JP5024555B2 - ウエハのアライメント方法及び装置 - Google Patents

ウエハのアライメント方法及び装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5024555B2
JP5024555B2 JP2008234930A JP2008234930A JP5024555B2 JP 5024555 B2 JP5024555 B2 JP 5024555B2 JP 2008234930 A JP2008234930 A JP 2008234930A JP 2008234930 A JP2008234930 A JP 2008234930A JP 5024555 B2 JP5024555 B2 JP 5024555B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
data
center
turntable
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008234930A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010067905A (ja
Inventor
英浩 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp filed Critical Omron Corp
Priority to JP2008234930A priority Critical patent/JP5024555B2/ja
Publication of JP2010067905A publication Critical patent/JP2010067905A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5024555B2 publication Critical patent/JP5024555B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

この発明は、その外周にオリフラやノッチ等の位置決め用カット部を有するウエハに対して所定の加工処理を施すために、ウエハの中心を回転台の回転中心に整合させるためのウエハのアライメント方法及び装置に関する。
例えば、レーザマーカによるロット番号のマーキング処理などの加工処理を目的として、それに先だって、ウエハの中心を回転台の回転中心に整合させるために、ウエハのアライメント方法及び装置が従来より知られている。
このウエハのアライメント方法及び装置は、回転台にウエハを置いて回転させ、ウエハの回転中心から外周までの半径を一定の角度毎に測定し、測定結果から、偏差の最大と最小となる角度をそれぞれ求めて基準点とし、それら2つの基準点の半径の最大値と最小値との2点から、幾何学的原理(直径=最大半径+最小半径)に基づいて、ウエハの中心を求め、こうして求められたウエハの中心とウエハの回転中心との間における誤差の方向及び量とを修正するように、回転台に対してウエハの中心を移動させるものである(特許文献1参照)。
特開2003−152055号公報
しかしながら、このような従来のウエハのアライメント方法及び装置にあっては、幾何学的原理(直径=最大半径+最小半径)に基づいてウエハの中心位置を求める原理上、それらの最大半径または最小半径がたまたまオリフラやノッチの影響を受けていると、上述の幾何学的関係が成立しなくなるため、ウエハの中心を正しく求めることができないという問題点があった。
そこで、このように、求められた2点(最大値、最小値)がオリフラやノッチの影響を受けていた場合には、それらの最大値または最小値に相当する回転角度よりも僅かにずらした回転角度におけるデータを使用することによって、幾分でも正確な計測が行えるような代替手法が採用されているが、このような代替手法にあっても、ウエハの中心とウエハの回転中心とを完全に一致させることはなかなか難しく、その基準となる回転角度をずらしては中心位置を探査する処理を何度も繰り返せねばならず、ウエハアライメント処理時間が長大化し、その間にタイムアウトエラーで停止するといった問題点もあった。
この発明は、上述の問題点に着目してなされたものであり、その目的とするところは、その外周にオリフラやノッチなどの位置決め用カット部を有するウエハであっても、ウエハの中心とウエハの回転中心とを正確かつ短時間で整合させることが可能なウエハのアライメント方法及び装置を提供することにある。
この発明のさらに他の目的並びに作用効果については、明細書の以下の記述を参照することにより、当業者であれば容易に理解される筈である。
上述の「発明が解決しようとする課題」は、以下の構成を有するウエハのアライメント方法及び装置によって解決できるものと考えられる。
すなわち、このウエハのアライメント方法及び装置は、その外周にオリフラやノッチなどの位置決め用カット部を有するウエハに対して所定の加工処理を施すために、ウエハの中心を回転台の回転中心に整合させるためのものであって、以下に述べる第1のステップ〜第5のステップを含んで構成される。
第1のステップは、回転台の上に加工処理の対象となるウエハが載置された状態において、回転台を回転させながら、所定の絶対回転角度におけるウエハ外周の半径方向突出量または半径方向後退量を、ウエハの全周に亘って所定角度間隔で計測し、一連の計測値データを取得する。
第2のステップは、取得された一連の計測値データに基づいて、位置決め用カット部の存在する回転角度、及び一連の計測値データの中で半径方向外方または半径方向内方のピーク値の存在する回転角度を探査する。
第3のステップは、探査されたピーク値の存在する回転角度を基準とし、かつ位置決め用カット部の存在する回転角度を回避するように右回り又は左回りを決定した上で、決定された回り方向へと所定角度間隔で3点の計測値データを選択する。
第4のステップは、3点の計測値データの値とウエハ中心との幾何学的関係に基づいて、ウエハの中心と回転台の回転中心との誤差を修正するに必要な移動方向及び移動量を求める。
第5のステップは、移動方向及び移動量に基づいて、回転台に対してウエハを移動させるものである。
このような構成によれば、ウエハの中心と回転台の回転中心との誤差を修正するに必要な移動方向及び移動量の算出は、探査されたピーク値の存在する回転角度を基準とし、かつ位置決め用カット部の存在する回転角度を回避するように右回り又は左回りを決定した上で、決定された回り方向へと所定角度間隔で求められた3点であるから、外周にオリフラやノッチなどの位置決め用カット部の存在するウエハに対しても、それらの位置決め用カット部の影響を全く受けることなく、目的とする移動方向及び移動量を求めることができるから、求められた移動方向及び移動量に基づいてウエハの中心を回転台の回転中心(ウエハの回転中心)に正確かつ短時間で整合させることが可能となる。
一方、このウエハのアライメント方法は、加工対象となるウエハをほぼ水平姿勢で載置するための回転台と、回転台を回転させるための回転台ドライバと、回転台の中心軸を水平面内に置いて、特定方位へと、直線的に移動させるための軸ステージドライバと、回転台に載せられたウエハを保持して昇降するウエハ乗換台と、ウエハ乗換台を作動させるための乗換台ドライバと、回転台の特定方位における周辺に位置して、回転台に載せられたウエハの外周までの距離を計測可能なセンサとを含んでいる。
加えて、このウエハのアライメント装置は、第1の制御手段〜第5の制御手段を含んでいる。
第1の制御手段は、回転台の上に加工処理の対象となるウエハが載置された状態において、回転台を回転台ドライバを介して回転させながら、所定の方位におけるウエハ外周までの距離をセンサを介して、ウエハの全周に亘って所定角度間隔で計測し、一連の計測値データを取得する。
第2の制御手段は、取得された一連の計測値データに基づいて、位置決め用カット部の存在する回転角度、及び一連の計測値データの中で半径方向外方または半径方向内方のピーク値の存在する回転角度を探査する。
第3の制御手段は、探査されたピーク値の存在する回転角度を基準とし、かつ位置決め用カット部の存在する回転角度を回避するように右回り又は左回りを決定した上で、決定された回り方向へと所定角度間隔で3点の計測値データを選択する。
第4の制御手段は、3点の計測値データの値とウエハ中心との幾何学的関係に基づいて、ウエハの中心と回転台の回転中心との誤差を修正するに必要な移動方向及び移動量を求める。
第5の制御手段は、移動方向及び移動量に基づいて、乗換台ドライバを介してウエハを回転台から持ち上げた状態において、中心軸ステージドライバを介して回転台の中心軸を移動させた後、乗換台ドライバを介してウエハを回転台上に下ろさせるものである。
このような構成によれば、先の方法と同様にして、ウエハの中心を回転台の回転中心に正確にかつ短時間で整合させることができることに加え、センサの数も1個で済むと共に、ズレの補正を画像処理で行う場合のように、カメラや画像解析ソフトも不要であるため、この種の装置を低コストに実現することが可能となる。
本発明のウエハのアライメント方法及び装置によれば、ウエハの中心軸を回転台の回転中心に正確かつ短時間で整合させることができる。
以下に、本発明に係るウエハのアライメント方法及び装置の好適な実施の一形態を添付図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下に述べる実施の形態は、本発明の実施形態の一例を示すものに過ぎず、本発明の及ぶ範囲は特許請求の範囲によって規定されることは言うまでもないことである。
本発明方法が適用されたウエハ位置決め装置の構造を模式的に示す説明図が図1に、同装置の電気的構成を示すブロック図が図2に、同装置のソフトウェア構成を示すフローチャートが図3に、中心位置のX軸移動量算出処理の詳細を示すフローチャートが図4にそれぞれ示されている。
図1に示されるように、このウエハ位置決め装置は、回転台1と、回転台1を回転するための回転台ドライバ(後述する)が組み込まれていると共に、回転中心軸を図における前後方向(X軸方向)へと往復移動させることが可能な中心軸ステージドライバ(後述する)が組み込まれた中心軸ステージ2と、回転台1の上に載せられたウエハ6の下面に接して、これを昇降させる機能を有するウエハ乗換台3と、回転台1に載せられて回転するウエハの外形変位を計測可能なセンサ4と、装置全体を統括制御するコントローラ5とを含んで構成される。
図2に示されるように、コントローラ5は、センサ4から入力される計測データに基づいて、図3及び図4に示されるソフトウェアを実行することによって、必要な出力を生成し、これにより乗換台ドライバ(Z軸)31、回転台ドライバ(θ軸)21、及び軸ステージドライバ(X軸)22)を適宜に制御するように構成されている。
図3に示されるように、コントローラ5では所定のソフトウェアを実行することによって、一連の処理(ステップ10〜90)を実行するように構成されている。それらの処理の内容は、次のように構成されている。
すなわち、回転台へウエハを搬送する処理(ステップ10)においては、図示しない搬送機構を制御することによって、ウエハ6を回転台1の上にラフな位置決め精度をもって載置する。このとき、回転台1の回転中心とウエハ6の中心とが完全に一致していることは稀であり、通常、ウエハ搬送機構のハンドリング精度に依存する所定誤差範囲のズレをもって、ウエハ6は回転台1上に載置される。
続くウエハ外周サーチ処理(ステップ20)においては、回転台1の上に加工処理の対象となるウエハ6が載置された状態において、回転台1を回転台ドライバ21を介して回転させながら、所定の方位(X軸方向)におけるウエハ外周までの距離をセンサ(一般には、光学式測長センサで構成される)4を介して、ウエハ6の全周に亘って所定角度間隔で計測し、一連の計測値データを取得する。こうして取得された計測値データは、コントローラ5を構成するコンピュータのメモリ上に格納される。
こうして計測される距離データとウエハ偏心状態との関係を示す説明図が図5〜図9にそれぞれ示されている。それらの図から明らかなように、ここで計測される距離データとは、ウエハの周辺に設定された測定基準線Zと基準方位(0°)におけるウエハ輪郭線との交点Aとの距離ZAのことである。すなわち、図5〜図9にそれぞれ示されるように、距離データ(ZA)=a、距離データ(ZB)=b、距離データ(ZC)=c、距離データ(ZD)=d、距離データ(ZE)=eとなる。
そして、こうして求められた各距離データが、先に説明したように、コントローラ5を構成するコンピュータのメモリに格納される。再び図3に戻って、続いて、中心位置のX軸移動量算出処理(ステップ30)が実行される。ここで、中心位置のX軸移動量とは、図10に示されるように、X軸に沿った、ウエハ中心の回転中心に対する移動量のことである。
本発明の要部である中心位置のX軸移動量算出処理(ステップ30)の詳細が、図4に示されている。同図に示されるように、処理が開始されると、まず、ステップ301においては、オリフラまたはノッチの検出処理が実行される。この処理は、オリフラまたはノッチに相当するウエハ輪郭形状パターンに基づいて、先にメモリ内に格納された一連の計測値データを検索することにより、該当するデータ列が存在するかどうかを検出するものである。
続くステップ302では、先の処理でオリフラまたはノッチが検出されたかどうかの判定が行われ、ここで検出無しの場合には、何らかの異常が生じているものとして、所定のエラー処理への移行が行われる。これに対して、オリフラまたはノッチが検出されれば、ステップ303へと移行して、外周偏差の値に対する判定処理が実行される。ここで、『外周偏差』とは、図10に示されるように、ウエハ中心が回転中心に一致するときに、ウエハの外周が位置する点を外周中心とし、この外周中心と測定点Aとの距離を求めたものである。
ここで、外周偏差の値が予め決められた0相当範囲内と判定されると、X軸の移動量は0にセットされた後、処理は終了する。これに対して、外周偏差の値が0相当範囲外と判定されると、本発明の要部であるところの、3つの基準点に基づくX軸移動量の算出処理が行われる。
まず、ステップ305においては、先に取得された一連の計測値データに基づいて、オリフラやノッチなどの位置決め用カット部の存在する回転角度、及び一連の計測値データの中で半径方向外方または半径方向内方のピーク値の存在する回転角度を探査する。次に、こうして探査されたピーク値の存在する回転角度を基準とし、かつオリフラやノッチといった位置決め用カット部の存在する回転角度を回避するように、右回り又は左回りを決定した上で、決定された回り方向へと所定角度間隔で3点の計測値データを選択する。
点Aで最小距離データ(ZA)が得られたときにおける各測定点(B〜E)と偏心量との関係を示す説明図が図10に示されている。
この例においては、一連の計測値データに基づいて、位置決め用カット部の存在する回転角度及び一連の計測値データの中で、半径方向外方または半径方向内方のピーク値の存在する回転角度として点A(0°)が探査される。また、この例にあっては、探査されたピーク値の存在する回転角度(0°)を基準とし、かつオリフラやノッチなどの位置決め用カット部の存在する回転角度を回避するように、右回りが選択決定された上で、その右回り方向へと所定角度(45°)間隔で、3点(点B(45°)、点C(90°)、点D(135°))が選択される。なお、左回りの場合には、それらの選択される3点は、点B(315°)、点C(270°)、点D(225°)とされる。これらの選択される3点には、ピーク値が存在しないことは勿論のこと、先に検出されたオリフラやノッチの回転角度にあるデータも除かれているため、何れの点の距離データもオリフラやノッチといった位置決め用カット部の影響を受けていない。
再び図4に戻って、続くステップ306においては、外周中心位置の値の算出処理が実行される。この外周中心位置の値の算出処理においては、ピーク角度におけるデータの値と45°におけるデータの値との大小比較が行われ、ピーク角度におけるデータの値の方が、45°におけるデータの値よりも小さい場合には、

外周中心位置の値=(135°データ−90°データ)+45°データ
=(d−c)+b

として、外周中心位置の値が求められ、逆にピーク角度におけるデータの値の方が45°におけるデータの値よりも大きい場合には、

外周中心位置の値=(90°データ−135°データ)−45°データ
=(c−d)−b

として、外周中心位置の値が求められる。
続くステップ307では、先の処理で求められたピーク角度の値と外周中心位置の値とに基づいて、

X軸の移動量=ピーク角度の値−外周中心位置の値

として、X軸の移動量の値が求められる。
なお、ステップ303において、外周偏差の値が、センサ入力値以上と判定された場合には、何らかのセンサ異常またはセンサ取付状態の異常などと判定して、所定のエラー処理へと移行する。
再び図3に戻って、ステップ40においては、こうして求められた移動方向(X軸方向)及び移動量(X軸の移動量)に基づいて、乗換台ドライバ(Z軸)31を介してウエハ6を回転台1から持ち上げた状態において、中心軸ステージドライバ22を介して回転台6の中心軸をX軸方向へと移動させた後、乗換台ドライバ31を介してウエハ6を回転台1に下ろさせることによって、ウエハ中心とウエハ回転中心とが一致するように試みるのである。本来この状態において、ウエハ中心と回転台中心(回転中心)とは一致するはずであるが、予期せぬ何らかの異常があればなおも両者間には幾分のズレが残されることも想定される。
ステップ50においては、再度、ステップ20と同様なウエハ外周サーチ処理を実行することによって、再度一連の距離データを取得し、これをコンピュータのメモリ内に格納する。すなわち、回転台1の上に加工処理の対象となるウエハ6が載置された状態において、回転台1を回転台ドライバ21を介して回転させながら、所定の方位(X軸方向)におけるウエハ外周までの距離をセンサ4を介して、ウエハ6の全周に亘って所定角度間隔で計測し、一連の計測値データを取得するのである。
続くステップ60においては、先に説明した外周偏差の値が誤差精度の範囲内であるかどうかの判定を行う。回転角度と外周データとの関係を示すグラフ(ウエハの中心が中心軸からズレた時のデータ)が図11に、回転角度と外周データとの関係を示すグラフ(ウエハの中心が中心軸と一致した時のデータ)が図12にそれぞれ示されている。
それらのグラフから明らかなように、ウエハの中心が中心軸からズレている時には、外周データの値は大きな振幅を有する正弦波状となる。これに対して、ウエハの中心が中心軸と一致した時には、外周データの値は直線状となる。
図3に戻って、誤差精度の範囲から外れていると判定されれば(ステップ60NO)、先に説明した一連の処理(ステップ30,40,50)を順次に実行しては、誤差精度の判定が繰り返される(ステップ60)。
ここで、誤差精度の範囲に収まれば(ステップ60YES)、公知の手法によって、オリフラ・ノッチの詳細サーチ処理(ステップ70)、オリフラ・ノッチの位置決め処理(ステップ80)、オリフラ・ノッチの基準位置への移動処理(ステップ90)が順次に行われる。
これにより、ウエハ中心を回転中心に一致させた状態において、さらに、オリフラまたはノッチの角度をX軸方向の角度に一致させることによって、ウエハの位置決め処理が完了する。
こうして位置決め処理が完了した状態においては、加工装置側において決められた位置データとその位置データによって制御されるウエハ上の位置乃至角度は正確に一致するから、これに基づき所望の位置や角度に対して、所望の加工処理(例えば、レーザマーカによるロット番号のマーキング処理など)を正確に行うことができるわけである。
本発明に係るウエハのアライメント方法及び装置によれば、2つのピーク値に基づいて中心位置を求めるのではなくて、何れかのピーク値に基づき決定されたオリフラやノッチに影響を受けない3つの点のデータに基づいて中心位置を求めるため、回転中心とウエハ中心との誤差を正確に求め、これに基づき必要な移動量をもって、ウエハ中心を回転中心に正確かつ短時間で整合させることができるから、本方法及び装置を適用したウエハ位置決め装置によれば、ウエハ上へのロット番号のレーザマーキングなどを正確かつ迅速に行うことができる。
ウエハ位置決め装置の構造を模式的に示す説明図である。 ウエハ位置決め装置の電気的構成を示すブロック図である。 ウエハ位置決め装置のソフトウェア構成を示すフローチャートである。 中心位置のX軸移動量算出処理の詳細を示すフローチャートである。 距離データ(ZA)とウエハ偏心状態との関係を示す説明図である。 距離データ(ZB)とウエハ偏心状態との関係を示す説明図である。 距離データ(ZC)とウエハ偏心状態との関係を示す説明図である。 距離データ(ZD)とウエハ偏心状態との関係を示す説明図である。 距離データ(ZE)とウエハ偏心状態との関係を示す説明図である。 点Aで最小距離データ(ZA)が得られたときにおける各測定点(B〜E)と偏心量との関係を示す説明図である。 回転角度と外周データとの関係を示すグラフ(ウエハの中心が中心軸からズレたときのデータ)である。 回転角度と外周データとの関係を示すグラフ(ウエハの中心が中心軸と一致したときのデータ)である。
符号の説明
1 回転台
2 中心軸ステージ
3 ウエハ乗換台
4 センサ
5 コントローラ
6 ウエハ
21 回転台ドライバ(θ軸)
22 軸ステージドライバ(X軸)

Claims (2)

  1. その外周にオリフラやノッチ等の位置決め用カット部を有するウエハに対して所定の加工処理を施すために、前記ウエハの中心を回転台の回転中心に整合させるためのウエハのアライメント方法であって、
    前記回転台の上に前記加工処理の対象となるウエハが載置された状態において、前記回転台を回転させながら、所定の絶対回転角度におけるウエハ外周の半径方向突出量又は半径方向後退量を、ウエハの全周に亘って所定角度間隔で計測し、一連の計測値データを取得する第1のステップと、
    前記取得された一連の計測値データと、予め所定の記憶装置に格納されたオリフラまたはノッチに相当するウエハ輪郭形状パターンに基づくデータ列とを比較し、オリフラまたはノッチがあるかの検出を行う位置決め用カット部検出ステップと、
    前記位置決め用カット部検出ステップにおいて、オリフラまたはノッチが検出された場合には、ウエハ中心と回転中心との距離が予め決められた範囲内であるかを判定するウエハ中心判定ステップと、
    前記ウエハ中心判定ステップにて、ウエハ中心と回転中心とが予め決められた範囲内ではないと判定された場合には、前記取得された一連の計測値データに基づいて、位置決め用カット部の存在する回転角度、及び一連の計測値データの中で半径方向外方又は半径方向内方のピーク値の存在する回転角度を探査する第2のステップと、
    前記探査されたピーク値の存在する回転角度を基準とし、かつ位置決め用カット部の存在する回転角度を回避するように右回り又は左回りを決定した上で、右回りと決定されたときには右回り方向へ45°間隔で3点、左回りと決定されたときには左回り方向へ45°間隔で3点の計測値データを選択する第3のステップと、
    前記ピーク値と、それぞれの回り方向へ45°の点におけるデータ値との大小比較を行い、ピーク値が45°の点におけるデータ値よりも小さい場合には下記式(1)にて、ピーク値が45°の点におけるデータ値よりも大きい場合には下記式(2)にて計算を行って外周中心位置の値を求め、求められた外周中心位置の値に基づいて、前記ウエハの中心と回転台の回転中心との誤差を修正するに必要な移動方向及び移動量を求める第4のステップと、
    前記移動方向及び移動量に基づいて、前記回転台に対して前記ウエハを移動させる第5のステップとを包含する、ことを特徴とするウエハのアライメント方法。

    外周中心位置の値=(135°データ−90°データ)+45°データ・・式(1)
    =(d−c)+b

    外周中心位置の値=(90°データ−135°データ)−45°データ・・式(2)
    =(c−d)−b
  2. 加工対象となるウエハを略水平姿勢で載置するための回転台と、
    前記回転台を回転させるための回転台ドライバと、
    前記回転台の中心軸を水平面内において、特定の方位へと、直線的に移動させるための中心軸ステージドライバと、
    前記回転台に載せられたウエハを保持して昇降するウエハ乗換台と、
    前記ウエハ乗換台を作動させるための乗換台ドライバと、
    前記回転台の前記特定方位における周辺に位置して、前記回転台に載せられたウエハの外周までの距離を計測可能なセンサと、
    前記回転台の上に加工処理の対象となるウエハが載置された状態において、前記回転台を前記回転台ドライバを介して回転させながら、前記特定の方位におけるウエハ外周までの距離を前記センサを介して、ウエハの全周に亘って所定角度間隔で計測し、一連の計測値データを取得する第1の制御手段と、
    前記取得された一連の計測値データと、予め所定の記憶装置に格納されたオリフラまたはノッチに相当するウエハ輪郭形状パターンに基づくデータ列とを比較し、オリフラまたはノッチがあるかの検出を行う位置決め用カット部検出手段と、
    前記位置決め用カット部検出手段において、オリフラまたはノッチが検出された場合には、ウエハ中心と回転中心との距離が予め決められた範囲内であるかを判定するウエハ中心判定手段と、
    前記ウエハ中心判定手段にて、ウエハ中心と回転中心とが予め決められた範囲内ではないと判定された場合には、前記取得された一連の計測値データに基づいて、ウエハの外周に設けられたオリフラやノッチ等の位置決め用カット部の存在する回転角度、及び一連の計測値データの中で半径方向外方又は半径方向内方のピーク値の存在する回転角度を探査する第2の制御手段と、
    前記探査されたピーク値の存在する回転角度を基準とし、かつ位置決め用カット部の存在する回転角度を回避するように右回り又は左回りを決定した上で、右回りと決定されたときには右回り方向へ45°間隔で3点、左回りと決定されたときには左回り方向へ45°間隔で3点の計測値データを選択する第3の制御手段と、
    前記ピーク値と、それぞれの回り方向へ45°の点におけるデータ値との大小比較を行い、ピーク値が45°の点におけるデータ値よりも小さい場合には下記式(1)にて、ピーク値が45°の点におけるデータ値よりも大きい場合には下記式(2)にて計算を行って外周中心位置の値を求め、求められた外周中心位置の値に基づいて、前記ウエハの中心と回転台の回転中心との誤差を修正するに必要な移動方向及び移動量を求める第4の制御手段と、
    前記移動方向及び移動量に基づいて、前記乗換台ドライバを介して前記ウエハを回転台から持ち上げた状態において、前記中心軸ステージドライバを介して前記回転台の中心軸を移動させたのち、前記乗換台ドライバを介して前記ウエハを回転台上に下ろさせる第5の制御手段とを包含する、ことを特徴とするウエハのアライメント装置。

    外周中心位置の値=(135°データ−90°データ)+45°データ・・式(1)
    =(d−c)+b

    外周中心位置の値=(90°データ−135°データ)−45°データ・・式(2)
    =(c−d)−b
JP2008234930A 2008-09-12 2008-09-12 ウエハのアライメント方法及び装置 Active JP5024555B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008234930A JP5024555B2 (ja) 2008-09-12 2008-09-12 ウエハのアライメント方法及び装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008234930A JP5024555B2 (ja) 2008-09-12 2008-09-12 ウエハのアライメント方法及び装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010067905A JP2010067905A (ja) 2010-03-25
JP5024555B2 true JP5024555B2 (ja) 2012-09-12

Family

ID=42193206

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008234930A Active JP5024555B2 (ja) 2008-09-12 2008-09-12 ウエハのアライメント方法及び装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5024555B2 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101237056B1 (ko) 2010-05-04 2013-02-25 한미반도체 주식회사 반도체 패키지 집합체 정렬방법
KR101414719B1 (ko) 2010-07-12 2014-08-07 한미반도체 주식회사 반도체 패키지 집합체 정렬방법
JP6313030B2 (ja) * 2013-12-02 2018-04-18 株式会社ダイヘン ウエハ情報処理装置
US9886029B2 (en) 2013-12-02 2018-02-06 Daihen Corporation Workpiece processing apparatus and workpiece transfer system
KR101911511B1 (ko) 2017-06-13 2018-10-24 팸텍주식회사 웨이퍼 얼라인 방법
JP7446714B2 (ja) 2019-02-01 2024-03-11 株式会社荏原製作所 基板処理装置、および基板処理方法
CN110729226B (zh) * 2019-09-06 2021-11-19 福建省福联集成电路有限公司 一种晶圆圆心校准的方法和装置
CN113251929B (zh) * 2021-06-28 2021-10-29 深圳中科飞测科技股份有限公司 检测设备及检测方法、检测系统及存储介质
CN114975154B (zh) * 2022-05-31 2024-07-23 北京北方华创微电子装备有限公司 一种晶圆偏心的检测方法
CN116130397B (zh) * 2023-04-04 2023-06-27 无锡卓海科技股份有限公司 支持偏转定位的晶圆预定位方法及装置
CN117153755B (zh) * 2023-10-26 2024-02-09 迈为技术(珠海)有限公司 一种晶圆对中方法、晶圆洗边方法以及晶圆对中机构

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3223584B2 (ja) * 1992-06-10 2001-10-29 株式会社ダイヘン 半導体ウエハのセンタ合せ装置及び方法
JPH10242250A (ja) * 1997-02-26 1998-09-11 Fujitsu Ltd ウェハ位置検出方法、アライメント装置、及び、半導体処理装置
JP3295915B2 (ja) * 1997-08-28 2002-06-24 株式会社 日立インダストリイズ 半導体ウエファの位置決め方法とその装置
JP2002043394A (ja) * 2000-07-19 2002-02-08 Tokyo Electron Ltd 位置ずれ検出装置及び処理システム
JP2002246444A (ja) * 2001-02-20 2002-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd ウエハの位置検出方法およびウエハの位置検出装置
JP4226241B2 (ja) * 2001-11-14 2009-02-18 ローツェ株式会社 ウエハの位置決め方法、位置決め装置並びに処理システム
JP4059690B2 (ja) * 2002-02-28 2008-03-12 オリンパス株式会社 ウエハ芯出し装置及び方法並びにプログラムとウエハ搬送装置、検査装置
JP4334917B2 (ja) * 2002-06-04 2009-09-30 オリンパス株式会社 アライメント装置
JP2007220952A (ja) * 2006-02-17 2007-08-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板位置決め方法、基板位置決め装置および基板処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010067905A (ja) 2010-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5024555B2 (ja) ウエハのアライメント方法及び装置
US7636646B2 (en) Roundness measuring device, method and program for measuring roundness
JP6149337B1 (ja) 表面形状測定装置
EP1992910A2 (en) Roundness measuring device, method and program for measuring roundness
JP6657552B2 (ja) 平面度測定方法
JP2017161252A (ja) 表面形状測定方法及び表面形状測定装置
CN112539714B (zh) 一种偏心检测方法、检测方法、处理方法及检测设备
KR102213031B1 (ko) 측정 테이블 상의 마스크 홀더의 위치를 검출하기 위한 방법
TW201916238A (zh) 基板搬送裝置及求出基板搬送機器人與基板載置部之位置關係之方法
JP4289961B2 (ja) 位置決め装置
JP6234091B2 (ja) ロボット装置及び教示点設定方法
CN106340482B (zh) 基于晶圆边角和缺口定位的自动校正定标方法
JP2002246444A (ja) ウエハの位置検出方法およびウエハの位置検出装置
JP6743351B2 (ja) 真円度測定機の心ずれ量算出方法及び真円度測定機
JP2010048731A (ja) 断面形状の測定装置と測定方法
JP2019144163A (ja) 曲率半径計測装置および曲率半径計測方法
CN104979257B (zh) 用于无图案硅片测量的定位方法
JP2558484B2 (ja) ウエハの位置決め装置
JP6893850B2 (ja) 転がり軸受直角度測定装置および転がり軸受の直角度測定方法
CN110459488B (zh) 一种智能测距的晶圆寻边装置和方法
JP2000208590A (ja) ウエハの位置検出方法および位置検出装置
JPS6130681B2 (ja)
JP6846673B2 (ja) 表面形状測定装置の角度補正方法及び角度補正装置
CN111376106B (zh) 机床和工具库的原点检测方法
JP2001230303A (ja) 半導体ウエハのセンタ合せ方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120412

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120523

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120605

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150629

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5024555

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250