JP5044287B2 - 電流制限回路および内視鏡装置 - Google Patents

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Description

本発明は、後段の回路へ出力される負荷電流量を制限する電流制限回路に関する。また、本発明はこの電流制限回路を備えた内視鏡装置にも関する。
プラントやビルのパイプのメンテナンス、ジェトエンジンの内部の検査、ボイラの内部の検査等を行うための工業用内視鏡が広く用いられている。また、LED等の発光素子やレンズを内蔵した光学アダプタを細長の挿入部の先端に着脱可能な工業用内視鏡も用いられている(例えば特許文献1参照)。
このような工業用内視鏡を、可燃性の気体または粉塵がある雰囲気中で使用する場合には、装置の構造を防爆構造とすることが好ましい。装置には、LEDやモータ、撮像素子など、電力を供給して駆動する部位が存在する。これらの部位もしくは電力供給用の信号線が、外部から衝撃を受けたり他の機器へ挟み込まれたりするなどの要因で故障することが想定される。このとき、故障部で電力供給用の信号線がショートして火花が点火したり、さらに温度上昇などの要因で爆発を誘発したりする危険性がある。このような爆発の危険を回避する設計を一般に防爆構造設計と呼ぶ。
非特許文献1に示されるように、防爆構造の設計には幾つかの方法がある。内視鏡の挿入部のように細く軟性を有する構造に対応する設計方法としては、本質安全防爆構造設計が想定される。これは、周囲が可燃性のガス等の危険領域にさらされる装置部分と、そうでは無い安全な領域に設置される装置部分との間に、エネルギーを制限するためのバリア回路を設ける方法である。バリア回路には、ツエナーダイオード等により電圧を制限する回路と、抵抗あるいは半導体回路を用いて電流を制限する回路とが含まれる。この方法の場合、前述した故障が発生しても、バリア回路部分で電圧や電流が制限されるため、爆発を回避することができる。
また、例えば前述したように照明用のLEDが搭載された光学アダプタを取り付けたり取り外したりする場合に、内視鏡装置のアース部分と導通用の端子が意図せず接触することがある。図7は、このような異常が発生する様子を示している。電源7や電流制限回路8を備えたメインユニット1に挿入部3が接続されており、挿入部3の先端にはLED9を備えた光学アダプタを接続することが可能となっている。
何らかの理由により、挿入部3の先端における電源供給ラインの端子またはLED9の端子が挿入部3の外装を介してアースに接触すると、過大な異常電流が流れる(図7の電流A,B)。この場合にも、LED9を駆動するラインに電流制限回路8を入れることは有効である。また、LEDに限らず導通部を持ち、意図しない接地がある装置の場合にも同様のことが言える。
図8は従来の電流制限回路8の構成を示している。この電流制限回路8は例えば非特許文献2に開示されている。正常動作時にはトランジスタ24,25のうち、トランジスタ24のみがONとなり、抵抗23を通る経路で電流が流れる。一方、異常電流が流れた場合、異常電流によって抵抗23に発生する電圧がトランジスタ25のベース・エミッタ間電圧Vbeを超えるため、ベース電流が流れ、トランジスタ25がONとなる。このため、トランジスタ24のベース電圧が低下し、電流が制限される。
電流制限回路8が動作することによって、機器を安全な状態に保ち、回路や素子を保護することは可能である。しかし、電流制限回路8がONとなっている状態は、あくまで異常を想定したものであるため、その状態が継続することは機器への負担を強いることになり好ましくない。また、例えば内視鏡のユーザが、機器に異常が発生していることを判らずに使用し、予期せぬ第2の事故が発生しないとも限らない。
もしも、電流制限回路がONとなっていることを外部の回路から検出できれば、その検出結果に応じて、内視鏡の観察画面上に警告メッセージを表示したり、装置の電源を強制的にOFFにしたりするなどの処理を行い、異常な状態が継続することを回避することができる。例えば特許文献2には、電流制限回路を有する機器への適用例では無いものの、挿入部を湾曲させるモータに過剰な電流が発生していないかどうかを検知して、異常時にモータの駆動を停止することにより機器への負荷を抑える技術が記載されている。
特開2005−66356号公報 特開2002−325723号公報 「工場電気設備防爆指針」、独立行政法人 産業安全研究所、NIIS-TR-NO.40(2006) 「本質安全防爆構造電気機器の解説と設計の基本」、社団法人 産業安全技術協会、TIIS-ST-0504
前述した電流制限回路では、負荷電流量を制限する電流制限動作が機能しているかどうかを外部の回路から検出することができない。そこで、図9に示すように、電流制限回路8と同一の信号ライン上に電流検出回路26を設けて、その出力を外部から監視することが考えられる。
負荷の駆動電流が流れるラインに対して直列に抵抗27が挿入されている。この抵抗27の両端の電圧差に応じた電圧が差動増幅回路28の出力端子に現れる。電圧比較回路29は、差動増幅回路28の出力電圧と基準電圧を比較した結果に応じた信号を出力する。CPU12は、この信号に基づいて負荷電流の状態すなわち電流制限動作のON/OFFを検出する。
ところが、この電流検出回路には次のような問題がある。電流検出回路による電流検出動作が機能するためには、負荷電流値が所定のしきい値を超える必要がある。一方、電流制限回路が動作する電流値以上には電流は流れない。したがって、このしきい値を、電流制限回路による電流制限動作が機能するときの電流値よりも小さくする必要がある。ところで、電流検出回路および電流制限回路が動作する電流範囲には、構成される部品のばらつきを見越した範囲を想定する必要がある。前述したように、電流制限動作が機能する電流値の範囲は、電流検出動作が機能する電流値の範囲よりも高電流側に位置し、上記のばらつきを考慮しても、これらの範囲の上下が入れ替わることがあってはならない。つまり、電流検出動作が機能する電流範囲および電流制限動作が機能する電流範囲を合わせた範囲を広く取る必要がある。
一方、当然のことながら、電流制限回路が制限する電流が最大値方向にばらついた場合でも、装置の故障等を回避する必要がある。その上で、前述した電流検出動作と電流制限動作が機能する電流範囲を広く確保しようとすると、通常動作の電流範囲の上限値を低くするように設計が制限される。すなわち、図4の左側に示すように、電流制限動作が機能する制限電流変動領域および電流検出動作が機能する電流検出変動領域が大きくなるため、通常動作領域が制限される。これが影響して、意図した装置の仕様を満足できなくなることがある。例えば、照明用のLEDの場合には光量の低下につながり、挿入部の先端を湾曲させるための湾曲用モータの場合には駆動力の低下につながる。
本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであって、通常動作時の電流を大きくすることができる電流制限回路および内視鏡装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、後段の回路へ出力される負荷電流量を検出する抵抗成分を有する電流検出素子と、前記電流検出素子の両端の電圧差に応じた制御電圧を発生する制御電圧発生素子と、前記制御電圧に応じて前記負荷電流量を制限するFETとを備え、前記制御電圧発生素子から前記FETのゲート端子に印加される前記制御電圧を、負荷電流の状態を検出するための状態検出信号としことを特徴とする電流制限回路である。
また、本発明は、後段の回路へ出力される負荷電流量を検出する抵抗成分を有する電流検出素子と、前記電流検出素子の両端の電圧差に応じた制御電圧を発生する制御電圧発生素子と、前記制御電圧に応じて前記負荷電流量を制限するFETと、前記FETのゲート・ソース間に並列接続されるとともに、前記ゲート・ソース間に印加される過電圧を抑制する保護抵抗を備え、前記FETのソース電圧を基準として生成した閾値電圧と前記制御電圧発生素子から前記FETのゲート端子に印加される前記制御電圧とを比較し、比較結果に応じた信号を、負荷電流の状態を検出するための状態検出信号として出力する信号出力素子と、を備えたことを特徴とする電流制限回路である。
また、本発明は、上記の電流制限回路を備えたことを特徴とする内視鏡装置である。
また、本発明の内視鏡装置は、前記状態検出信号に基づいた報知を行う報知手段をさらに備えたことを特徴とする。
また、本発明の内視鏡装置は、前記状態検出信号に基づいて電源からの駆動電力の供給量を制御する制御手段をさらに備えたことを特徴とする。
本発明によれば、制御電圧に応じて負荷電流量を制限し、また制御電圧に応じた状態検出信号を出力することにより、電流制限動作が機能する制限電流変動領域および電流検出動作が機能する電流検出変動領域を共通化すると共に、それらを合わせた範囲を狭くすることが可能となるので、通常動作時の電流を大きくすることができるという効果が得られる。
以下、図面を参照し、本発明の実施形態を説明する。
(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態を説明する。図1は、本実施形態による内視鏡装置の外観を示している。この内視鏡装置は、メインユニット1と、このメインユニット 1に接続されるスコープユニット2とを備えている。メインユニット1は、内視鏡装置全体の制御を行うユニットであり、システム制御部のほか、電源や画像処理回路等を備えている。スコープユニット2には、可撓性の挿入チューブからなる挿入部3が設けられ、この挿入部3の先端に位置する先端部4にはCCDやCMOS等の撮像素子が設けられている。
撮像素子の前面には通常、被検体からの反射光を集光するためのレンズが設けられている。また、レンズは、焦点距離やF値、視野角等の特性が換えられるように交換式にすることもある。撮像素子からの画像信号はメインユニット1に送られ、表示部6(報知手段)に被検体の撮影画像が表示される。
また、良好な観察画像を得るために、照明が行われる。照明の方法として、メインユニット1内にランプ光源を設け、そのランプ光源から出射された光を光ファイバ等のライトガイドにより先端部4まで導く方法や、先端部4にLEDを設け、そのLEDを発光させる方法等がある。本実施形態では、光学系(レンズ)や照明用のLEDを内蔵した光学アダプタ5が先端部4に着脱可能となっており、LEDを発光させることで照明が行われる。
また、挿入部3の挿入性を高めたり観察視野を広くしたりするために、先端部4を湾曲させる機構も設けられる。挿入部3内に設けられた複数のワイヤを適宜牽引し、任意の方向に湾曲させる。ワイヤの牽引をユーザが手動で行うこともあるが、長尺の挿入部3の場合、必要な牽引力が大きくなるため、メインユニット1もしくはスコープユニット2に設けた湾曲用モータの駆動力を利用することもある。
図2は、メインユニット1内に設けられる電流制限回路8aの回路構成を示している。電流制限回路8aの出力端に接続される負荷抵抗17は、内視鏡装置内にあって負荷電流Ilの供給により駆動するもの全般(具体的にはLEDやモータ等)を示している。
電源7から負荷電流Ilが入力される入力端には、負荷電流Ilを検出するための抵抗14(電流検出素子)と、オフセット電圧Vofを印加するためのツエナーダイオード10(オフセット印加手段)とが接続されている。抵抗14には負荷電流Ilが流れ、その量に比例した電圧降下Vrsが抵抗14の両端に発生する。通常動作において、この電圧降下Vrsが大きすぎると問題となることがあるため、通常、抵抗14には数Ω〜数十Ω程度の小さなものが使用される。また、負荷電流Ilが大電流となることも想定されるため、抵抗14の電力定格は十分に大きなものとする。図2では抵抗14を抵抗器として描いているが、抵抗器に限定されず、抵抗成分を有する素子であればよい。
抵抗14の出力端には、ソース・ドレイン間のインピーダンスが制御可能で負荷電流 Ilを制限するためのFET13(電流制限素子)のソース端子Sが接続されていると共に、そのFET13の制御電圧を生成するトランジスタ15(制御電圧発生素子)のベース端子Bがベース抵抗18を介して接続されている。FET13も、抵抗14と同様に負荷電流Ilに見合った電力定格のものを使用する。
トランジスタ15のコレクタ端子Cには、コレクタ電流を電圧に変換する抵抗16が接続されている。トランジスタ15のコレクタ端子Cの電圧Vcはベース・エミッタ間電圧Vbeに応じて変動し、FET13のゲート端子Gに制御電圧として印加される。通常、抵抗16には抵抗値が数百kΩの大きなものを使用し、トランジスタ15のコレクタ電流が小さくても制御動作が可能なようにする。
一方、ツエナーダイオード10には、ダイオードのバイアス電流を決定するための抵抗11と、トランジスタ15のエミッタ端子Eが接続されている。抵抗11は、ツエナーダイオード10の動作がONとなるために必要なツエナー電流を与えるものである。ツエナー電流は通常数mA前後のオーダである。トランジスタ15のON/OFFが切り替わりツエナー電流が変化してもツエナー電圧が変動しないように、抵抗11の抵抗値が設定される。ツエナーダイオード10は、抵抗14の入力端の電圧にオフセット電圧を印加した電圧(=Vin−Vof)をトランジスタ15のエミッタ端子Eへ出力する。このツエナーダイオード10は、オフセット電圧Vofを印加することにより、異常時の制限電流値のばらつきを小さくし、通常動作時の電流をより大きくするために挿入されているが、なくてもよい。
FET13のゲート端子Gは電流制限回路8aの外部のCPU12(制御手段)に接続されている。ゲート端子Gに印加される制御電圧は、負荷電流Ilの状態(電流制限動作のON/OFF)を検出するための状態検出信号としてCPU12へ出力される。CPU12には表示部6が接続されている。表示部6は、状態検出信号に基づいたCPU12による制御に従って、所定の情報を表示する。
次に、各部の動作を説明しながら、電流制限動作が機能する仕組みを説明する。まず、負荷抵抗17の抵抗値が十分に大きい場合、つまり、負荷電流Ilが小さい場合の通常動作から説明する。電源7から流れ込む電流が小さい場合、抵抗14での電圧降下Vrsは小さくなる。このとき、トランジスタ15のベース・エミッタ間電圧Vbeが、トランジスタ15の動作がONとなる電圧よりも小さければ、コレクタ電流は流れない。通常、トランジスタ15の動作がONとなるVbeの値は0.5V前後である。したがって、抵抗16での電圧降下が無く、FET13のゲート電圧VgがGNDレベルとなるため、ゲート・ソース間電圧Vgsが大きくなり、FET13は完全にONとなる。つまり、FET13のソース・ドレイン間インピーダンスRsdはほぼ0Ωとなり、負荷電流Ilが制限されることは無い。この場合、CPU12に入力される状態検出信号はLレベルとなる。
一方、負荷抵抗17の抵抗値が小さい場合、つまり故障等のために電流制限回路8aの出力端子がGNDなどに接触し、過大な電流が流れようとする場合、電源7から流れ込む電流が大きくなるため、抵抗14での電圧降下Vrsが大きくなる。このとき、抵抗14の両端電圧(Vrs)からツエナーダイオード10の両端電圧(Vof)を差し引いた分の電圧、つまりトランジスタ15のベース・エミッタ間電圧Vbeが、トランジスタ15の動作がONとなる電圧よりも大きくなると、コレクタ電流が流れ出す。その結果、抵抗16での電圧降下によりFET13のゲート電圧Vgが大きくなり、ゲート・ソース間電圧Vgsが小さくなる。このとき、FET13のソース・ドレイン間インピーダンスRsdが大きくなり、負荷電流Ilが増加しないように作用するため、一定の電流量が保持される。
図3は、上記の回路各部の特性量の変化を示している。図3(a)に示すように負荷抵抗17の抵抗値(負荷インピーダンスRl)が小さくなると負荷電流Ilが大きくなり、図3(b)に示すようにトランジスタ15のベース・エミッタ間電圧Vbeもそれに応じて増加する。Vbeの値が0.5Vを上回ると、トランジスタ15のコレクタ電流が流れ出し、図3(c)に示すようにFET13のゲート電圧Vgが大きくなる。その結果、図3(d)に示すようにFET13のソース・ドレイン間インピーダンスRsdが大きくなり、負荷電流Ilが一定の値で制限される。
電流制限動作が機能している場合、FET13のゲート端子Gの電圧Vgは、電源7の出力電圧(Vin)から抵抗14の両端電圧(Vrs)とFET13のゲート・ソース間電圧Vgsを引いた電圧となる。負荷電流Ilが一定に制限されたときのゲート・ソース間電圧Vgsは、そのときのFET13のソース・ドレイン間電圧Vdsと、使用するFET13のVgs−Vds特性とを考慮して見積もることができる。また、ソース・ドレイン間電圧Vdsは、電源電圧、負荷電圧、および抵抗14での電圧降下から見積もることができる。
ゲート・ソース間電圧Vgsの見積もり値を考慮してゲート電圧Vgを算出し、仮にその値がCPU12の入力電圧範囲内に収まっており、かつ入力電圧のHレベルを上回っている場合には、ゲート電圧VgがそのままCPU12に入力されるようにすればよい。また、仮にゲート電圧Vgの値が上記の条件を満たさない場合には、CPU12の入力段に適宜レベル変換回路を挿入すればよい。いずれにしても、電流制限動作が機能している場合にCPU12に入力される状態検出信号はHレベルとなる。
CPU12は、入力された状態検出信号の電圧レベルに応じて適当な処理を行う。例えば、状態検出信号がHレベルであった場合には、異常状態の発生をユーザに報知するため、CPU12は警告メッセージの表示処理を実行し、表示部6に警告メッセージを表示させる。あるいは、CPU12は電源7の出力をOFFにする。
上記では、ユーザに対する報知を行う方法として、表示部6が表示を行うことを挙げているが、これに限らず、警告音を出したり警告ランプを点灯させたりしてもよい。また、電源7による駆動電力の供給を完全に停止してしまうのではなく、異常電流の影響が十分に低下するレベルにまで駆動電力の供給量(駆動電圧)が低下するようにしてもよい。
上述したように本実施形態では、FET13のゲート端子Gに印加されるゲート電圧Vgが、FET13による電流制限動作を制御する制御電圧として使用されると共に、負荷電流Ilの状態を検出する状態検出信号として使用される。これによって、電流制限動作が機能する制限電流変動領域および電流検出動作が機能する電流検出変動領域を共通化し、しかもそれらの領域を合わせた範囲を従来よりも狭くすることが可能となるので、通常動作時の電流を大きくすることができる(図4参照)。すなわち、機器の故障等が発生しないようにしながら、通常動作時に各負荷に供給可能な電流をより高めることができる。したがって、装置全体の各種性能をより高めることができるようになる。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態を説明する。図5は、本実施形態による電流制限回路8bの回路構成を示している。図5に示す電流制限回路8bでは、図2に示した電流制限回路8aと比較して、FET13のゲート・ソース間に過電圧が印加されないように保護用の抵抗19を設けたこと、FET13のソース電圧Vsを基準にしたしきい電圧を生成する抵抗20,21を設けたこと、このしきい電圧とFET13のゲート電圧 Vgを比較するコンパレータ22(信号出力素子)を設けてその出力を状態検出信号として使用していること、の3点が異なる。これらの3点の作用および効果について以下に説明する。
電源電圧(電源7の出力電圧)は、電流制限回路8bを内視鏡装置のどの部位に適用するかによって異なる。例えば、LED9の駆動ラインに電流制限回路8bを適用した場合、電源電圧が30V前後となることもある。一方、湾曲制御用のモータの駆動ラインに電流制限回路8bを適用した場合、電源電圧が10V前後で済むこともある。
前者のように高い電圧が印加される場合、FET13のゲート・ソース間の電圧Vgsがデバイスの電圧定格を超えないようにする必要がある。通常、よく使用されるFETのVgs定格は20V前後である。そこで、抵抗19がFET13のゲート・ソース間に接続されている。これにより、想定される最大のゲート・ソース間電圧Vgsは、FET13のソース電圧Vsを抵抗19と抵抗16の抵抗比で分圧した電圧で制限することができる。
負荷電流Ilが小さく電流制限動作が機能しない、つまりトランジスタ15がOFFとなりドレイン電流が抵抗16に流れ込まない場合に、FET13のゲート・ソース間電圧Vgsが最大となる。例えば、電源電圧が30V、抵抗19と抵抗16の抵抗値の比率が1:1であれば、Vgsは最大でも15Vまでにしかならず、FET13のVgs電圧定格を20Vとすれば、問題なく使用することができる。
一方、抵抗19の接続により、FET13のゲート電圧Vgの電圧範囲がGND基準では無くなるため、図2に示した回路のようにゲート電圧Vgをそのままの状態で状態検出信号としてCPU12に入力することができなくなる。そこで、FET13のソース電圧Vsを基準にして生成したしきい電圧(ソース電圧Vsを抵抗20と抵抗21で分圧した電圧)とゲート電圧Vgを比較するコンパレータ22を設けて、その出力を状態検出信号として使用する。
抵抗20,21の抵抗値は、電流制限動作がONまたはOFFに切り替わる際のゲート電圧Vgの最大・最小範囲内にしきい電圧が収まるように設定される(図6参照)。例えば、Vgの最小値は、前述した通り、トランジスタ15がOFFとなった状態を想定すれば見積もることができる。また、Vgの値が最大になるのは、負荷抵抗17のインピーダンスが最も小さくなる場合であり、次のように見積もることができる。
電源電圧から、負荷電流Ilによって発生する電流検出抵抗14と負荷抵抗17での電圧降下を引いた電圧がFET13のソース・ドレイン間電圧Vdsとなる。一方、FET13のVgs−Vds特性は使用するデバイスにより一意に決定できるため、このときのVgsを算出することができる。基本的には電流制限動作が機能しているときには、Vgsは1V前後の小さな電圧となる。電源電圧からVgsの最小値と抵抗14での電圧降下を差し引けば、Vgの最大電圧を算出することができる。以上のことを考慮して 抵抗20,21の抵抗値を設定しておけばよい。
また、コンパレータ22を使用することで電源電圧の変動に柔軟に対応することができるようになる。図2に示した回路ではCPU12の入力電圧範囲と電源電圧を想定して予め両者のレベルを合わせておく必要があった。そのため、電源電圧の大きな変動は許容できない。一方、図5に示した回路の場合、電源電圧の変動に応じてしきい電圧も変動するため、前述したFET13のゲート電圧Vgの最大・最小の見積もり値としきい電圧値の大小関係が崩れない限り、電源電圧を変化させてもよい。電源電圧を変えて負荷の動作を制御したり、環境変化により電源の出力が変動したりするようなシステムに適用することができる。
上述したように、本実施形態によれば、電源電圧に応じた値となる回路内の所定の位置の電圧とFET13のゲート電圧Vgとの比較結果に応じた信号を、負荷電流Ilの状態を検出するための状態検出信号として出力することによって、第1の実施形態と比較して、電源電圧の変動範囲をより広くすることができる。また、FET13のゲート・ソース間に抵抗19を接続することによって、許容される最大の電源電圧をより高くすることができる。
以上、図面を参照して本発明の実施形態について詳述してきたが、具体的な構成は上記の実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、内視鏡装置に限らず、装置内を流れる電流を制限する必要がある各種の装置に上記の電流制限回路8a,8bを適用することが可能である。
本発明の第1の実施形態による内視鏡装置の外観図である。 本発明の第1の実施形態による内視鏡装置が備える電流制限回路の回路図である。 本発明の第1の実施形態による内視鏡装置が備える電流制限回路の各部の特性量の変化を示す参考図である。 本発明の第1の実施形態による内視鏡装置が備える電流制限回路と従来の電流制限回路の動作領域を示す参考図である。 本発明の第2の実施形態による内視鏡装置が備える電流制限回路の回路図である。 本発明の第2の実施形態による内視鏡装置が備える電流制限回路の特性量の変化を示す参考図である。 異常電流が流れる原理を示す原理図である。 従来の電流制限回路の回路図である。 電流検出回路の一実施形態の回路図である。
符号の説明
1・・・メインユニット、2・・・スコープユニット、3・・・挿入部、4・・・先端部、5・・・光学アダプタ、6・・・表示部、7・・・電源、8,8a,8b・・・電流制限回路、9・・・LED、10・・・ツエナーダイオード、11,14,16,18,19,20,21,23,27・・・抵抗、12・・・CPU、13・・・FET、15,24,25・・・トランジスタ、17・・・負荷抵抗、22・・・コンパレータ、26・・・電流検出回路、28・・・差動増幅回路、29・・・電圧比較回路

Claims (5)

  1. 後段の回路へ出力される負荷電流量を検出する抵抗成分を有する電流検出素子と、
    前記電流検出素子の両端の電圧差に応じた制御電圧を発生する制御電圧発生素子と、
    前記制御電圧に応じて前記負荷電流量を制限するFETとを備え、
    前記制御電圧発生素子から前記FETのゲート端子に印加される前記制御電圧を、負荷電流の状態を検出するための状態検出信号とし
    ことを特徴とする電流制限回路。
  2. 後段の回路へ出力される負荷電流量を検出する抵抗成分を有する電流検出素子と、
    前記電流検出素子の両端の電圧差に応じた制御電圧を発生する制御電圧発生素子と、
    前記制御電圧に応じて前記負荷電流量を制限するFETと、
    前記FETのゲート・ソース間に並列接続されるとともに、前記ゲート・ソース間に印加される過電圧を抑制する保護抵抗を備え、
    前記FETのソース電圧を基準として生成した閾値電圧と前記制御電圧発生素子から前記FETのゲート端子に印加される前記制御電圧とを比較し、比較結果に応じた信号を、負荷電流の状態を検出するための状態検出信号として出力する信号出力素子と、
    を備えたことを特徴とする電流制限回路。
  3. 請求項1または請求項2に記載の電流制限回路を備えたことを特徴とする内視鏡装置。
  4. 前記状態検出信号に基づいた報知を行う報知手段をさらに備えたことを特徴とする請求
    項3に記載の内視鏡装置。
  5. 前記状態検出信号に基づいて電源からの駆動電力の供給量を制御する制御手段をさらに
    備えたことを特徴とする請求項3または請求項4に記載の内視鏡装置。
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