JP5015714B2 - 画素回路 - Google Patents

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Description

本発明は、有機EL素子を駆動する画素回路に関する。
従来より、薄型表示装置として、液晶表示装置が広く普及している。しかし、この液晶表示装置は、バックライトからの光を液晶によって制御し表示を行う。このため、完全な黒レベルを表示することが難しく、コントラストを十分高くすることが難しい。
一方、自発光型の有機ELディスプレイは、映像の内容によって発光、非発光が画素毎に制御される。このため、発光しない黒レベルが表現でき、コントラストが高く、高画質化が実現できる。
特開2006−53348号公報
ここで、有機ELディスプレイでは、画素毎に発光強度、発光頻度が異なるため、頻繁に明るく発光している画素とほとんど発光しない画素とでの劣化の違いが生じる。そして、頻繁に明るく発光している画素において、焼きつきが発生しやすかった。
本発明は、発光に寄与する第1有機EL素子と、発光に寄与しない第2有機EL素子と、データが書き込まれる保持容量と、保持容量に書き込まれたデータに応じた駆動電流を前記第2有機EL素子に供給する第2駆動トランジスタと、前記第2駆動トランジスタと前記第2有機EL素子の中間点の電圧であって前記有機EL素子における輝度劣化または電流劣化を反映した駆動電圧に応じた駆動電流を前記第1有機EL素子に供給する第1駆動トランジスタと、を有し、前記第2駆動トランジスタは、データが黒レベルであっても、所定の駆動電流を第2有機EL素子に供給し、前記第1駆動トランジスタの駆動電圧が前記第2有機EL素子における輝度劣化または電流劣化を反映した電圧になり、前記保持容量に書き込まれたデータに応じた駆動電圧が前記第2駆動トランジスタのゲートに供給され、前記第2駆動トランジスタと前記第2有機EL素子の中間点の電圧が前記第1駆動トランジスタのゲートに供給され、前記保持容量の一端は電源ラインに接続され、他端が前記第2駆動トランジスタのゲートに接続され、前記第1駆動トランジスタのソースおよび第2駆動トランジスタのソースが前記電源ラインに接続され、前記第1駆動トランジスタのドレインが前記第1有機EL素子に接続され、前記第2駆動トランジスタのドレインが前記第2有機EL素子に接続されることを特徴とする。
また、前記電源ラインは、第1の電源ラインと第2の電源ラインを有し、前記保持容量の一端は第2電源ラインに接続され、他端が前記第2駆動トランジスタのゲートに接続され、前記第1駆動トランジスタのソースが第1電源ラインに接続され、第2駆動トランジスタのソースが前記第2電源ラインに接続され、前記第1駆動トランジスタのドレインが前記第1有機EL素子に接続され、前記第2駆動トランジスタのドレインが前記第2有機EL素子に接続されることが好適である。
本発明によれば、発光に寄与しない第2有機EL素子に対し、表示が黒であっても電流を少し流す。これによって、第2有機EL素子の劣化に応じて変化する電圧降下を反映した電圧が得られ、この電圧によって第1駆動トランジスタが駆動電流を発光に寄与する第1有機EL素子に供給する。従って、画素の駆動程度に応じて発光に寄与する第1有機EL素子の駆動電流を得ることができ、第1有機EL素子の劣化による発光の変化を補償することができる。
以下、本発明の実施形態について、図面に基づいて説明する。図1には、3つのp型トランジスタ2,4,5と、保持容量6と、2つの有機EL素子1,3で構成される画素11が示されている。
発光に寄与する第1有機EL素子1と、遮光などされて発光に寄与しない第2有機EL素子3のカソードは、電源電位VSSが与えられた全画素共通のカソード電極10に接続されている。第1有機EL素子1のアノードは、第1駆動トランジスタ2のドレイン端子に、第2有機EL素子3のアノードは第2駆動トランジスタ4のドレイン端子と第1駆動トランジスタ2のゲート端子に接続されている。第1駆動トランジスタ2と第2駆動トランジスタ4のソース端子は、電源電圧VDDが与えられた全画素共通の電源ライン9に接続されている。第2駆動トランジスタ4のゲート端子には、一端が電源ライン9に接続された保持容量6の他端と、ゲートトランジスタ5のソース端子が接続されている。このゲートトランジスタ5のゲート端子はゲートライン7、ドレイン端子はデータライン8に接続されている。
ゲートライン7が選択される(この例では、Lowに設定される)と、データライン8に供給されたHighかLowのデジタル信号が第2駆動トランジスタ4のゲート端子に導かれ、保持容量6に書き込まれる。
データがLowの場合には、第2駆動トランジスタ4がオンし、第2有機EL素子3に電流が流れ、そのアノード電位はVDDに近づく。その結果、第1駆動トランジスタ2はオフし、第1有機EL素子1に電流は流れず、発光しない。すなわち、第1有機EL素子1は発光せず、第2有機EL素子3は発光するといったように互いに相補に動作する。その後ゲートライン7は非選択とされるが、この相補の状態は、次にゲートライン7が選択されて、データが書き込まれるまで継続される。
データライン8にHighが供給された場合には、保持容量6に書き込まれたHigh電位により、第2駆動トランジスタ4に流れる電流が減少するため、第2有機EL素子3のアノード電位は低下する。この第2有機EL素子3のアノード電位が第1駆動トランジスタ2をオンするのに必要な電圧より低いと第1駆動トランジスタ2がオンし、第1有機EL素子1に電流が流れて発光する。この場合も、第1有機EL素子1は発光し、第2有機EL素子3は発光しないという相補な関係で動作し、ゲートライン7が非選択とされても、次に選択されるまで同じ相補状態を継続する。
ここで、保持容量6に書き込まれたHigh電位は、第2駆動トランジスタ4がある程度電流が流れる値が設定されている。このため、第2有機EL素子3は実際には微小発光する。しかし、第2有機EL素子3に流れる電流は、保持容量6にLow電位が書き込まれた場合と比較して小さいため、非発光と見なせる。
図2には、同じ有機EL素子a,bに同じ定電流ストレスを加えるが、印加頻度をb>aとして時間に対する駆動電圧(同じ電流を得るのに必要な電圧)の変化が図2Aに、また所定時間経過後の有機EL素子a,bのI−V特性(電流と電圧の関係)の変化が図2Bに示されている。定電流ストレス印加頻度は、有機EL素子bのほうが多いため、一般的には有機EL素子bの劣化が早く、定電流を流す駆動電圧が大きくなる。そのため、時間の経過とともにI−V特性も右側にシフトし、電流が流れにくくなる特性に劣化していく。この劣化の過程は図1の第1有機EL素子1、第2有機EL素子3の両方に同様に当てはまり、特に第1有機EL素子1の劣化が焼きつきとなって表示に現れる。
図2Bからわかるように、同じ電流Iを供給すると、劣化の異なる有機EL素子a,bの示す駆動電圧Va,Vbは異なり、劣化の大きい有機EL素子bのVbがVaよりも大きくなる。したがって同じ電流を与えて、駆動電圧の差を読み取ることで劣化の差を検出できる。
図1の画素11は、第1有機EL素子1が発光する際に、第2駆動トランジスタ4が第2有機EL素子3にある程度の定電流を供給する。図1の画素11では、この定電流により第2有機EL素子3の駆動電圧が第1駆動トランジスタ2のゲート電位に与えられるため、第2有機EL素子3の劣化を第1駆動トランジスタ2のゲート電位に反映できる。
図3には、p型トランジスタのゲート電圧Vgとドレイン電流Idの関係が示されているが、ゲート電位Vgを変化させると急激にドレイン電流Idが変化する飽和領域とあまり変化しない線形領域とがある。いずれの場合にもゲート電位Vgを変化させることでドレイン電流Idを変化させることができ、すなわち第2有機EL素子3の劣化が大きいときには、第1駆動トランジスタ2のゲート電位Vgは上がるため、ドレイン電流が低下するし、反対に劣化が少ない場合にはゲート電位は下がるため、ドレイン電流が増加するという制御が施される。
再度、図1に示される画素11の動作を確認すると、第1有機EL素子1が発光していない際には第2有機EL素子3には電流が流れ、その劣化が進行する。それに対し、第1有機EL素子1が発光している場合には第2有機EL素子3には多少の電流は流れるものの、第1有機EL素子1が発光しない場合と比較して電流は少なく、その劣化の進行は遅い。したがって、第1有機EL素子1が発光しない画素は、第2有機EL素子3の劣化の進行度合いにより、次第に第1駆動トランジスタ2のゲート電位が上昇し、暗くなっていく。第1有機EL素子1が発光し続けている画素は第2有機EL素子3の劣化がなく、ゲート電位が同じであっても、第1有機EL素子1そのものの発光効率が劣化により低下しているため、暗くなる。図1の画素11によると、発光していない画素も、発光し続けている画素も同様に暗くなるため、発光頻度の違いによる劣化の違いが目立たなくなる。すなわち焼きつきを効果的に抑制できる。発光していなかった画素が次に発光し続けた場合は、第2有機EL素子3の劣化の進行は止まる。このため、第1駆動トランジスタ2のゲート電位は上昇しないが、第1有機EL素子1そのものが劣化していくため、同様に暗くなっていく。このように第1有機EL素子1が発光しようがしまいが、常に相補的に動作し、同様に劣化を記憶する第2有機EL素子3を導入しているため、第1駆動トランジスタ2を制御することで焼きつきを低減できる。
図1をデジタル的に動作させ、複数のサブフレームやサブ画素を用いて多階調化する場合にはピークの発光強度の補正が全ての階調で同様に作用するため比較的全階調にて焼きつき抑制に効果があるが、アナログ電圧をデータライン8に供給して第2駆動トランジスタを定電流で動作させても焼きつき抑制に効果がある。
すなわち、保持容量6にアナログ電圧を書き込み、第2駆動トランジスタ4を制御して第2有機EL素子3のアノード電位を制御すればよい。白を表示する場合には第2有機EL素子3に少ない電流を流し、第1駆動トランジスタ2のゲート電位を低くすると第1有機EL素子1は明るく発光する。この場合も、第1有機EL素子1は明るく発光し、第2有機EL素子3は暗く発光するという相補な関係は維持される。黒を表示する場合には第2有機EL素子3により電流を流し、第1駆動トランジスタ2のゲート電位を高くすると第1有機EL素子は暗く発光する。同様に、第1有機EL素子1と第2有機EL素子の発光強度の関係は相補である。中間的な明るさを出力する場合でも両者の発光強度の相補関係は維持されるが、アナログ駆動の場合には相補というよりむしろ両者の総和が維持されるような関係で動作する。
カソード電極10が共通であるため、第1駆動トランジスタ2のゲート電位を適切な値に設定することが難しい場合などには、図4に示されるように第2電源ライン12を導入し、第2駆動トランジスタ4のソース端子を接続して、第1駆動トランジスタ2のソース端子と別々の電源電圧に設定できるようにしてもよい。この構成によれば、第2電源ライン12の電圧値を自由に選択することができる。そこで、保持容量6にLowを書き込み第2駆動トランジスタ4がオンしたときの第2有機EL素子3のアノード電位を第1駆動トランジスタ2がオフする電位とし、保持容量6に所定階調の電圧を書き込み第2駆動トランジスタ4が少しだけオンしたときの第2有機EL素子3のアノード電位を第1駆動トランジスタ2がデータに応じた電流を流す電位に容易に設定することができる。
図1と異なり、N型のトランジスタを用いる場合には例えば図5、図6のように画素11を構成するとよい。図5には、ダイオードトランジスタ14とオフトランジスタ13が電源ライン9とカソード電極10の間に直列に接続されており、その接続点が第1駆動トランジスタ2のゲート端子に接続されている。これによって、データがHighの時に、第2駆動トランジスタ4がオンして、オフトランジスタ13がオンして、第1駆動トランジスタ2がオフする。一方、データがLowの場合、第2駆動トランジスタ4は少しだけ電流を流し、従ってオフトランジスタ13はオフのままであって、第1駆動トランジスタ2が電流を流す。データに応じたアナログ駆動も可能であり、図4と同様にして、保持容量6、第2駆動トランジスタ4、ダイオードトランジスタ14の上側を第2電源ライン12に接続してもよい。このように、図5の例においても、第1有機EL素子1と第2有機EL素子3が相補に点灯する動作を実現している。
図6に示される例では第1、第2有機EL素子1,3のそれぞれのアノードを全画素共通のアノード電極15としてVDDを供給し、第1有機EL素子1のカソードに第1駆動トランジスタ2のドレイン端子、第2有機EL素子3のカソードに第2駆動トランジスタ4のドレイン端子と第1駆動トランジスタ2のゲート端子を接続している。第1、第2駆動トランジスタ2,4のソース端子、並びに保持容量6の一端はVSSが供給される電源ライン9に接続され、保持容量6の他端は第2駆動トランジスタ4のゲート端子とゲートトランジスタ5のソース端子に接続されている。このため、第1有機EL素子1と第2有機EL素子3の相補動作が実現される。
このように、アモルファスシリコンなどのN型トランジスタを用いても同様に焼きつきの補正が成され、焼きつきを効果的に抑制できる。
図7には、有機ELパネル22の全体構成が示してある。表示アレイ16には、画素11がマトリクス状に配置されている。データライン8が画素の列に対応して設けられ、それぞれのデータライン8を各色のデータバス20に接続するバススイッチ17が設けられている。
列シフトレジスタ18により、バススイッチ17を順に選択してデータライン8とデータバス20とを接続していくことで、各データライン8に各色のデータが順次供給される。また、行シフトレジスタ19によって、ゲートライン7を順次選択することで、該当する行の画素11にデータライン8上のデータが供給される。また、列シフトレジスタ18、行シフトレジスタ19、データバス20へ制御信号やデータは、入力パッド21(21−1〜21−3)入力される。
入力パッド21−3から入力される制御信号により、行シフトレジスタ19があるラインのゲートライン7を選択すると、列シフトレジスタは左から右へバススイッチ17を選択し、データライン8とデータバス20を順に接続していく。同時に入力パッド21−2から入力されるRGBの映像データは選択されたデータライン8に供給され、画素11にRGBそれぞれのデータが書き込まれ、そのデータに応じて発光強度がサブフレームやサブ画素を用いてデジタル的に、もしくはアナログ的に制御される。なお、図7の例は、画素11、列シフトレジスタ18、行シフトレジスタ19、バススイッチ17を同一基板上に構成して、画素単位で書き込む例であるが、列シフトレジスタをドライバICなどに導入して、外付けで有機ELパネル22に実装し、ライン単位でデータライン8に書き込んでもよい。
画素11は、このような通常のアクティブマトリクス駆動を行うことで、画素11に導入されている2つの有機EL素子が相補に動作し、有機EL素子に対応した補正を自動的に行うため、外部に余計な回路を導入する必要がなく、低コストに実現できる。
実施形態に係る画素回路の構成を示す図である。 有機EL素子の劣化のアノード電圧への影響を示す図である。 有機EL素子の劣化のI−V特性への影響を示す図である。 トランジスタのゲート電圧とドレイン電流の関係を示す図である。 他の実施形態に係る画素回路の構成を示す図である。 さらに他の実施形態に係る画素回路の構成を示す図である。 さらに他の実施形態に係る画素回路の構成を示す図である。 表示パネルの全体構成を示す図である。
符号の説明
1 第1有機EL素子、2 第1駆動トランジスタ、3 第2有機EL素子、4 第2駆動トランジスタ、5 ゲートトランジスタ、6 保持容量、7 ゲートライン、8 データライン、9 電源ライン、10 カソード電極、11 画素、12 第2電源ライン、13 オフトランジスタ、14 ダイオードトランジスタ、15 アノード電極、16 表示アレイ、17 バススイッチ、18 列シフトレジスタ、19 行シフトレジスタ、20 データバス、21 入力パッド、22 有機ELパネル。

Claims (2)

  1. 発光に寄与する第1有機EL素子と、
    発光に寄与しない第2有機EL素子と、
    データが書き込まれる保持容量と、
    保持容量に書き込まれたデータに応じた駆動電流を前記第2有機EL素子に供給する第2駆動トランジスタと、
    前記第2駆動トランジスタと前記第2有機EL素子の中間点の電圧であって前記第2有機EL素子における輝度劣化または電流劣化を反映した駆動電圧に応じた駆動電流を前記第1有機EL素子に供給する第1駆動トランジスタと、
    を有し、
    前記第2駆動トランジスタは、データが黒レベルであっても、所定の駆動電流を第2有機EL素子に供給し、前記第1駆動トランジスタの駆動電圧が前記第2有機EL素子における輝度劣化または電流劣化を反映した電圧になり、
    前記保持容量に書き込まれたデータに応じた駆動電圧が前記第2駆動トランジスタのゲートに供給され、
    前記第2駆動トランジスタと前記第2有機EL素子の中間点の電圧が前記第1駆動トランジスタのゲートに供給され、
    前記保持容量の一端は電源ラインに接続され、他端が前記第2駆動トランジスタのゲートに接続され、
    前記第1駆動トランジスタのソースおよび第2駆動トランジスタのソースが前記電源ラインに接続され、
    前記第1駆動トランジスタのドレインが前記第1有機EL素子に接続され、前記第2駆動トランジスタのドレインが前記第2有機EL素子に接続される画素回路。
  2. 請求項1に記載の画素回路において、
    前記電源ラインは、第1の電源ラインと第2の電源ラインを有し、
    前記保持容量の一端は前記第2電源ラインに接続され、他端が前記第2駆動トランジスタのゲートに接続され、
    前記第1駆動トランジスタのソースが前記第1電源ラインに接続され、第2駆動トランジスタのソースが前記第2電源ラインに接続され、
    前記第1駆動トランジスタのドレインが前記第1有機EL素子に接続され、前記第2駆動トランジスタのドレインが前記第2有機EL素子に接続される画素回路。
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