JP5066427B2 - Method for manufacturing printed wiring board - Google Patents

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  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Description

本発明は、接続信頼性の高いブラインドバイアホールを有するプリント配線板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method of manufacturing a printed wiring board having a blind via hole with high connection reliability.

電子機器の高性能・高機能化や小型・軽量化の要求はとどまるところを知らず、これらの要求に応える重要なファクターとして、プリント配線板の更なる小型・高密度配線化が挙げられる。   There is no end to the demands for high performance, high functionality, miniaturization, and weight reduction of electronic devices, and an important factor to meet these demands is the further miniaturization and high density wiring of printed wiring boards.

このような小型・高密度配線化を図ったプリント配線板の製造例としては、例えば「特許文献1」で報告されているものがあり、その製造方法は概ね以下の通りである。   As an example of manufacturing a printed wiring board that achieves such miniaturization and high-density wiring, for example, there is one reported in “Patent Document 1”, and the manufacturing method is generally as follows.

まず、図10(a)に示したように、絶縁基板1の両面に配線パターン4が形成されたコア基板3aを用意し、次いで、当該コア基板3aの表裏に層間絶縁層16と銅箔などの金属箔2を順次積層するか、あるいは層間絶縁層16と金属箔2が予め積層された樹脂付き金属箔17を積層する(図10(b)参照)。   First, as shown in FIG. 10A, a core substrate 3a having wiring patterns 4 formed on both surfaces of an insulating substrate 1 is prepared, and then an interlayer insulating layer 16 and copper foil are formed on the front and back of the core substrate 3a. The metal foils 2 are sequentially laminated, or the resin-attached metal foil 17 in which the interlayer insulating layer 16 and the metal foil 2 are laminated in advance is laminated (see FIG. 10B).

次に、金属箔2の表面に、当該金属箔2とはエッチング条件の異なるニッケルなどのバリア金属層8をめっき処理などで形成し、次いで、ブラインドバイアホール(以降これを「BVH」と表記する)を形成する部分の金属箔2及びバリア金属層8を除去して開口部18を形成する(図10(c)参照)。   Next, a barrier metal layer 8 such as nickel having etching conditions different from those of the metal foil 2 is formed on the surface of the metal foil 2 by plating or the like, and then a blind via hole (hereinafter referred to as “BVH”). The metal foil 2 and the barrier metal layer 8 are removed to form the opening 18 (see FIG. 10C).

次に、開口部18の部分にレーザ(例えば「炭酸ガスレーザ」)を照射し、当該開口部18から露出している層間絶縁層16を除去することによって、内層に形成されている配線パターン4に達する非貫通孔7を穿孔する(図10(d)参照)。   Next, the wiring pattern 4 formed in the inner layer is removed by irradiating the opening 18 with a laser (for example, “carbon dioxide laser”) and removing the interlayer insulating layer 16 exposed from the opening 18. The reaching non-through hole 7 is drilled (see FIG. 10D).

次に、非貫通孔7内をデスミア処理でクリーニングした後、非貫通孔7を含んだ外層全面に無電解めっき(例えば、「無電解銅めっき」)を形成し、次いで、当該無電解めっきを給電層とする電解めっき処理(例えば、「フィルドビア用のめっき液を用いた電解銅めっき処理」)を行うことによって、めっき9を非貫通孔7内に充填するとともに外層にも析出させる(図10(e)参照)。   Next, after the inside of the non-through hole 7 is cleaned by desmear treatment, electroless plating (for example, “electroless copper plating”) is formed on the entire outer layer including the non-through hole 7, and then the electroless plating is performed. By performing electrolytic plating treatment (for example, “electrolytic copper plating treatment using a plating solution for filled vias”) as a power feeding layer, the plating 9 is filled in the non-through holes 7 and is also deposited on the outer layer (FIG. 10). (See (e)).

次に、図10(f)に示したように、バリア金属層8が露出するまでめっき9をエッチング除去し、次いで、露出したバリア金属層8を除去する(図10(g)参照)。   Next, as shown in FIG. 10F, the plating 9 is removed by etching until the barrier metal layer 8 is exposed, and then the exposed barrier metal layer 8 is removed (see FIG. 10G).

そして最後に、一般的な回路形成手段(例えば、「サブトラクティブ法」)によって、外層に配線パターン4a(BVH12aのランド5bも含む)が形成された図10(h)の多層プリント配線板MPaを得る。   Finally, the multilayer printed wiring board MPa of FIG. 10H in which the wiring pattern 4a (including the land 5b of the BVH 12a) is formed on the outer layer by a general circuit forming means (for example, “subtractive method”) is used. obtain.

このように、BVH形成後の導体厚を一定にする(即ち、金属箔2の厚みを維持する)ことによって、微細配線(ファインパターン)形成を可能にしたものである。因みに、めっき9を外層にも析出させているため、非貫通孔7のみにめっきを析出させる場合と比較して、安定して非貫通孔7にめっきを充填できるという作用も得られる。   As described above, by making the conductor thickness after forming BVH constant (that is, maintaining the thickness of the metal foil 2), fine wiring (fine pattern) can be formed. Incidentally, since the plating 9 is also deposited on the outer layer, the effect that the plating can be stably filled in the non-through holes 7 can be obtained as compared with the case where the plating is deposited only on the non-through holes 7.

しかし、上記製造方法では、以下のような問題点があった。   However, the above manufacturing method has the following problems.

即ち、図10(e)の工程で析出されるめっき9は、プリント配線板の面内で厚さにバラツキがあり、このような状態で図10(f)のエッチング工程を行った場合、非貫通孔7上(即ち、バリア金属層8が形成されない部分)のめっき厚が薄い箇所では、過剰エッチング19が発生し(非貫通孔7の開口縁部に露出している金属箔2も横方向にエッチングが進む)、上下の配線層間で接続不良が発生する虞があった(図11参照)。   That is, the plating 9 deposited in the step of FIG. 10 (e) has a variation in thickness within the plane of the printed wiring board, and when the etching step of FIG. Overetching 19 occurs in the portion where the plating thickness on the through hole 7 (that is, the portion where the barrier metal layer 8 is not formed) is thin (the metal foil 2 exposed at the opening edge of the non-through hole 7 is also in the lateral direction). There is a risk that a connection failure may occur between the upper and lower wiring layers (see FIG. 11).

そこで、本発明者はこのような問題を回避する技術を開発し、当該技術内容については既に特許出願されている(特許文献2参照)。   Therefore, the present inventor has developed a technique for avoiding such a problem, and a patent application has already been filed for the technical content (see Patent Document 2).

図12は当該特許文献2で開示しているプリント配線板の製造方法を示したもので、まず、図12(a)に示したように、絶縁基板1の表裏に銅箔などの金属箔2が積層された両面金属箔張り積層板3を用意し、次いで、金属箔2の全面に、当該金属箔2とはエッチング条件の異なるニッケルなどのバリア金属層8を形成する。   FIG. 12 shows a method of manufacturing a printed wiring board disclosed in Patent Document 2. First, as shown in FIG. 12A, a metal foil 2 such as a copper foil is formed on the front and back of the insulating substrate 1. Is prepared, and a barrier metal layer 8 made of nickel or the like having a different etching condition from the metal foil 2 is then formed on the entire surface of the metal foil 2.

次に、バリア金属層8上に直接レーザを照射して、所望の位置に非貫通孔7を穿孔するとともに、当該非貫通孔7の開口縁部に突出する金属傘5aを形成する(図12(b)参照)。   Next, a laser is directly irradiated onto the barrier metal layer 8 to punch the non-through hole 7 at a desired position, and a metal umbrella 5a protruding at the opening edge of the non-through hole 7 is formed (FIG. 12). (See (b)).

次に、金属傘5aを残した状態でデスミア処理を行った後、無電解めっき処理、電解めっき処理を順次行うことによって、めっき9(例えば「銅めっき」)を非貫通孔7内に充填するとともに外層にも析出させる(図12(c)参照)。   Next, after the desmear process is performed with the metal umbrella 5a left, the electroless plating process and the electrolytic plating process are sequentially performed to fill the non-through holes 7 with plating 9 (for example, “copper plating”). At the same time, it is also deposited on the outer layer (see FIG. 12C).

次に、12図(d)に示したように、バリア金属層8が露出するまでめっき9をアルカリエッチングで除去し、次いで、露出したバリア金属層8を除去する(図12(e)参照)。   Next, as shown in FIG. 12 (d), the plating 9 is removed by alkali etching until the barrier metal layer 8 is exposed, and then the exposed barrier metal layer 8 is removed (see FIG. 12 (e)). .

そして最後に、金属箔2の回路形成(例えば、「サブトラクティブ法」)を行うことによって、外層に配線パターン4(BVH12bのランド5cも含む)が形成された図12(f)のプリント配線板Paを得る。   Finally, the circuit pattern of the metal foil 2 (for example, “subtractive method”) is used to form the wiring pattern 4 (including the land 5c of the BVH 12b) on the outer layer as shown in FIG. Pa is obtained.

この方法においては、非貫通孔7の開口縁部に突出する金属傘5aを残した状態でめっき9を形成するようにしたため、図13に示したような過剰エッチング部19が発生した場合においても、金属傘5aの長さ分、ランド5cとめっき9との接続を補うことができるため、配線層間の接続不良を抑制することができる。   In this method, since the plating 9 is formed with the metal umbrella 5a protruding at the opening edge of the non-through hole 7 left, even when the excessively etched portion 19 as shown in FIG. 13 occurs. Further, since the connection between the land 5c and the plating 9 can be compensated for by the length of the metal umbrella 5a, a connection failure between the wiring layers can be suppressed.

しかし、上記構成においても以下のような問題があった。   However, the above configuration also has the following problems.

即ち、図14(a)(図12(c)の要部拡大断面図)に示したように、金属傘5aは、表面Sfのみバリア金属層8でカバーリングされ、それ以外の側面Siと裏面Bはカバーリングされないため極稀に、図14(b)に示したように、めっき9のエッチング除去工程の際に、非貫通孔7の開口縁部に露出している金属箔2も同時に除去されてしまうことがあり、その結果配線層間の接続信頼性が不十分なものとなることがあった。
特開2002−324975号公報 特開2007−129180号公報
That is, as shown in FIG. 14 (a) (enlarged cross-sectional view of the main part of FIG. 12 (c)), the metal umbrella 5a is covered with the barrier metal layer 8 only on the front surface Sf, and the other side surfaces Si and back surface. Since B is not covered, the metal foil 2 exposed at the opening edge of the non-through hole 7 is also removed at the same time during the etching removal process of the plating 9 as shown in FIG. As a result, the connection reliability between the wiring layers may be insufficient.
JP 2002-324975 A JP 2007-129180 A

本発明は、外層に析出されるBVH形成用のめっきをエッチング除去した場合においても、接続信頼性の高いBVHを形成することができるプリント配線板の製造方法を提供することを課題とする。   This invention makes it a subject to provide the manufacturing method of the printed wiring board which can form BVH with high connection reliability, even when the plating for BVH formation deposited on an outer layer is removed by etching.

請求項に係る本発明は、異なる配線パターン形成層間をブラインドバイホールで接続するプリント配線板の製造方法であって、少なくとも、表面に金属箔が積層された絶縁基板の当該金属箔に、中央部に開口部を有するランドとその他の配線パターンを形成する第一工程と、当該ランド開口部にレーザを照射することによって所望の配線パターン形成層に達する非貫通孔を穿孔するとともに当該非貫通孔の開口縁部に突出する金属傘を形成する第二工程と、デスミア処理により当該非貫通孔をクリーニングする第三工程と、少なくともランドを含んだ配線パターンの露出面に当該配線パターンとはエッチング条件の異なるバリア金属層を形成する第四工程と、めっき処理により非貫通孔にめっきを充填するとともに外層にもめっきを析出させる第五工程と、ブラインドバイアホール形成部に位置するめっき上にエッチングレジストパターンを形成する第六工程と、エッチングレジストパターンから露出しているめっきをエッチング除去する第七工程と、エッチングレジストパターンを剥離した後、ブラインドバイアホール形成部に残っためっきをソフトエッチングにより除去する第八工程と、露出したバリア金属層を除去する第九工程とを有し、且つ、前記第六工程が、ブラインドバイアホール及び配線パターン上に形成されためっき凸部に感圧性・感光性のエッチングレジストをプレス板で加圧して残存させる工程と、めっき凸部に残存するエッチングレジストのうちブラインドバイアホール形成部のエッチングレジストを選択的に露光して現像処理を行う工程からなることを特徴とするプリント配線板の製造方法により上記課題を解決したものである。 The present invention according to claim 1 is a method for producing a printed wiring board for connecting different wiring patterns formed interlayer blind By A hole, at least, to the metal foil of the insulating substrate where the metal foil is laminated on the surface, A first step of forming a land having an opening in the center and other wiring patterns, and piercing a non-through hole reaching a desired wiring pattern formation layer by irradiating the land opening with a laser. A second step of forming a metal umbrella protruding at the opening edge of the hole, a third step of cleaning the non-through hole by a desmear process, and etching the wiring pattern on the exposed surface of the wiring pattern including at least the land The fourth step to form a barrier metal layer with different conditions and the plating process fills the non-through holes and deposits the outer layer as well A fifth step of forming an etching resist pattern on the plating located in the blind via hole forming portion, a seventh step of etching and removing the plating exposed from the etching resist pattern, and an etching resist pattern After peeling, there is an eighth step of removing the plating remaining in the blind via hole forming portion by soft etching , and a ninth step of removing the exposed barrier metal layer , and the sixth step is a blind via. Pressure-sensitive / photosensitive etching resist is left on the plating convex part formed on the hole and wiring pattern by pressing with a press plate, and etching of the blind via hole forming part among the etching resist remaining on the plating convex part resist selectively exposed to that comprising the step of performing development processing The method for manufacturing a printed wiring board, wherein is obtained by solving the above problems.

これにより、エッチング残り(即ち、めっき残り)が発生しやすいファインパターン間のめっきを過剰エッチングを気にせずに除去することができる。また、BVH表面を略平滑に形成できるため、多層化した場合に、BVHを同軸上に複数形成するスタックドビアを容易に形成することができる。   Thereby, plating between fine patterns where etching residue (that is, plating residue) is likely to occur can be removed without worrying about excessive etching. In addition, since the BVH surface can be formed substantially smoothly, a stacked via for forming a plurality of BVHs on the same axis can be easily formed when the BVH is multilayered.

また、これにより、エッチングレジストパターンがBVH上のめっき凸部と位置ずれなく形成できるため、個片基板を多面付けする大型の基板とした場合に、ランドと当該ランドの近傍に形成されている配線パターン間にエッチング残り(めっき残り)が発生するのを個片基板の配置場所に関係なく防止できる。 In addition, this allows the etching resist pattern to be formed without misalignment with the plating projections on the BVH, so that when the individual substrate is a large substrate with multiple faces, the land and the wiring formed in the vicinity of the land are provided. Etching residue (plating residue) can be prevented from occurring between patterns regardless of the location of the individual substrates.

請求項に係る本発明は、請求項に係る発明の第四工程においてバリア金属層を配線パターンから露出している絶縁基板の表面にも形成することを特徴とするプリント配線板の製造方法により上記課題を解決したものである。 According to a second aspect of the present invention, in the fourth step of the first aspect of the present invention, the barrier metal layer is also formed on the surface of the insulating substrate exposed from the wiring pattern. This solves the above problem.

これにより、外層に析出しためっきをエッチング除去する際に、絶縁基板と配線パターンとの境界部からエッチング液が染み込む懸念がなくなり、以って、当該配線パターンの一部が溶解するという懸念がなくなる。 As a result, when the plating deposited on the outer layer is removed by etching, there is no concern that the etchant will permeate from the boundary between the insulating substrate and the wiring pattern, and therefore there is no concern that a part of the wiring pattern will be dissolved. .

本発明によれば、接続信頼性の高いBVHを有するプリント配線板を容易に得ることができる。   According to the present invention, a printed wiring board having BVH with high connection reliability can be easily obtained.

以下、本発明の実施の形態を、図1〜図9を用いて説明する。尚、本実施の形態において、図10〜図14と共通する部分については同一の符号を用い、その説明を適宜省略した。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. In the present embodiment, the same reference numerals are used for portions common to FIGS. 10 to 14, and descriptions thereof are omitted as appropriate.

最初に第一の実施の形態を図1及び図2を用いて説明する。
まず、図1(a)に示したように、絶縁基板1(例えば、ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸した「ガラスエポキシ基板」など)の表裏に銅箔などの金属箔2が積層された両面金属箔張り積層板3を用意し、次いで、当該両面金属箔張り積層板3の一方の面からレーザ(例えば「炭酸ガスレーザ」)を照射することによって、他方の面の金属箔2に達する非貫通孔7を穿孔するとともに当該非貫通孔7の開口縁部に突出する金属傘5aを形成する(図1(b)参照)。
First, a first embodiment will be described with reference to FIGS.
First, as shown in FIG. 1A, a double-sided metal in which a metal foil 2 such as a copper foil is laminated on the front and back of an insulating substrate 1 (for example, “glass epoxy substrate” in which glass fiber is impregnated with an epoxy resin). A non-through hole reaching the metal foil 2 on the other side by preparing a foil-clad laminate 3 and then irradiating a laser (for example, “carbon dioxide laser”) from one side of the double-sided metal foil-clad laminate 3 7 and a metal umbrella 5a protruding at the opening edge of the non-through hole 7 is formed (see FIG. 1B).

ここで、非貫通孔7の穿孔方法として、一方の面の金属箔2に直接レーザを照射する穿孔例を示したが、予めBVH形成予定部の金属箔2に開口部を設けておき、当該開口部にレーザを照射して穿孔するようにしても構わない。   Here, as a method for drilling the non-through hole 7, a drilling example in which the metal foil 2 on one surface is directly irradiated with a laser is shown. However, an opening is provided in advance in the metal foil 2 where the BVH is to be formed, You may make it pierce by irradiating a laser to an opening part.

また、金属傘5aが非貫通孔7から突出する長さとしては、3μm以上15μm以下とするのが好ましい。   The length of the metal umbrella 5a protruding from the non-through hole 7 is preferably 3 μm or more and 15 μm or less.

その理由は、3μmより短いとBVH12の接続信頼性を向上させる効果が殆どなく、15μmより長いとめっき液の液回り性を維持するために、BVH径を大きくしなければならず、高密度配線化の妨げになってしまうからである。   The reason is that if it is shorter than 3 μm, there is almost no effect of improving the connection reliability of BVH12, and if it is longer than 15 μm, the BVH diameter must be increased in order to maintain the fluidity of the plating solution. It is because it becomes the hindrance of conversion.

次に、金属傘5aを残した状態で、過マンガン酸ナトリウム系や過マンガン酸カリウム系などのデスミア処理により非貫通孔7をクリーニングした後、金属傘5aを含む金属箔2の露出面に、当該金属箔2とはエッチング条件の異なるバリア金属層8(例えば、「ニッケル」、「錫」、「銀」など)を、例えば、置換型の無電解めっき処理で形成し(図1(c)参照)、次いで、無電解めっき処理(例えば、無電解銅めっき処理)、電解めっき処理(例えば、フィルドビア用のめっき液を用いた電解銅めっき処理)を順次行うことによって、めっき9を非貫通孔7に充填するとともに外層にも析出させる(図1(d)参照)。   Next, with the metal umbrella 5a left, the non-through hole 7 is cleaned by desmearing treatment such as sodium permanganate or potassium permanganate, and then on the exposed surface of the metal foil 2 including the metal umbrella 5a. A barrier metal layer 8 (for example, “nickel”, “tin”, “silver”, etc.) having etching conditions different from those of the metal foil 2 is formed by, for example, substitutional electroless plating (FIG. 1C). Next, electroless plating treatment (for example, electroless copper plating treatment) and electrolytic plating treatment (for example, electrolytic copper plating treatment using a plating solution for filled vias) are sequentially performed to form the plating 9 in a non-through hole. 7 and deposited on the outer layer (see FIG. 1 (d)).

次に、図1(e)に示したように、外層に析出されためっき9をエッチング除去(例えば、銅アンモニア錯イオンを主成分とするアルカリエッチングによる除去)してバリア金属層8を露出せしめ、次いで、図1(f)に示したように、露出したバリア金属層8をエッチング除去する。   Next, as shown in FIG. 1 (e), the plating 9 deposited on the outer layer is removed by etching (for example, removal by alkaline etching containing copper ammonia complex ions as a main component) to expose the barrier metal layer 8. Then, as shown in FIG. 1F, the exposed barrier metal layer 8 is removed by etching.

次に、図1(f)の基板の表裏に、感光性のエッチングレジストを積層し(当該エッチングレジストとして、液状あるいはドライフィルム状の何れでも構わないが、作業効率及びファインパターン形成の観点からドライフィルム状のものを積層するのが好ましい)、周知の露光・現像手段により、ランド5とその他の配線パターン4を形成する部分にエッチングレジストパターン11を形成する(図1(g)参照)。 Next, a photosensitive etching resist is laminated on the front and back of the substrate in FIG. 1 (f) (the etching resist may be either liquid or dry film, but is dry from the viewpoint of work efficiency and fine pattern formation. An etching resist pattern 11 is formed on a portion where the land 5 and other wiring patterns 4 are formed by a known exposure / development means (see FIG. 1G).

そして最後に、塩化第二鉄や塩化第二銅などのエッチャントでエッチング処理を行って、BVH12のランド5を含む表裏の配線パターン4を形成した後、エッチングレジストパターン11を剥離することによって、表裏の配線パターン4間がBVH12で接続された図1(h)のプリント配線板Pを得る。   Finally, etching is performed with an etchant such as ferric chloride or cupric chloride to form the front and back wiring patterns 4 including the lands 5 of the BVH 12, and then the etching resist pattern 11 is peeled to remove the front and back surfaces. A printed wiring board P in FIG. 1H in which the wiring patterns 4 are connected by the BVH 12 is obtained.

尚、上記構成のプリント配線板Pを多層化する場合は、例えば、図1(h)のプリント配線板Pの表裏に層間絶縁層と金属箔を積層し、図1(b)〜図1(h)の工程を必要層数ぶん繰り返し行うことによって、容易に図1(i)に示したような多層プリント配線板MPを得ることができる。   In addition, when multilayering the printed wiring board P of the said structure, an interlayer insulation layer and metal foil are laminated | stacked on the front and back of the printed wiring board P of FIG.1 (h), for example, FIG.1 (b)-FIG. By repeating step h) as many times as necessary, a multilayer printed wiring board MP as shown in FIG. 1 (i) can be easily obtained.

本実施の形態における注目すべき点は、非貫通孔7の開口縁部に突出する金属傘5aの表面Sfだけでなく、その側面Si及び裏面Bもバリア金属層8で被覆した後、めっき9をエッチング除去するようにした点である(図1(d)の要部拡大断面図である図2(a)を参照)。   What should be noted in the present embodiment is that not only the surface Sf of the metal umbrella 5a protruding at the opening edge of the non-through hole 7, but also the side surface Si and the back surface B thereof are coated with the barrier metal layer 8 and then plated 9 Is removed by etching (see FIG. 2A, which is an enlarged sectional view of the main part of FIG. 1D).

これにより、外層に析出されためっき9(即ち、バリア金属層8上に析出されためっき9)をエッチング除去する際、金属傘5aが除去されずに元の形状のまま残存するため、非貫通孔7内のめっき9が過剰エッチングされるのを抑制することができる。仮に、図2(b)に示したような過剰エッチング部19が発生した場合においても、金属傘5aの長さ分、ランド5とBVH12内に析出されるめっき9との接続面積が稼げるため、BVH12の接続信頼性を確保することができる。   As a result, when the plating 9 deposited on the outer layer (that is, the plating 9 deposited on the barrier metal layer 8) is removed by etching, the metal umbrella 5a is not removed and remains in its original shape. It is possible to prevent the plating 9 in the hole 7 from being excessively etched. Even if the excessively etched portion 19 as shown in FIG. 2B occurs, the connection area between the land 5 and the plating 9 deposited in the BVH 12 can be increased by the length of the metal umbrella 5a. The connection reliability of the BVH 12 can be ensured.

続いて、第二の実施の形態を図3及び図4を用いて説明する。尚、図3(a)〜図3(b)は、図1(a)〜図1(b)の工程と同じ工程であるため、その説明を省略する。     Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. 3A to 3B are the same steps as those in FIGS. 1A to 1B, and the description thereof is omitted.

まず、図3(c)に示したように、非貫通孔7を含む全面に、金属箔2とはエッチング条件の異なるバリア金属層8を形成し、次いで、当該バリア金属層8を給電層とする電解めっき処理(例えば、フィルドビア用のめっき液を用いた電解銅めっき処理)を行うことによって、めっき9を非貫通孔7内に充填するとともに外層にも析出させる(図3(d)参照)。   First, as shown in FIG. 3C, a barrier metal layer 8 having a different etching condition from that of the metal foil 2 is formed on the entire surface including the non-through holes 7, and then the barrier metal layer 8 is used as a power supply layer. By performing an electrolytic plating process (for example, an electrolytic copper plating process using a plating solution for filled vias), the plating 9 is filled in the non-through holes 7 and also deposited on the outer layer (see FIG. 3D). .

次に、図3(e)に示したように、外層に析出されためっき9を第一の実施の形態と同様にエッチング除去してバリア金属層8を露出せしめ、次いで、図3(f)に示したように、露出したバリア金属層8をエッチング除去する。   Next, as shown in FIG. 3 (e), the plating 9 deposited on the outer layer is removed by etching in the same manner as in the first embodiment to expose the barrier metal layer 8, and then FIG. 3 (f). As shown in FIG. 2, the exposed barrier metal layer 8 is removed by etching.

次に、図3(f)の基板の表裏に、感光性のエッチングレジストを積層し、次いで、周知の露光・現像手段により、ランド5とその他の配線パターン4を形成する部分にエッチングレジストパターン11を形成する(図3(g)参照)。 Next, a photosensitive etching resist is laminated on the front and back of the substrate of FIG. 3 (f), and then the etching resist pattern 11 is formed on a portion where the land 5 and other wiring patterns 4 are formed by a known exposure / development means. (See FIG. 3G).

そして最後に、エッチング処理を行って、BVH12のランド5を含む表裏の配線パターン4を形成した後、エッチングレジストパターン11を剥離することによって、表裏の配線パターン4間がBVH12で接続された図3(h)のプリント配線板Pを得る。   Finally, an etching process is performed to form the front and back wiring patterns 4 including the lands 5 of the BVH 12, and then the etching resist pattern 11 is peeled to connect the front and back wiring patterns 4 with the BVH 12. The printed wiring board P of (h) is obtained.

尚、上記構成のプリント配線板Pを多層化する場合は、例えば、図3(h)のプリント配線板Pの表裏に層間絶縁層と金属箔を積層し、図3(b)〜図3(h)の工程を必要層数ぶん繰り返し行うことによって、容易に図3(i)に示したような多層プリント配線板MPを得ることができる。   In addition, when multilayering the printed wiring board P of the said structure, an interlayer insulation layer and metal foil are laminated | stacked on the front and back of the printed wiring board P of FIG.3 (h), for example, FIG.3 (b)-FIG.3 ( By repeating the step h) as many times as necessary, a multilayer printed wiring board MP as shown in FIG. 3I can be easily obtained.

本実施の形態における注目すべき点は、金属傘5aの露出面(表面Sf、側面Si、裏面B)に加えて非貫通孔7の内壁にもバリア金属層8を形成した点である。 What should be noted in the present embodiment is that the barrier metal layer 8 is formed on the inner wall of the non-through hole 7 in addition to the exposed surface (surface Sf, side surface Si, back surface B) of the metal umbrella 5a.

これにより、万が一、図4に示したような、かなり深い過剰エッチング部19が発生したとしても、ランド5とBVH12の底部側の配線パターン4との接続が、バリア金属層8により保たれるため、第一の実施の形態と比較して、よりBVH12の接続信頼性を確保することができる。 As a result, even if a considerably deep excessive etching portion 19 as shown in FIG. 4 occurs, the connection between the land 5 and the wiring pattern 4 on the bottom side of the BVH 12 is maintained by the barrier metal layer 8. Compared with the first embodiment, the connection reliability of the BVH 12 can be further ensured.

続いて、第三の実施の形態を図5を用いて説明する。尚、図5(a)〜図5(d)は、図3(a)〜図3(d)の工程と同じ工程であるため、その説明を省略する。   Next, a third embodiment will be described with reference to FIG. 5A to 5D are the same steps as the steps in FIGS. 3A to 3D, and thus the description thereof is omitted.

まず、図5(d)に示した基板のBVH形成部に位置するめっき9上にエッチングレジストパターン11を形成し(図5(e)参照)、次いで、アルカリエッチング処理で当該エッチングレジストパターン11から露出しているめっき9をエッチング除去する(図5(f)参照)。   First, an etching resist pattern 11 is formed on the plating 9 located in the BVH formation portion of the substrate shown in FIG. 5D (see FIG. 5E), and then from the etching resist pattern 11 by an alkali etching process. The exposed plating 9 is removed by etching (see FIG. 5F).

次に、図5(g)に示したように、エッチングレジストパターン11を剥離した後、BVH形成部に残っためっき9aをソフトエッチング液(例えば、蟻酸やアミン系錯化剤を主成分とするメック社製ソフトエッチング「CZ8500、CZ8100」、硫酸や過酸化水素を主成分とするロームアンドハース社製ソフトエッチング液(サーキュボンド)、過硫酸アンモニウム系または過硫酸ナトリウム系のソフトエッチング液など)で選択的に除去し(図5(h)参照)、次いで、表面に露出しているバリア金属層8を除去する(図5(i)参照)。   Next, as shown in FIG. 5G, after the etching resist pattern 11 is peeled off, the plating 9a remaining in the BVH formation portion is made of a soft etching solution (for example, formic acid or an amine complexing agent as a main component). Select by MEC soft etching "CZ8500, CZ8100", Rohm and Haas soft etching solution (circu bond) mainly composed of sulfuric acid and hydrogen peroxide, ammonium persulfate-based or sodium persulfate-based soft etching solution) Then, the barrier metal layer 8 exposed on the surface is removed (see FIG. 5 (i)).

次に、図5(j)に示したように、エッチングレジストパターン11を形成し、次いで、エッチング処理を行うことによって、当該エッチングレジストパターン11から露出している金属箔2を除去して、BVH12のランドを含む表裏の配線パターン4を形成する。   Next, as shown in FIG. 5 (j), the etching resist pattern 11 is formed, and then the etching process is performed to remove the metal foil 2 exposed from the etching resist pattern 11, and the BVH 12 The front and back wiring patterns 4 including the lands are formed.

そして最後に、当該エッチングレジストパターン11を剥離することによって、表裏の配線パターン4間がBVH12で接続された図5(k)のプリント配線板Pを得る。   Finally, the etching resist pattern 11 is peeled off to obtain the printed wiring board P of FIG. 5 (k) in which the front and back wiring patterns 4 are connected by the BVH 12.

尚、上記構成のプリント配線板Pを多層化する場合は、例えば、図5(k)のプリント配線板Pの表裏に層間絶縁層と金属箔を積層し、図5(b)〜図5(k)の工程を必要層数ぶん繰り返し行うことによって、容易に図5(l)に示したような多層プリント配線板MPを得ることができる。   In addition, when multilayering the printed wiring board P of the said structure, an interlayer insulation layer and metal foil are laminated | stacked on the front and back of the printed wiring board P of FIG.5 (k), for example, FIG.5 (b)-FIG. By repeating step k) as many times as necessary, a multilayer printed wiring board MP as shown in FIG. 5L can be easily obtained.

本実施の形態における注目すべき点は、過剰エッチングの抑制手段として、金属傘5aの全面をバリア金属層8でカバーリングするだけでなく、基板の外層に析出されためっき9の除去を、BVH形成部を残してエッチングする第一エッチング工程と、当該第一エッチング工程で残存したBVH形成部のめっき9aを、エッチングスピードの遅いソフトエッチング液で選択的に除去する第二エッチング工程の二回に分けて除去するようにし点である。   What should be noted in the present embodiment is that not only the entire surface of the metal umbrella 5a is covered with the barrier metal layer 8 but also the removal of the plating 9 deposited on the outer layer of the substrate as a means for suppressing excessive etching. The first etching step for etching while leaving the forming portion and the second etching step for selectively removing the plating 9a of the BVH forming portion remaining in the first etching step with a soft etching solution having a slow etching speed. The point is to remove them separately.

これにより、図2(b)および図4に示したような過剰エッチング部19が殆どなくなるため(即ち、BVH12とランド5が略フラットに形成できる)、図5(l)に示したような同軸上に複数のBVH12を形成してなるスタックドビアを有する多層プリント配線板MPを容易に得ることができる。   As a result, the excessively etched portion 19 as shown in FIGS. 2B and 4 is almost eliminated (that is, the BVH 12 and the land 5 can be formed substantially flat), so that the coaxial as shown in FIG. A multilayer printed wiring board MP having a stacked via formed by forming a plurality of BVHs 12 thereon can be easily obtained.

続いて、第四の実施の形態を図6を用いて説明する。
まず、図6(a)に示したように、絶縁基板1(例えば、ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸したガラスエポキシ基板など)の表裏に銅箔などの金属箔2が積層された両面金属箔張り積層板3を用意する。次いで、一般的なサブトラクティブ法などにより、中央部に開口部6を有するランド5とその他の配線パターン4を形成する(図6(b)参照)。
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIG.
First, as shown in FIG. 6A, double-sided metal foil tensioning in which a metal foil 2 such as a copper foil is laminated on the front and back of an insulating substrate 1 (for example, a glass epoxy substrate in which a glass fiber is impregnated with an epoxy resin). A laminate 3 is prepared. Next, a land 5 having an opening 6 at the center and other wiring patterns 4 are formed by a general subtractive method or the like (see FIG. 6B).

次に、ランド開口部6の径より大きくランド5の径より小さい径のレーザ(例えば「炭酸ガスレーザ」)を当該ランド開口部6に照射して、裏側の配線パターン4に達する非貫通孔7を穿孔するとともに、当該非貫通孔7の開口縁部に突出する金属傘5aを形成する(図6(c)参照)。   Next, a laser (for example, “carbon dioxide laser”) having a diameter larger than that of the land opening 6 and smaller than that of the land 5 is irradiated to the land opening 6 to form the non-through hole 7 reaching the wiring pattern 4 on the back side. A metal umbrella 5a protruding at the opening edge of the non-through hole 7 is formed while drilling (see FIG. 6C).

次に、金属傘5aを残した状態で、第一の実施の形態と同様のデスミア処理により非貫通孔7をクリーニングした後、配線パターン4とはエッチング条件の異なるバリア金属層8(例えば、「ニッケル」、「錫」、「銀」など)を、金属傘5aを含む配線パターン4の露出面と非貫通孔7の内壁全面に形成する(図6(d)参照)。   Next, with the metal umbrella 5a left, the non-through hole 7 is cleaned by the same desmear process as in the first embodiment, and then the barrier metal layer 8 (for example, “ Nickel ”,“ tin ”,“ silver ”, etc.) are formed on the exposed surface of the wiring pattern 4 including the metal umbrella 5a and the entire inner wall of the non-through hole 7 (see FIG. 6D).

ここで、図6(d)では、バリア金属層8を基板全面に析出させる構成としたが、置換型の無電解めっき処理により、配線パターン4の露出面のみに析出させても構わない。ただし、絶縁基板1と配線パターン4の境界部からエッチング液が滲み込み、配線パターン4の一部を溶解する虞が考えられるため、図6(d)のように全面に形成するのが好ましい。   6D, the barrier metal layer 8 is deposited on the entire surface of the substrate. However, the barrier metal layer 8 may be deposited only on the exposed surface of the wiring pattern 4 by substitutional electroless plating. However, since there is a possibility that the etchant may permeate from the boundary between the insulating substrate 1 and the wiring pattern 4 and dissolve a part of the wiring pattern 4, it is preferable to form the entire surface as shown in FIG.

次に、図6(e)に示したように、バリア金属層8を給電層とする電解めっき処理(例えば「フィルドビア用のめっき液を用いた電解銅めっき処理」)を行うことによって、めっき9を非貫通孔7内に充填するとともに外層にも析出させ、次いで、外層にめっき9が形成された基板の両面にエッチングレジスト10をラミネートする(図6(f)参照)。   Next, as shown in FIG. 6E, by performing an electrolytic plating process using the barrier metal layer 8 as a power feeding layer (for example, “electrolytic copper plating process using a plating solution for filled vias”), plating 9 is performed. Are filled in the non-through holes 7 and deposited on the outer layer, and then an etching resist 10 is laminated on both surfaces of the substrate on which the plating 9 is formed on the outer layer (see FIG. 6F).

次に、図6(g)に示したように、周知の露光・現像処理を行うことによって、BVH形成部に位置するめっき9上にエッチングレジストパターン11を形成し、次いで、当該エッチングレジストパターン11から露出しているめっき9をエッチング除去(例えば、銅アンモニア錯イオンを主成分とするアルカリエッチング)した後、当該エッチングレジストパターン11を剥離する(図4(h)参照)。   Next, as shown in FIG. 6G, an etching resist pattern 11 is formed on the plating 9 located in the BVH forming portion by performing known exposure / development processing, and then the etching resist pattern 11 Then, the plating 9 exposed from the substrate is removed by etching (for example, alkali etching containing copper ammonia complex ions as a main component), and then the etching resist pattern 11 is removed (see FIG. 4H).

次に、図6(i)に示したように、BVH形成部に残っためっき9aを第三の実施の形態と同様のソフトエッチング液で選択的に除去し、次いで、表面に露出しているバリア金属層8を除去することによって、表裏の配線パターン4間をBVH12で接続した図6(j)のプリント配線板Pを得る。   Next, as shown in FIG. 6I, the plating 9a remaining in the BVH formation portion is selectively removed with the same soft etching solution as in the third embodiment, and then exposed on the surface. By removing the barrier metal layer 8, the printed wiring board P of FIG. 6 (j) in which the wiring patterns 4 on the front and back sides are connected by the BVH 12 is obtained.

尚、上記構成のプリント配線板Pを多層化する場合は、例えば、図6(j)のプリント配線板Pの表裏に層間絶縁層と金属箔を積層し、図6(b)〜図6(j)の工程を必要層数ぶん繰り返し行うことによって、容易に図6(k)に示したような多層プリント配線板MPを得ることができる。   In addition, when multilayering the printed wiring board P of the said structure, an interlayer insulation layer and metal foil are laminated | stacked on the front and back of the printed wiring board P of FIG.6 (j), for example, FIG.6 (b)-FIG.6 ( By repeating step j) as many times as necessary, a multilayer printed wiring board MP as shown in FIG. 6K can be easily obtained.

本実施の形態における注目すべき点は、非貫通孔7の穿孔方法として、金属箔2に直接レーザを照射して穿孔する第三の実施の形態に対して、予めランド5の中央部に形成された開口部6にレーザを照射して、穿孔するようにした点である。   What should be noted in the present embodiment is that the non-through hole 7 is formed in advance in the central portion of the land 5 as compared with the third embodiment in which the metal foil 2 is directly irradiated with a laser to form a hole. The opening 6 is irradiated with a laser to be perforated.

これにより、第三の実施の形態で得られる効果に加え、ランド径の小径化、即ち、高密度配線化を図ることができる(第三の実施の形態では、(1)レーザ加工の際の加工ズレ公差と、(2)回路形成の際のパターン位置ズレ公差を考慮した径のランドを形成する必要があるが、第四の実施の形態では、ランドと非貫通孔の位置ズレがないため、ランドを形成する場合、回路形成の際のパターン位置ズレ公差のみを考慮すればよく、結果、ランド径を小径化することができる)。   Thereby, in addition to the effects obtained in the third embodiment, the land diameter can be reduced, that is, the wiring density can be increased (in the third embodiment, (1) laser processing It is necessary to form a land having a diameter that takes into account the machining deviation tolerance and (2) the pattern positional deviation tolerance during circuit formation. However, in the fourth embodiment, there is no positional deviation between the land and the non-through hole. When forming lands, it is only necessary to consider the pattern positional deviation tolerance during circuit formation, and as a result, the land diameter can be reduced).

また、第三の実施の形態でも説明した、外層に析出されためっきを二回(アルカリエッチングとソフトエッチング)に分けてエッチング除去するという手段は、回路形成済みの外層にめっきを析出させる第四の実施の形態で、よりその効果を発揮する。即ち、第四の実施の形態では、第三の実施の形態と異なり、予め金属箔を回路形成した後に、BVH形成用のめっきを析出させる構成であるため、外層全面(BVH形成部を含む)に析出されためっきをアルカリエッチングで一度に除去しようとした場合、隣接する配線パターンの間隙が狭い部分でめっき残りが発生してしまい、逆に、配線パターンの狭間隙部のめっきを完全に除去しようとすると、非貫通孔内のめっきが過剰エッチングされてしまうというものであったが、第四の実施の形態のようにエッチング工程を二回に分けて行うことによって、めっき残り及び過剰エッチングの発生を容易に防止することができる。   Further, as described in the third embodiment, the means for etching and removing the plating deposited on the outer layer twice (alkaline etching and soft etching) is the fourth method for depositing the plating on the outer layer on which the circuit has been formed. In the embodiment, the effect is more exhibited. That is, in the fourth embodiment, unlike the third embodiment, since the metal foil is formed in advance and then the plating for forming the BVH is deposited, the entire outer layer (including the BVH forming portion). If you attempt to remove the plating deposited at one time by alkaline etching, plating residue will occur in the narrow part of the adjacent wiring pattern, and conversely, the plating in the narrow part of the wiring pattern will be completely removed Attempting to do so would result in excessive etching of the plating in the non-through hole, but by performing the etching process in two steps as in the fourth embodiment, the plating residue and excessive etching were eliminated. Occurrence can be easily prevented.

続いて、第五の実施の形態を図7を用いて説明する。尚、図7(a)〜図7(e)は図6(a)〜図6(e)の工程と同じ工程であるため、その製造工程に関しては説明を省略する。   Next, a fifth embodiment will be described with reference to FIG. 7 (a) to 7 (e) are the same steps as the steps of FIGS. 6 (a) to 6 (e), description thereof will be omitted.

まず、図7(e)の基板の表裏に、感圧性と感光性を併せ持つエッチングレジスト(以降これを「PFエッチングレジスト13」と呼ぶことにする)を配置し、プレス板14にてプレスする(図7(f)参照)。尚、図中の符号13aは、PFエッチングレジスト13を保護する、例えば、PET(ポリエチレンテレフタレート)フィルム等からなる離型材である。   First, an etching resist having both pressure sensitivity and photosensitivity (hereinafter referred to as “PF etching resist 13”) is disposed on the front and back of the substrate of FIG. (Refer FIG.7 (f)). In addition, the code | symbol 13a in a figure is a mold release material which consists of a PET (polyethylene terephthalate) film etc. which protect the PF etching resist 13, for example.

このPFエッチングレジスト13は、圧力がかかった部分が対象物に転写されるという機能を持ち、図7(f)に示したプレス加工の場合は、図7(e)に示しためっき凸部9c(ランド5や配線パターン4の厚さ分、めっき9に段差ができる)部分で圧力がかかるため、プレス加工後にPFエッチングレジスト13を引き剥がすと、めっき凸部9c部にのみ当該PFエッチングレジスト13が転写される(図7(g)参照)。   This PF etching resist 13 has a function of transferring a portion to which pressure is applied to an object, and in the case of the press work shown in FIG. 7 (f), the plating projection 9c shown in FIG. 7 (e). Since pressure is applied at a portion (a step is formed on the plating 9 by the thickness of the land 5 or the wiring pattern 4), when the PF etching resist 13 is peeled off after press working, the PF etching resist 13 is only applied to the plating convex portion 9c. Is transferred (see FIG. 7G).

次に、転写されたPFエッチングレジスト13のうち、BVH形成部上のめっき凸部9c(非貫通孔7の開口側のめっき凸部9c)に転写されたものだけ選択露光し、次いで、現像処理を行うことによって、BVH形成部にのみエッチングレジストパターン15を形成する(図7(h)参照)。   Next, only the transferred PF etching resist 13 that has been transferred to the plating convex portion 9c on the BVH forming portion (plating convex portion 9c on the opening side of the non-through hole 7) is selectively exposed, and then developed. As a result, the etching resist pattern 15 is formed only in the BVH formation portion (see FIG. 7H).

次に、図7(i)〜図7(k)の工程を、図6(h)〜図6(j)の工程と同様に行うことによって、図7(k)のプリント配線板Pを得る。   Next, the printed wiring board P of FIG. 7 (k) is obtained by performing the steps of FIGS. 7 (i) to 7 (k) in the same manner as the steps of FIGS. 6 (h) to 6 (j). .

尚、上記構成のプリント配線板Pを多層化する場合は、例えば、図7(k)のプリント配線板Pの表裏に層間絶縁層と金属箔を積層し、図7(b)〜図7(k)の工程を必要層数ぶん繰り返し行うことによって、容易に図7(l)に示したような多層プリント配線板MPを得ることができる。   In addition, when multilayering the printed wiring board P of the said structure, an interlayer insulation layer and metal foil are laminated | stacked on the front and back of the printed wiring board P of FIG.7 (k), for example, FIG.7 (b)-FIG. By repeating the step k) as many times as necessary, a multilayer printed wiring board MP as shown in FIG. 7L can be easily obtained.

本実施の形態における注目すべき点は、エッチングレジストとして、感圧性・感光性のエッチングレジストを用い、めっき凸部9cに位置ずれなくエッチングレジストパターン15を形成するようにした点である。   What should be noted in the present embodiment is that a pressure-sensitive and photosensitive etching resist is used as the etching resist, and the etching resist pattern 15 is formed on the plating convex portion 9c without any positional deviation.

これにより、第四の実施の形態で得られた効果に加え、以下のような効果が得られる。即ち、図8は第四の実施の形態において、ランド5の近傍に配線パターン4が形成されている例を示したものであるが(図8(a)参照)、個片基板を多面付けする大型の基板の場合、当該個片基板の配置場所(例えば、大型基板の外側)によってはエッチングレジストパターン11に大きなズレが発生し、図8(b)に示したように、隣接する配線パターン4上にかかる場合がある。このような状態でめっき9のアルカリエッチング除去(図8(c))、ソフトエッチング液によるBVH形成部のめっき9aの除去(図8(d))、露出したバリア金属層8の除去を順次行った場合、ランド5と配線パターン4間で、図8(e)に示したようなめっき残り9dが発生し、ショート不良となる危険性が考えられる。しかし、第五の実施の形態においては、このようなエッチングレジストパターンの位置ズレを、個片基板の配置場所に関係なく防止できるため、図8(e)のようなショート不良を確実に防止することができる。   Thereby, in addition to the effects obtained in the fourth embodiment, the following effects can be obtained. That is, FIG. 8 shows an example in which the wiring pattern 4 is formed in the vicinity of the land 5 in the fourth embodiment (see FIG. 8A). In the case of a large substrate, a large shift occurs in the etching resist pattern 11 depending on the location of the individual substrate (for example, outside the large substrate), and as shown in FIG. It may take up. In this state, the alkaline etching removal of the plating 9 (FIG. 8C), the removal of the plating 9a in the BVH forming portion with a soft etching solution (FIG. 8D), and the removal of the exposed barrier metal layer 8 are sequentially performed. In this case, the plating residue 9d as shown in FIG. 8E is generated between the land 5 and the wiring pattern 4, and there is a risk of short circuit failure. However, in the fifth embodiment, such a misregistration of the etching resist pattern can be prevented regardless of the arrangement position of the individual substrate, and thus the short circuit failure as shown in FIG. be able to.

続いて、第六の実施の形態を図9を用いて説明する。
図9は、図6に示した第四の実施の形態の変形例を示したもので、まず、図9(a)に示したように、片面に離型層21と銅箔などの金属箔2が順次積層された転写板20を用意し、次いで、図9(b)に示したように、当該金属箔2をエッチングして、中央部に開口部6を有するランド5とその他の配線パターン4を形成する(当該転写板20は、絶縁接着剤層22の表裏に配線パターンを転写させるため、図9(b)に示したように表裏一対の転写板20を用意する)。
Next, a sixth embodiment will be described with reference to FIG.
FIG. 9 shows a modification of the fourth embodiment shown in FIG. 6. First, as shown in FIG. 9A, a release layer 21 and a metal foil such as a copper foil are provided on one side. 9 is prepared, and then, as shown in FIG. 9 (b), the metal foil 2 is etched, and a land 5 having an opening 6 in the center and other wiring patterns are prepared. 4 is prepared (in order to transfer the wiring pattern to the front and back of the insulating adhesive layer 22, the transfer plate 20 prepares a pair of front and back transfer plates 20 as shown in FIG. 9B).

次に、図9(c)に示したように、一対の転写板20の配線パターン形成面を対向させ、且つ、双方の間に絶縁接着剤層22(例えば、ガラス繊維にエポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂を含浸した半硬化状態の「プリプレグ」など)を配置した後、積層プレスすることによって、配線パターン4(ランド5も含む)を当該絶縁接着剤層22に埋め込むとともに当該絶縁接着剤層22を硬化させる(図9(d)参照)。   Next, as shown in FIG. 9C, the wiring pattern forming surfaces of the pair of transfer plates 20 are opposed to each other, and an insulating adhesive layer 22 (for example, glass fiber with heat such as epoxy resin) is interposed therebetween. A semi-cured “prepreg” impregnated with a curable resin is disposed, and then laminated and pressed to embed the wiring pattern 4 (including the land 5) in the insulating adhesive layer 22 and the insulating adhesive layer. 22 is cured (see FIG. 9D).

次に、図9(e)に示したように、転写板20を離型層21とともに剥離し、次いで、ランド5の径より小さく開口部6の径より大きい径のレーザを当該ランド5に照射することによって、裏面側の配線パターン4に達する非貫通孔7を穿孔するとともに、当該非貫通孔7の開口縁部に突出する金属傘5aを形成する(図9(f)参照)。   Next, as shown in FIG. 9 (e), the transfer plate 20 is peeled off together with the release layer 21, and then the land 5 is irradiated with a laser having a diameter smaller than the diameter of the land 5 and larger than the diameter of the opening 6. By doing so, the non-through hole 7 reaching the wiring pattern 4 on the back surface side is drilled, and the metal umbrella 5a protruding at the opening edge of the non-through hole 7 is formed (see FIG. 9F).

次に、図9(g)に示したように、金属傘5aを残した状態で、第一の実施の形態と同様にデスミア処理を行い、次いで、配線パターン4とはエッチング条件の異なるバリア金属層8a(例えば、「ニッケル」、「錫」、「銀」など)を、配線パターン4(ランド5や金属傘5aも含む)の露出面に形成する(本実施の形態においては、置換型の無電解めっき処理でバリア金属層8aを形成する例を示したが、第四、第五の実施の形態のように、非貫通孔7を含む全面に設けるようにしても構わない)。   Next, as shown in FIG. 9G, a desmear process is performed in the same manner as in the first embodiment with the metal umbrella 5a left, and then a barrier metal having different etching conditions from the wiring pattern 4 A layer 8a (for example, “nickel”, “tin”, “silver”, etc.) is formed on the exposed surface of the wiring pattern 4 (including the land 5 and the metal umbrella 5a) (in the present embodiment, a replacement type) Although an example in which the barrier metal layer 8a is formed by electroless plating is shown, it may be provided on the entire surface including the non-through holes 7 as in the fourth and fifth embodiments.

次に、非貫通孔7を含む外層全面に無電解めっき(例えば、「無電解銅めっき」)を形成した後、当該無電解めっきを給電層とする電解めっき処理(例えば、「フィルドビア用のめっき液を用いた電解銅めっき処理」)を行うことによって、めっき9を非貫通孔7に充填するとともに外層にも析出させ、次いで、BVH形成部のめっき9上にエッチングレジストパターン11を形成する(図9(h)参照)。   Next, after electroless plating (for example, “electroless copper plating”) is formed on the entire surface of the outer layer including the non-through holes 7, electrolytic plating treatment using the electroless plating as a power feeding layer (for example, “filled via plating”). By performing an electrolytic copper plating process using a solution ”), the plating 9 is filled in the non-through holes 7 and also deposited on the outer layer, and then an etching resist pattern 11 is formed on the plating 9 in the BVH forming portion ( (Refer FIG.9 (h)).

次に、図9(i)に示したように、エッチングレジストパターン11から露出しているめっき9をアルカリエッチング(例えば、銅アンモニア錯イオンを主成分とするアルカリエッチング)で除去した後、当該エッチングレジストパターン11を剥離し、次いで、BVH形成部に残存するめっき9aを第三の実施の形態と同様のソフトエッチング液で除去して、非貫通孔7(BVH12)に充填されためっき9がランド5と略平滑になるようにする(図9(j)参照)。   Next, as shown in FIG. 9 (i), the plating 9 exposed from the etching resist pattern 11 is removed by alkali etching (for example, alkali etching containing copper ammonia complex ions as a main component), and then the etching is performed. The resist pattern 11 is peeled, and then the plating 9a remaining in the BVH formation portion is removed with the same soft etching solution as in the third embodiment, so that the plating 9 filled in the non-through holes 7 (BVH12) is land 5 (see FIG. 9 (j)).

そして最後に、表面に露出しているバリア金属層8aを除去することによって、表裏の配線パターン4間を接続するBVH12を有する図9(k)のプリント配線板Pを得る。   Finally, by removing the barrier metal layer 8a exposed on the surface, the printed wiring board P of FIG. 9 (k) having the BVH 12 connecting the front and back wiring patterns 4 is obtained.

尚、上記構成のプリント配線板Pを多層化する場合は、例えば、図9(k)のプリント配線板Pの表裏に絶縁接着剤層を配置した後、図9(c)〜図9(k)の工程を必要層数ぶん繰り返し行うことによって、図9(l)に示したような多層プリント配線板MPを得ることができる。   In addition, when multilayering the printed wiring board P of the said structure, after arrange | positioning an insulating adhesive layer on the front and back of the printed wiring board P of FIG.9 (k), for example, after FIG.9 (c)-FIG.9 (k) The multilayer printed wiring board MP as shown in FIG. 9 (l) can be obtained by repeating the step ()) as many times as necessary.

本実施の形態においては、第四の実施の形態で得られる効果に加え、配線パターンが絶縁層の表面と平滑になるように埋め込まれているため、プリント配線板P、当該プリント配線板Pを多層化した多層プリント配線板MPを薄型化することができる。   In the present embodiment, in addition to the effects obtained in the fourth embodiment, since the wiring pattern is embedded so as to be smooth with the surface of the insulating layer, the printed wiring board P and the printed wiring board P are The multilayered multilayer printed wiring board MP can be thinned.

本発明プリント配線板の製造方法の第一の実施の形態を示す概略断面工程説明図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic cross-sectional process explanatory diagram illustrating a first embodiment of a method for producing a printed wiring board of the present invention. 第一の実施の形態の効果を説明するための要部拡大断面図。The principal part expanded sectional view for demonstrating the effect of 1st embodiment. 本発明プリント配線板の製造方法の第二の実施の形態を示す概略断面工程説明図。The schematic cross-sectional process explanatory drawing which shows 2nd embodiment of the manufacturing method of this invention printed wiring board. 第二の実施の形態の効果を説明するための要部拡大断面図。The principal part expanded sectional view for demonstrating the effect of 2nd embodiment. 本発明プリント配線板の製造方法の第三の実施の形態を示す概略断面工程説明図。Schematic cross-sectional process explanatory drawing which shows 3rd embodiment of the manufacturing method of this invention printed wiring board. 本発明プリント配線板の製造方法の第四の実施の形態を示す概略断面工程説明図。The schematic cross-sectional process explanatory drawing which shows 4th Embodiment of the manufacturing method of this invention printed wiring board. 本発明プリント配線板の製造方法の第五の実施の形態を示す概略断面工程説明図。The schematic cross-sectional process explanatory drawing which shows 5th embodiment of the manufacturing method of this invention printed wiring board. 第五の実施の形態の効果を示す概略断面説明図。Schematic cross-sectional explanatory drawing which shows the effect of 5th embodiment. 本発明プリント配線板の製造方法の第六の実施の形態を示す概略断面工程説明図。The schematic cross-sectional process explanatory drawing which shows 6th Embodiment of the manufacturing method of this invention printed wiring board. 従来の多層プリント配線板の製造方法を示す概略断面工程説明図。Schematic cross-sectional process explanatory drawing which shows the manufacturing method of the conventional multilayer printed wiring board. 図10の製造方法で得られた多層プリント配線板のBVH構造を示す概略断面説明図。FIG. 11 is a schematic cross-sectional explanatory diagram showing a BVH structure of a multilayer printed wiring board obtained by the manufacturing method of FIG. 10. 他の従来の多層プリント配線板の製造方法を示す概略断面工程説明図。Schematic cross-sectional process explanatory drawing which shows the manufacturing method of the other conventional multilayer printed wiring board. 図12の製造方法で得られたプリント配線板のBVH構造を示す概略断面説明図。FIG. 13 is a schematic cross-sectional explanatory view showing a BVH structure of a printed wiring board obtained by the manufacturing method of FIG. 図12の製造方法で得られるプリント配線板のBVH構造を示す要部拡大断面図。The principal part expanded sectional view which shows the BVH structure of the printed wiring board obtained by the manufacturing method of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1:絶縁基板
2:金属箔
3:両面金属箔張り積層板
3a:コア基板
4、4a:配線パターン
5、5b、5c:ランド
5a:金属傘
6、18:開口部
7:非貫通孔
8、8a:バリア金属層
9、9a、9b:めっき
9c:めっき凸部
9d:めっき残り
10、13:エッチングレジスト
11、15:エッチングレジストパターン
12、12a、12b:ブラインドバイアホール(BVH)
13a:離型材
14:プレス板
16:層間絶縁層
17:樹脂付き金属箔
19:過剰エッチング部
20:転写板
21:離型層
22:絶縁接着剤層
P、Pa:プリント配線板
MP、MPa:多層プリント配線板
Sf:金属傘表面
Si:金属傘側面
B:金属傘裏面
1: Insulating substrate 2: Metal foil 3: Double-sided metal foil-clad laminate 3a: Core substrate 4, 4a: Wiring patterns 5, 5b, 5c: Land 5a: Metal umbrella 6, 18: Opening 7: Non-through hole 8, 8a: barrier metal layers 9, 9a, 9b: plating 9c: plating projection 9d: plating residue 10, 13: etching resist 11, 15: etching resist pattern 12, 12a, 12b: blind via hole (BVH)
13a: Release material 14: Press plate 16: Interlayer insulating layer 17: Metal foil with resin 19: Excess etching portion 20: Transfer plate 21: Release layer 22: Insulating adhesive layer P, Pa: Printed wiring board MP, MPa: Multilayer printed wiring board Sf: Metal umbrella surface Si: Metal umbrella side surface B: Metal umbrella back surface

Claims (2)

異なる配線パターン形成層間をブラインドバイホールで接続するプリント配線板の製造方法であって、少なくとも、表面に金属箔が積層された絶縁基板の当該金属箔に、中央部に開口部を有するランドとその他の配線パターンを形成する第一工程と、当該ランド開口部にレーザを照射することによって所望の配線パターン形成層に達する非貫通孔を穿孔するとともに当該非貫通孔の開口縁部に突出する金属傘を形成する第二工程と、デスミア処理により当該非貫通孔をクリーニングする第三工程と、少なくともランドを含んだ配線パターンの露出面に当該配線パターンとはエッチング条件の異なるバリア金属層を形成する第四工程と、めっき処理により非貫通孔にめっきを充填するとともに外層にもめっきを析出させる第五工程と、ブラインドバイアホール形成部に位置するめっき上にエッチングレジストパターンを形成する第六工程と、エッチングレジストパターンから露出しているめっきをエッチング除去する第七工程と、エッチングレジストパターンを剥離した後、ブラインドバイアホール形成部に残っためっきをソフトエッチングにより除去する第八工程と、露出したバリア金属層を除去する第九工程とを有し、且つ、前記第六工程が、ブラインドバイアホール及び配線パターン上に形成されためっき凸部に感圧性・感光性のエッチングレジストをプレス板で加圧して残存させる工程と、めっき凸部に残存するエッチングレジストのうちブラインドバイアホール形成部のエッチングレジストを選択的に露光して現像処理を行う工程からなることを特徴とするプリント配線板の製造方法。 A method for manufacturing a printed wiring board for connecting different wiring patterns formed interlayer blind By A hole, at least, to the metal foil of the insulating substrate where the metal foil is laminated on the surface, and lands having an opening in the central portion The first step of forming other wiring patterns, and a metal projecting at the opening edge of the non-through hole while drilling a non-through hole reaching the desired wiring pattern forming layer by irradiating the land opening with a laser forming a second step of forming an umbrella, a third step of cleaning the non-through hole by desmear treatment, a different barrier metal layer etching conditions with the wiring pattern on the exposed surface of the wiring pattern including at least the land a fourth step, a fifth step of depositing the plating in the outer layer to fill the plated blind holes by plating, Bly A sixth step of forming an etching resist pattern on the plating located in the via hole forming portion, a seventh step of etching and removing the plating exposed from the etching resist pattern, and after removing the etching resist pattern, a blind via And an eighth step of removing the plating remaining in the hole forming portion by soft etching and a ninth step of removing the exposed barrier metal layer , and the sixth step is performed on the blind via hole and the wiring pattern. A pressure sensitive / photosensitive etching resist is left on the formed plating convex part by pressing with a press plate, and the etching resist in the blind via hole forming part is selectively exposed from the etching resist remaining on the plating convex part. printed circuit, characterized by comprising the step of performing development processing and The method of production. 前記第四工程において、バリア金属層を配線パターンから露出している絶縁基板の表面にも形成することを特徴とする請求項に記載のプリント配線板の製造方法。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1 , wherein in the fourth step , the barrier metal layer is also formed on the surface of the insulating substrate exposed from the wiring pattern .
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