JP5011680B2 - 電気光学装置、及びこれを備えた電子機器 - Google Patents
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Description
<第1実施形態>
第1実施形態に係る液晶装置について、図1から図9を参照して説明する。
先ず、第1層には、例えば、Ti、Cr、W、Ta、Mo等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したもの、或いは導電性ポリシリコン等からなる走査線11aが設けられている。この走査線11aは、平面的にみて、図5のX方向に沿うように、ストライプ状にパターニングされている。
次に、第2層として、ゲート電極3aを含むTFT30が設けられている。TFT30は、図7に示すように、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有しており、その構成要素としては、上述したゲート電極3a、例えばポリシリコン膜からなりゲート電極3aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1a´、ゲート電極3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶縁膜を含む絶縁膜2、半導体層1aにおける低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレイン領域1c並びに高濃度ソース領域1d及び高濃度ドレイン領域1eを備えている。
以上説明した走査線11aの上、かつ、TFT30の下には、例えばシリコン酸化膜等からなる下地絶縁膜12が設けられている。下地絶縁膜12は、走査線11aからTFT30を層間絶縁する機能等を有する。
前述の第2層に続けて第3層には、蓄積容量70が設けられている。蓄積容量70は、TFT30の高濃度ドレイン領域1e及び画素電極9aに接続された画素電位側容量電極としての下部電極71と、固定電位側容量電極としての容量電極300とが、誘電体膜75を介して対向配置されることにより形成されている。この蓄積容量70によれば、画素電極9aにおける電位保持特性を顕著に高めることが可能となる。
以上説明したTFT30ないしゲート電極3a及び中継電極719の上、かつ、蓄積容量70の下には、例えば、NSG(ノンシリケートガラス)、PSG(リンシリケートガラス)、BSG(ボロンシリケートガラス)、BPSG(ボロンリンシリケートガラス)等のシリケートガラス膜、窒化シリコン膜や酸化シリコン膜等、或いは好ましくはNSGからなる第1層間絶縁膜41が形成されている。
前述の第3層に続けて第4層には、データ線6aが設けられている。データ線6aは、図7に示すように、下層より順に、アルミニウムからなる層(図7における符号41A参照)、窒化チタンからなる層(図7における符号41TN参照)、窒化シリコン膜からなる層(図7における符号401参照)の三層構造を有する膜として形成されている。
以上説明した蓄積容量70の上、かつ、データ線6aの下には、例えばNSG、PSG、BSG、BPSG等のシリケートガラス膜、窒化シリコン膜や酸化シリコン膜等、或いは好ましくはTEOSガスを用いたプラズマCVD法によって形成された第2層間絶縁膜42が形成されている。第2層間絶縁膜42には、TFT30の高濃度ソース領域1dとデータ線6aとを電気的に接続する、前記のコンタクトホール81が開孔されているとともに、前記容量配線用中継層6a1と蓄積容量70の上部電極たる容量電極300とを電気的に接続するコンタクトホール801が開孔されている。更に、第2層間絶縁膜42には、第2中継電極6a2と中継電極719とを電気的に接続するための、前記のコンタクトホール882が形成されている。
前述の第4層に続けて第5層には、容量配線400が形成されている。容量配線400は、平面的にみると、図6に示すように、図中X方向及びY方向それぞれに延在するように、格子状に形成されている。該容量配線400のうち図中Y方向に延在する部分については特に、データ線6aを覆うように、且つ、該データ線6aよりも幅広に形成されている。また、図中X方向に延在する部分については、後述の第3中継電極402を形成する領域を確保するために、各画素電極9aの一辺の中央付近に切り欠き部を有している。
以上説明した前述のデータ線6aの上、かつ、容量配線400の下には、NSG、PSG、BSG、BPSG等のシリケートガラス膜、窒化シリコン膜や酸化シリコン膜等、あるいは好ましくはTEOSガスを用いたプラズマCVD法によって形成された第3層間絶縁膜43が形成されている。この第3層間絶縁膜43には、前記の容量配線400と容量配線用中継層6a1とを電気的に接続するためのコンタクトホール803、及び、第3中継電極402と第2中継電極6a2とを電気的に接続するためのコンタクトホール804がそれぞれ開孔されている。
最後に、第6層には、上述したように画素電極9aがマトリクス状に形成され、該画素電極9a上に配向膜16が形成されている。画素電極9a下には、NSG、PSG、BSG、BPSG等のシリケートガラス膜、窒化シリコン膜や酸化シリコン膜等、或いは好ましくはNSGからなる第4層間絶縁膜44が形成されている。第4層間絶縁膜44には、画素電極9a及び前記の第3中継電極402間を電気的に接続するためのコンタクトホール89が開孔されている。画素電極9aとTFT30との間は、コンタクトホール89及び第3中継層402並びに前述したコンタクトホール804、第2中継層6a2、コンタクトホール882、中継電極719、コンタクトホール881、下部電極71及びコンタクトホール83を介して、電気的に接続されることとなる。
<第2実施形態>
次に、図10を参照して、第2実施形態に係る電気光学装置について説明する。ここに図10は、第2実施形態における図3と同趣旨の回路図である。尚、図10において、図3に示した第1実施形態に係る構成要素と同様の構成要素に同一の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。
<第3実施形態>
次に、図11を参照して、第3実施形態に係る電気光学装置について説明する。ここに図11は、第3実施形態における図3と同趣旨の回路図である。尚、図11において、図3に示した第1実施形態に係る構成要素と同様の構成要素に同一の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。
<電子機器>
次に、上述した電気光学装置である液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。
Claims (7)
- 基板上に、
複数の画素部が配列された画素領域と、
前記画素領域に配線された複数の走査線及び複数のデータ線と、
第1電位が夫々供給される第1端子及び第2端子を含み、前記基板の第1の辺に沿って設けられた複数の端子と、
前記第1の辺に沿って設けられ、前記複数のデータ線に画像信号を供給する画像信号供給回路と、
前記第1の辺と交差する第2の辺に沿って設けられ、前記複数の走査線に走査信号を供給する走査線駆動回路と、
前記第1端子から前記第1の辺に沿って延在すると共に、前記第2の辺に沿って延在し、該第2の辺に沿って延在した第1延在部分から前記画像信号供給回路に前記第1電位を供給するために前記第1の辺に沿って設けられた第1経路と、前記走査線駆動回路に前記第1電位を供給するために前記第2の辺に沿って設けられた第2経路とに分岐し、前記第1端子と前記走査線駆動回路とを電気的に接続する第1配線と、
前記第2端子から前記第1の辺に沿って延在すると共に、前記第1配線の第1延在部分よりも前記基板の内側を前記第2の辺に沿って延在し、前記第1配線の第1経路と電気的に接続される第2延在部分を有し、該第2延在部分から前記第1の辺に沿って延在し、前記画像信号供給回路に前記第1電位を供給する第2配線と
を備えることを特徴とする電気光学装置。 - 前記基板上に、前記走査線駆動回路及び前記画像信号供給回路を駆動するための信号を供給するための他の配線を更に備え、
前記第1の配線は、層間絶縁膜を介して相異なる層に位置する複数の導電膜から形成されると共に、互いに電気的に接続された複数の部分配線を有しており、
前記第1の配線が前記他の配線と交差する領域では、前記部分配線は前記複数の導電膜のうち前記他の配線とは異なる導電膜から形成される
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。 - 前記複数の画素部は夫々、前記基板上に、下側電極、誘電体膜及び上側電極が順に積層された蓄積容量を備え、
前記複数の部分配線は、前記複数のデータ線と同一膜から形成された第1部分配線と、前記下側電極及び前記上側電極のいずれか一方に電気的に接続された容量線と同一膜から形成された第2部分配線とからなる
ことを特徴とする請求項2に記載の電気光学装置。 - 前記基板上に、静電保護回路を更に備え、
前記静電保護回路は、前記第1の配線における前記第1経路及び前記第2経路に分岐する分岐部と前記第1端子との間で接続される
ことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 前記画像信号を供給するための画像信号線を有し、
前記第1の配線は、前記画像信号線とは交差しない
ことを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 前記画像信号供給回路は、
前記画像信号を、サンプリング信号に応じて前記データ線に夫々供給する複数のサンプリングスイッチを含むサンプリング回路と、
前記データ線に対応する前記サンプリングスイッチ毎に、前記サンプリング信号を順次供給するデータ線駆動回路と
を含むことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 請求項1から6のいずれか一項に記載の電気光学装置を具備してなることを特徴とする電子機器。
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