JP5063647B2 - 誘導ラマン分光を対比機構として利用する顕微撮像システム及び方法 - Google Patents

誘導ラマン分光を対比機構として利用する顕微撮像システム及び方法 Download PDF

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Description

本発明は顕微振動分光による撮像システム及び方法、特にラマン散乱を用いたものに関する。
顕微振動分光による撮像法としては、既に顕微赤外撮像、顕微ラマン撮像、顕微CARS撮像等の手法が知られている。
顕微赤外撮像によれば、サンプル内振動励起状態吸収を直接計測することができる。反面、使用する光が長波長の赤外光であるので信号分解能を高くするのが難しい。生体サンプルの場合は、更に、そのサンプルに含まれる水分で赤外光が多量に吸収されるため侵入深さが浅くなる。
顕微ラマン撮像によれば、紫外域、可視域又は近赤外域の単一波長連続波レーザ励起光に対する非弾性的な自発的ラマン散乱を観測するので、顕微赤外撮像に比べ光学的分解能が良好で侵入深さも深くなる。反面、自発的ラマン散乱の効率がそもそも低い(ラマン散乱断面積が一般に10-30cm2オーダである)のでその感度は貧弱である。そのため、長い時間をかけて平均化を行わないと画像が得られないことから、生体分野における顕微ラマン撮像の用途は限られている。
顕微CARS(coherent anti-Stokes Raman scattering:コヒーレント反ストークスラマン散乱)撮像によれば、2本のパルスレーザビーム即ちポンプビーム(pump beam)及びストークスビーム(Stokes beam)を用いコヒーレント励起を行うため、散乱信号の絶対強度がかなり高くなる。反面、サンプル内共振外物体も励起されるので、高レベルの背景ノイズが発生する。このノイズ即ち共振外背景ノイズは、希釈サンプルから得られる共振信号(CARS信号)のスペクトラムを歪ませるばかりか、レーザノイズも運んできてしまう。そのため、分光性の面でも感度の面でも顕微CARS撮像の用途は非常に限られている。
顕微CARS撮像に適用できる共振外背景ノイズ抑圧手法としては、まず、共振外背景ノイズの偏向特性が共振信号のそれと異なることを利用する手法が考えられる。例えば、特許文献1に記載のシステムの如く、ある特定の偏向状態を有するポンプビーム及びストークスビームを入射し、相応の偏向状態を有する出射光のみを光検知器で検知するようにすればよい。また、これとは別の手法としては、遡行配置した光検知器で反ストークス場を検知する手法が考えられる。例えば特許文献2に記載のシステムでは、CARS信号のうちビーム入射方向沿いに遡行する成分(遡行成分/エピ方向成分)を捉えるようにしている。ただ、光透過性サンプルの場合、ビーム入射方向沿いに順行する成分(順行成分)に比べエピ方向成分はかなり弱いので、強い信号が必要な用途ではなかなか利用することができない。
米国特許第6798507号明細書 米国特許第6809814号明細書 米国特許第7352458号明細書 米国特許第7388668号明細書 米国特許第7414729号明細書 米国特許出願公開第2008/0037595号明細書
LEVENSON et al., "FM Spectroscopy Detection of Stimulated Raman Gain", Optics Letters, Vol.8, No.2, February 1983, pages 108-110 Proceedings of IRE, November 1962, printed from IEEE Xplore on November 3, 2008, pp.2365-2383 N. Bloembergen, "The Stimulated Raman Effect", American Journal of Physics, November 1967, pp.989-1023 A. Owyoung, "Sensitivity Limitations for CW Stimulated Raman Spectroscopy", Optics Communication, Vol.22, No.3, September 1977, pp.323-328 A. Owyoung, "Coherent Raman Gain Spectroscopy Using CW Laser Sources", IEEE Journal of Quantum Electronics, Vol.QE-14, No.3, March 1978, pp.192-203 B. Levine et al., "Surface Vibrational Spectroscopy Using Stimulated Raman Scattering", IEEE Journal of Quantum Electronics, Vol.QE-15, No.12, December 1979, pp.1418-1432 B. Levine et al., "Ultrahigh Sensitivity Stimulated Raman Gain Spectroscopy", IEEE Journal of Quantum Electronics, Vol.QE-16, No.1, January 1980, pp.85-89 E. Ploetz et al., "Femtosecond Stimulated Raman Microscopy", Applied Physics B, 87, March 2007,pp.389-393
従って、高感度振動撮像を行えるシステム及び方法を実現すること、特に、ラマンスペクトラム及びそれに係る振動シグネチャに大きな歪が発生せず、その出射光中の共振外背景ノイズから共振信号を容易に弁別できる顕微撮像システムを提供することが求められている。
ここに、本発明の一実施形態に係る顕微撮像システムは、(1)その中心周波数がω1の第1光パルス列及びその中心周波数がω2の第2光パルス列を、共通の合焦空間にて互いに時間的に同期することとなるよう、また両者の間の周波数差が合焦空間内サンプル振動と共鳴する周波数になるよう生成する1個又は複数個の光源と、(2)100kHz以上の速度fで変化するよう第2光パルス列の特性を変調する変調システムと、(3)第1及び第2光パルス列を合焦空間に送り合焦させる合焦用光学系と、(4)合焦空間から順行又は遡行出射された光のうち第2光パルス列を除く光から、ほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を第1光パルス列の積分強度として検知する光検知器と、(5)合焦空間における第1第2光パルス列間非線形相互作用によってその積分強度に生じた振幅、位相又はその双方の変調分を速度fに基づきその積分強度から検知することによって、撮像結果たる画像を画素単位で取得する信号プロセッサと、を備える。
本発明の他の実施形態に係る顕微撮像方法は、(1)その中心周波数がω1の第1光パルス列及びその中心周波数がω2の第2光パルス列を、共通の合焦空間にて互いに時間的に同期することとなるよう、また両者の間の周波数差が合焦空間内サンプル振動と共鳴する周波数になるよう生成するステップと、(2)100kHz以上の速度fで変化するよう第2光パルス列の特性を変調するステップと、(3)第1及び第2光パルス列を合焦空間に送り合焦させるステップと、(4)合焦空間から順行又は遡行出射された光のうち第2光パルス列の成分を除去し、残った第1光パルス列のほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を検知するステップと、(5)合焦空間における第1第2光パルス列間非線形相互作用によってその積分強度に生じた振幅、位相又はその双方の変調分を速度fに基づきその積分強度から検知することによって、撮像結果たる画像を画素単位で取得するステップと、を有する。
本発明の第1実施形態に係る顕微撮像システムを示す模式図である。 図1の実施形態で使用される二種類のレーザパルス列、即ちその一方が振幅変調されているパルス列を示すチャートである。 本発明の他の実施形態に係る顕微撮像システムで使用される二種類のレーザパルス列、即ちその一方が偏光変調されているパルス列を示すチャートである。 本発明の更に他の実施形態に係る顕微撮像システムで使用される二種類のレーザパルス列、即ちその一方が位相変調(時間シフト)されているパルス列を示すチャートである。 本発明の更に他の実施形態に係る顕微撮像システムで使用される二種類のレーザパルス列、即ちその一方が周波数変調されているパルス列を示すチャートである。 本発明における光パルス列間周波数差対ラマン強度の関係の一例を示すグラフである。 本発明の更に他の実施形態に係る周波数変調型顕微撮像システムを示す模式図である。 本発明の更に他の実施形態に係る周波数変調型顕微撮像システムを示す模式図である。 本発明で得られるレーザ光周波数スペクトラム、特にそのノイズ成分及び信号変調分の一例を示すグラフである。 パワーを一定値に保ちながらポンプビーム波長を走査的に変化させることで、本発明の一実施形態に係る顕微撮像システムにより計測したメタノールのラマン損失スペクトラムを、従来の共焦点ラマン分光システムにより計測したメタノールの自発的ラマンスペクトラムと併せ示すグラフである。 本発明の一実施形態に係る顕微撮像システムで検知可能なメタノール水溶液の濃度範囲即ち検知限界を示すグラフである。 直径1μmのポリスチレンビーズが分散している2%アガロースゲル溶液を、本発明の一実施形態に係る顕微撮像システムによって撮像したとき得られる画像の例を、示す図である。 本発明における共通の合焦空間内での第1第2光パルス列間非線形相互作用の例、特にサンプルによる順行伝搬光の後方散乱及びそれを利用したエピ方向検知について説明する模式図である。 本発明の更に他の実施形態に係るエピ方向検知型顕微撮像システムの一部分を示す模式図である。 本発明の更に他の実施形態に係るエピ方向検知型顕微撮像システムの一部分を示す模式図である。 本発明の更に他の実施形態に係る光ファイバシステム経由入出射型顕微撮像システムの一部分を示す模式図である。 図12に示した実施形態にて使用しうる光ファイバシステムの一例、特にその先端部を示す模式図である。 図12に示した実施形態にて使用しうる光ファイバシステムの他の一例、特にその断面を示す模式図である。 図12に示した実施形態にて使用しうる光ファイバシステムの他の一例、特にその根本部を示す模式図である。 図12に示した実施形態にて使用しうる光ファイバシステムの他の一例、特にその根本部を示す模式図である。 図12に示した実施形態にて使用しうる光ファイバシステムの他の一例、特にその先端部走査システムを示す模式図である。 本発明の一実施形態に係る顕微撮像システムで乳ガン細胞を調べたときに得られる撮像結果、特に共振状態で得られる画像を示す図である。 同じく共振外状態で得られる画像を示す図である。
以下、別紙図面を参照しつつ本発明の好適な実施形態について説明する。但し、それらの図面は説明のためのものであるので、その記載のみに基づき本発明の要旨を限定解釈してはならない。
これから本発明の実施形態として説明するシステム及び方法では、振動撮像を新規な手法で行っている。本願では、その手法のことを顕微誘導ラマン散乱撮像と称している。この手法では、二種類のレーザパルス列即ちポンプビーム及びストークスビームを併用して振動遷移、ひいてはポンプビームの強度低下(誘導ラマン損失)及びストークスビームの強度増大(誘導ラマン利得)を誘起させる。更に、十分高い速度fで変化するようポンプビーム又はストークスビームの特性を変調する一方、光検知器として位相感応型光検知器を使用することによって、ポンプビーム・ストークスビーム間相互作用に伴う誘導ラマン損失、利得又はその双方を計測するようにしている。
図1に、本発明の一実施形態に係る顕微撮像システム10を示す。本システム10は二周波数レーザ光源12及び光パラメトリック発振器(optical parametric oscillator:OPO)14を有している。そのうち光源12では、内蔵する広帯域光源の出射光を複数個の小帯域に分割し、中心周波数ω2(例えば波長=1064nm)の成分をレーザパルス列16として出射する一方、それとは異なる中心周波数(例えば波長=532nm)の成分をレーザパルス列18として出射している。本実施形態では前者のパルス列16をストークスビームとして使用している。他方、後者のパルス列18は、特許文献6記載の構成を有するOPO14に供給されている(この参照を以て特許文献6の全内容を本願に繰り入れることとする)。OPO14にパルス列18を供給すると中心周波数ω1のレーザパルス列20が励起される。本実施形態ではこのパルス列20をポンプビームとして使用している。それらのビームは変調後に結合器25にて結合される。即ち、ビーム16を変調システムにて変調し、更にトランスレーションステージ24にて光路長等の調整を施すことで、変調が施された中心周波数ω2のレーザパルス列23即ち変調済ストークスビームを生成した上で、ビーム20,23を結合器25で結合させる。更に、本実施形態では、ポンプビーム周波数ωpとストークスビーム周波数ωSとの差ωp−ωSをサンプル振動と共鳴する関係にするため、両ビーム20,23間の周波数差Δωが合焦空間内サンプル22の振動に対し共振可能な周波数となるよう、OPO14の発振周波数ω1を設定してある。また、ステージ24に関しては、ビーム23側パルスの一部がビーム20側パルスのうちいずれかと時間軸上で重なり合うよう、その可調範囲A内でその調整量例えば光路長調整量が設定されている。結合器25でビーム20,23を結合させて得られるビームでは、両ビーム20,23の成分が互いにコリニアになり空間的にも重なり合う。
こうして結合されたビームは、そのビームによってサンプル22が走査されるよう相直交する二方向X,Y沿いに合焦空間とサンプル22を相対移動させる走査ヘッド26を介し、顕微鏡28に入射される。その顕微鏡28内にある合焦用光学系30は、ミラー32等を介し入射してくるビームを合焦空間に送り合焦させる。その合焦空間からの順行出射光は、例えば非結像性の集光器33を介し、合焦空間に対し順行配置されている光検知器36に送られる。その際、変調済ストークスビーム23の成分(中心周波数ω2)が光フィルタ34によって阻止・遮蔽されるので、光検知器36たるフォトダイオードで検知されるのはポンプビーム20の成分(中心周波数ω1)のみの強度となる。
他方、ビーム16を変調する変調システムは変調器38、コントローラ40及び変調制御信号源41から構成されている。即ち、信号源41から供給される変調制御信号42に従いコントローラ40が変調器38を制御することで、ビーム16の特性を速度fで変化させている。その変調制御信号42は信号プロセッサ44にも供給されており、そのプロセッサ44には、ビーム23を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す画像信号46が光検知器36から供給されている。プロセッサ44は例えば時間領域解析用ボックスカー検知器を内蔵しており、合焦空間におけるビーム20,23間非線形相互作用に伴い発生した信号46から、信号42で示される速度fに基づき振幅、位相又はその双方の変調分を検知することによって、撮像結果たる画像を画素単位で取得する。顕微鏡制御用コンピュータ48は、プロセッサ44からその画像を取得し表示する一方、ユーザからの指示に応じ指令50を与えることで、走査ヘッド26の動作を制御する。
また、変調器38では中心周波数ω2のビーム16を振幅変調する。即ち、図2Aに示すように、ビーム16側パルスの振幅を1個おきに抑圧することで、低振幅パルス62が挟まった中心周波数ω2のビーム23を発生させる。その際、変調器38としては例えばポッケルスセル(Pockel cell)及び偏向検光器を用い、コントローラ40としては例えばポッケルスセルドライバを用いる。更に、このビーム23をステージ24にて調整することで、ビーム23側パルスのうち低振幅パルス62以外のパルスを時間軸上でビーム20側パルスに重ねる。パルスが低振幅(62)だと合焦空間内で誘導ラマン散乱がほとんど生じないので、このように誘導ラマン分光を対比機構、パルス62を対比パルスとして用いることで、誘導ラマン損失等を計測することができる。なお、図示例では変調速度がレーザパルス繰返し速度の1/2である(ビーム16側パルスの振幅がパルス1個おきに抑圧されている)が、これとは異なる変調速度を用いることもできる。例えばレーザパルス繰返し速度と同じオーダの変調速度でビーム16を変調するのであれば、変調されるパルスに対し変調動作が(位相)同期するよう電子回路上でカウントダウンを行うとよい。更に、変調器38として電気−光式又は音響−光式の変調器、例えばMEMS(micro-electromechanical system)デバイスやガルバノメトリックスキャナを用いることもできる。そうした変形例では、変調速度fと同じ頻度で変調器38を切断しパルスを阻止することで、パルス62の振幅を概ね0にすることができる。
このように、速度fでその変調状態が変化するようビーム16を振幅変調し、それによって得られたビーム23をビーム20と結合させて合焦空間に送る構成では、ビーム23側が低振幅パルス62であるときに誘導ラマン散乱がほとんど発生しない。そのことに着目し、パルス62を一種の対比パルスとして利用することで、その合焦空間から到来する光に基づきポンプビーム強度の低下即ち誘導ラマン損失を計測することができる。その変調はポッケルスセル及び偏向検光器で行うことができる。
更に、本実施形態は、誘導ラマン分光を対比機構、レーザパルス列20をポンプビーム、振幅変調済レーザパルス列23を変調済ストークスビームとして用い、合焦空間からのポンプビームに生じている強度低下即ち誘導ラマン損失を信号プロセッサ44で求める仕組みであるが、誘導ラマン分光を対比機構、パルス列20をストークスビーム、振幅変調済レーザパルス列23を変調済ポンプビームとして用い、合焦空間からのストークスビームに生じている強度増大即ち誘導ラマン利得をプロセッサ44で計測する仕組みに、変形することができる。
このように、本実施形態の顕微撮像システムでは、ストークスビーム(又はポンプビーム)に対する振幅変調で対比機構を機能させることで、顕微誘導ラマン散乱撮像を実現している。この顕微誘導ラマン散乱撮像は既存の諸手法と比べ多くの点で優れている。特に(1)光学的誘導プロセスであるためその分子振動遷移効率が従来の自発散乱依拠型顕微ラマン撮像に比べてかなり高く、(2)顕微鏡内対物系の合焦空間のみで信号が発生する非線形プロセスであるため三次元セクショニング能が得られ、(3)共振外背景ノイズが常在する顕微CARS撮像と違い共振外背景ノイズによる干渉を受けずにサンプル振動に対する共振信号のみを得ることができ、(4)得られる信号の強度が溶質濃度に対し常に線形であるため定量分析を速やかに実行することができ、(5)得られる信号にサンプルの自発蛍光が影響することがなく、(6)顕微CARS撮像と違いビームの相対方向によらずその位相整合条件が常に充足され、(7)可視域又は近赤外域のビームを使用した場合はその侵入深さ及び空間分解能を吸収型の顕微赤外撮像に比べて深く/高くすることができ、(8)誘導ラマン損失/利得を外光に影響されずに計測でき従ってシステムを開環境で使用することができる。
また、誘導ラマン散乱のプロセスは、振動遷移を励起する二光子プロセスとして捉えることができる。即ち、ポンプビーム内光子が1個消滅する代わりにストークスビーム内光子が1個増え、それによって分子振動性フォノンの発生(振動遷移)が促されるプロセスとして、捉えることができる。このプロセスでは、消滅したポンプビーム内光子のエネルギから、相互作用の結果ストークスビーム23に加わった光子のエネルギを差し引いた分のエネルギが、まさしく分子振動性フォノンのエネルギとなっている。その振動遷移の速度は、他の様々な光学的二光子プロセスと同じく、ポンプビーム強度とストークスビーム強度との積に比例する。自明なことに、このプロセスを発生させるには分子振動準位が必要である。さもないとエネルギ保存則が成り立たないので、共振外背景ノイズが発生する余地はない。このことは、顕微CARS撮像に対する大きな長所を表している。ご留意頂きたいことに、共振外背景ノイズの影響でスペクトルが歪み、更には不要なレーザノイズが持ち込まれるため、顕微CARS撮像の用途は厳しく制約されている。
更に、誘導ラマン散乱プロセスは自発ラマン散乱プロセスと次の点で違っている。まず、自発ラマン散乱の場合、初期状態でストークス光子モードが空乏であるため、真空場が誘導用ストークスビームとして振る舞う。そのためその効率が極端に低くなる。遷移速度もポンプビーム強度に比例するだけである。これに対し、本実施形態の誘導ラマン散乱プロセスでは、強いレーザビームをストークスビーム23として用いるため、ストークス光子モードが当初から多数の光子で占められており、誘導放出とよく似たプロセスで散乱が惹き起こされることとなる。そのため、その遷移速度がポンプビーム強度に比例するだけの自発ラマン散乱と違い、誘導ラマン散乱における転移速度はポンプビーム強度及びストークス光子モードの光子数に比例する。ストークス光子モードの光子数はストークスビーム強度に比例するので、誘導ラマン散乱における遷移速度はポンプビーム20,ストークスビーム23双方の強度に比例することとなる。
誘導ラマン散乱プロセスは、更に、ポンプビーム(又はストークスビーム)と、それと同じ周波数を有する三次の誘導放射光との間に、ヘテロダイン干渉を発生させるプロセスとして捉えることができる。また、誘導ラマン利得計測に使用される三次非線形誘導放射光と、誘導ラマン損失計測に使用される三次非線形誘導放射光は、互いに異なる偏向状態を有するものである。これらはCARS発生に関わるそれとも区別することができる、しかし、それと共振する電子回路がなければいずれも同一の絶対強度になる。
三次非線形誘導放射光のうち、ポンプビーム強度低下に基づく誘導ラマン損失計測に使用できるのは、その輻射周波数がポンプビーム周波数ωpで、その強度依存性がポンプビーム強度とストークスビーム強度の自乗との積に対し線形的な偏向光である。遠視野の光検知器36に到達したときには、その偏向光の位相(最終位相)は所与のポンプビーム23に対し180°遅れた位相になっているので、ポンプビーム23はこの三次非線形誘導放射光からの干渉を受けてその強度が低下する。このヘテロダイン干渉を表す項はポンプビーム強度,ストークスビーム強度双方に対し線形な項になる。
三次非線形誘導放射光のうち、ストークスビーム強度増大に基づく誘導ラマン利得計測に使用できるのは、その輻射周波数がストークスビーム周波数ωSで、その強度依存性がポンプビーム強度の自乗とストークスビーム強度との積に対し線形的な別の偏向光である。この偏向光の場合、その最終位相は所与のストークスビームのそれと同相であるので、ストークスビーム20はこの三次非線形誘導放射光からの干渉を受けてその強度が増大する。このヘテロダイン干渉を表す項もやはり、ポンプビーム強度,ストークスビーム強度双方に対し線形な項になる。
三次非線形誘導放射光としてはこの他に二種類の偏向光が発生する。それらは共振外背景ノイズと密接に関連するものであり、上掲の二種類のレーザビームで励起され、その輻射周波数は一方がポンプビーム周波数ωp、他方がストークスビーム周波数ωSである。ただ、その最終位相が、ポンプビーム周波数ωpと同じ周波数の方はポンプビーム20のそれに対し90°、ストークスビーム周波数ωSと同じ周波数の方はストークスビーム23のそれに対し270°、それぞれ遅れた位相になる。即ち、対応する所与のビームに対しどちらの偏向光も位相が直交しているので、それらの三次非線形誘導放射光は対応する所与のビームと干渉しない。そのため、信号の損失や利得に対し、検知できるような影響を及ぼすことはない。
図2Bに、本発明の他の実施形態に係る顕微撮像システム、特にそのシステムで使用される中心周波数ωのレーザパルス列20及び中心周波数ωのレーザパルス列23’を示す。このシステムでは、例えば中心周波数ωのレーザパルス列16を、コントローラ40たる偏光コントローラの制御下に変調器38たる偏光器で偏光変調し、更にトランスレーションステージ24にて適宜調整を施すことで、図示の通り、その偏光状態が他のパルスと異なるパルス64が挟まったパルス列23’を、時間軸上で個々のパルスがいずれもパルス列20内パルスと重なるように生成している。先に示した振幅変調には、侵入深さが深いという長所がある反面、サンプル22上でのビーム強度変調が原因でサンプル温度乃至屈折率の変調が生じ線形な背景ノイズが発生するという短所もあるが、本実施形態のように偏光変調を使用すればそうした短所を回避することができる。なお、本実施形態ではパルス64が1個おきに挟まっている(変調速度がレーザパルス繰返し速度の1/2になっている)が、変調状態とパルス列との同期を電子回路上で確保できるのであれば、これとは別の変調速度を使用することもできる。
ここに、合焦空間における誘導ラマン散乱の発生状態は、レーザパルス列20,23’間の偏光状態差によって大きく変化する。従って、誘導ラマン散乱が概ね発生しないようパルス列23’内パルスのうち幾つかを他のパルスに対し非平行な偏光状態にすること、例えば1個おきにその前後のパルスに対し非平行な偏光状態のパルス64にすることにより、本実施形態のように偏光変調を利用する形態でも誘導ラマン損失/利得を計測することができる。例えば、任意の偏光成分を濾波・阻止できる装置(ポッケルスセルを利用したもの等)を変調器38として用いることで、パルス列16内不要偏光成分を阻止し、その偏光状態が1個おきに90°ずつ変わるパルス列23’を生成することができる。合焦空間における非線形相互作用、例えばそれによって生じる非線形感受性テンソル要素(tensor element of the nonlinear susceptibility)の振幅は、ポンプビーム・ストークスビーム間でその偏光状態が直交している場合と平行な場合とで大きく異なるので、光検知器36では個々のパルス列23’内パルスを弁別することができる。即ち、ストークス(又はポンプ)ビームにおける偏光状態の違いを振幅の変化として検知することができる。光検知器36にて捉えられたその信号は例えば信号プロセッサ44内のロックイン増幅器で検知、増幅される。この実施形態即ち偏光選別的な対比機構を使用する実施形態では、サンプル温度変調の発生を妨げることができる。
図2Cに、本発明の更に他の実施形態に係る顕微撮像システム、特にそのシステムで使用する中心周波数ω1のレーザパルス列20と中心周波数ω2のレーザパルス列23”を示す。本実施形態におけるパルス列23”では、図示の通り、時間軸上でパルス列20内パルスに重なるパルスと重ならない対比パルス66が交互に出現している。このように、一方の光パルス列を位相変調(時間シフト)する形態でも、本発明を実施することができる。
図2Dに、本発明の更に他の実施形態に係る顕微撮像システム、特にそのシステムで使用する中心周波数ω1のレーザパルス列と中心周波数ω2のレーザパルス列を示す。本実施形態では、中心周波数ω2のレーザパルス列16を周波数変調することによって、周波数ω2のパルスと周波数ω2’のパルス68とが交互に現れるレーザパルス列を生成し、そのパルス68を対比パルスとして使用している。図3に示すように、中心周波数ω1のレーザパルス列に対する周波数差がω2−ω1のパルスでは高ラマン強度の共振信号67が得られるのに対し、その周波数差がω2’−ω1のパルス68では背景ノイズ69しか生じない。
このように、ポンプビーム、ストークスビーム又はその双方を周波数変調する実施形態、例えば特許文献3に記載の手法等に従いポンプビーム、ストークスビーム又はその双方の周波数をある速度fで周波数変調する実施形態では、ポンプビーム・ストークスビーム間の周波数差ωp−ωSが、サンプルの振動周波数に同調している状態とその同調から外れている状態との間で切り替わる(この参照を以て特許文献3の全内容を本願に繰り入れることとする)。この同調の成否によって、合焦空間内ポンプビーム・ストークスビーム間非線形相互作用の様相が変わる。従って、周波数変調方式でも誘導ラマン損失/利得を光検知器の出力から求めることができ、その結果を例えば信号プロセッサ44内のロックイン増幅器に通すことで変調周期の時間的変化のみを取り出すことができる。この他にも、時間遅延変調、空間ビームモード変調等の変調方式で変調した信号を用いることができる。
図4Aに、本発明のその種の実施形態に係る顕微撮像システムを示す。このシステムは、例えば特許文献6の記載に従い複数個のOPOを使用し、光パルス列を周波数変調する顕微撮像システムとして構築されている(この参照を以て特許文献6の全内容を本願に繰り入れることとする)。図示の通り、このシステムは、二周波数レーザ光源90、2個のOPO92,94、並びに光源90からの出射光を分岐させて両OPO92,94に供給する手段を備えている。本実施形態では、光源90にて、ある中心周波数ω1を有するレーザパルス列96を発生させ、それをポンプビームとして使用する一方で、その同じ光源90で、ある中心周波数を有する別のレーザパルス列98を発生させ、OPO92,94に供給している。これにより励起されたOPO92はレーザパルス列100を、OPO94はレーザパルス列102をそれぞれ発生させる。パルス列100はストークスビームとして使用されるパルス列であり、その中心周波数ω2は、周波数ω1との差Δωが図示しない合焦空間内サンプル振動に共鳴可能な周波数となるよう、即ちポンプビーム周波数ωpとストークスビーム周波数ωSとの差ωp−ωSがサンプル振動と共振するよう、設定されている。他方のパルス列102の中心周波数ω2’は、周波数ω1との差Δωが図示しない合焦空間内サンプル振動に共鳴しない周波数となるよう、即ちポンプビーム周波数ωpとストークスビーム周波数ωSとの差ωp−ωSがサンプル振動と共振しないよう、設定されている。
それら、中心周波数が順にω2,ω2’のレーザパルス列100,102は、半波長板103,104のうち対応するものを経て互いに結合され、変調器106に供給される。半波長板103,104に通すのは、パルス列100,102を互いに異なる偏向状態にするため、即ちビームススプリッタで一方を透過、他方を反射させうるようにするためである。従って、変調器106に供給されるレーザパルス列(100と102を結合させたもの)は、その偏向状態が異なる二種類のパルス、例えば互いにその偏波面が直交する二種類のパルスを含んでいる。変調器106は、変調速度fを示す変調制御信号を変調制御信号源108から受け取り、入射してくるパルス列をその信号に基づき変調する。従って、変調器106から得られる信号には、その偏向状態ひいては周波数が異なる複数種類の成分が含まれている。偏向検光器110では、それらの成分を速度fでの変調動作に同期し切り替えつつ透過させることでレーザパルス列112を発生させる。このパルス列112には、周波数ω2のパルスと周波数ω2’のパルスとが交互に現れる。他方のレーザパルス列96は、その可調範囲がBのトランスレーションステージ114によって、パルス列112内パルスの一部がパルス列96内パルスのうちいずれかと時間軸上で重なり合うよう調整される。こうして得られた二種類のパルス列96,112は、互いにコリニアになり空間的にも重なり合うよう結合器116にて互いに結合される。
レーザパルス列96,112を結合させることで得られたレーザパルス列は、走査ヘッド118を介し顕微鏡120に送られる。顕微鏡120内の合焦用光学系122は、サンプル124が存する合焦空間にそのパルス列を送って合焦させる。この点は図1を参照して先に説明した実施形態と同様である。その合焦空間からの順行出射光は集光器127によって光検知器128上に送られる。光フィルタ126は周波数ω1のパルスのみを透過させる。光検知器128たるフォトダイオードはそのパルスを検知する。
光検知器128は、周波数ω1のパルス(パルス列96)を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す画像信号130を、信号プロセッサ132に供給する。そのプロセッサ44は、合焦空間内パルス列112,96間非線形相互作用に伴い生じた振幅、位相又はその双方の変調分をその信号130(積分強度)から変調速度fに基づき検知することによって、撮像結果たる画像を画素単位で取得する。顕微鏡制御用コンピュータ134は、プロセッサ132からその画像を取得し表示する一方、ユーザからの指示に応じ指令136を与えることで、走査ヘッド118の動作を制御する。なお、OPO94に代え電子ロック型のモードロックレーザ例えば電子ロック型チタンサファイアレーザを使用することもできる。
図4Bに、本発明の他の実施形態に係る顕微撮像システムを示す。このシステムは、周波数ω2のパルスと周波数ω2’のパルスを同一の光源(変調OPOや変調チタンサファイアレーザ等の変調モードロックレーザ)で発生させるタイプの実施形態である。即ち、周波数ω2のパルス及び周波数ω2’のパルスを併含する周波数変調済レーザパルス列112を、単一のOPO140によって発生させる構成を採っている。そのため、変調制御信号源108からOPO140に変調制御信号が供給されており、OPO140はその信号で示される変調速度fに従いパルス列112を発生させている。他方のレーザパルス列96は、その可調範囲がBのトランスレーションステージ114によって、パルス列112内パルスの一部がパルス列96内パルスのうちいずれかと時間軸上で重なり合うよう調整される。こうして得られた二種類のパルス列96,112は、互いにコリニアになり空間的にも重なり合うよう結合器116にて互いに結合される。
レーザパルス列96,112を結合させることで得られたレーザパルス列は、図示の通り走査ヘッド118を介し顕微鏡120に送られる。顕微鏡120内の合焦用光学系122は、サンプル124が存する合焦空間にそのレーザパルス列を送って合焦させる。この点は図1を参照して先に説明した実施形態と同様である。その合焦空間からの順行出射光は集光器127によって光検知器128上に送られる。光フィルタ126はその周波数がω1のパルスのみを透過させる。光検知器128たるフォトダイオードはそのパルスを検知する。光検知器128は、周波数ω1のパルス列96を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す画像信号130を、信号プロセッサ132に供給する。そのプロセッサ44は、合焦空間内パルス列112,96間非線形相互作用に伴い生じた振幅、位相又はその双方の変調分を、その信号130(積分強度)から変調速度fに基づき検知することによって、撮像結果たる画像を画素単位で取得する。顕微鏡制御用コンピュータ134は、プロセッサ132からその画像を取得し表示する一方、ユーザからの指示に応じ指令136を与えることで、走査ヘッド118の動作を制御する。
なお、上述の諸実施形態では、変調器(38等)を一段にしているがこれを多段にすることもできる。例えば、その多段変調器を使用し各段を個別に動作させることで、ビームに二次変調又は相互変調をかけることができるので、変調器が一段の場合よりもレーザノイズを抑えることができる。二次変調とは、第1段変調器にて高速変調を施し、第2段変調器にてそれより低速な変調を施す、といったやり方である。復調時には、第1段復調器たる第1ロックイン検波器にて、第2段変調分が通過するような時定数を以て復調を行い、その復調を経た信号即ち第2段変調分が残っている信号を、第2段復調器たる第2ロックイン検波器で復調する。また、相互変調とは、第1段,第2段どちらの変調器でもほぼ同じ速度で変調を行うやり方である。復調時には両変調速度の和又は差に相当する速度で且つ単一のロックイン増幅器により信号を検波する。例えばStanford Research社のロックイン増幅器SR844FM(商品名)、ConOptics社のポッケルスセル360−80(商品名)等のシステムは、これを実行するのに役に立つ。
また、上述の諸実施形態では、誘導ラマン損失/利得を捉えて顕微撮像を行っている。そのため、誘導ラマン損失/利得を好適に計測できるよう、励起光を発生させる光源(12等)、信号を検知するための位相感応型光検知器(36等)、並びにその励起光でサンプルを走査する機構(26等)を適切に組み合わせて使用している。第1に、例えば図1の実施形態では、その周波数差Δω=ωp−ωSが合焦先分子の振動周波数に等しい二種類のレーザパルス列20,23がサンプル22上で相互作用すると、それら周波数ωpのポンプビームと周波数ωSのストークスビームの間の周波数差Δωがサンプル内分子の振動に共鳴して信号が発生する。即ち、その相互作用によってポンプビーム20が用尽されストークスビーム23が増強される。こうした誘導ラマン損失/利得を計測するには、それら二種類のビーム20,23を重ね合わせること(例えばパルス列20,23間でパルスタイミングを揃えること)が必要である。ビーム20、23又はその双方の波長が可調であれば、検知対象分子種を選定し、その分子種に対するラマン共鳴が生じるよう撮像に先立ち周波数差Δωを変化させることができるので、更に望ましい。そのため、前掲の諸実施形態では、励起用のビームを発生させるための光源としてパルスレーザ、特にそのピーク電磁場強度が高く従って個々の画素に係るビーム照射時間が短いものを使用している。第2に、検知対象となる信号は、ポンプビーム又はストークスビームの小幅な強度低下(誘導ラマン損失)又は強度増大(誘導ラマン利得)であり、その信号にはそのビームに係る背景ノイズがかぶっている。そうした信号を背景ノイズから弁別するため、前掲の諸実施形態では、励起に使用するビームのうち一方(23等)に振幅変調等を施しておき、位相感応型光検知器で信号を検知するようにしている。これによって、合焦空間内に存する振動共鳴性分子種の濃度を調べることができる。第3に、合焦空間及びサンプルを相対移動させること、即ち顕微鏡内でビームを走査的にステアすることによって、そのサンプル22等を構成している分子のうち所望のものの分布を示す三次元画像を得ることができる。
同じく、上述の諸実施形態では、合焦空間にてビーム間非線形相互作用を発生させることでその誘導ラマン損失/利得を発生させているので、ビーム間非線形相互作用を好適に惹き起こせるよう、光源たるパルスレーザ(12等)のパルス幅を設定している。これは、ビーム間非線形相互作用で生じる信号の強度が励起光強度に対し非線形であるため、即ちポンプビーム強度IPumpとストークスビーム強度IStokesの積IPump・IStokesに比例するためである。この関係から判るように、得られる信号を強くするには強度IPump及びIStokesのピーク値を大きくすべきであるが、サンプル上での平均強度は抑えねばならないので、上掲の諸実施形態ではパルスレーザ特にそのパルス幅が狭いものを使用している。反面、レーザパルスのパルス幅Δtと周波数帯域幅Δωの間にはΔt・Δω=一定なる式で表される関係があるので、パルス幅Δtを狭めるとそのパルスの周波数帯域幅Δωが広くなる。そのため、ラマン帯域のライン幅に見合った幅Δt及びΔω、例えば典型的なラマン帯域ライン幅たる約30cm-1に対応する約2〜3ピコ秒のパルス幅Δtを有するパルスを用いている。パルス幅Δtをこれと異なる値、例えば約0.2〜10ピコ秒の範囲に属する別の値にすることもできるが、ラマン帯域ライン幅相当値より長めの場合はピーク強度が犠牲になり非線形相互作用の結果たる信号の強度が弱まるであろう。短めの場合は、確かにより広範な周波数成分が関わってくるが、その大部分は分子振動に共鳴しないものであるので信号強度が強まるようなことはなく、それでいてサンプル上のパワーひいては光学的損傷が不必要に増加してしまうこととなりかねない。従って、典型的なラマン帯域ライン幅に相応する数ピコ秒程度のレーザパルスを使用するのが理想であるといえる。このパルス幅であれば、レーザパルス繰返し速度を約80MHzにすることで、サンプル(22等)の光学的損傷を好適に抑えることができる。一般には、光源を構成する光ファイバの出射光をピコ秒域のパルス幅を有する狭帯域光又はフェムト秒域のパルス幅を有する広帯域光にするとよい。更に、イメージング対象となる信号を好適に発生させるため、上掲の諸実施形態では、ポンプビームとストークスビームを互いに平行でその分散が等しいビームにし、そのサンプル上の同一個所に合焦するようにしている(空間的重複)。励起用の光源がパルスレーザであるので、更に、両ビームのパルスを互いに同時に発生させている(時間的重複)。即ち、両ビームのレーザパルス繰返し速度を互いに等しくしている。実施形態によっては、更に、両ビームのパルスが互いに重なるよう或いはそれらの間の時間差が実質的に0になるよう当該時間差を可調にしている。
更に、ポンプビーム及びストークスビームのうち少なくとも一方の波長が可調な形態で本発明を実施することもできる。典型的なラマン帯域幅が約0.5nmであるので、少なくとも約0.1nm精度で波長を調整できれば、ラマン帯域走査ひいては分子種検知を分子種選別的に行うことができる。
同じく、それらのビームの波長乃至周波数は様々な帯域にすることができる。第1の例は近赤外光(700〜1500nm)である。この帯域の光には生体サンプルにあまり吸収されずまた散乱も生じにくいという特徴がある。これは、生体サンプルへの侵入深さが深くなり、しかもそのサンプルの光学的損傷が抑えられるということである。生体内特に人体の検査で近赤外光を使用する妨げになる事情も特にないので、近赤外光は生体イメージングに適している。第2の例は可視光や紫外光である。この帯域のレーザ光をポンプビームやストークスビームとして用いた場合、近赤外光ほどの侵入深さや光学的低損傷性は得られないが、光検知器以降の電子回路に供給される信号は強い信号になる。この帯域の光を使用する場合、例えば、励起用レーザの出力で同期励起型のOPOを励起する構成にすればよい。そのOPOにSEASAM(半導体可飽和吸収材ミラー)を組み込みその可飽和吸収材の機能を活かすことで、パルス幅を可調にすることもできる。例えば、図1のレーザ光源12にて、典型的な利得媒質を用い波長=1064nmのビーム16を発生させ、更にそのビーム16を逓倍して波長=532nmのビーム18を発生させて、同期励起型のOPO14に供給する。そのOPO14では、波長=532nmのビーム18による励起を受け、波長=700〜1000nmの信号ビーム及び波長=1100〜2000nmのアイドラビームを発生させる。使用されるのは、信号ビーム、アイドラビーム又はその双方である(信号+アイドラモード)。或いは、励起用レーザで発生させた波長=1064nmのビーム(逓倍前のビーム)を信号ビーム又はアイドラビームと結合させ、それによって得られたビームを使用するようにしてもよい(前者は信号+1064nmモードで後者はアイドラ+1064nmモード)。いずれにしても、これらのビームにおけるレーザパルス繰返し速度はOPO14が同期励起型であるため自動的に同一になり、同じく時間軸上でのパルス位置にも原理的に違いが生じない。これらのビームと波長=1064nmのビーム23との間には、遅延ステージにて所要の時間差を付与することができる。また、同期チタンサファイアレーザ又はファイバレーザを使用すること、例えばHighQ Laser社のポンプレーザpicoTRAIN(商品名)と独国のベルリンにあるAPE社のエメラルドOPO(商品名)の組合せ等、市販システムを使用することもできる。
更に、上述の諸実施形態では信号検知用の光検知器(36等)としてフォトダイオードを使用している。信号対雑音比がほぼ光子検知個数1/2に等しいショットノイズ限界では、その信号対雑音比を保ちながら光子検知個数を増やすことで撮像速度を高めることができるので、例えば約200mWといった強力なレーザを検知可能なフォトダイオードを用いることが重要である。また、そのフォトダイオード上でのビーム位置が多少動いても検知した信号に大きな変化が生じないようにするには、後に非被走査型光検知として述べるように、その面積が大きなフォトダイオードを使用するのが望ましい。更に、高速変調に対処するにはフォトダイオードの応答時間が十分に短くなければならない。これらの条件を満たし近赤外域内の所要域をカバーできるフォトダイオードとしてはシリコン製又はゲルマニウム製のダイオードがある。市販システムの中では、例えばThorlabs社の大面積フォトダイオードFDS1010(商品名)を信号検知に使用することができる。
また、上述の諸実施形態では、変調されているストークスビームを抑圧してポンプビームを通すため(誘導ラマン損失を計測する場合)又は変調されているポンプビームを抑圧してストークスビームを通すため(誘導ラマン利得を計測する場合)、光検知器の面前に高光学密度遮蔽フィルタたる光フィルタ(34等)を配置している。このフィルタとしては、例えばChroma Technology社のバンドパスフィルタ890/220(商品名)等のシステムを使用することができる。このシステムであれば、誘導ラマン損失計測に際し、波長=1064nmのストークスビームを阻止しポンプビームを通過させることができる。
更に、上述の諸実施形態では、合焦空間に強いレーザビームを照射することで小幅な強度増大又は低下を発生させ、それを示す信号を光検知器(36等)及びその後段の回路にて広漠な背景ノイズから弁別することで、それぞれ誘導ラマン利得又は損失を計測している。そのもととなるビーム、即ち合焦空間を経由したストークスビーム(誘導ラマン利得計測時)又はポンプビーム(誘導ラマン損失計測時)のパワーは、次の式
(数1)
合焦空間経由後ビームパワー≒|E0±ΔE|2=E0 2±ΔE・E0+ΔE2
で表すことができる。この式中、E0はそのビームのサンプル入射時電場強度、ΔEはそのビームと同じ周波数を有する非線形三次誘導偏向光の電場強度を表している。即ち、非線形三次誘導偏向光によるビーム強度の増減にはコヒーレンシがあるので、電場強度E0±ΔEの絶対値の自乗で与えられるこのビームパワーには、原強度E0の自乗項、コヒーレント混合項ΔE・E0及び電場変動自乗項ΔE2の各成分が現れる。対象とするサンプルが特殊なものでなく、使用しているビームの原強度E0も一般的な強度である場合、原強度自乗項E0 2に対しコヒーレント混合項ΔE・E0は5桁以上、電場変動自乗項ΔE2は10桁以上小さな値になるので、少なくとも電場変動自乗項ΔE2は無視することができる。そのため、光検知器及びその後段の回路に対しては、コヒーレント混合項ΔE・E0で表される小幅なヘテロダイン干渉分を、広漠な背景ノイズから信号として抽出することが求められる。もしこうしたバックグラウンド抑圧が不十分だと、その小幅な信号に対し、背景ノイズのレベルに連動するレーザノイズが卓越することとなりかねない。
そうしたヘテロダイン干渉分を背景ノイズから信号として抽出するため、上述の諸実施形態では、高速の変調器及び位相感応型の光検知器を使用している。即ち、ビームにより励起される信号は変調速度相当の周波数ωmodに現れ、直流成分を含めそれ以外の周波数成分は背景ノイズとなるので、変調されたビームの作用で生じる信号とその背景ノイズとの間に十分な強度差が生じるよう十分高速な(振幅)変調器でビームの強度に変調を施すと共に、周波数領域で作動する受動的なフィルタ回路によってωmod相当の周波数成分を残し他の周波数成分を除去乃至抑圧することで、背景ノイズを除去するようにしている。そのフィルタ回路としては、その通過帯域幅1/Tintを決める積分時定数Tintが1画素当たりビーム照射時間にほぼ等しいものを信号プロセッサに組み込んである。更に、その変調分を基準とした位相を、背景ノイズに対する信号の差異を表す第2の特徴として扱うこと、即ち位相感応型光検知器を用いることで、背景ノイズを更に完全に抑圧することができる。信号プロセッサにはロックイン増幅器を組み込むのはそのためである。
図5に、合焦空間を経由したレーザビームのスペクトラムについてその一例を示すこの例のように、直流150、1/fノイズ152及び信号154の各成分が現れているスペクトラムから信号154を取り出すため、上掲の諸実施形態では、変調速度相当の周波数ωmodを中心周波数とし、約1/Tintの通過帯域幅を呈するフィルタ回路を、信号プロセッサに組み込んでいる。
こうしたスペクトラムが生じるのは、励起用の光源として使用しているレーザが一定強度光源ではなく、割合に広い周波数に亘り強いノイズをもたらすためである。このノイズ即ちレーザノイズの一部成分はωmod相当の周波数に現れるので、その成分をそのままにしておくと信号検知上の感度が損なわれ又は失われることとなる。ただ、こうしたレーザノイズの強度は一般に周波数の逆数(1/fnoise)に依存している。即ち、変調速度ωmodを高くするにつれレーザノイズ成分が低レベルになる。従って、ロックイン増幅器の検知可能帯域で好適に検知できるよう変調速度fを定めればよい。上述の諸実施形態即ちOPOを使用するシステム構成では、変調速度を最低100kHz以上、好ましくは1MHz以上にすることで、そのレーザノイズ成分をほぼ完全に、即ち信号に比して無視可能なレベルまで抑え込むことができる。
上述の諸実施形態では、更なる感度向上及び背景ノイズ抑圧のため、伝搬中のビームをサンプル・フォトダイオード間でどのような開口にも通さないようにしている。これは、サンプル・フォトダイオード間の開口でビームの縁が“刈り取られ”る分、背景ノイズが増えるからである。即ち、振幅又は偏光変調を施したポンプ/ストークスビームを合焦空間に送り込むと、“直交位相変調”であるため合焦空間内サンプルの屈折率が変調され一時的な“マイクロレンズ”が発生する。ストークス/ポンプビームは、合焦空間にてこのマイクロレンズの作用で僅かに発散された後、フォトダイオードにて検知される。このとき、サンプル・フォトダイオード間に開口があると、それを通るときにビームが空間的にフィルタリング、即ちその断面形状(プロファイル)が変調されてしまう。このプロファイル変調はωmod相当周波数に関しては強度変調であるので、それを経たビームをフォトダイオードで検知して信号プロセッサに送ると、その強度変調分がロックイン増幅器を通過してしまい、媒質の種類によらず一種の共振外背景ノイズとして働いてしまう。合焦空間内検知対象分子種との振動共振で生じる信号が弱いときには、この不要な共振外背景ノイズの方が勝ってしまい、信号が共振外背景ノイズに埋もれてしまうこととなる。
伝搬中のビームに対するこうした空間フィルタリングは、かなりの程度回避することができる。例えば、集光器(33等)の開口率を、対物系たる合焦用光学系と同等かより高い開口率にすればよい。この集光器で広い角度範囲から集光することができるので、そうした開口フィルタリングを防ぐことができる。特に、対物系を合焦用光学系兼集光器として使用する実施形態(後述)では、その対物系をその開口率が最大限に高い光学系(好ましくは非結像性の光学系)にする必要がある。上述の諸実施形態では、更に、ビームが辿る光路上にビーム径より小さな開口を設けない、フォトダイオード上の活性領域に比しビーム径を細くする等して、開口の影響を排している。
上述の諸実施形態では、こうした顕微撮像で検知される信号、即ち誘導ラマン利得又は損失を表す信号に基づき、合焦空間内分子種の濃度を示す画像を顕微鏡制御用コンピュータ48等の画面上に表示させている。より具体的には、サンプルを横切るよう合焦空間を走査しつつ画素単位でそうした信号を検知することにより、その分子種の合焦空間内分布を示す三次元画像を表示させている。その走査に当たっては、ビーム走査、ステージ走査又はその双方を実行する。ビーム走査とは、対物系の後方開口(合焦用光学系の出射開口)から出射していくビームがその開口面の垂線に対してなす角度を変化させることで、固定されているサンプルを横切るようそのビームで合焦空間を走査する動作である。ステージ走査とは、合焦空間に対してサンプルを動かす動作である。サンプルを動かす必要のないビーム走査であれば、その機構上比較的安定的に実行することができ且つサンプルがあまり攪乱されないので、走査レートを7000ライン/秒以上にも高めることができる。そのため、市販されている多くの共焦点顕微鏡で、xy平面上ではビーム走査、z軸沿いにはステージ走査とという併用形態が採られている。この形態で稼働するシステムとしては、オリンパス株式会社のFV−300やFV−1000、LeicaMicrosystems社のSP5、CarlZeiss社のLSM510やLSM710等がある(いずれも商品名)。
また、上述の諸実施形態では、励起に使用したビームの強度増大又は低下を、合焦空間へのビーム入射方向沿いに前方に向かう出射光(順行出射光)から検知し、それに基づきサンプルによる誘導ラマン利得又は損失を計測している。これは、そのサンプルが光透過性に富む場合に適している。これに対して、生体組織のように光散乱性に富むサンプルである場合は、図9に示すように順行伝搬光が後方散乱されるので、ビーム入射方向沿いに後方に向かう出射光(遡行出射光/エピ方向出射光)から検知することが可能であり自然でもある。従って、顕微誘導ラマン散乱撮像は、誘導ラマン利得又は損失をエピ方向計測する内視鏡撮像システムでも実行できる。
更に、上述の諸実施形態では、ポンプビーム・ストークスビーム間非線形相互作用に伴い信号が発生するので、信号が発生する場所は合焦空間内だけである。即ち、誘導ラマン利得/損失の計測による顕微誘導ラマン散乱撮像は、本質的に三次元セクショニングによる撮像であるのでピンホールが必要ない。そのため、上述の諸実施形態では、非被走査型検知器を極力サンプルのすぐ近くに配置し強い信号を得ることができる。特に、非被走査型検知器たる光検知器(フォトダイオード)を、順行出射光を捉えるように配置(順行配置)してあるので、いわゆる4f幾何配置のレンズ2枚を用い対物系(合焦用光学系)の後方開口をその光検知器で捉えること、即ち走査ヘッド内のミラーをその光検知器で捉えることができる。従って、その光検知器上でビームが多少動いても問題はない。
図6〜図8に、本発明の一実施形態に係る顕微撮像システムにて誘導ラマン損失を計測した結果を示す。この計測に使用したのは、オリンパス株式会社の顕微鏡FV−300(商品名)に改変を加えたものに、独国のベルリンにあるAPE社のエメラルドOPO(商品名)で発生させた可調波長のレーザパルス列をポンプビームとして、またHighQ Laser社のポンプレーザで発生させた波長=1064nmのレーザパルス列をストークスビームとして入力する構成のシステムである。信号は、Thorlab社の大面積フォトダイオードFDS1010(商品名)を順行配置して検知するようにした。波長=1064nmのストークスビームは、サンプルが存する合焦空間とそのフォトダイオードとの間にて、Chroma Technology社のバンドパスフィルタ890/220(商品名)によって阻止されるようにした。更に、ConOptics社のポッケルスセル360−80(商品名)で、1MHzの速度でストークスビームを偏光変調することによって、検知される信号中に振幅変調分を発生させた。その変調分の抽出には、StanfordResearch社のロックイン増幅器SR844RF(商品名)を使用した。そして、ポッケルスセルの高電圧駆動部で発生する高周波雑音の侵入を妨げるため、相応の高周波シールドを施した。
図6に、この顕微撮像システムで得られたラマン損失スペクトラム160を示す。このスペクトラム160は、サンプル上でのパワーを一定に保ちながらポンプビームの波長を走査的に変化させることにより、純粋なメタノールについて誘導ラマン損失のスペクトラムを計測した結果である。図示の通り、このスペクトラム160は2個の特徴的なピーク162及び164を有している。対するに、この図の左肩に差し込んである通り、従来の共焦点ラマン分光システムで計測したメタノールのラマン損失スペクトラム170にも、2個の特徴的なピーク172及び174がある。この点、スペクトラム60はこのスペクトラム170とよく一致している。即ち、自発ラマン散乱を利用し計測した自発ラマン損失のスペクトラムと同様のダブルピーク構造が、本システムでも再現されることが判った。
更に、このシステムを用いメタノール水溶液の濃度を計測したところ、図7に示す如き結果180が得られた。このグラフから読み取れるように、本システムで検知可能なメタノール濃度は約0.5%であり、通常の顕微CARS撮像における検知限界よりも低くなっている。従って、二次変調や相互変調を用いることや、より長波長へのスイッチングを行うことで、これよりも感度を高めることができよう。更に、誘導ラマン損失の計測結果がメタノール濃度に対し線形的に依存する性質も確認することができた。
図8に、直径1μmのポリスチレンビーズを分散させた2%アガロースゲル溶液について、このシステムによる0.5%撮像で得られた画像182を示す。CARSの場合と違いこの画像182に共振外背景ノイズが現れていないことから、共振外背景ノイズが検知可能水準を下回っていると判断することができる。なお、このイメージングは1画素当たりビーム照射時間を100μ秒として行ったが、1画素当たりビーム照射時間はより短い又は長い時間にすることもできる。
図9に、ストークスビームたる変調済のレーザパルス列181と、ポンプビームたる別のレーザパルス列183との間の非線形相互作用について示す。図示の通り、合焦用光学系184を介し合焦空間に入射したパルス列181,183は、その光学系184によって合焦空間内で合焦され、更に入射方向186に沿って順行伝搬していく。前掲の諸実施形態では光検知器がサンプルに対し順行配置されているので、その光検知器を用い、順行伝搬していくストークスビーム等から両ビーム間の非線形相互作用による誘導ラマン損失等を検知することができる。
また、合焦用光学系184を介し合焦空間に入射したパルス列181,183の一部は、その光学系184によって合焦された後、そのサンプル内の分子188によって反射され、サンプルから見て逆方向190に存する光学系184に戻っていく。従って、ポンプビームたるレーザパルス列及びストークスビームたるレーザパルス列が合焦空間内に入射してくる方向に沿って後方に光検知器を配置(遡行配置)する形態でも、本発明を実施することもできる。光検知器が遡行配置されているシステムでは、反射されたビーム例えばポンプビームから、両ビーム間の非線形相互作用による誘導ラマン利得等を検知することとなる。
図10に、本発明のその種の実施形態に係る顕微撮像システムの一部分を示す。図中、図1に示した実施形態のそれと共通する部材には同一の符号を付してある。また、図示していないシステム構成部分は図1のそれと同様の構成でよい。変調方式としては、振幅変調に限らず、上述の通り偏光変調、位相変調、周波数変調等も使用することができる。
この図のシステムでは、合焦空間にて反射されたストークスビームの諸周波数成分に亘る積分強度を求めることができるよう、ポンプビームを除去する光フィルタ202及びそれを介しストークスビームを受光する光検知器200を設けている。即ち、合焦用光学系204によって合焦空間に送られた二種類のレーザパルス列は、その空間に存するサンプル206上に合焦する。そのパルス列の一部は、ラマン散乱に続きサンプル206内の他の分子によって反射され、エピ方向に進んでいく。そのパルス列は光学系204を遡行しフィルタ202を介して光検知器200に到達する。光検知器200はその結果を示す画像信号208を信号プロセッサ44に供給する。そのプロセッサ44は、その接続先の顕微鏡制御用コンピュータ48と共に、図1を参照して説明した要領で稼働する。
また、信号と励起用のレーザビームとが同一周波数であることに鑑み、このシステムには、顕微鏡に入射してくるビームの一部を反射させて合焦用光学系204に送り、残りを透過させて放熱器212に送るよう、ビームスプリッタ210が設けられている。このスプリッタ210として50/50ビームスプリッタを用いた場合は、50%が反射、50%が透過されるので、顕微鏡に入射してきたストークスビームのうち25%が、合焦空間を経て光検知器200に達することとなる。また、20/80ビームスプリッタを用いた場合は、20%が反射、80%が透過されるので、顕微鏡に入射してきたストークスビームのうち4%が、合焦空間を経て光検知器200に達することとなる。前掲の諸実施形態と同じく、このシステムでも、ビームに対し振幅、偏向、位相又は周波数の変調が速度fで施されているので、信号プロセッサ44では、合焦空間内でのストークスビーム・ポンプビーム間非線形相互作用に伴い生じた信号、即ちストークスビームたるパルス列を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す信号から、振幅、位相又はその双方の変調分を検知することができる。
図11に、本発明の他の実施形態に係る顕微撮像システムの一部分を示す。図中、図1に示した実施形態のそれと共通する部材には同一の符号を付してある。また、図示していないシステム構成部分は図1のそれと同様の構成でよい。変調方式としては、振幅変調に限らず、上述の通り偏光変調、位相変調、周波数変調等も使用することができる。
この図のシステムでは、合焦空間にて反射されたレーザパルス列即ちポンプ又はストークスビームの諸周波数成分に亘る積分強度を求めることができるよう、一方のビームを除去する光フィルタ222及びそれを介し他方のビームを受光する光検知器220を設けている。即ち、合焦用光学系224によって合焦空間に送られた二種類のレーザパルス列は、その空間に存するサンプル226上に合焦する。そのパルス列の一部は、ラマン散乱に続きサンプル226内の他の分子によって反射され、エピ方向に進んでいく。そのパルス列は光学系224を遡行しフィルタ222を介して光検知器220に到達する。光検知器220はその結果を示す画像信号228を信号プロセッサ44に供給する。そのプロセッサ44は、その接続先の顕微鏡制御用コンピュータ48と共に、図1を参照して説明した要領で稼働する。
また、信号と励起用のレーザビームとが同一周波数であることに鑑み、このシステムでは、それらを互いに分離させるため1/4波長板230及び偏向ビームスプリッタを用いている。即ち、合焦用光学系224に1/4波長板230を前置する一方、その光学系224から見て光検知器220側のビームスプリッタを偏向ビームスプリッタとし、OPO14からストークスビームとして供給されるレーザパルス列(そのOPO14にてある方向に偏向されているもの)をほぼ全て反射し合焦空間に送るようその偏向ビームスプリッタを設けている。合焦空間にて反射されこの偏向ビームスプリッタに戻ってくるポンプビーム及びストークスビームは1/4波長板230を通過しているので、そのストークスビームはOPO14から入射してきた直後のストークスビームに比べ偏向方向が90°変化しており、従ってその偏向ビームスプリッタを透過することができる。透過したストークスビームはフィルタ222を経て光検知器220に到達する。前掲の諸実施形態と同じく、このシステムでも、ビームに対し振幅、偏向、位相又は周波数の変調が速度fで施されているので、信号プロセッサ44では、合焦空間内でのストークスビーム・ポンプビーム間非線形相互作用に伴い生じた信号、即ちストークスビームたるパルス列を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す信号から、振幅、位相又はその双方の変調分を検知することができる。
図12に、本発明の更に他の実施形態に係る顕微撮像システムの一部分を示す。図中、図1に示した実施形態のそれと共通する部材には同一の符号を付してある。また、図示していないシステム構成部分は図1のそれと同様の構成でよい。変調方式としては、振幅変調に限らず、上述の通り偏光変調、位相変調、周波数変調等も使用することができる。
この図のシステムでは、合焦空間にて反射されたストークスビームの諸周波数成分に亘る積分強度を求めることができるよう、ポンプビームを除去する光フィルタ242及びそれを介しストークスビームを受光する光検知器240を設けている。また、それらと合焦用光学系244の間には光ファイバシステム248が介在している。即ち、二種類のレーザパルス列は光ファイバシステム248を介し合焦用光学系244に届けられ、その光学系244によって合焦空間に送られその空間に存するサンプル246上に合焦する。そのパルス列の一部は、ラマン散乱に続きサンプル246内の他の分子によって反射され、エピ方向に進んでいく。そのパルス列は光学系244及び光ファイバシステム248を遡行しフィルタ242を介して光検知器240に到達する。光検知器240はその結果を示す画像信号250を信号プロセッサ44に供給する。そのプロセッサ44は、その接続先の顕微鏡制御用コンピュータ48と共に、図1を参照して説明した要領で稼働する。
また、この図のシステムでは、合焦空間にて反射して戻ってきたストークスビームが図1中のOPO14に戻っていかないよう、図10の実施形態と同じ要領で50/50又は20/80のビームスプリッタ252及び放熱器254を設けるか、或いは図11の実施形態と同じ要領で1/4波長板256を設け且つそのビームスプリッタ252を偏向ビームスプリッタにするようにしている。前掲の諸実施形態と同じく、このシステムでも、ビームに対し振幅、偏向、位相又は周波数の変調が速度fで施されているので、信号プロセッサ44では、合焦空間内でのストークスビーム・ポンプビーム間非線形相互作用に伴い生じた信号、即ちストークスビームたるパルス列を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す信号から、振幅、位相又はその双方の変調分を検知することができる。
図13に、図12に示した光ファイバシステム248の一例構成を示す。この例では、複数本の光ファイバを束ねることでシステム248を形成している。光源12,14に発するレーザパルス列即ちポンプビーム及びストークスビームはそれらの光ファイバのうちの1本(260)を介し合焦用光学系244に供給される。サンプル246によって反射されたポンプビーム及びストークスビームはそのシステム248を構成する別の光ファイバ(例えば262をはじめとする複数本)を介し光検知器240側に戻ってくる。上述の通り、図10の実施形態と同じ要領で50/50又は20/80のビームスプリッタ252及び放熱器254を設けるか、或いは図11の実施形態と同じ要領で1/4波長板256を設け且つそのビームスプリッタ252を偏向ビームスプリッタにしてあるので、合焦空間にて反射して戻ってきたストークスビームが図1中のOPO14に戻るようなことはない。前掲の諸実施形態と同じく、こうしたシステム248を用いた場合でも、ビームに対し振幅、偏向、位相又は周波数の変調が速度fで施されているので、信号プロセッサ44では、合焦空間内でのストークスビーム・ポンプビーム間非線形相互作用に伴い生じた信号、即ちストークスビームたるパルス列を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す信号から、振幅、位相又はその双方の変調分を検知することができる。
図14に、図12に示した光ファイバシステム248の別例構成を示す。この例では、ポンプビーム入射用、ストークスビーム入射用及び反射光集光用の光ファイバによってシステム248が構成されている。即ち、ポンプビームを合焦用光学系244に届ける光ファイバ264、変調されているストークスビームを合焦用光学系244に届ける光ファイバ266、並びに合焦空間における反射光例えばポンプビームを集めて運ぶ複数本の光ファイバ268を、互いに分けてある。上述の通り、図10の実施形態と同じ要領で50/50又は20/80のビームスプリッタ252及び放熱器254を設けるか、或いは図11の実施形態と同じ要領で1/4波長板256を設け且つそのビームスプリッタ252を偏向ビームスプリッタにしてあるので、合焦空間にて反射して戻ってきたストークスビームが図1中のOPO14に戻るようなことはない。前掲の諸実施形態と同じく、こうしたシステム248を用いた場合でも、ビームに対し振幅、偏向、位相又は周波数の変調が速度fで施されているので、信号プロセッサ44では、合焦空間内でのストークスビーム・ポンプビーム間非線形相互作用に伴い生じた信号、即ちストークスビームたるパルス列を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す信号から、振幅、位相又はその双方の変調分を検知することができる。
図15に、図12に示した光ファイバシステム248の変形例248’を示す。この例では、複数本の光ファイバを束ねることで光ファイバシステム248’が形成されている。また、光源12,14に発するポンプビーム及びストークスビームは同じ1本の光ファイバ270を介し合焦用光学系244に送られており、サンプルによって反射されたポンプビーム及びストークスビームはそのシステム248’を構成する別の複数本の光ファイバ272を介し戻ってくる。更に、この図のシステムには、レーザ光源12及びOPO14から到来するポンプビーム及びストークスビームをシステム248’の先端に入射させるよう、ビームスプリッタ274が設けられている。このスプリッタ274のうち、互いにコリニアなポンプビーム及びストークスビームが接触する中央部275は光透過性となっており、その中央部275を囲む周辺部277はとみに光反射性となっている。従って、サンプルによって反射されたポンプビーム及びストークスビームは、このシステム248’を構成する光ファイバ272を通ってスプリッタ274まで戻り、そのスプリッタ274によってレンズ278越しに光検知器276に送られることとなる。前掲の諸実施形態と同じく、こうしたシステム248’を用いた場合でも、ビームに対し振幅、偏向、位相又は周波数の変調が速度fで施されているので、信号プロセッサ44では、合焦空間内でのストークスビーム・ポンプビーム間非線形相互作用に伴い生じた信号、即ちストークスビームたるパルス列を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す信号から、振幅、位相又はその双方の変調分を検知することができる。
図16に、図12に示した光ファイバシステム248の更なる変形例248”を示す。この例でも、複数本の光ファイバを束ねることで光ファイバシステム248”が形成されている。また、光源12,14に発するポンプビーム及びストークスビームは同じ1本の光ファイバ280を介し合焦用光学系244に送られており、サンプルによって反射されたポンプビーム及びストークスビームはそのシステム248”を構成する別の複数本の光ファイバ282を介し戻ってくる。但し、この図のシステムの場合、光ファイバ280がシステム248”の根本部で、このシステム248”を構成する他の光ファイバ282の束から分離している。サンプルによって反射されたポンプビーム及びストークスビームは、それらの光ファイバ282を通りレンズ288越しに光検知器286へと送られることとなる。前掲の諸実施形態と同じく、こうしたシステム248”を用いた場合でも、ビームに対し振幅、偏向、位相又は周波数の変調が速度fで施されているので、信号プロセッサ44では、合焦空間内でのストークスビーム・ポンプビーム間非線形相互作用に伴い生じた信号、即ちストークスビームたるパルス列を組成するほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を示す信号から、振幅、位相又はその双方の変調分を検知することができる。
これらのように光ファイバを使用する実施形態では、特許文献5に記載の通り、その根本又は先端に走査システムを設け、その光ファイバに対するポンプビーム、ストークスビーム又はその双方の照射位置をその走査システムによって可制御的に調整する構成を採ることができる(この参照を以て特許文献5の全内容を本願に繰り入れることとする)。即ち、ポンプビームやストークスビームを別の光ファイバで送り込む構成でもそうでない構成でもよいが、互いにコリニアなポンプビーム及びストークスビームのサンプルに対する位置をファイバ先端の走査システム等で可制御的に調整し、それらのビームをx,y,zの各軸に沿ってサンプル上の任意の部位に向けることができる。
図17に、本発明のその種の実施形態に係る顕微撮像システムの一部分を示す。この図のシステムでは、ポンプビーム及びストークスビームを合焦させてサンプル上を走査することができるよう、その光ファイバシステム312の先端に走査システムが設けられている。この先端部走査システムは、図示の通り、ハウジング302、そのハウジング302に設けられた固定部304及び可動部306、xy平面内での動きを担う圧電モータ308、並びにz方向の動きを担う円環状の圧電モータ310を備えている。光ファイバの先端はハウジング302内に引き込まれており、そのハウジング302から引き出された制御信号線314は患者の体外まで延設されている。
図18A及び図18Bに、本発明の一実施形態に係る顕微撮像システムで乳ガン細胞を調べたときに得られる撮像結果320,322を示す。これらのうち、図18Aに示した画像320は、本システムを乳ガン細胞のCH2伸縮振動に対し共振(同調)させて撮像した結果を示すものであり、細胞内脂質分布が鮮明に現れている。これに対し、図18Bに示した画像322はその共振を外して撮像した結果を示すものであり、物質の違いによるコントラストが現れない。従って、共振を外した後も共振時の画像がある程度は残ってしまう顕微CARS撮像システムに比べ、本システムの方が、変調によるコンラストを好適に読み取ることができる。
本件技術分野で習熟を積まれた方々(いわゆる当業者)であれば、本発明の実施形態に関する以上の記載に基づき本発明を実施することや、それらを改変乃至改良することができよう。
10 顕微撮像システム、12,90 二周波数レーザ光源、14,92,94,140 光パラメトリック発振器(OPO)、16〜20,23〜23”,96〜102,112,181,183 レーザパルス列(ビーム)、22,124,206,226,246 サンプル、24,114 トランスレーションステージ、25,116 結合器、26,118 走査ヘッド、28,120 顕微鏡、30,122,184,204,224,244 合焦用光学系、32 ミラー、33,127 集光器、34,126,202,222,242 光フィルタ、36,128,200,220,240,276,286 光検知器、38,106 変調器、40 コントローラ、41,108 変調制御信号源、42 変調制御信号、44,132 信号プロセッサ、46,130,208,228,250 画像信号、48,134 顕微鏡制御用コンピュータ、50,136 ユーザ指令、62〜66,68 対比パルス、67 共振信号、69 背景ノイズ、103,104 半波長板、110 偏向検光器、150 直流成分、152 1/fノイズ、154 信号、160,170 ラマン損失スペクトラム、162,164,172,174 ピーク、180 検知結果、182,320,322 撮像結果、186 レーザパルス入射方向、188 分子、190 レーザパルス反射方向、210,252,274 ビームスプリッタ、212,254 放熱器、230,256 1/4波長板、248〜248”,312 光ファイバシステム、260〜272,280,282 光ファイバ、275 透過性中央部、277 高反射性周辺部、278,288 レンズ、302 ハウジング、304 固定部、306 可動部、308,310 圧電モータ、314 制御信号線、A,B トランスレーションステージの可調範囲、Tint 積分時定数、x,y,z,X,Y 走査方向、Δω 周波数差、ω1,ω2,ω2’ ビーム中心周波数、ωmod 変調速度。

Claims (36)

  1. その中心周波数がωの第1光パルス列及びその中心周波数がωの第2光パルス列を、共通の合焦空間にて互いに時間的に同期することとなるよう、また両者の間の周波数差が合焦空間内サンプル振動と共鳴する周波数になるよう生成する1個又は複数個の光源と、
    100kHz以上の速度fで変化するよう第2光パルス列の特性を変調する変調システムと、
    第1及び第2光パルス列を合焦空間に送り合焦させる合焦用光学系と、
    合焦空間から順行又は遡行出射された光のうち第2光パルス列を除く光から、ほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を第1光パルス列の積分強度として検知し、前記積分強度はストークスビーム強度の増大あるいはポンプビーム強度の低下のいずれかを示す、光検知器と、
    合焦空間における第1第2光パルス列間非線形相互作用によってその積分強度に生じた振幅、位相又はその双方の変調分を速度fに基づきその積分強度から検知することによって、撮像結果となる画像を画素単位で取得する信号プロセッサと、
    を備える顕微撮像システム。
  2. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、第1光パルス列をポンプビーム、変調システムにて速度fでの変調が施された第2光パルス列をストークスビーム、誘導ラマン分光を対比機構として用いて検知を行い、それにより得られた積分強度及び速度fに基づき、信号プロセッサがラマン損失を求める顕微撮像システム。
  3. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、第1光パルス列をストークスビーム、変調システムにて速度fで変調されている第2光パルス列をポンプビーム、誘導ラマン分光を対比機構として用いて検知を行い、それにより得られた積分強度及び速度fに基づき、信号プロセッサがラマン利得を求める顕微撮像システム。
  4. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その変調システムで変調される特性が第2光パルス列の振幅である顕微撮像システム。
  5. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その変調システムで変調される特性が第2光パルス列の偏向である顕微撮像システム。
  6. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その変調システムで変調される特性が第2光パルス列の位相乃至タイミングである顕微撮像システム。
  7. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その変調システムで変調される特性が第2光パルス列の周波数である顕微撮像システム。
  8. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その変調システムが第2光パルス列を二次変調又は相互変調する顕微撮像システム。
  9. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その光検知器が、合焦空間への第1及び第2光パルス列入射方向に沿い順行配置されている顕微撮像システム。
  10. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その光検知器が、合焦空間への第1及び第2光パルス列入射方向に沿い遡行配置されている顕微撮像システム。
  11. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、更に、合焦空間からの光を光検知器に届ける集光器を備え、その集光器が合焦用光学系以上の開口率を有する顕微撮像システム。
  12. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、更に、合焦空間からの光を光検知器に届ける集光器を備え、その集光器が非結像性光学系である顕微撮像システム。
  13. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、更に、第1光パルス列を合焦空間に届ける光ファイバ又はその束を備える顕微撮像システム。
  14. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、更に、第1光パルス列を合焦空間から光検知器に届ける光ファイバ又はその束を備える顕微撮像システム。
  15. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、更に、第1及び第2光パルス列を合焦空間に届ける第1光ファイバシステムと、第1光パルス列を合焦空間から光検知器に届ける第2光ファイバシステムと、を備える顕微撮像システム。
  16. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、速度fが1MHz以上である顕微撮像システム。
  17. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その変調システムが、電気−光式又は音響−光式の変調器を有する顕微撮像システム。
  18. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、更に、複数個の画素を有する画像が撮像結果として得られるよう合焦空間及びその中のサンプルを三次元的に相対移動させる走査機構を備える顕微撮像システム。
  19. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、第1光源、第2光源又はその双方が同期励起型の光パラメトリック発振器を有する顕微撮像システム。
  20. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、第1光源、第2光源又はその双方がレーザ光源を有し、そのレーザ光源が電子ロック型のモードロックレーザ例えばチタンサファイアレーザである顕微撮像システム。
  21. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、第1光源、第2光源又はその双方が、広帯域光源に発する光を複数個の小帯域に分けて出射する顕微撮像システム。
  22. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、第1光源、第2光源又はその双方が、光ファイバを使用し光パルス列を発生させ、その光パルス列が、ピコ秒域のパルス幅を有する狭帯域光又はフェムト秒域のパルス幅を有する広帯域光である顕微撮像システム。
  23. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その変調システムが、変調光パラメトリック発振器又は変調チタンサファイアレーザ等の変調モードロックレーザを有する顕微撮像システム。
  24. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その変調システムが、電子ロック型のモードロックレーザ例えばチタンサファイアレーザを有する顕微撮像システム。
  25. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その信号プロセッサが、周波数領域で作動する受動的なフィルタ回路を有する顕微撮像システム。
  26. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その信号プロセッサがロックイン増幅器を有する顕微撮像システム。
  27. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、その信号プロセッサが時間領域解析用ボックスカー検知器を有する顕微撮像システム。
  28. 請求項1記載の顕微撮像システムであって、第1及び第2光パルス列双方のパルス幅が約0.2〜10ピコ秒の範囲内である顕微撮像システム。
  29. その中心周波数がωの第1光パルス列及びその中心周波数がωの第2光パルス列を、共通の合焦空間にて互いに時間的に同期することとなるよう、また両者の間の周波数差が合焦空間内サンプル振動と共鳴する周波数になるよう生成するステップと、
    100kHz以上の速度fで変化するよう第2光パルス列の特性を変調するステップと、
    第1及び第2光パルス列を合焦空間に送り合焦させるステップと、
    合焦空間から順行又は遡行出射された光のうち第2光パルス列の成分を除去し、残った第1光パルス列のほぼ全ての周波数成分に亘る積分強度を検知し、前記積分強度はストークスビーム強度の増大あるいはポンプビーム強度の低下のいずれかを示すものである、ステップと、
    合焦空間における第1第2光パルス列間非線形相互作用によってその積分強度に生じた振幅、位相又はその双方の変調分を速度fに基づきその積分強度から検知することによって、撮像結果となる画像を画素単位で取得するステップと、
    を有する顕微撮像方法。
  30. 請求項29記載の顕微撮像方法であって、第1光パルス列をポンプビーム、変調が施されている第2光パルス列をストークスビーム、誘導ラマン分光を対比機構として用い、変調速度f及び積分強度に基づきラマン損失を求める顕微撮像方法。
  31. 請求項29記載の顕微撮像方法であって、第1光パルス列をストークスビーム、変調が施されている第2光パルス列をポンプビーム、誘導ラマン分光を対比機構として用い、変調速度f及び積分強度に基づきラマン利得を求める顕微撮像方法。
  32. 請求項29記載の顕微撮像方法であって、上記変調ステップで変調される特性が第2光パルス列の振幅である顕微撮像方法。
  33. 請求項29記載の顕微撮像方法であって、上記変調ステップで変調される特性が第2光パルス列の偏向状態である顕微撮像方法。
  34. 請求項29記載の顕微撮像方法であって、上記変調ステップで変調される特性が第2光パルス列の位相乃至タイミングである顕微撮像方法。
  35. 請求項29記載の顕微撮像方法であって、上記変調ステップで変調される特性が第2光パルス列の周波数である顕微撮像方法。
  36. 請求項29記載の顕微撮像方法であって、第1及び第2光パルス列を第1光ファイバシステムを介し合焦空間に届け、第1光パルス列を第2光ファイバシステムを介し合焦空間から検知する顕微撮像方法。
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Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2324343A4 (en) * 2008-07-17 2012-01-25 Indian Inst Scient METHOD FOR DETECTING A VIBRATORY STRUCTURE OF A MOLECULE AND A SYSTEM THEREFOR
WO2010071682A2 (en) * 2008-12-20 2010-06-24 Purdue Research Foundation A multimodal platform for nonlinear optical microscopy and microspectroscopy
US9285575B2 (en) * 2009-01-26 2016-03-15 President And Fellows Of Harvard College Systems and methods for selective detection and imaging in coherent Raman microscopy by spectral excitation shaping
JP5501360B2 (ja) * 2009-06-03 2014-05-21 キヤノン株式会社 光学顕微鏡およびその制御方法
JP5643329B2 (ja) * 2009-11-18 2014-12-17 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア 多重パルスインパルシブ誘導ラマン分光装置および測定方法
US9001321B2 (en) * 2010-02-10 2015-04-07 Osaka University Microscope and observation method
DE102010015964A1 (de) * 2010-03-15 2011-09-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur multimodialen Bildgebung in der nichtlinearen Raman-Mikroskopie
CN102235909A (zh) * 2010-05-07 2011-11-09 承奕科技股份有限公司 显微光谱装置及显微光谱取像装置
WO2011162787A1 (en) * 2010-06-22 2011-12-29 President And Fellows Of Harvard College Systems and methods providing efficient detection of back-scattered illumination in modulation transfer microscopy or micro-spectroscopy
JP5655434B2 (ja) * 2010-08-30 2015-01-21 株式会社ニコン 観察装置及び観察方法
FR2966292B1 (fr) * 2010-10-18 2013-01-18 Centre Nat Rech Scient Methode et dispositif d'emission laser pour l'analyse spectroscopique d'un echantillon
WO2012102833A2 (en) * 2011-01-24 2012-08-02 President & Fellows Of Harvard College Systems and methods for stimulated raman scattering flow-cytometry
WO2012169539A1 (ja) * 2011-06-07 2012-12-13 ナノフォトン株式会社 ラマン顕微鏡、及びラマン分光測定方法
JP6008299B2 (ja) * 2011-09-30 2016-10-19 学校法人東京理科大学 光干渉計、情報取得装置、及び情報取得方法
JP5697584B2 (ja) 2011-11-25 2015-04-08 キヤノン株式会社 誘導ラマン散乱計測装置および誘導ラマン散乱計測方法
JP5831901B2 (ja) * 2011-11-28 2015-12-09 国立大学法人大阪大学 誘導ラマン散乱顕微鏡
EP2790011B1 (en) * 2011-12-05 2017-07-12 Sony Corporation Systems and methods for stimulated Raman scattering spectroscopy
US9634454B1 (en) 2012-01-17 2017-04-25 President And Fellows Of Harvard College Laser illumination systems and methods for dual-excitation wavelength non-linear optical microscopy and micro-spectroscopy systems
US8792156B1 (en) 2012-01-17 2014-07-29 President And Fellows Of Harvard College Laser illumination systems and methods for dual-excitation wavelength non-linear optical microscopy and micro-spectroscopy systems
CN102629066B (zh) * 2012-04-05 2014-04-16 清华大学 相干反斯托克斯拉曼散射显微系统的激光光源装置与产生方法
US9134177B2 (en) 2012-05-03 2015-09-15 Nicholas Djeu Self-referencing fiber-optic Raman probe
WO2013184088A1 (en) * 2012-06-04 2013-12-12 Empire Technology Development Llc Integrated raman spectroscopy detector
FR3003949B1 (fr) * 2013-03-26 2015-05-01 Univ Aix Marseille Dispositif et methode de detection raman stimulee.
US9638638B2 (en) 2013-05-10 2017-05-02 Ludwig-Maximilians-Universität München System and method for stimulated raman spectroscopy
WO2014205007A1 (en) * 2013-06-17 2014-12-24 Invenio Imaging Inc. Methods and systems for coherent raman scattering
WO2014205413A2 (en) * 2013-06-21 2014-12-24 Invenio Imaging Inc. Multi-photon systems and methods
WO2015060921A2 (en) * 2013-08-02 2015-04-30 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser system for standoff detection
DE102013227108A1 (de) * 2013-09-03 2015-03-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Untersuchen einer Probe
CN103487146B (zh) * 2013-09-16 2015-06-10 华南师范大学 一种简便的超宽带受激拉曼光谱显微成像系统
JP6422449B2 (ja) * 2014-01-28 2018-11-14 学校法人 埼玉医科大学 計測装置及び計測方法
DE102014104518B4 (de) * 2014-03-31 2022-02-03 J & M Analytik Ag Multifunktionsmesskopf
CN104122228B (zh) * 2014-07-14 2016-06-15 江苏大学 一种集成光干涉和散射信息分析的显微成像系统及方法
JP5917664B2 (ja) * 2014-11-25 2016-05-18 キヤノン株式会社 誘導ラマン散乱計測装置および誘導ラマン散乱計測方法
WO2017053825A1 (en) 2015-09-25 2017-03-30 The Regents Of The University Of Michigan Biopsy device for coherent raman imaging
JP7085989B2 (ja) * 2015-10-09 2022-06-17 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング Srsイメージングのための動的なロックイン検出帯域幅
JP6062018B1 (ja) * 2015-10-30 2017-01-18 株式会社フジクラ ファイバレーザシステム
US10866189B2 (en) 2015-11-24 2020-12-15 Hitachi, Ltd. Optical measurement apparatus and optical measurement method
DE102015225871B4 (de) 2015-12-18 2017-07-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren der Stimulierten Raman-Mikroskopie und Mikroskop
CN105784674B (zh) * 2016-05-04 2019-02-26 复旦大学 基于双通道正交探测的双色受激拉曼散射成像系统
CA3045720A1 (en) 2016-12-02 2018-06-07 National Research Council Of Canada Optical imaging of mineral species using hyperspectral modulation transfer techniques
JP6841669B2 (ja) * 2017-01-19 2021-03-10 浜松ホトニクス株式会社 観察装置及び観察方法
EP3631390A4 (en) * 2017-05-24 2021-03-03 The Penn State Research Foundation NANOSECOND TRANSITIONAL ABSORPTION SPECTROMETER WITH SHORT PULSE WIDTH REPETITION RATE
CN108964781A (zh) * 2018-08-13 2018-12-07 广州光智科技有限公司 多通道相干拉曼散射光学装置和成像系统
US11971357B2 (en) 2019-05-07 2024-04-30 President And Fellows Of Harvard College In situ measurement of absolute concentrations by normalized Raman imaging
JP7478452B2 (ja) 2020-01-09 2024-05-07 国立大学法人東京農工大学 光検出装置、光検出方法
WO2021177195A1 (ja) 2020-03-02 2021-09-10 国立大学法人東京農工大学 光検出装置、および光検出方法
CN111665232A (zh) * 2020-07-17 2020-09-15 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 受激拉曼超光谱组合探测装置及方法
CN112649415B (zh) * 2020-12-11 2022-04-22 华南理工大学 三光束自同步高速扫频光纤激光拉曼扫描成像系统及方法
CN113484921B (zh) * 2021-09-02 2021-12-24 华中光电技术研究所(中国船舶重工集团公司第七一七研究所) 一种四频双拉曼激光系统及冷原子水平重力梯度测量方法
WO2023097405A1 (en) * 2021-12-03 2023-06-08 National Research Council Of Canada Chirp modulation simulated raman scattering microscopy

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5243983A (en) * 1990-12-14 1993-09-14 Georgia Tech Research Corporation Non-invasive blood glucose measurement system and method using stimulated raman spectroscopy
US6151522A (en) * 1998-03-16 2000-11-21 The Research Foundation Of Cuny Method and system for examining biological materials using low power CW excitation raman spectroscopy
ATE543080T1 (de) * 2000-07-13 2012-02-15 Harvard College System und verfahren für die epidetektions- kohärenz-anti-stokes-raman-streumikroskopie
JP4854878B2 (ja) * 2001-07-03 2012-01-18 オリンパス株式会社 レーザー顕微鏡
US6798507B2 (en) * 2001-07-03 2004-09-28 President And Fellows Of Harvard College System and method for polarization coherent anti-stokes Raman scattering microscopy
US7388668B2 (en) * 2004-06-09 2008-06-17 President & Fellows Of Harvard College Phase sensitive heterodyne coherent anti-Stokes Raman scattering micro-spectroscopy and microscopy
EP1853885A4 (en) * 2005-01-21 2011-10-05 Harvard College TUNABLE OPTICAL PARAMETRIC OSCILLATOR LASER SYSTEM FOR NON-LINEAR VIBRATORY SPECTROSCOPY
US7414729B2 (en) * 2005-10-13 2008-08-19 President And Fellows Of Harvard College System and method for coherent anti-Stokes Raman scattering endoscopy
US7352458B2 (en) * 2005-10-26 2008-04-01 President And Fellows Of Harvard College System and method for high sensitivity vibrational imaging with frequency modulation coherent anti-stokes Raman scattering analyses
WO2007112449A2 (en) * 2006-03-28 2007-10-04 The Regents Of The University Of California Apparatus and method for raman spectroscopy and microscopy with time domain spectral analysis

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