JP5063381B2 - 電子カメラ - Google Patents

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Description

この発明は、電子カメラに関し、特に光学レンズから撮像面までの距離を撮像面で捉えられた被写界像の高周波成分に基づいて調整する、電子カメラに関する。
この種のカメラの一例が、特許文献1に開示されている。この背景技術によれば、フォーカスレンズはまず粗いスキャン間隔で光軸方向に移動する。粗いスキャンによって得られた評価値に基づいてピーク位置が検出ないし予測されると、検出ないし予測されたピーク位置を中心とする詳細スキャンが実行される。フォーカスレンズは、詳細スキャンによって得られた評価値に基づいて合焦位置に配置される。
特開2005−134820号公報[G02B 7/28, 7/36, G03B 13/36, H04N 5/232, H04N 101:00]
しかし、背景技術では、詳細スキャンの範囲の広さが評価値の特性に応じて変更されることはなく、この結果、合焦調整に要する時間の短縮化に限界がある。
それゆえに、この発明の主たる目的は、短時間かつ高精度の合焦動作を実現することができる、電子カメラを提供することである。
この発明に従う電子カメラ(10:実施例で相当する参照符号。以下同じ)は、光学レンズ(12)を経た被写の光学像が照射される撮像面を有し、撮像面に結像した被写像に対応する画像信号を繰り返し出力する撮像手段(16)、光学レンズから撮像面までの距離を第1量ずつ変更しながら撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第1検出手段(S25~S35)、撮像面までの距離を前記第1量よりも小さい第2量ずつ変更しながら撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第2検出手段(S65~S73)、第1検出段によって検出された複数の高周波成分のばらつきに応じて第2検出手段による検出処理を行う距離範囲を設定する範囲設定手段(S37~S59)、およびばらつきが閾値以下であった場合は第1検出手段によって検出された複数の高域周波数成分に基づいて光学レンズから撮像面までの距離を被写体に焦点が合う距離に調整し、前記ばらつきが閾値を上回る場合に範囲設定手段によって設定された距離範囲にしたがって第2検出手段を実行し、第2検出手段によって検出された複数の高周波成分に基づいて前記光学レンズから撮像面までの距離を被写体に焦点が合う距離に調整する調整手段(S61,S75)を備える。
撮像手段は、光学レンズを経た被写の光学像が照射される撮像面を有し、撮像面に結像した被写に対応する画像信号を繰り返し出力する。第1検出手段は、前記光学レンズから前記撮像面までの距離を第1量ずつ変更しながら撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する。
また、第2検出手段は、光学レンズから撮像面までの距離を第1量よりも小さい第2量ずつ変更しながら撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する。範囲設定手段は、第1検出手段の検出処理と並列して第1検出手段によって検出された複数の高域周波数成分のばらつきに応じて、第2検出手段が実行される距離範囲を定義する。
調整手段は、ばらつきが閾値以下であった場合は第1検出手段によって検出された複数の高域周波数成分に基づいて光学レンズから撮像面までの距離を被写体に焦点が合う距離に調整し、ばらつきが閾値を上回る場合に第2検出手段を実行し、該第2検出手段によって検出された複数の高周波成分に基づいて光学レンズから撮像面までの距離を被写体に焦点が合う距離に調整する。
好ましくは、範囲定義手段は、複数の高周波成分の特性を示す近似曲線を作成する作成手段(S37)、および作成手段によって作成された近似曲線に対する複数の高周波成分の相違をばらつきとして算出する算出手段(S43~S47)を含む。これによって、ばらつきの程度を客観的に特定することができる。
なお、第1検出手段および第2検出手段は、合焦点を含む範囲で距離を変更する。
この発明に従う合焦制御プログラムは、光学レンズ(12)を経た被写の光学像が照射される撮像面を有し、撮像面に結像した被写に対応する画像信号を繰り返し出力する撮像手段(16)、前記光学レンズから前記撮像面までの距離を第1量ずつ変更しながら前記撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第1検出手段(S25~S35)、および前記第1検出手段による検出処理の後に前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記第1量よりも小さい第2量ずつ変更しながら前記撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第2検出手段(S65~S73)を備える電子カメラ(10)のプロセサ(30)に、前記第1検出手段による検出処理と並列して、前記第1検出手段によって検出された複数の高域周波数成分のばらつきに応じて前記第2検出手段が実行される距離範囲を定義する範囲定義ステップ(S37~S59)、および、前記ばらつきが閾値以下であった場合は前記第1検出手段によって検出された複数の高域周波数成分に基づいて前記光学レンズから前記撮像面までの距離を被写体に焦点が合う距離に調整し、前記ばらつきが閾値を上回る場合に前記第2検出手段を実行し、該第2検出手段によって検出された複数の高周波成分に基づいて前記光学レンズから前記撮像面までの距離を被写体に焦点が合う距離に調整する調整ステップを実行させるための(S61, S75)を実行させるための、合焦制御プログラムである。
上述と同様、短時間かつ高精度の合焦動作が実現される。
この発明に従う合焦制御方法は、光学レンズ(12)を経た被写界の光学像が照射される撮像面を有し、被写界像を繰り返し出力する撮像手段(16)、および撮像手段から出力された被写界像の高周波成分を検出する検出手段(28)を備える電子カメラ(10)によって実行される合焦制御方法であって、光学レンズから撮像面までの距離を第1量ずつ変更する第1変更ステップ(S33)、第1変更手段の変更処理の後に光学レンズから撮像面までの距離を第1量よりも小さい第2量ずつ変更する第2変更ステップ(S73)、第1変更手段の変更処理と並列して検出手段によって検出された複数の高周波成分のばらつきが小さいほど第2変更手段によって変更される距離範囲を狭める範囲定義ステップ(S37~S59)、および検出手段によって検出された複数の高周波成分に基づいて光学レンズから撮像面までの距離を合焦点に対応する距離に調整する調整ステップ(S61, S75)を備える。
上述と同様、短時間かつ高精度の合焦動作が実現される。
この発明によれば、第1変更手段は第1量ずつ距離を変更し、第2変更手段は第1量よりも小さい第2量ずつ距離を変更する。また、第2変更手段によって変更される距離範囲は、第1変更手段の変更処理と並列して検出された高周波成分のばらつきが小さいほど狭められる。これによって、短時間かつ高精度の合焦動作が実現される。
この発明の上述の目的,その他の目的,特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
図1を参照して、この実施例のディジタルカメラ10は、フォーカスレンズ12および絞りユニット14を含む。これらの部材を経た被写界の光学像は、撮像装置16の撮像面に照射され、光電変換を施される。これによって、被写界像を表す電荷が生成される。
電源が投入されると、CPU30は、スルー画像処理を実行するべく、ドライバ20にプリ露光動作および間引き読み出し動作の繰り返しを命令する。ドライバ20は、SG(Signal Generator)20から周期的に発生する垂直同期信号Vsyncに応答して、撮像面にプリ露光を施し、かつ撮像面で生成された電荷を間引き態様で読み出す。撮像装置16からは、読み出された電荷に基づく低解像度の生画像データが、ラスタ走査態様で周期的に出力される。
信号処理回路22は、撮像装置16から出力された生画像データに白バランス調整,色分離,YUV変換などの処理を施し、これによって作成されたYUV形式の画像データをメモリ制御回路32を通してSDRAM34に書き込む。LCDドライバ36は、SDRAM34に書き込まれた画像データをメモリ制御回路32を通して繰り返し読み出し、読み出された画像データに基づいてLCDモニタ38を駆動する。この結果、被写界のリアルタイム動画像(スルー画像)がモニタ画面に表示される。
図2を参照して、撮像面の中央には測光エリアEAが割り当てられる。輝度評価回路24は、信号処理回路22から出力されたYデータのうち測光エリアEAに属するYデータを、垂直同期信号Vsyncが発生する毎に積分する。積分値つまり輝度評価値は、垂直同期信号Vsyncの発生周期で輝度評価回路24から出力される。CPU30は、輝度評価回路24から出力された輝度評価値に基づいて適正EV値を算出するべく、上述のスルー画像処理と並列してスルー画像用AE処理(簡易AE処理)を繰り返し実行する。算出された適正EV値を定義する絞り量および露光時間は、絞りユニット14およびドライバ18にそれぞれ設定される。この結果、LCDモニタ38に表示されるスルー画像の明るさが適度に調整される。
キー入力装置28上のシャッタボタン28sが半押しされると、輝度評価回路24から出力された輝度評価値に基づいて最適EV値を算出するべく、厳格な記録用AE処理が実行される。算出された最適EV値を定義する絞り量および露光時間は、上述と同様、絞りユニット14およびドライバ18にそれぞれ設定される。
記録用AE処理が完了すると、フォーカス評価回路26の出力に基づくAF処理が実行される。フォーカス評価回路26は、信号処理回路22から出力されたYデータのうち図2に示すフォーカスエリアFAに属するYデータの高周波成分を、垂直同期信号Vsyncが発生する毎に積分する。積分値つまりAF評価値は、垂直同期信号Vsyncの発生周期でフォーカス評価回路26から出力される。
CPU30は、フォーカス評価回路26からAF評価値を取り込み、いわゆる山登り処理によって合焦点を探索する。フォーカスレンズ12は、垂直同期信号Vsyncが発生する毎に光軸方向に段階的に移動し、検出された合焦点に配置される。
シャッタボタン28sが全押しされると、記録処理が実行される。CPU30は、本露光動作および全画素読み出しを1回ずつ実行することをドライバ18に命令する。ドライバ18は、垂直同期信号Vsyncの発生に応答して撮像面に本露光を施し、電荷読み出しエリアで生成された全ての電荷をラスタ走査態様で読み出す。この結果、被写界を表す高解像度の生画像データが撮像装置16から出力される。
出力された生画像データは上述と同様の処理を施され、この結果、YUV形式に従う高解像度の画像データがSDRAM34に確保される。I/F40は、こうしてSDRAM34に格納された高解像度の画像データをメモリ制御回路32を通して読み出し、読み出された画像データをファイル形式で記録媒体42に記録する。なお、スルー画像処理は、高解像度の画像データがSDRAM34に格納された時点で再開される。
AF処理は、以下に述べる要領で実行される。まず、粗調整動作が開始される。フォーカスレンズ12は、予め定義された粗調整範囲の至近側端部に配置され、無限側端部に向けて移動量W1ずつ移動される。フォーカス評価回路26は、移動量W1に相当する距離を隔てた複数のレンズ位置Pi(i:1,2,3,…)の各々で捉えられた被写界像の高周波成分をAF評価値Yhiとして出力する。出力されたAF評価値Yhiは、レンズ位置Piに対応して図3に示すテーブル30tに記述される。
フォーカス評価回路26から今回取り込まれたAF評価値は、前回までに取り込まれたAF評価値以上である場合に、最大AF評価値としてレジスタ30rに登録される。その後に取り込まれたAF評価値が2回連続して最大AF評価値を下回ると、ピークが検出されたとみなされ、これによって粗調整動作が終了する。
次に、テーブル30tに記述された複数のAF評価値に基づく近似曲線が作成される。近似曲線の作成には、たとえば2次関数が用いられる。図4(A)に示す近似曲線C1は、同じ図4(A)に黒丸で示すAF評価値に基づいて作成される。図5(A)に示す近似曲線C2は、同じ図5(A)に黒丸で示すAF評価値に基づいて作成される。図6(A)に示す近似曲線C3は、同じ図6(A)に黒丸で示すAF評価値に基づいて作成される。図7に示す近似曲線C4は、同じ図7に黒丸で示すAF評価値に基づいて作成される。近似曲線が作成されると、ピーク位置が補正される。つまり、近似曲線のピークに対応するレンズ位置が補正後のピーク位置とされる。
ピーク位置の補正が完了すると、テーブル30tに記述された複数のAF評価値Yh1〜Yhmaxのばらつきが検出される(max:AF評価値が検出された最も無限遠側のレンズ位置の識別番号)。具体的には、レンズ位置Piにおける近似曲線のレベルとAF評価値Yhiとの差分の絶対値がΔYhiとして算出され、複数のレンズ位置P1〜Pmaxにそれぞれ対応する複数の差分絶対値ΔYh1〜ΔYhmaxの平均値ΔYaveが“ばらつき”を表すパラメータとして算出される。
算出された平均値ΔYaveは閾値TH1〜TH3の各々と比較され、平均値ΔYaveが閾値TH3を上回る場合に、微調整範囲R1〜R3のいずれか1つが微調整動作のために指定される。なお、閾値TH1〜TH3の間にはTH1>TH2>TH3の関係が成り立ち、微調整範囲R1〜R3の間にはR1>R2>R3の関係が成り立つ。
具体的には、平均値ΔYaveが閾値TH1を上回るとき、微調整範囲R1が指定される。また、平均値ΔYaveが閾値TH1以下でかつ閾値TH2を上回るとき、微調整範囲R2が指定される。さらに、平均値ΔYaveが閾値TH2以下でかつ閾値TH3を上回るとき、微調整範囲R3が指定される。微調整範囲R1〜R3のいずれも、補正後のピーク位置を中央に有する範囲とされる。
したがって、粗調整動作と並列して検出されたAF評価値Yh1〜Yh7が図4(A)に示す要領でばらつく場合、図4(B)に示す微調整範囲R1が指定される。また、粗調整動作と並列して検出されたAF評価値Yh1〜Yh7が図5(A)に示す要領でばらつく場合、図5(B)に示す微調整範囲R2が指定される。さらに、粗調整動作と並列して検出されたAF評価値Yh1〜Yh7が図6(A)に示す要領でばらつく場合、図6(B)に示す微調整範囲R3が指定される。
こうして微調整範囲R1〜R3のいずれかが指定されると、微調整動作が開始される。フォーカスレンズ12は、指定された微調整範囲の至近側端部に配置され、移動量W1よりも小さい移動量W2ずつ無限側端部に向けて移動される。フォーカス評価回路26は、上述と同様、移動量W2に相当する距離を隔てた複数のレンズ位置にそれぞれ対応する複数のAF評価値を検出する。フォーカスレンズ12が指定された微調整範囲の無限遠側端部に達すると、微調整動作と並列して検出された複数のAF評価値の中から、最大AF評価値が検出される。検出された最大AF評価値に対応する位置がピーク位置つまり合焦点とされ、フォーカスレンズ12はこの合焦点に配置される。
したがって、微調整動作と並列して検出されたAF評価値が図4(B)に白丸で示す要領で変化した場合、フォーカスレンズ12は同じ図4(B)に示す合焦点に配置される。また、微調整動作と並列して検出されたAF評価値が図5(B)に白丸で示す要領で変化した場合、フォーカスレンズ12は同じ図5(B)に示す合焦点に配置される。さらに、微調整動作と並列して検出されたAF評価値が図6(B)に白丸で示す要領で変化した場合、フォーカスレンズ12は同じ図6(B)に示す合焦点に配置される。
一方、平均値ΔYaveが閾値TH3以下であれば、上述のような微調整動作は省略される。フォーカスレンズ12は、粗調整動作に基づいて補正されたピーク位置に配置される。粗調整動作と並列して検出されたAF評価値Yh1〜Yh6および近似曲線C4が図7に示す要領で変化し、この結果、平均値ΔYaveが閾値TH3以下となる場合、微調整動作は実行されず、フォーカスレンズ12は、同じ図7に示す補正後のピーク位置に配置される。
CPU30は、図8〜図11に示す撮像タスクに従う処理を実行する。この撮像タスクに対応する制御プログラムは、フラッシュメモリ44に記憶される。
まずステップS1でスルー画像処理を実行する。この結果、被写界を表すスルー画像がLCDモニタ38から出力される。ステップS3ではシャッタボタン28sが半押しされたか否かを判別し、判別結果がNOである限りステップS5のスルー画像用AE処理を繰り返す。この結果、スルー画像の明るさが適度に調整される。シャッタボタン28sが半押しされると、ステップS3で記録用AE処理を実行し、ステップS7でAF処理を実行する。ステップS7の処理によってスルー画像の明るさが最適値に調整され、ステップS9の処理によってフォーカスレンズ12が合焦点に配置される。
ステップS11ではシャッタボタン28sが全押しされたか否かを判別し、ステップS13ではシャッタボタン28sの操作が解除されたか否かを判別する。ステップS11でYESであればステップS15の記録処理を経てステップS1に戻る。ステップS13でYESであればそのままステップS3に戻る。
ステップS7のAF処理は、図9〜図11に示すサブルーチンに従って実行される。まずステップS21で、フォーカスレンズ12を粗調整範囲の至近側端部に配置する。ステップS23では変数iを“1”に設定し、ステップS25ではフォーカスレンズ12の移動量を“W1”に設定する。
垂直同期信号Vsyncが発生するとステップS27でYESと判断し、ステップS29でフォーカス評価回路26からAF評価値Yhiを取り込む。取り込まれたAF評価値Yhiは、レンズ位置Piに関連付けて図3に示すテーブル30tに記述される。ステップS31では、ピークが検出されたか否かをステップS29で取り込まれたAF評価値Yhiに基づいて判別する。ここでNOであればステップS33に進み、フォーカスレンズ12を移動量“W1”だけ光軸方向に移動させる。その後、ステップS35で変数iをインクリメントし、ステップS27に戻る。
ステップS31でYESと判断されるとステップS37に進み、テーブル30tに記述された複数のAF評価値Yh1〜Yhmaxに基づいて近似曲線を作成する。ステップS39では、ステップS37で作成された近似曲線のピークに対応するレンズ位置にピーク位置を補正する。
ピーク位置の補正が完了すると、ステップS41で変数iを再度“1”に設定する。ステップS43では、ステップS37で作成された近似曲線を参照して差分絶対値ΔYhiを算出する。算出された差分絶対値ΔYhiは、レンズ位置Piに関連付けて図3に示すテーブル30tに記述される。ステップS45では変数iが最大値maxを上回るか否かを判別し、NOであればステップS43に戻る一方、YESであればステップS47に進む。
ステップS47では、テーブル30tに記述された差分絶対値ΔYh1〜ΔYhmaxの平均値をΔYaveとして算出する。算出された平均値ΔYaveは、近似曲線に対するAF評価値Yh1〜Yhmaxのばらつきを示す。ステップS49では平均値ΔYaveが閾値TH1を上回るか否かを判別し、ステップS51では平均値ΔYaveが閾値TH2を上回るか否かを判別し、ステップS53では平均値ΔYaveが閾値TH3を上回るか否かを判別する。
平均値ΔYaveが閾値TH3未満であれば、ステップS53からステップS61に進み、ステップS39で補正されたピーク位置にフォーカスレンズ12を配置する。ステップS61の処理が完了すると、上階層のルーチンに復帰する。
平均値ΔYaveが閾値TH1を上回るときは、ステップS49でYESと判断し、ステップS55で微調整範囲R1を指定する。平均値ΔYaveが閾値TH1以下でかつ閾値TH2を上回るときは、ステップS51でYESと判断し、ステップS57で微調整範囲R2を指定する。平均値ΔYaveが閾値TH2以下でかつ閾値TH3を上回るときは、ステップS53でYESと判断し、ステップS59で微調整範囲R3を指定する。微調整範囲R1〜R3のいずれも、ステップS39で補正されたピーク位置を中央に有する範囲とされる。
ステップS55〜S59の処理が完了するとステップS63に進み、指定された微調整範囲の至近側端部にフォーカスレンズ12を配置する。続くステップS65では、フォーカスレンズ12の移動量を“W2”に設定する。垂直同期信号Vsyncが発生するとステップS67でYESと判断し、ステップS69でフォーカス評価回路26からAF評価値Yhiを取り込む。ステップS71では、フォーカスレンズ12が微調整範囲の無限側端部に達したか否かを判別する。ここでNOであればステップS73でフォーカスレンズ12を移動量“W2”だけ光軸方向に移動させ、その後にステップS67に戻る。ステップS71でYESであればステップS75に進み、ステップS69で取り込まれた複数のAF評価値のうち最大AF評価値に対応する位置つまりピーク位置にフォーカスレンズ12を配置する。ステップS75の処理が完了すると、上階層のルーチンに復帰する。
以上の説明から分かるように、撮像装置16は、フォーカスレンズ12を経た被写界の光学像が照射される撮像面を有し、被写界像を表す生画像データを繰り返し出力する。撮像装置12から出力された生画像データの高周波成分に相当するAF評価値は、AF評価回路26によって検出される。フォーカスレンズ12から撮像面までの距離は、CPU30によって移動量W1(=第1量)ずつ変更される(S33)。フォーカスレンズ12から撮像面までの距離はまた、移動量W1に従う変更処理の後に、CPU30によって移動量W2(=第2量)ずつ変更される(S73)。ここで、移動量W2は移動量W1よりも小さい。CPU30は、移動量W1に従う変更処理と並列してAF評価回路26によって検出された複数のAF評価値のばらつきが小さいほど、移動量W2に従って変更される距離範囲を狭める(S37~S59)。CPU30は、AF評価回路26によって検出された複数のAF評価値に基づいて、フォーカスレンズ12から撮像面までの距離を合焦点に対応する距離に調整する(S61, S75)。
このように、CPU30は、フォーカスレンズ2から撮像面までの距離を、まず移動量W1ずつ変更し、次に移動量W2ずつ変更する。また、移動量W2に従って変更される距離範囲は、移動量W1に従う変更処理と並列して検出されたAF評価値のばらつきが小さいほど狭められる。これによって、合焦点を短時間かつ高精度に特定することができる。
なお、この実施例では、AF処理の際にフォーカスレンズ12を光軸方向に移動させるようにしているが、フォーカスレンズ12の代わりに或いはフォーカスレンズ12とともに、撮像面を光軸方向に移動させるようにしてよい。また、この実施例では、差分絶対値ΔYh1〜Yhmaxの平均値をAF評価値Yh1〜Yhmaxのばらつきを表すパラメータとするようにしているが、差分絶対値ΔYh1〜Yhmaxのうち最大の差分絶対値をAF評価値Yh1〜Yhmaxのばらつきを表すパラメータとするようにしてもよい。
この発明の一実施例の構成を示すブロック図である。 測光エリアおよびフォーカスエリアの割り当て状態の一例を示す図解図である。 図1実施例に適用されるテーブルの一例を示す図解図である。 (A)は粗調整動作の一例を示す図解図であり、(B)は微調整動作の一例を示す図解図である。 (A)は粗調整動作の他の一例を示す図解図であり、(B)は微調整動作の他の一例を示す図解図である。 (A)は粗調整動作のその他の一例を示す図解図であり、(B)は微調整動作のその他の一例を示す図解図である。 粗調整動作のさらにその他の一例を示す図解図である。 図1実施例に適用されるCPUの動作の一部を示すフロー図である。 図1実施例に適用されるCPUの動作の他の一部を示すフロー図である。 図1実施例に適用されるCPUの動作のその他の一部を示すフロー図である。 図1実施例に適用されるCPUの動作のさらにその他の一部を示すフロー図である。
符号の説明
10 …ディジタルカメラ
12 …フォーカスレンズ
16 …撮像装置
26 …フォーカス評価回路
30 …CPU
44 …フラッシュメモリ

Claims (5)

  1. 光学レンズを経た被写の光学像が照射される撮像面を有し、該撮像面に結像した被写像に対応する画像信号を繰り返し出力する撮像手段、
    前記光学レンズから前記撮像面までの距離を第1量ずつ変更しながら前記撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第1検出手段、
    前記撮像面までの距離を前記第1量よりも小さい第2量ずつ変更しながら前記撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第2検出手段、
    前記第1検出段によって検出された複数の高周波成分のばらつきに応じて前記第2検出手段による検出処理を行う距離範囲を設定する範囲設定手段、および
    前記ばらつきが閾値以下であった場合は前記第1検出手段によって検出された複数の高域周波数成分に基づいて前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記被写体に焦点が合う距離に調整し、前記ばらつきが閾値を上回る場合に前記範囲設定手段によって設定された距離範囲に渡って前記第2検出手段による検出処理を行い、該第2検出手段によって検出された複数の高周波成分に基づいて前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記被写体に焦点が合う距離に調整する調整手段を備える、電子カメラ。
  2. 前記範囲設定手段は、前記複数の高周波成分の特性を示す近似曲線を作成する作成手段、および前記作成手段によって作成された近似曲線に対する前記複数の高周波成分の相違を前記ばらつきとして算出する算出手段を含む、請求項1記載の電子カメラ。
  3. 前記第1検出手段および前記第2検出手段は前記合焦点を含む範囲で実行される、請求項1ないし2のいずれかに記載の電子カメラ。
  4. 光学レンズを経た被写の光学像が照射される撮像面を有し、該撮像面に結像した被写に対応する画像信号を繰り返し出力する撮像手段、前記光学レンズから前記撮像面までの距離を第1量ずつ変更しながら前記撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第1検出手段、および前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記第1量よりも小さい第2量ずつ変更しながら前記撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第2検出手段を備える電子カメラのプロセサに、
    前記第1検出手段による検出理によって検出された複数の高周波成分のばらつきに応じて前記第2検出手段による検出処理を行う距離範囲を設定する範囲設定ステップ、および
    前記ばらつきが閾値以下であった場合は前記第1検出手段によって検出された複数の高域周波数成分に基づいて前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記被写体に焦点が合う距離に調整し、前記ばらつきが閾値を上回る場合に前記範囲設定ステップによって設定された距離範囲に渡って前記第2検出手段による検出処理を実行し、該第2検出手段によって検出された複数の高周波成分に基づいて前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記被写体に焦点が合う距離に調整する調整ステップを実行させるための、合焦制御プログラム。
  5. 光学レンズを経た被写の光学像が照射される撮像面を有し、該撮像面に結像した被写に対応する画像信号を繰り返し出力する撮像手段、前記光学レンズから前記撮像面までの距離を第1量ずつ変更しながら前記撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第1検出手段、および前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記第1量よりも小さい第2量ずつ変更しながら前記撮像手段から出力された画像信号の高域周波数成分を検出する第2検出手段を備える電子カメラによって実行される合焦制御方法であって、
    前記第1検出手段による検出理によって検出された複数の高周波成分のばらつきに応じて前記第2検出手段による検出処理を行う距離範囲を設定する範囲設定ステップ、および
    前記ばらつきが閾値以下であった場合は前記第1検出手段によって検出された複数の高域周波数成分に基づいて前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記被写体に焦点が合う距離に調整し、前記ばらつきが閾値を上回る場合に前記範囲設定ステップによって設定された距離範囲に渡って前記第2検出手段による検出処理を行い、該第2検出手段によって検出された複数の高周波成分に基づいて前記光学レンズから前記撮像面までの距離を前記被写体に焦点が合う距離に調整する調整ステップを備える、合焦制御方法。
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