JP5068515B2 - 描画データの作成方法、描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法 - Google Patents

描画データの作成方法、描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5068515B2
JP5068515B2 JP2006315048A JP2006315048A JP5068515B2 JP 5068515 B2 JP5068515 B2 JP 5068515B2 JP 2006315048 A JP2006315048 A JP 2006315048A JP 2006315048 A JP2006315048 A JP 2006315048A JP 5068515 B2 JP5068515 B2 JP 5068515B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
pattern
information
arrangement
pattern data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006315048A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008130862A (ja
Inventor
淳 笠原
等 日暮
重博 原
彰人 安保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nuflare Technology Inc
Original Assignee
Nuflare Technology Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nuflare Technology Inc filed Critical Nuflare Technology Inc
Priority to JP2006315048A priority Critical patent/JP5068515B2/ja
Publication of JP2008130862A publication Critical patent/JP2008130862A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5068515B2 publication Critical patent/JP5068515B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

本発明は、描画データの作成方法、描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法に係り、特に、電子線描画装置に用いられる描画データの作成方法と電子線描画装置内で処理される描画データの変換方法に関する。
半導体デバイスの微細化の進展を担うリソグラフィ技術は半導体製造プロセスのなかでも唯一パターンを生成する極めて重要なプロセスである。近年、LSIの高集積化に伴い、半導体デバイスに要求される回路線幅は年々微細化されてきている。これらの半導体デバイスへ所望の回路パターンを形成するためには、高精度の原画パターン(レチクル或いはマスクともいう。)が必要となる。ここで、電子線(電子ビーム)描画技術は本質的に優れた解像性を有しており、高精度の原画パターンの生産に用いられる。
図13は、可変成形型電子線描画装置の動作を説明するための概念図である。
可変成形型電子線描画装置(EB(Electron beam)描画装置)における第1のアパーチャ410には、電子線442を成形するための矩形例えば長方形の開口411が形成されている。また、第2のアパーチャ420には、開口411を通過した電子線442を所望の矩形形状に成形するための可変成形開口421が形成されている。荷電粒子ソース430から照射され、開口411を通過した電子線442は、偏向器により偏向される。そして、可変成形開口421の一部を通過して、所定の一方向(例えば、X方向とする)に連続的に移動するステージ上に搭載された試料に照射される。すなわち、開口411と可変成形開口421との両方を通過できる矩形形状が、試料440の描画領域に描画される。開口411と可変成形開口421との両方を通過させ、任意形状を作成する方式を可変成形方式という。
かかる電子ビーム描画を行なうにあたり、まず、半導体集積回路のレイアウトが設計され、レイアウトデータ(設計データ)が生成される。そして、かかるレイアウトデータが変換され、電子線描画装置に入力される描画データが生成される。そして、描画データに基づいて、さらに、電子線描画装置内のフォーマットのデータに変換されて描画される。
ここで、アドレスサイズとスケーリング値と図形情報と図形の配置位置情報とを組みとした情報が1つのデータファイルに一続きに羅列された描画データを作成する技術についての記載が文献に開示されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−214538号公報
LSIの高集積化に伴い、描画されるパターンのデータ量も増大している。そのため、描画装置入力前の描画データの作成処理や描画装置内でのデータ変換処理における更なる効率化が求められている。
ここで、試料に描画されるパターンの全体を見た場合、一般に、複数のチップデータが再構成されて配置されるものが多い。そして、再構成された複数のチップデータに対してマージを含む加工処理が施される。その際、各チップデータのアドレス単位やスケーリング値等が異なっていることが多い。ここで、従来、このようにアドレス単位やスケーリング値等が異なっている場合、その都度、これらを一致させた描画データ全体を作成し直していた。そのため、データ量が膨大なパターンデータについてもその都度膨大なデータ変換処理が必要であった。また、配置する際には、パターン形状を反転させて配置させることも行なっている。この場合にも、その都度、これを反映させて描画データ全体を作成し直していた。すなわち、データ量が膨大なパターンデータについてもその都度膨大なデータ変換処理が必要であった。このように、これらのデータ変換時間は多大なものとなっていた。そのため、データ変換と描画処理とをリアルタイムで駆動させている描画装置内では、このような多大な変換時間が必要な処理を行なうことは困難であった。このようなマージ等の加工処理の際の変換時間の短縮が望まれている。
ここで、上記特許文献1に記載されている描画データでは、スケーリング値と基本パターンデータと配置情報とがそれぞれ混在した状態で一続きに羅列したデータファイルとなっている。しかし、これでは、データの自由度が低く配置情報の再構成を行なう場合に多大な時間がかかってしまうといった問題が残る。
本発明は、かかる問題点を克服し、処理効率の優れた描画データを作成する手法を提供すると共に、処理効率の優れた描画データの変換手法を提供することを目的とする。
本発明の一態様の描画データの作成方法は、
回路の設計データから荷電粒子線を用いて描画するための描画データの作成方法において、
設計データに含まれるパターンデータに対応するパターンを配置するための配置データを含む配置データファイルを描画データの一部として作成する配置データファイル作成工程と、
上述したパターンデータを含むパターンデータファイルを描画データの一部として作成するパターン情報ファイル作成工程と、
配置データとパターンデータとをリンクさせるための情報と、リンクさせられるパターンデータのパターンのスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報との少なくとも1つとが定義されたリンクデータを含むリンクデータファイルを描画データの一部として作成するリンクデータファイル作成工程と、
を備えることを特徴とする。
まず、リンクデータファイルを作成することで、パターンの再構成を容易にすることができる。さらに、ここでは、リンクデータファイルにパターンデータのオペレーション情報となるスケーリング情報や反転情報や回転情報やフォーマット種別情報が定義される。これにより、後工程となるマージ処理のような加工処理を行なう際にパターンデータを残してデータ加工処理を行なうことができる。すなわち、パターンデータのデータ加工処理を行なわずに配置データのデータ加工処理を行なう。パターンデータは、マージ等の加工処理の後に行なうフォーマットデータ変換処理の際にオペレーション情報を使ってデータ加工処理を一括で行なうことができる。よって、マージ処理のような加工処理の際、膨大なデータ量となるパターンデータの加工処理を省略することができる。すなわち、データ変換処理全体としての変換処理数を低減することができる。
さらに、配置データとパターンデータとで独立したアドレス単位値が定義されると好適である。
また、本発明の一態様の描画データの変換方法は、
複数のパターンの複数のパターンデータを含むパターンデータファイルと、複数のパターンを配置するための複数の配置データを含む配置データファイルと、複数のパターンデータと複数の配置データをリンクさせる情報と複数のパターンデータのスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報との少なくとも1つとが定義された複数のリンクデータを含むリンクデータファイルとを有する第1から第n番目までのチップ用に作成された第1から第n番目の描画データを入力し、
第1から第n番目までの複数の配置データファイル内のデータは同じアドレス単位値とスケーリングサイズになるように、かつ、第1から第n番目までの複数のパターンデータファイル内のデータは入力時のアドレス単位値とスケーリングサイズのままとした第1から第n番目までのチップの第1のデータ加工処理を行ない、
第1のデータ加工処理後、第1から第n番目までの複数のパターンデータファイル内のデータについて、対応するリンクデータファイルに少なくとも1つ以上含まれたスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報とに従って第2のデータ加工処理を行ない、
第2のデータ加工処理後のパターンデータと配置データとリンクデータに基づいて描画データを描画装置内で用いるための装置内フォーマットのデータに変換して出力することを特徴とする。
上述したように、リンクデータにパターンデータのオペレーション情報となるスケーリング情報や反転情報や回転情報やフォーマット種別情報が定義される。これにより、マージ等の加工処理を行なう際にパターンデータのデータ加工処理を省略することができる。そして、その加工処理後に、オペレーション情報を使ってパターンデータの加工処理を行なう。よって、データ変換時間を大幅に短縮することができる。
また、第1の加工処理後のパターンデータファイルは、第1から第n番目までの複数のパターンデータがアドレス単位値ごとに複数のセグメントにグループ化されて同一のパターンデータファイル内に定義されると好適である。
また、上述した変換方法を取り入れた本発明の一態様の荷電粒子線描画方法は、
複数のパターンの複数のパターンデータを含むパターンデータファイルと、複数のパターンを配置するための複数の配置データを含む配置データファイルと、複数のパターンデータと複数の配置データをリンクさせる情報と複数のパターンデータのスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報との少なくとも1つとが定義された複数のリンクデータを含むリンクデータファイルとを有する第1から第n番目までのチップ用に作成された第1から第n番目の描画データを入力し、
第1から第n番目までの複数の配置データファイル内のデータは同じアドレス単位値とスケーリングサイズになるように、かつ、第1から第n番目までの複数のパターンデータファイル内のデータは入力時のアドレス単位値とスケーリングサイズのままとした第1から第n番目までのチップの第1のデータ加工処理を行ない、
第1のデータ加工処理後、第1から第n番目までの複数のパターンデータファイル内のデータについて、対応するリンクデータファイルに少なくとも1つ以上含まれたスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報とに従って第2のデータ加工処理を行ない、
第2のデータ加工処理後のパターンデータと配置データとリンクデータに基づいて描画データを描画装置内で用いるための装置内フォーマットのデータに変換し、
装置内フォーマットのデータに基づいて、試料に所定のパターンを描画することを特徴とする。
本発明によれば、マージ処理などのデータへの加工処理の際のデータ変換時間を短縮することができる。よって、描画装置内でマージ処理などのデータへの加工処理をリアルタイムで行なうことができる。
以下、実施の形態では、荷電粒子線(荷電粒子ビーム)の一例として、電子線(電子ビーム)を用いた構成について説明する。但し、荷電粒子線は、電子線に限るものではなく、イオン線等の荷電粒子を用いたビームでも構わない。
実施の形態1.
実施の形態1では、設計データが持つ階層構造を利用してデータ変換を行ない、階層的なフォーマットの描画データに出力する。これにより、変換時間の短縮と描画データ量の圧縮を可能とすることができる。他方、描画装置内部では、入力した描画データをさらに加工する処理が行なわれ、最終的には、ほぼフラットなデータ構造にする。ここで、データ変換を効率よく行なうことで、チップマージ処理も描画装置内で行なう構成について説明する。
図1は、実施の形態1における電子線描画データの作成方法と電子線描画データの変換方法との要部工程を示すフローチャート図である。
図1に示すように、設計データ10を描画データ作成装置にて変換して描画データ12を作成する。そして、作成された描画データ12を描画装置内に入力して装置内部データ14に変換する。図1において、電子線描画データの作成方法は、配置情報ファイル作成工程の一例となるセル配置データファイル作成工程(S102)と、パターン情報ファイル作成工程の一例となるセルパターンデータファイル作成工程(S104)と、リンク情報ファイル作成工程の一例となるリンクデータファイル作成工程(S106)という一連の工程を実施する。電子線描画データの作成方法におけるこれらの工程は、描画データ作成装置内で処理される。そして、電子線描画データの変換方法は、入力工程(S108)と、チップマージ処理工程(S110)と、データ処理及び変換工程(S112)という一連の工程を実施する。そして、データ処理及び変換工程(S112)内では、セルパターンデータ加工処理工程(S202)とフォーマット変換工程(S204)という一連の工程を実施する。電子線描画データの変換方法におけるこれらの工程は、描画装置内で処理される。
図2は、描画装置の要部構成の一例を示す概念図である。
図2において、描画装置100は、描画部150と制御部160を備えている。制御部160は、制御回路110、描画データ処理回路120を備えている。描画部150は、電子鏡筒102、描画室103を有している。電子鏡筒102内には、電子銃201、照明レンズ202、第1のアパーチャ203、投影レンズ204、偏向器205、第2のアパーチャ206、対物レンズ207、偏向器208が配置されている。また、描画室103内には、移動可能に配置されたXYステージ105が配置されている。また、XYステージ105上には、試料101とファラデーカップ209が配置されている。試料101として、例えば、ウェハにパターンを転写する露光用のマスクが含まれる。また、このマスクは、例えば、まだ何もパターンが形成されていないマスクブランクスが含まれる。また、図2では、実施の形態1を説明する上で必要な構成部分については記載している。描画装置100にとって、通常、必要なその他の構成が含まれることは言うまでもない。
また、描画データ作成装置300において、描画データ12を作成し、描画データ処理回路120に出力する。そして、描画データ処理回路120は、入力した描画データ12を装置内部データ14に変換する。そして、かかる装置内部データ14に沿って、制御回路110により描画部150が制御される。そして、描画部150により試料101に所望する図形パターンが描画される。
電子銃201から出た電子ビーム200は、照明レンズ202により矩形、例えば長方形の穴を持つ第1のアパーチャ203全体を照明する。ここで、電子ビーム200をまず長方形に成形する。そして、第1のアパーチャ203を通過した第1のアパーチャ像の電子ビーム200は、投影レンズ204により第2のアパーチャ206上に投影される。かかる第2のアパーチャ206上での第1のアパーチャ像の位置は、偏向器205によって制御される。これにより、ビーム形状と寸法を変化させることができる。そして、第2のアパーチャ206を通過した第2のアパーチャ像の電子ビーム200は、対物レンズ207により焦点を合わせられる。そして、電子ビーム200は、偏向器208により偏向される。このようにして、XYステージ105上の試料101の所望する位置に照射される。また、ビーム強度等はファラデーカップ209に電子ビーム200を照射して測定することができる。
図3は、描画データ作成装置の主要構成を示すブロック図である。
図3において、描画データ作成装置300は、セル配置データファイル作成回路310、セルパターンデータファイル作成回路320、リンクデータファイル作成回路330を備えている。図3では、実施の形態1を説明する上で必要な構成部分については記載している。描画データ作成装置300にとって、通常、必要なその他の構成が含まれることは言うまでもない。例えば、入出力手段等の図示は省略している。
図4は、データの階層構造の一例を示す図である。
設計データ10では、チップ上に複数のセルが配置され、そして、各セルには、かかるセルを構成する要素パターンとなる1つ以上の図形が配置されている。そして、描画データ12では、図4に示すように、描画領域が、チップの層、チップ領域を描画面と平行するある方向例えばy方向に向かって短冊状に仮想分割したフレームの層、フレーム領域を所定の大きさの領域に仮想分割したブロックの層、上述したセルの層、かかるセルを構成するパターンとなる図形の層といった一連の複数の内部構成単位ごとに階層化されている。そして、装置内部データ14は、さらに、クラスタの層を内部構成単位として有している。図4では、階層数が多い装置内部データ14を一例として記載している。尚、ここではフレームについてチップ領域をy方向(所定の方向)に向かって短冊状に分割した領域としてあるが、これは一例であり、描画面と平行しy方向と直交するx方向に分割する場合もありうる。或いは描画面と平行するその他の方向であっても構わない。
半導体集積回路を製造するにあたって、まず、半導体集積回路のレイアウトが設計され、設計データ10が生成される。次に、設計データ10が描画データ作成装置300により変換され、描画データ12が生成される。そしてこの描画データ12が描画装置100に入力可能なデータとなる。かかる描画データ12が描画装置100に入力されると、描画データ処理回路120において、複数のデータ変換処理が行なわれる。そして、その後に装置内フォーマットに変換され、装置内部データ14が生成される。そして、描画装置100は、試料101に装置内部データ14に含まれる図形パターンを電子ビーム200で描画することになる。以下、描画データ作成装置300によって描画データ12が生成される工程について説明する。まず、設計データ10が描画データ作成装置300に入力される。そして、
S(ステップ)102において、セル配置データファイル作成工程として、セル配置データファイル作成回路310は、設計データ10に基づいて、セル配置データファイルを作成する。
S104において、セルパターン情報ファイル作成工程として、セルパターンデータファイル作成回路320は、設計データ10に基づいて、セルパターンデータファイルを作成する。
S106において、リンク情報ファイル作成工程として、リンクデータファイル作成回路330は、設計データ10に基づいて、リンクデータファイルを作成する。
図5は、描画データの一例を示す図である。
描画装置100でパターンを描画する際には、例えば、フレームを描画単位として描画される。図5では、一例として、あるチップにおける番号”n”で識別されるフレーム領域に位置しているデータについて説明する。そして、そのチップ用の描画データ12として、セル配置データ、リンクデータ、セルパターンデータが作成される。そして、これらのデータは、それぞれファイルを構成する。試料101に所望するパターンを描画する場合には、複数のチップが配置される場合が多い。そのような場合には、これらのファイルがチップごとに作成される。そして、これらのファイルで描画データ12を構成する。図5において、描画データ12は、一例として、セル配置データファイル22、リンクデータファイル24、セルパターンデータファイル26を有している。描画データ12は、さらに、複数のチップが配置される場合におけるチップ構成を定義するチップ構成ファイル20を有している。また、図5では、セル配置データファイル22とリンクデータファイル24とセルパターンデータファイル26内の各データの対応関係を示している。
セル配置データファイル22は、設計データ10に含まれるあるチップのパターンデータに対応するパターンを配置するための配置データ(配置情報)を含む。セル配置データファイル22には、ブロック領域ごとに、配置されるセルのいずれかを配置するための配置データが含まれる。図5では、一例として、配置されるセルの一部となるセル(i)〜(r)のいずれかを配置するための配置データを示している。セル配置データは、セルの基準点の配置位置を示す座標等で示される。図5において、セル配置データファイル22は、ファイルヘッダに続き、ブロック(0,0)ヘッダ、ブロック(0,0)内に配置されたセル配置データ(p)、セル配置データ(q)、セル配置データ(r)が格納されている。そして、その他の配置データがさらに格納される。
図6は、セル配置データの一例を示す図である。
各セル配置データLn32には、セル配置座標(PXn,PYn)、セルサイズ(SXn,SYn)、及びリンクデータインデックス(Km)が含まれている。かかるデータにより、セル配置データファイル22では、各ブロックに配置されるセルの位置を表す座標やセルのサイズ、そして後述するセルパターンデータへとリンクさせるための情報を把握することができる。
次に、セルパターンデータファイル26には、あるチップのフレームnに配置される複数のセルの各パターンデータが含まれている。図5では、一例として、セル(i)〜(j)の各パターンデータを示している。ここでは、セルパターンデータファイル26には、その一部として、パターンデータセグメント(0)、セル(i)のパターンデータを示すセルパターンデータ(i)、セル(j)のパターンデータを示すセルパターンデータ(j)が順に1回ずつ格納されている。セルパターンデータには、セルパターンを構成するデータ量が大きい図形データ等が含まれる。図5では、セルパターンデータ(i)は、セル配置データ(p)と(r)とで必要となり、セルパターンデータ(j)は、セル配置データ(q)で必要となる。それぞれの配置ごとにセルパターンデータを何度も繰り返し記載するとデータ量が膨大なものになるが、特に、データ量が大きくなるセルパターンデータを何度も繰り返し記載せず、図5に示すように、1つのセグメントに順に1回ずつ格納することによりデータ量の圧縮を図ることができる。
また、リンクデータファイル24には、各セル配置データと各セルパターンデータとをリンクさせる各種データが含まれている。図5では、リンクデータファイル24には、その一部として、セル配置データ(p)をセルパターンデータ(i)に関連させるための関係データ(a)、セル配置データ(q)をセルパターンデータ(j)に関連させるための関係データ(b)、セル配置データ(r)をセルパターンデータ(i)に関連させるための関係データ(c)が順に格納されている。
図7は、リンクデータファイルの一例を示す図である。
リンクデータファイル24には、ヘッダセグメントに続き、関係テーブルセグメント32とセルオペレーションテーブルセグメント36が格納されている。そして、関係テーブルセグメント32には、その一部として、図5でも示した関係データ(a),(b),(c),・・・が格納されている。各関係データ34には、それぞれ次のようなデータが格納されている。ここでは、一例として、関係データ(a)について示している。関係データ(a)には、パターンデータセグメント(0)ポインタとパターンデータ(i)ポインタとが格納されている。パターンデータセグメント(0)ポインタは、セルパターンデータファイル26内でのパターンデータセグメント(0)の先頭のアドレスを示している。そして、パターンデータ(i)ポインタは、パターンデータセグメント(0)内でのセルパターンデータ(i)の先頭アドレスを示している。これらは、セル配置データ(p)とセルパターンデータ(i)とをリンクさせるための情報となる。関係データ(a)には、さらに、リンクさせられるパターンデータ(i)の反転データと回転データとフォーマット種別情報とが定義(格納)されている。そして、さらに、セルオペレーションインデックスが定義されている。そして、セルオペレーションインデックスは、セルオペレーションテーブルセグメント36内でのセルオペレーションデータ(α)の先頭アドレスを示している。これら格納されるデータは、関係データ(b),(c)を含むその他の関係データ34についても同様である。
また、セルオペレーションテーブルセグメント36には、ヘッダに続き、その一部として、セルオペレーションデータ(α),(β),(γ),・・・が格納されている。各セルオペレーションデータ38には、それぞれ次のようなデータが格納されている。ここでは、一例として、セルオペレーションデータ(α)について示している。セルオペレーションデータ(α)には、スケーリング要素の底B、スケーリング要素の指数E、スケーリング要素の係数Fが定義されている。そして、これらの値B,E,Fを使って、対応するセルパターンデータのスケーリング値が定義される。
スケーリング値は、”スケーリング値=F/B”で定義される。このように、値B,E,Fを使うことで、分数にも対応することができる。
これら格納されるデータは、セルオペレーションデータ(β),(γ)を含むその他のセルオペレーションデータ38についても同様である。
以上のように、描画データ12を構成する各ファイルが成り立っている。ここで、セル配置データ(p)について説明する。セル配置データ(p)内に定義されたリンクデータインデックスKmの値によって、関係データ(a)の先頭アドレスを把握することができる。そして、関係データ(a)内のパターンデータセグメント(0)ポインタによって、セルパターンデータファイル26内でのパターンデータセグメント(0)の先頭のアドレスを把握することができる。そして、関係データ(a)内のパターンデータ(i)ポインタによって、パターンデータセグメント(0)内でのセルパターンデータ(i)の先頭アドレスを把握することができる。さらに、関係データ(a)内の反転データと回転データとフォーマット種別情報とによって、セルパターンデータ(i)の反転の有無と回転角度とフォーマット種別とを把握することができる。さらに、関係データ(a)内のセルオペレーションインデックスによって、セルオペレーションデータ(α)の先頭アドレスを把握することができる。そして、セルオペレーションデータ(α)内の値B,E,Fによって、セルパターンデータ(i)のスケーリング値を把握することができる。また、配置データのアドレス単位(AU)値は、チップ構成ファイル20内に定義されるチップのAU値によって把握することができる。他方、パターンデータのAU値は、パターンデータセグメント内に定義される。図5に示したように、パターンデータセグメント内には、セグメントヘッダとセルパターンのAU値が格納されている。このAU値により、パターンデータセグメント内のセルパターンデータ(i)〜(j)のAU値を把握することができる。
以上のように、実施の形態1では、リンクデータファイル24内に、各パターンの反転データと回転データとフォーマット種別情報とスケーリング値を決める各要素値といったセルパターンデータのオペレーション情報を定義している。このように、リンクデータファイル24内に、セルパターンデータのオペレーション情報を定義することで、後述するようにチップマージ処理時においてパターンデータのデータ変換を省略することができる。
また、上述したように、実施の形態1では、配置データとパターンデータとで独立したアドレス単位(AU)値を定義する。上述したように、配置データのAU値は、チップ構成ファイル20内に定義されるチップのAU値によって把握することができる。他方、パターンデータのAU値は、パターンデータセグメント内に定義される。このように配置データとパターンデータとでAU値を独立させて定義することで、後述するようにチップマージ処理時においてパターンデータのデータ変換を省略することができる。
以上のように、描画データ作成装置300において、描画データ12の一部として、セル配置データファイル22とセルパターンデータファイル26とリンクデータファイル24とを作成する。このように、電子線描画データとして、配置データとパターンデータとを別々のファイルに作成することにより、配置位置ごとに逐一パターン情報を配置した描画データを作成する必要を無くすことができる。その結果、もっとも膨大なデータ量となるパターン情報のデータ量を低減することができる。よって、全体としてのデータ量の低減を図ることができる。
尚、ここでは、セル配置データ、セルパターンデータ、リンクデータをそれぞれ個別のファイルで出力する形式を説明したが、ファイルの作成方式はこれに限らない。たとえば、これら3つが連結された形の1ファイルで出力することも可能である。また、それぞれの情報ファイルがフレームごとに1つずつ作成してもよいし、その他の作成方法でもよい。例えば、セル配置データファイルとリンクデータファイルをフレームごとに作成し、セルパターンデータファイルは一チップで一ファイル作成することも可能である。この場合、異なるフレームで同じパターンを繰り返している場合、セルパターンデータを全フレームで共有することになるためデータ量の圧縮により効果的である。
ここで、描画装置100では、近接効果補正等を行なうにあたって、隣り合うチップからの影響を考慮する必要から複数のチップを1つにまとめてセルを特定の領域に振り分けるチップマージ処理を行なうことが一般的である。ここで、チップマージ処理といった配置データの再構成処理を行なうにあたり、セル配置データとセルパターンデータとが混在したデータファイルでは、配置データの再構成処理を行なうことが困難、或いは処理時間が長くなってしまう。しかしながら、実施の形態1のように、セル配置データファイルとセルパターンデータファイルとを別のファイルとして作成することにより、配置データの再構成を自由に行なうことができる。すなわち、チップマージ処理を行なう際に、効率良くデータを読みに行くことができる。その結果、配置データの再構成処理を行ない易くすることができる。さらに、実施の形態1では、描画装置100内でチップマージ処理を行なう。
S108において、入力工程として、描画データ処理回路120は、描画データ作成装置300において作成された描画データ12を入力する。ここでは、第1から第n番目までのチップ用に作成された第1から第n番目の描画データ12を入力する。ここで、図5に示したように、各チップ用に作成されたセルパターンデータファイル26では、データ量が大きくなるセルパターンデータを何度も繰り返し格納していない。そのため、描画装置100への入力処理(データ転送処理)にかかる時間を大きく短縮することができる。
図8は、実施の形態1における描画データ処理回路の主要構成を示すブロック図である。
図8において、描画データ処理回路120は、チップマージ処理回路122、データ変換回路124を備えている。データ変換回路124内には、複数のCPU(演算処理装置)125が配置されている。図8では、本実施の形態1を説明する上で必要な構成部分について記載している。描画データ処理回路120にとって、通常、必要なその他の構成が含まれることは言うまでもない。例えば、入出力手段等の図示は省略している。
S110において、チップマージ処理工程として、チップマージ処理回路122は、入力された複数のチップ用の各描画データ12を用いて複数のチップのマージ処理を行なう。ここで、複数のチップのマージ処理を行なう際、チップ同士間でAU値やスケーリングサイズが異なっているとマージ処理を行なうことができない。そこで、実施の形態1では、チップマージ処理の際、第1から第n番目までの複数のセル配置データファイル内のデータは同じAU値とスケーリングサイズになるように変換する。すなわち、セル配置データのオペレーションを行なう。一方、第1から第n番目までの複数のセルパターンデータファイル内のデータは描画装置100が入力した時のAU値とスケーリングサイズのままとする。また、回転、反転もせずにそのままとする。そして、マージ後にローカライズ処理をおこなう。
図9は、チップマージ後の描画データの一例を示す図である。
図9では、一例として、図5に示した描画データ12で構成されるあるチップを含む複数のチップをマージした場合について説明する。また、図9では、一例として、マージ後のチップにおける番号”N”で識別されるフレーム領域に位置しているデータについて示している。チップマージ処理によって、描画データ12は、図9に示すように変換される。すなわち、チップマージ後の描画データ12は、一例として、セル配置データファイル82、リンクデータファイル84、セルパターンデータファイル86に再作成される。この描画データ12は、さらに、チップ構成ファイルもチップ構成ファイル80に再作成される。また、図9では、図5と同様、セル配置データファイル82とリンクデータファイル84とセルパターンデータファイル86内の各データの対応関係を示している。図9において、チップ構成ファイル80内には、チップマージによって1つにマージされたチップのAU値が格納されている。セル配置データファイル82内の各セル配置データ(p)〜(t)は、同じAU値とスケーリングサイズに変換されて格納される。変換する際のスケーリングサイズは、各チップの元々のリンクデータファイル内のスケーリング要素値から求めることができる。
セル配置データファイル82は、マージ後のチップのパターンデータに対応するパターンを配置するためのセル配置データ(配置情報)を含む。そして、各セル配置データは、チップマージ処理回路122によってブロック領域ごとに分散処理(ローカライズ処理)される。その結果、セル配置データファイル82には、ブロック領域ごとに、配置されるセルのいずれかを配置するための配置データが格納される。図9では、一例として、配置されるセルの一部となるセル(i)〜(l)のいずれかを配置するための配置データを示している。図9において、セル配置データファイル82は、ファイルヘッダに続き、ブロック(0,0)ヘッダ、ブロック(0,0)内に配置されたセル配置データ(p)、セル配置データ(q)、セル配置データ(r)が格納されている。そして、ブロック(0,1)ヘッダ、ブロック(0,1)内に配置されたセル配置データ(s)が格納されている。そして、ブロック(1,0)ヘッダ、ブロック(1,0)内に配置されたセル配置データ(r)が格納されている。そして、その他の配置データがさらに続いていく。
次に、セルパターンデータファイル86には、マージ後のチップのフレームNに配置される複数のセルの各パターンデータが含まれている。図9では、一例として、セル(i)〜(l)の各パターンデータを示している。ここでは、セルパターンデータファイル86には、その一部として、パターンデータセグメント(0)、セル(i)のパターンデータを示すセルパターンデータ(i)、セル(j)のパターンデータを示すセルパターンデータ(j)が順に1回ずつ格納されている。続いて、パターンデータセグメント(1)、セル(k)のパターンデータを示すセルパターンデータ(k)が格納されている。そして、間の他のパターンデータを省略して、続いて、パターンデータセグメント(4)、セル(l)のパターンデータを示すセルパターンデータ(l)が格納されている。そして、その他の配置データがさらに続いていく。
ここで、マージ処理後のセルパターンデータファイル86では、第1から第n番目までの複数のパターンデータがAU値ごとに複数のパターンデータセグメントにグループ化されて同一のセルパターンデータファイル86内に定義される。すなわち、パターンデータセグメント毎に同じAU値のパターンデータをまとめて格納する。図9では、パターンデータセグメントが4つ示されているので少なくとも4種類のAU値を持つパターンデータが格納されたことになる。これにより、各パターンデータセグメント内に定義されたAU値でパターンデータのAU値を把握することができる。よって、チップマージ処理時に各パターンデータを同じAU値に合わせるためのデータ変換処理を行なわないで済ますことができる。
また、リンクデータファイル84には、各セル配置データと各セルパターンデータとをリンクさせる各種データが含まれている。図5では、リンクデータファイル24には、その一部として、セル配置データ(p)をセルパターンデータ(i)に関連させるための関係データ(a)、セル配置データ(q)をセルパターンデータ(j)に関連させるための関係データ(b)、セル配置データ(r)をセルパターンデータ(i)に関連させるための関係データ(c)が順に格納されている。続いて、セル配置データ(s)をセルパターンデータ(k)に関連させるための関係データ(d)が格納されている。続いて、セル配置データ(t)をセルパターンデータ(l)に関連させるための関係データ(e)が格納されている。各関係データ(e)内には、リンクさせるセルパターンデータの反転データと回転データとフォーマット種別情報が格納されていることは上述した通りである。同様に、リンクデータファイル84内のオペレーションデータ内には、スケーリング値を決める各要素値が格納されていることは上述した通りである。このように、リンクデータファイル84には、マージされたチップ用の各リンクデータが順に格納されている。以上のように構成することにより、各パターンデータは、後からでもリンクデータファイル84内のデータからオペレーション情報を得ることができる。よって、チップマージ処理時に各パターンデータをそのオペレーション情報に合わせるためのデータ加工処理を行なわないで済ますことができる。
図10は、チップマージ処理の一例を説明するための図である。
例えば、試料101の描画領域40に”A”で示すチップ42と”B”で示すチップ44とを配置してマージする場合を説明する。ここで、AU値が1nmで定義されたチップ42をスケーリングサイズが80%で再構成する。AU値が1.25nmで定義されたチップ44をスケーリングサイズが100%で再構成する。そして、チップマージ処理後に、スケーリングサイズが100%、AU値が1nmになるようにマージする。この場合、チップマージ処理の際に、チップ42用の描画データでは、次のように加工処理される。すなわち、チップ構成ファイル20aでは、元々のAUが1nmの場合、変更がないのでデータ加工処理されない。しかし、セル配置データファイル22aでは、座標(P,P)とセルサイズ(S,S)について、80%にスケーリング変換加工処理を行なう。さらに、リンクデータファイル24a内のスケーリング値が1の場合、80%にスケーリング変換加工処理を行なう。しかし、セルパターンデータファイル26aについては、スケーリング変換を行なわず、そのままとする。他方、チップ44用の描画データでは、次のように加工処理される。すなわち、チップ構成ファイル20bでは、元々のAUが1.25nmの場合、1nmにAU変換を行なう。そして、セル配置データファイル22bでは、座標(P,P)とセルサイズ(S,S)について、1.25倍にスケーリング変換加工処理を行なう。そして、リンクデータファイル24b内のスケーリング値が1の場合、変更が無いのでそのままとする。そして、セルパターンデータファイル26bについては、同様に、スケーリング変換を行なわず、そのままとする。そして、変換された両チップの各データを合わせて、それぞれのデータファイルを作成する。このようにして、マージ後のチップ46の描画データ12を作成する。
S112において、データ処理及び変換工程として、データ変換回路124は、第1から第n番目までの複数のパターンデータについて、データ加工処理を行なう。データ加工処理は、すでにローカライズ処理されているので、複数のCPU125を並列に用いてブロックごとに処理すると効果的である。まずは、セルパターンデータへのオペレーションとして、セルパターンデータ加工処理を行なう。図9に示したように、第1から第n番目までの複数のチップのマージ処理により、各チップ用のパターンデータは、1つのセルパターンデータファイル86に集約されている。一方、チップマージ後のリンクデータファイル84には、対応するスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報といったオペレーション情報が格納されている。そこで、各パターンデータは、対応するリンクデータファイル84に含まれたオペレーション情報に従ってデータ加工処理を行なう。すなわち、スケーリング要素値に従ってスケーリング変換加工処理を行なう。また、反転データに従ってセルパターンを反転させる。また、回転データに従ってセルパターンを回転させる。また、パターンデータセグメントに定義されたAU値を使って、各パターンデータを同じAU値に合わせるためのデータ加工処理を行なう。これらをまとめてデータ処理する。以上のように、リンクデータファイル84にパターンデータ用のオペレーション情報を定義しておくことで、まとめてパターンデータのデータ加工処理を行なうことができる。また、各パターンデータセグメントにAU値を定義しておくことで、他のオペレーション情報の変換と共にまとめてパターンデータのデータ加工処理を行なうことができる。よって、その都度、データ加工処理が必要であった従来に比べ変換時間を短縮することができる。
セル配置データもセルパターンデータもそれぞれ必要なオペレーションが終了しているので、次に、装置内部フォーマットへとフォーマット変換を行なう。フォーマット変換は、セルパターンデータ加工処理後のセルパターンデータファイル86とセル配置データファイル82とリンクデータファイル84とに含まれる各データに基づいて行なう。そして、チップマージ処理後の描画データ12を描画装置100内で用いるための装置内フォーマットのデータに変換する。
ここで、セルパターンデータ加工処理とフォーマット変換処理は連続して、或いは一緒に行なうことが好適である。すなわち、セルパターンデータ加工処理後に一旦磁気ディスク装置等にファイルを記憶させ、フォーマット変換時に磁気ディスク装置から読み出すといった作業はしない。一旦磁気ディスク装置等にファイルを記憶させないで連続処理を行なうことで処理時間を短縮することができる。このようにして、装置内部データ14を作成する。そして、作成された装置内部データ14を出力する。
ここで、上述した描画装置100に入力される描画データ12は、各ファイルが同じフォーマットで規定されていることが望ましいが、これに限るものではない。例えば、図5のセルパターンデータファイル26が異なるフォーマットで規定されていてもよい。そして、セルパターンデータファイル26のデータのフォーマット種別は、リンクデータファイル24に格納されたフォーマット種別の情報から得ることができる。よって、チップマージ処理時もそのままのフォーマットでセルパターンデータファイル86を作成することができる。このようにフォーマットが違っていてもセル配置データとセルパターンデータとをリンクさせることができる。そして、装置内部フォーマットへのフォーマット変換の際に、必要なデータ加工処理を行なえばよい。例えば、始めから装置内部フォーマットでセルパターンデータファイル26が作成されていれば、ここでのフォーマット変換を不要とすることができる。
図11は、リンクデータファイルにオペレーション情報を格納した場合の効果を説明するための比較例を示す図である。
図11(a)には、描画データ15においてリンクデータファイルにオペレーション情報を格納しない場合の処理フローの一例を示している。或いは、描画データ15にリンクデータファイル自体が存在しない場合を示している。この場合には、チップマージ処理等のデータ加工処理(S210)を行なう際、セルパターンデータのオペレーションも行なわないとならない。そのため、データ加工処理に多大な時間がかかってしまう。よって、描画装置内で描画処理とリアルタイムに並行して処理を行なっていくことが困難となる。よって、一端、描画データ16を作成し、これを描画装置内に入力することになる。そして、データ処理及び変換工程(S212)として、マージ後の描画データ16について装置仕様に合わせたセルパターンデータのオペレーションをフォーマット変換を行なう際に再度行ない、装置内部データ17を作成することになる。
他方、図11(b)には、描画データ12においてリンクデータファイルにオペレーション情報を格納する場合の処理フローの一例を示している。この場合には、上述したように、チップマージ処理等のデータ加工処理(S110)を行なう際、セルパターンデータのオペレーションを行なわないので、データ加工処理時間を短くすることができる。よって、描画装置100内で描画処理とリアルタイムに並行して処理を行なっていくことができる。そして、描画装置100内でチップマージ後の描画データ13を用いて、さらに、図1で説明したデータ処理及び変換工程(S112)へと進めばよい。
以上のように、チップマージ処理等のデータ加工処理(S210)時とデータ処理及び変換(S212)時において同様のセルパターンデータへのオペレーション処理を行なう手間を省くことができる。すなわち、セルパターンデータのオペレーション情報を独立に定義することで、最終段階の処理(S112)として1度に実施することができる。これにより、オフラインで行なっていた各種のデータオペレーションを描画装置100内でリアルタイムに実行することができる。
また、セルパターンデータへのオペレーション処理を行なうと、その前後でデータ量が同じ或いは増えることになる。例えば、同一のチップに異なるオペレーション処理を行なうチップ配置のあるレイアウトでは増えることになる。よって、セルパターンデータへのオペレーション処理を描画装置100内部のデータ処理の最終段階で行なうことで途中の処理でのデータ量を軽減することができる。その結果、システム全体の負荷を軽減することにもなる。
さらに言えば、セルパターンデータへのオペレーション処理以前では、セル配置データへの処理を実施すればよい。よって、チップマージ時にセルパターンデータへのオペレーション処理を行なう場合に比べシステムの構成規模を小さく抑えることができる。よって、コスト削減にもつながる。
また、別の効果として、上述したように、階層的な描画データ12を、有る程度の領域内で階層を維持した状態で処理することで、完全にフラットなデータを逐次すべて処理する場合に比べ、装置内部のデータ処理時間を短縮することができる。さらに、並列処理を行なうことで装置内部のデータ処理時間を大幅に短縮することができる。その結果、高スループットの描画装置用のデータ処理系を実現することができる。
以上の説明において、「〜回路」或いは「〜工程」と記載したものは、コンピュータで動作可能なプログラムにより構成することができる。或いは、ソフトウェアとなるプログラムだけではなく、ハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実施させても構わない。或いは、ファームウェアとの組合せでも構わない。また、プログラムにより構成される場合、プログラムは、磁気ディスク装置、磁気テープ装置、FD、或いはROM(リードオンリメモリ)等の記録媒体に記録される。
図12は、プログラムにより構成する場合のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
コンピュータとなるCPU50は、バス74を介して、RAM(ランダムアクセスメモリ)52、ROM54、磁気ディスク(HD)装置62、キーボード(K/B)56、マウス58、外部インターフェース(I/F)60、モニタ64、プリンタ66、FD68、DVD70、CD72に接続されている。ここで、RAM(ランダムアクセスメモリ)52、ROM54、磁気ディスク(HD)装置62、FD68、DVD70、CD72は、記憶装置の一例である。キーボード(K/B)56、マウス58、外部インターフェース(I/F)60、FD68、DVD70、CD72は、入力手段の一例である。外部インターフェース(I/F)60、モニタ64、プリンタ66、FD68、DVD70、CD72は、出力手段の一例である。
以上、具体例を参照しつつ実施の形態について説明した。しかし、本発明は、これらの具体例に限定されるものではない。例えば、各実施の形態では、内部構成要素として、セル情報を中心として記載したが、これに限るものではなく、別の階層データを中心にデータ構成しても構わない。
また、装置構成や制御手法等、本発明の説明に直接必要しない部分等については記載を省略したが、必要とされる装置構成や制御手法を適宜選択して用いることができる。例えば、可変成形型EB描画装置100を制御する制御部構成については、記載を省略したが、必要とされる制御部構成を適宜選択して用いることは言うまでもない。
その他、本発明の要素を具備し、当業者が適宜設計変更しうる全ての電子線描画データの作成方法、電子線描画データの変換方法、及びそれらの装置は、本発明の範囲に包含される。
実施の形態1における電子線描画データの作成方法と電子線描画データの変換方法との要部工程を示すフローチャート図である。 描画装置の要部構成の一例を示す概念図である。 描画データ作成装置の主要構成を示すブロック図である。 データの階層構造の一例を示す図である。 描画データの一例を示す図である。 セル配置データの一例を示す図である。 リンクデータファイルの一例を示す図である。 実施の形態1における描画データ処理回路の主要構成を示すブロック図である。 チップマージ後の描画データの一例を示す図である。 チップマージ処理の一例を説明するための図である。 リンクデータファイルにオペレーション情報を格納した場合の効果を説明するための比較例を示す図である。 プログラムにより構成する場合のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。 可変成形型電子線描画装置の動作を説明するための概念図である。
符号の説明
10 設計データ
12,13,15,16 描画データ
14,17 装置内部データ
20,80 チップ構成ファイル
22,82 セル配置データファイル
24,84 リンクデータファイル
26,86 セルパターンデータファイル
32 関係テーブルセグメント
34 関係データ
36 セルオペレーションテーブルセグメント
38 セルオペレーションデータ
40,41 描画領域
42,44,46 チップ
50 CPU
52 RAM
54 ROM
56 K/B
58 マウス
60 I/F
62 HD装置
64 モニタ
66 プリンタ
68 FD
70 DVD
72 CD
74 バス
100 描画装置
101,440 試料
102 電子鏡筒
103 描画室
105 XYステージ
110 制御回路
120 描画データ処理回路
122 チップマージ処理回路
124 データ変換回路
125 CPU
150 描画部
160 制御部
200 電子ビーム
201 電子銃
202 照明レンズ
203,410 第1のアパーチャ
206,420 第2のアパーチャ
204 投影レンズ
205,208 偏向器
207 対物レンズ
209 ファラデーカップ
300 描画データ作成装置
310 セル配置データファイル作成回路
320 セルパターンデータファイル作成回路
330 リンクデータファイル作成回路
411 開口
421 可変成形開口
430 荷電粒子ソース
442 電子線

Claims (5)

  1. 回路の設計データから荷電粒子線を用いて描画するための描画データの作成方法において、
    前記設計データに含まれるパターンデータに対応するパターンを配置するための配置データを含む配置データファイルを前記描画データの一部として作成する配置データファイル作成工程と、
    前記パターンデータを含むパターンデータファイルを前記描画データの一部として作成するパターンデータファイル作成工程と、
    前記配置データと前記パターンデータとをリンクさせるための情報と、リンクさせられるパターンデータのパターンのスケーリングデータと反転データと回転データとフォーマット種別データとの少なくとも1つとが定義されたリンクデータを含むリンクデータファイルを前記描画データの一部として作成するリンクデータファイル作成工程と、
    を備えることを特徴とする描画データの作成方法。
  2. 前記配置データと前記パターンデータとで独立したアドレス単位値が定義されることを特徴とする請求項1記載の描画データの作成方法。
  3. 複数のパターンの複数のパターンデータを含むパターンデータファイルと、前記複数のパターンを配置するための複数の配置データを含む配置データファイルと、前記複数のパターンデータと前記複数の配置データをリンクさせる情報と前記複数のパターンデータのスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報との少なくとも1つとが定義された複数のリンクデータを含むリンクデータファイルとを有する第1から第n番目までのチップ用に作成された第1から第n番目の描画データを入力し、
    第1から第n番目までの複数の配置データファイル内のデータは同じアドレス単位値とスケーリングサイズになるように、かつ、第1から第n番目までの複数のパターンデータファイル内のデータは入力時のアドレス単位値とスケーリングサイズのままとした第1から第n番目までのチップの第1のデータ加工処理を行ない、
    前記第1のデータ加工処理後、第1から第n番目までの複数のパターンデータファイル内のデータについて、対応するリンクデータファイルに少なくとも1つ以上含まれたスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報とに従って第2のデータ加工処理を行ない、
    前記第2のデータ加工処理後のパターンデータと配置データとリンクデータに基づいて前記描画データを描画装置内で用いるための装置内フォーマットのデータに変換して出力することを特徴とする描画データの変換方法。
  4. 前記第1のデータ加工処理後のパターンデータファイルは、前記第1から第n番目までの複数のパターンデータがアドレス単位値ごとに複数のセグメントにグループ化されて同一のパターンデータファイル内に定義されることを特徴とする請求項3記載の描画データの変換方法。
  5. 複数のパターンの複数のパターンデータを含むパターンデータファイルと、前記複数のパターンを配置するための複数の配置データを含む配置データファイルと、前記複数のパターンデータと前記複数の配置データをリンクさせる情報と前記複数のパターンデータのスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報との少なくとも1つとが定義された複数のリンクデータを含むリンクデータファイルとを有する第1から第n番目までのチップ用に作成された第1から第n番目の描画データを入力し、
    第1から第n番目までの複数の配置データファイル内のデータは同じアドレス単位値とスケーリングサイズになるように、かつ、第1から第n番目までの複数のパターンデータファイル内のデータは入力時のアドレス単位値とスケーリングサイズのままとした第1から第n番目までのチップの第1のデータ加工処理を行ない、
    前記第1のデータ加工処理後、第1から第n番目までの複数のパターンデータファイル内のデータについて、対応するリンクデータファイルに少なくとも1つ以上含まれたスケーリング情報と反転情報と回転情報とフォーマット種別情報とに従って第2のデータ加工処理を行ない、
    前記第2のデータ加工処理後のパターンデータと配置データとリンクデータに基づいて前記描画データを描画装置内で用いるための装置内フォーマットのデータに変換し、
    前記装置内フォーマットのデータに基づいて、試料に所定のパターンを描画することを特徴とする荷電粒子線描画方法。
JP2006315048A 2006-11-22 2006-11-22 描画データの作成方法、描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法 Active JP5068515B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006315048A JP5068515B2 (ja) 2006-11-22 2006-11-22 描画データの作成方法、描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006315048A JP5068515B2 (ja) 2006-11-22 2006-11-22 描画データの作成方法、描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008130862A JP2008130862A (ja) 2008-06-05
JP5068515B2 true JP5068515B2 (ja) 2012-11-07

Family

ID=39556385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006315048A Active JP5068515B2 (ja) 2006-11-22 2006-11-22 描画データの作成方法、描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5068515B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4828460B2 (ja) * 2007-03-28 2011-11-30 株式会社ニューフレアテクノロジー 描画データ作成方法及び描画データファイルを格納した記憶媒体
JP5586183B2 (ja) * 2009-07-15 2014-09-10 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子ビーム描画方法および装置
JP2015185800A (ja) * 2014-03-26 2015-10-22 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子ビーム描画装置、情報処理装置、パターン検査装置及び荷電粒子ビーム描画方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0529202A (ja) * 1991-07-23 1993-02-05 Hitachi Ltd 電子線描画データ作成装置、及び電子線描画システム
JP3999301B2 (ja) * 1997-03-07 2007-10-31 富士通株式会社 露光データ作成方法
JP2002252159A (ja) * 2001-02-23 2002-09-06 Toshiba Corp 荷電ビーム露光装置、荷電ビーム露光方法、レイアウトパターンの作成装置、レイアウトパターンの作成方法、半導体装置の製造方法、及び、アパーチャ
JP2004214538A (ja) * 2003-01-08 2004-07-29 Jeol Ltd 荷電粒子ビーム描画方法
JP4989158B2 (ja) * 2005-09-07 2012-08-01 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子線描画データの作成方法及び荷電粒子線描画データの変換方法
JP4778777B2 (ja) * 2005-11-01 2011-09-21 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子線描画データの作成方法
JP4778776B2 (ja) * 2005-11-01 2011-09-21 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子線描画データの作成方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008130862A (ja) 2008-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4989158B2 (ja) 荷電粒子線描画データの作成方法及び荷電粒子線描画データの変換方法
JP5001563B2 (ja) 荷電粒子線描画データの作成方法
US7926007B2 (en) Writing apparatus, writing data conversion method, and computer-readable recording medium storing program using Huffman tree for converting writing data in lithographic process
US7863586B2 (en) Writing data creation method and charged particle beam writing apparatus
JP4751353B2 (ja) データ検証方法及び荷電粒子ビーム描画装置
JPH11274036A (ja) 荷電ビーム描画装置
JP5498106B2 (ja) 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置
JP4778777B2 (ja) 荷電粒子線描画データの作成方法
JP2007324228A (ja) 荷電ビーム描画装置の描画エラー診断方法および荷電ビーム描画装置
JP5068515B2 (ja) 描画データの作成方法、描画データの変換方法及び荷電粒子線描画方法
JP4828460B2 (ja) 描画データ作成方法及び描画データファイルを格納した記憶媒体
JP5063320B2 (ja) 描画装置及び描画データの変換方法
JP5148233B2 (ja) 描画装置及び描画方法
JP4778776B2 (ja) 荷電粒子線描画データの作成方法
JP5232429B2 (ja) 描画装置及び描画方法
JP5357530B2 (ja) 描画用データの処理方法、描画方法、及び描画装置
JP2008085248A (ja) 荷電粒子ビーム描画データの作成方法及び荷電粒子ビーム描画データの変換方法
JP5314937B2 (ja) 描画装置及び描画用データの処理方法
JP5586343B2 (ja) 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法
JP2010067808A (ja) 描画装置、描画データの変換方法及び描画方法
JP2005215016A (ja) 電子ビーム描画におけるデータ圧縮方法および電子ビーム描画方法
JPH07307262A (ja) 荷電ビーム描画方法及び描画装置
JP2008181944A (ja) 描画データの作成方法及びレイアウトデータファイルの作成方法
JPH04302451A (ja) 荷電ビーム描画方法
JP2009088313A (ja) 荷電粒子ビーム描画装置及び描画データの検証方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090903

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111021

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111108

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120807

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120815

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150824

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5068515

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250