JP5035017B2 - 発振回路 - Google Patents

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Description

本発明は、発振回路に関する。
半導体チップ(LSI)のパッド数削減、モジュールレイアウト縮小のためには、水晶振動子と半導体チップの接続を1端子にすることが有効である。水晶振動子を使用するためのLSI内蔵の発振回路には、「コルピッツ型」と「インバータ型」の2つのタイプが主に使用されている。
図3は、コルピッツ型水晶発振回路の構成例を示す回路図である。ボード上には、半導体チップ300及び水晶振動子301が搭載される。半導体チップ300は、1個の端子IN、並びにnチャネルMOS電界効果トランジスタ302,303、容量304,305及び抵抗306を有する。コルピッツ型半導体チップ300は、水晶振動子301に対して1端子INで接続されるが、出力波形が正弦波であるため、CMOS論理回路へ接続するためには、バッファ(シュミットトリガ等)が必要となる。このバッファの設計には注意が必要で、デューティ比及びジッタの劣化を引き起こす可能性がある。
図2は、インバータ型水晶発振回路の構成例を示す回路図である。ボード上には、半導体チップ200、水晶振動子201、容量202,203、及び抵抗204が搭載される。半導体チップ200は、2個の端子IN及びOUT、並びにインバータ205を有する。インバータ型半導体チップ200は、出力波形が矩形波であるが、水晶振動子201に対して2端子IN及びOUTで接続するため、レイアウト・ペナルティがあり、半導体チップ200のパッド数が増加してしまい、レイアウト縮小が困難である。
データクロック発振器において、AC出力信号を発生する発振手段であって、所与の動作周波数にて共振するためのタンク回路手段と、発振を持続するため前記タンク回路手段に再生フィードバックを提供する帰還増幅器とを含み、更にバイアス信号を受けるための入力手段と第1のデューティサイクルを有しかつ前記バイアス信号により定められる平均DC値を有する前記AC出力信号を提供するための出力手段とを有する発振手段、前記AC出力信号を増幅するためのバッファ手段であって、前記AC出力信号を受けるため、前記発振手段の出力手段と結合された入力手段を含んでおり、該バッファの入力手段は所与のスイッチングしきい値を有しており、更に前記バッファ手段は前記第1のデューティサイクルと前記AC出力信号の平均DC値と前記所与のスイッチングしきい値とに基づき定められる第2のデューティサイクルを有する発振器出力信号を提供するための出力手段を含んでいるバッファ手段、および前記発振手段の入力手段に結合され、前記バイアス信号を提供するためのバイアス手段であって、前記バッファ手段の装置パラメータの変化を追跡するよう構成されかつ、前記AC出力信号の前記平均DC値が、温度、供給電圧および製造工程の変化に際して前記所定のスイッチングしきい値に追従するように前記バイアス信号を変化させることにより、精密なデューティサイクルを示す発振器出力を提供するバイアス手段、を具備することを特徴とするデータクロック発振器が知られている。
また、エンハンスメント型の電界効果トランジスタを用いたコルピッツ型の水晶発振回路において、電源とゲートの間に逆方向に介挿したダイオードと、電源とトランジスタのゲートとの間に介挿した発振出力の立ち上がり時間を短縮する高抵抗と、を具備したことを特徴とする水晶発振回路が知られている。
特許第2651920号公報 特開平11−186847号公報
本発明の目的は、水晶振動子等のLC共振器に対して1端子で接続可能であり、CMOS論理ゲートで受けられるように矩形波を出力することができる発振回路を提供することである。
本発明の発振回路は、信号を発振するためのLC共振器と、正入力端子が前記LC共振器に接続され、負入力端子が参照電圧ノードに接続され、前記正入力端子と前記負入力端子との間の電圧差を電流に変換して出力端子から出力する電圧電流変換回路と、前記電圧電流変換回路の前記出力端子と前記正入力端子との間に接続される容量と、前記電圧電流変換回路の前記正入力端子と前記負入力端子との間に接続されるインピーダンス素子とを有することを特徴とする。
LC共振器と接続する端子を1端子にすることができるので、半導体チップのパッド数を削減でき、レイアウトを縮小できる。また、出力波形を矩形波にできるため、レベル変換回路が不要で、CMOS論理ゲートに直接接続することができる。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態による発振回路の構成例を示す回路図である。発振回路は、半導体チップ100及び水晶振動子101を有する。半導体チップ100及び水晶振動子101は、ボード上に搭載される。半導体チップ100は、外部端子IN、電圧電流変換回路102、抵抗103及び容量104を有する。水晶振動子101は、LC共振器の一種であり、半導体チップ100の外部端子IN及びグランド電位ノードGND間に接続され、信号を発振する。電圧電流変換回路102は、OTA(Operetional Transconductance Amplifier)であり、正入力端子(+入力端子)が外部端子INに接続され、負入力端子(−入力端子)が参照電圧ノードVrefに接続され、正入力端子及び負入力端子の電圧差を電流に変換して出力端子(+出力端子)から出力する。容量104は、電圧電流変換回路102の出力端子及び正入力端子間に接続される。抵抗(インピーダンス素子)103は、電圧電流変換回路102の正入力端子及び負入力端子間に接続される。出力端子OUTは、電圧電流変換回路102の出力端子に接続され、発振信号を出力する。
電圧電流変換回路102の出力端子の出力電流を、容量104を介して電圧電流変換回路102の正入力端子にフィードバックすることにより、正帰還をかけ、負性抵抗回路を構成する。容量104を介しているため、直流(DC)でラッチすることがなく、高い周波数でのみ正帰還がかかる。
ここで、電圧電流変換回路102の相互コンダクタンスをgmとし、正入力端子の電圧をVpとし、負入力端子の電圧をVnとする。高い周波数でフィードバック容量104はショートとして考えると、正入力端子が負入力端子より高い電圧になった時、正入力端子を介して水晶振動子101にgm×(Vp−Vn)の電流が流れ出る。この特性が負性抵抗回路の特徴である。正帰還をかけた回路は一般的に負性抵抗回路となる。
電圧電流変換回路102の負入力端子には参照電圧ノードVrefから参照電圧を与えて、正入力端子には抵抗等の高インピーダンス素子103を介して参照電圧を与える。DCバイアス点は参照電圧となるが、高インピーダンスのため、電圧が変動し易く、電源投入時などに、電圧電流変換回路102の正入力端子と負入力端子の電圧差が生じて、発振が開始する。
この負性抵抗回路と水晶振動子101を接続して、水晶発振回路を実現する。この構成の半導体チップ100は、水晶振動子101に対して1端子INで接続され、出力端子OUTの出力波形は矩形波となる。
図4は、図1の電圧電流変換回路102の構成例を示す回路図である。電圧電流変換回路102は、nチャネルMOS電界効果トランジスタ401,402及び電流源403,404を有する。nチャネルMOS電界効果トランジスタ401は、ゲートが正入力端子(電圧Vp)に接続され、ドレインが電源電圧ノードVDDに接続され、ソースが電流源403に接続される。nチャネルMOS電界効果トランジスタ402は、ゲートが負入力端子(電圧Vn)に接続され、ドレインが出力端子OUTに接続され、ソースが電流源403に接続される。電流源403は、nチャネルMOS電界効果トランジスタ401及び402のソースとグランド電位ノードGND間に接続される。電流源404は、電源電圧ノードVDD及び出力端子OUT間に接続される。以上のように、電圧電流変換回路102は、nチャネルMOS電界効果トランジスタの差動対401及び402で構成される。電流源403は、差動対401及び402に電流を流すための電流源である。電流源404は、電流源403に対して1/2のDCバイアス電流を流す。
上記の特許文献1(特許第2651920号公報)は、1端子接続のコルピッツ型であり、振幅制限回路とデューティ50%の矩形波を出力するためのバッファを備えており、コルピッツ型発振回路の欠点を解決している。ただし、発振トランジスタのゲートだけでなく、ソースも発振ノードであるため、ゲートのDCバイアス点を1/2×VDD(VDDは電源電圧)とすると、ゲート−ソース間電圧Vgsは約閾値電圧Vthであることから、ソースの電位は1/2×VDD−Vth−Vosc(Voscは発振振幅)となり、これが電流源トランジスタの飽和ドレイン電圧Vdsat以上であることが必要なため、次式のようになり、低電圧化に向かないという問題がある。
1/2×VDD−Vth−Vosc=Vdsat
VDD=2×(Vdsat+Vth+Vosc)
この欠点も解決する回路が、差動対401及び402で負性抵抗回路を構成した本実施形態の発振回路である。差動対401及び402のソースは小信号等価回路では接地点であり、発振ノードではないため、差動対401及び402のソースの電位は1/2×VDD−Vthとなり、この電位が電流源403の飽和ドレイン電圧Vdsat以上であれば良いため、次式のようになり、コルピッツ型発振回路より低電圧化に適している。
VDD=2×(Vdsat+Vth)
本実施形態によれば、現在最も使用されている半導体テクノロジのCMOSを使用しているため、適用範囲が広くなる。また、半導体チップ100が水晶振動子101と接続する端子が1端子INのみであり、半導体チップ100のパッド数を削減し、レイアウト及び外付け回路パターンの縮小ができる。また、本実施形態は、出力端子OUTの出力波形が矩形波であるため、レベル変換回路が不要であり、出力端子OUTにCMOS論理ゲートを直接接続することができる。また、本実施形態は、コルピッツ型発振回路と比べて低電圧での動作が可能である。
(第2の実施形態)
図5は、本発明の第2の実施形態による電圧電流変換回路102(図1)の構成例を示す回路図である。本実施形態は、第1の実施形態に対して、図1の電圧電流変換回路102の内部構成が異なる。以下、本実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。電圧電流変換回路102は、pチャネルMOS電界効果トランジスタ501,502及び電流源503,504を有する。pチャネルMOS電界効果トランジスタ501は、ゲートが正入力端子(電圧Vp)に接続され、ドレインがグランド電位ノードGNDに接続され、ソースが電流源503に接続される。pチャネルMOS電界効果トランジスタ502は、ゲートが負入力端子(電圧Vn)に接続され、ドレインが出力端子OUTに接続され、ソースが電流源503に接続される。電流源503は、pチャネルMOS電界効果トランジスタ501及び502のソースと電源電圧ノードVDD間に接続される。電流源504は、出力端子OUT及びグランド電位ノードGND間に接続される。以上のように、電圧電流変換回路102は、pチャネルMOS電界効果トランジスタの差動対501及び502で構成される。電流源503は、差動対501及び502に電流を流すための電流源である。電流源504は、電流源503に対して1/2のDCバイアス電流を流す。本実施形態は、第1の実施形態と同様の効果を有する。
(第3の実施形態)
図6は、本発明の第3の実施形態による電圧電流変換回路102(図1)の構成例を示す回路図である。本実施形態は、第1の実施形態に対して、図1の電圧電流変換回路102の内部構成が異なる。以下、本実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。電圧電流変換回路102は、nチャネルMOS電界効果トランジスタ401,402、pチャネルMOS電界効果トランジスタ501,502、及び電流源403,503を有する。電流源403及び503の電流値は同じである。
nチャネルMOS電界効果トランジスタ401は、ゲートが正入力端子(電圧Vp)に接続され、ドレインが電源電圧ノードVDDに接続され、ソースが電流源403に接続される。nチャネルMOS電界効果トランジスタ402は、ゲートが負入力端子(電圧Vn)に接続され、ドレインが出力端子OUTに接続され、ソースが電流源403に接続される。電流源403は、nチャネルMOS電界効果トランジスタ401及び402のソースとグランド電位ノードGND間に接続される。
pチャネルMOS電界効果トランジスタ501は、ゲートが正入力端子(電圧Vp)に接続され、ドレインがグランド電位ノードGNDに接続され、ソースが電流源503に接続される。pチャネルMOS電界効果トランジスタ502は、ゲートが負入力端子(電圧Vn)に接続され、ドレインが出力端子OUTに接続され、ソースが電流源503に接続される。電流源503は、pチャネルMOS電界効果トランジスタ501及び502のソースと電源電圧ノードVDD間に接続される。
以上のように、電圧電流変換回路102は、nチャネルMOS電界効果トランジスタの差動対401及び402とpチャネルMOS電界効果トランジスタの差動対501及び502を組み合わせて相補型回路で構成される。2つの差動対の正入力端子同士、+出力端子同士は接続される。参照電圧ノードVrefの電圧は、電源電圧ノードVDDの電圧の1/2であることが最適である。nチャネルMOS電界効果トランジスタの差動対401,402とpチャネルMOS電界効果トランジスタの差動対501,502に流す電流は同じにすることが最適の条件である。
図7は、図6の発振回路の動作波形を示す図である。電源電圧ノードVDDの電源電圧が1.2Vである場合の外部端子IN及び出力端子OUTの電圧を示す。外部端子INの電圧波形は正弦波であり、出力端子OUTの電圧波形が矩形波になっている。本実施形態の発振回路は、出力端子OUTから矩形波の発振信号を出力することができるので、レベル変換回路が不要であり、出力端子OUTにCMOS論理ゲートを直接接続することができる。第1及び第2の実施形態も、同様に、矩形波の発振信号を出力することができる。
(第4の実施形態)
図8は、本発明の第4の実施形態による電圧電流変換回路102(図1)の構成例を示す回路図である。以下、本実施形態が第1〜第3の実施形態と異なる点を説明する。
第1〜第3の実施形態の抵抗(インピーダンス素子)103は、インダクタ801に置き換えてもよい。すなわち、インピーダンス素子(抵抗103又はインダクタ801)が電圧電流変換回路102の正入力端子及び負入力端子間に接続される。
また、第1の実施形態の電流源404は、インダクタ802及び電圧源803の直列接続回路に置き換えてもよい。インダクタ802及び電圧源803の直列回路は、出力端子OUT及びグランド電位ノードGND間に接続される。電圧源803は、電源電圧ノードVDDの1/2の電圧を供給する。同様に、第2の実施形態の電流源504は、インダクタ及び電圧源の直列回路に置き換えてもよい。
また、第1〜第3の実施形態の水晶振動子101は、水晶振動子以外のLC共振器に置き換えてもよい。LC共振器は、半導体チップ100の外部に設けても内部に設けてもよい。
また、第1〜第3の実施形態において、nチャネルMOS電界効果トランジスタ401及び402のサイズが同じであり、pチャネルMOS電界効果トランジスタ501及び502のサイズが同じである。なお、ゲートが正入力端子に接続されるnチャネルMOS電界効果トランジスタ401は、ゲートが負入力端子に接続されるnチャネルMOS電界効果トランジスタ402よりサイズを大きくしてもよい。ゲートが正入力端子に接続されるトランジスタ401に流す電流を、ゲートが負入力端子に接続されるトランジスタ402に流す電流より大きくなるので、負性抵抗値を大きくすることができる。同様に、ゲートが正入力端子に接続されるpチャネルMOS電界効果トランジスタ501は、ゲートが負入力端子に接続されるpチャネルMOS電界効果トランジスタ502よりサイズを大きくしてもよい。
例えば、図4のnチャネルトランジスタ402のサイズをnチャネルトランジスタ401のサイズに対して1/2にする場合、電流源404は、電流源403に対して1/4のDCバイアス電流を流すように設定する。同様に、図5のpチャネルトランジスタ502のサイズをpチャネルトランジスタ501のサイズに対して1/2にする場合、電流源504は、電流源503に対して1/3のDCバイアス電流を流すように設定する。
また、第1〜第3の実施形態のMOS電界効果トランジスタは、MOS電界効果トランジスタ以外の電界効果トランジスタでもよい。
以上のように、第1〜第4の実施形態によれば、現在最も使用されている半導体テクノロジのCMOSを使用しているため、適用範囲が広くなる。また、半導体チップ100がLC共振器(水晶振動子)101と接続する端子が1端子INのみであり、半導体チップ100のパッド数を削減し、レイアウト及び外付け回路パターンの縮小ができる。また、上記実施形態は、出力端子OUTの出力波形が矩形波であるため、レベル変換回路が不要であり、出力端子OUTにCMOS論理ゲートを直接接続することができる。また、上記実施形態は、コルピッツ型発振回路と比べて低電圧での動作が可能である。
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
本発明の実施形態は、例えば以下のように種々の適用が可能である。
(付記1)
信号を発振するためのLC共振器と、
正入力端子が前記LC共振器に接続され、負入力端子が参照電圧ノードに接続され、前記正入力端子と前記負入力端子との間の電圧差を電流に変換して出力端子から出力する電圧電流変換回路と、
前記電圧電流変換回路の前記出力端子と前記正入力端子との間に接続される容量と、
前記電圧電流変換回路の前記正入力端子と前記負入力端子との間に接続されるインピーダンス素子と
を有することを特徴とする発振回路。
(付記2)
前記電圧電流変換回路は、
第1のゲートが前記正入力端子に接続され、第1のドレインが電源電圧ノードに接続される第1のnチャネル電界効果トランジスタと、
第2のゲートが前記負入力端子に接続され、第2のドレインが前記出力端子に接続される第2のnチャネル電界効果トランジスタと、
前記第1のnチャネル電界効果トランジスタの第1のソース及び前記第2のnチャネル電界効果トランジスタの第2のソースと、グランド電位ノード間に接続される第1の電流源とを有することを特徴とする付記1記載の発振回路。
(付記3)
前記電圧電流変換回路は、
第1のゲートが前記正入力端子に接続され、第1のドレインがグランド電位ノードに接続される第1のpチャネル電界効果トランジスタと、
第2のゲートが前記負入力端子に接続され、第2のドレインが前記出力端子に接続される第2のpチャネル電界効果トランジスタと、
前記第1のpチャネル電界効果トランジスタの第1のソース及び第2のpチャネル電界効果トランジスタの第2のソースと、電源電圧ノード間に接続される第1の電流源とを有することを特徴とする付記1記載の発振回路。
(付記4)
前記電圧電流変換回路は、
第1のゲートが前記正入力端子に接続され、第1のドレインが電源電圧ノードに接続される第1のnチャネル電界効果トランジスタと、
第2のゲートが前記負入力端子に接続され、第2のドレインが前記出力端子に接続される第2のnチャネル電界効果トランジスタと、
前記第1のnチャネル電界効果トランジスタの第1のソース及び前記第2のnチャネル電界効果トランジスタの第2のソースと、グランド電位ノード間に接続される第1の電流源と、
第3のゲートが前記正入力端子に接続され、第3のドレインがグランド電位ノードに接続される第1のpチャネル電界効果トランジスタと、
第4のゲートが前記負入力端子に接続され、第4のドレインが前記出力端子に接続される第2のpチャネル電界効果トランジスタと、
前記第1のpチャネル電界効果トランジスタの第3のソース及び前記第2のpチャネル電界効果トランジスタの第4のソースと、電源電圧ノード間に接続される第2の電流源とを有することを特徴とする付記1記載の発振回路。
(付記5)
前記インピーダンス素子は、抵抗又はインダクタであることを特徴とする付記1〜4のいずれか1項に記載の発振回路。
(付記6)
前記参照電圧ノードの電圧は、前記電源電圧ノードの電圧の1/2であることを特徴とする付記4記載の発振回路。
(付記7)
前記第1及び第2の電流源の電流値は同じであることを特徴とする付記4記載の発振回路。
(付記8)
前記LC共振器は、水晶振動子であることを特徴とする付記1〜7のいずれか1項に記載の発振回路。
(付記9)
前記ゲートが前記正入力端子に接続される電界効果トランジスタは、前記ゲートが前記負入力端子に接続される電界効果トランジスタよりサイズが大きいことを特徴とする付記2〜4のいずれか1項に記載の発振回路。
(付記10)
前記電界効果トランジスタは、MOS電界効果トランジスタであることを特徴とする付記2〜4のいずれか1項に記載の発振回路。
本発明の第1の実施形態による発振回路の構成例を示す回路図である。 インバータ型水晶発振回路の構成例を示す回路図である。 コルピッツ型水晶発振回路の構成例を示す回路図である。 図1の電圧電流変換回路の構成例を示す回路図である。 本発明の第2の実施形態による電圧電流変換回路の構成例を示す回路図である。 本発明の第3の実施形態による電圧電流変換回路の構成例を示す回路図である。 図6の発振回路の動作波形を示す図である。 本発明の第4の実施形態による電圧電流変換回路の構成例を示す回路図である。
符号の説明
100 半導体チップ
101 水晶振動子
102 電圧電流変換回路
103 抵抗
104 容量

Claims (4)

  1. 信号を発振するためのLC共振器と、
    正入力端子が前記LC共振器に接続され、負入力端子が参照電圧ノードに接続され、前記正入力端子と前記負入力端子との間の電圧差を電流に変換して出力端子から出力する電圧電流変換回路と、
    前記電圧電流変換回路の前記出力端子と前記正入力端子との間に接続される容量と、
    前記電圧電流変換回路の前記正入力端子と前記負入力端子との間に接続されるインピーダンス素子と
    を有することを特徴とする発振回路。
  2. 前記電圧電流変換回路は、
    第1のゲートが前記正入力端子に接続され、第1のドレインが電源電圧ノードに接続される第1のnチャネル電界効果トランジスタと、
    第2のゲートが前記負入力端子に接続され、第2のドレインが前記出力端子に接続される第2のnチャネル電界効果トランジスタと、
    前記第1のnチャネル電界効果トランジスタの第1のソース及び前記第2のnチャネル電界効果トランジスタの第2のソースと、グランド電位ノード間に接続される第1の電流源とを有することを特徴とする請求項1記載の発振回路。
  3. 前記電圧電流変換回路は、
    第1のゲートが前記正入力端子に接続され、第1のドレインがグランド電位ノードに接続される第1のpチャネル電界効果トランジスタと、
    第2のゲートが前記負入力端子に接続され、第2のドレインが前記出力端子に接続される第2のpチャネル電界効果トランジスタと、
    前記第1のpチャネル電界効果トランジスタの第1のソース及び第2のpチャネル電界効果トランジスタの第2のソースと、電源電圧ノード間に接続される第1の電流源とを有することを特徴とする請求項1記載の発振回路。
  4. 前記電圧電流変換回路は、
    第1のゲートが前記正入力端子に接続され、第1のドレインが電源電圧ノードに接続される第1のnチャネル電界効果トランジスタと、
    第2のゲートが前記負入力端子に接続され、第2のドレインが前記出力端子に接続される第2のnチャネル電界効果トランジスタと、
    前記第1のnチャネル電界効果トランジスタの第1のソース及び前記第2のnチャネル電界効果トランジスタの第2のソースと、グランド電位ノード間に接続される第1の電流源と、
    第3のゲートが前記正入力端子に接続され、第3のドレインがグランド電位ノードに接続される第1のpチャネル電界効果トランジスタと、
    第4のゲートが前記負入力端子に接続され、第4のドレインが前記出力端子に接続される第2のpチャネル電界効果トランジスタと、
    前記第1のpチャネル電界効果トランジスタの第3のソース及び前記第2のpチャネル電界効果トランジスタの第4のソースと、電源電圧ノード間に接続される第2の電流源とを有することを特徴とする請求項1記載の発振回路。
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