化物、アレナス、ベータ−ジケトナート、2−ニトロベンズアルデヒド、及びこれらの混合物を含む群より選択されることを特徴とする、請求項18に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 前記金属有機物前駆体は、ヘキサン、4−メチル−2−ペンタノン、ケトン、メチルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、水、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、ジメチルスルホキシド、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、アセトン、アセトニトリル、テトラヒドロフラン、テカン、ノナン、オクタン、ヘプタン、及びペンタンからなる群より選択された溶媒に溶解されることを特徴とする、請求項18に記載のナノインプリントを利用したLED素子の製造方法。
- 請求項18〜33のいずれか一項による方法によって製造された光結晶層を含むLED素子。
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KR101233768B1 (ko) * | 2010-12-30 | 2013-02-15 | 포항공과대학교 산학협력단 | 나노 임프린트 몰드 제조방법, 이 방법에 의해 제조된 나노 임프린트 몰드를 이용한 발광다이오드 제조방법 및 이 방법에 의해 제조된 발광다이오드 |
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CN110197839B (zh) * | 2018-06-15 | 2021-08-03 | 京东方科技集团股份有限公司 | 双面显示面板及其制备方法、双面显示装置 |
CN109166952B (zh) * | 2018-09-04 | 2021-06-29 | 孙逊运 | 一种图形化蓝宝石衬底及其制备方法 |
EP3839625A1 (fr) * | 2019-12-18 | 2021-06-23 | Nivarox-FAR S.A. | Procede de fabrication d'un composant horloger et composant obtenu selon ce procede |
CN112960641B (zh) * | 2020-10-12 | 2024-01-23 | 重庆康佳光电科技有限公司 | 转移构件、其制备方法及具有其的转移头 |
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Family Cites Families (20)
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AU2002364001B2 (en) | 2001-12-17 | 2008-09-11 | Northwestern University | Patterning of solid state features by direct write nanolithographic printing |
WO2005101466A2 (en) * | 2003-12-19 | 2005-10-27 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Methods for fabricating isolated micro- and nano- structures using soft or imprint lithography |
JP2007524519A (ja) * | 2004-01-23 | 2007-08-30 | ユニバーシティー オブ マサチューセッツ | 構造化材料および方法 |
JP2006168147A (ja) * | 2004-12-15 | 2006-06-29 | Aitesu:Kk | 有機無機ハイブリッド材料とナノインプリント技術を用いた微細構造体の製造方法および微細構造体 |
EP1853671B1 (en) * | 2005-03-04 | 2013-07-31 | Inktec Co., Ltd. | Conductive inks and manufacturing method thereof |
KR100958590B1 (ko) * | 2005-08-19 | 2010-05-18 | 한빔 주식회사 | 광추출 효율을 높인 발광다이오드 소자 및 이의 제조방법 |
JP5000112B2 (ja) * | 2005-09-09 | 2012-08-15 | 東京応化工業株式会社 | ナノインプリントリソグラフィによるパターン形成方法 |
JP2007080455A (ja) | 2005-09-16 | 2007-03-29 | Toshiba Corp | インプリント材料およびそれを用いたパタン形成方法 |
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CN101573802B (zh) * | 2006-05-09 | 2012-08-08 | 北卡罗来纳-查佩尔山大学 | 光伏器件用的高保真纳米结构体和阵列及其制造方法 |
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WO2008018718A1 (en) | 2006-08-07 | 2008-02-14 | Inktec Co., Ltd. | Process for preparation of silver nanoparticles, and the compositions of silver ink containing the same |
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JP2009170447A (ja) | 2008-01-10 | 2009-07-30 | Sharp Corp | 導電性パターン形成材料、導電性パターン形成方法および配線基板 |
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