JP4994417B2 - 露光装置、露光方法、及び基板製造方法 - Google Patents
露光装置、露光方法、及び基板製造方法 Download PDFInfo
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Description
2 チャック
3 ステージ
4 マスク
5 ガラス窓
6 マスクホルダ
10,20 平板状シャッター
30a,30b,40a,40b 帯状シャッター
31a,31b,41a,41b ボールねじナット
32a,32b,42a,42b ボールねじ
33,43 ガイド
34a,34b,44a,44b モータ
50 センサーユニット
Claims (6)
- プロキシミティ方式を用いた露光装置であって、
マスクを保持するマスクホルダと、
基板を固定するチャックと、
前記チャックを搭載し、基板をXY方向へ移動するステージと、
前記マスクホルダに保持されたマスクと前記チャックに固定された基板とのギャップ、または前記チャックに固定された基板の位置を検出する検出手段と、
前記マスクホルダに保持されたマスクから離れて設けられ、マスクの露光領域以外の領域へ照射される光の大部分を遮断する第1の遮光手段と、前記第1の遮光手段よりも幅が小さく、前記第1の遮光手段よりも前記マスクホルダに保持されたマスクに近接して設けられ、前記第1の遮光手段により制限された露光領域に応じて移動して、露光領域の境界付近へ照射される光を遮断する第2の遮光手段とを有し、前記第1の遮光手段が、X方向へ移動する平板状シャッターとY方向へ移動する平板状シャッターとで構成され、前記第2の遮光手段が、X方向へ移動する帯状シャッターとY方向へ移動する帯状シャッターとで構成された露光用シャッターとを備え、
前記検出手段を、前記マスクホルダに保持されたマスクと前記第1の遮光手段との間に配置したことを特徴とする露光装置。 - 前記検出手段を複数備え、各検出手段を前記マスクホルダに保持されたマスクの四隅の上空に配置したことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- プロキシミティ方式を用いた露光方法であって、
マスクをマスクホルダにより保持し、
基板をチャックにより固定し、
チャックに固定された基板をステージによりXY方向へ移動し、
第1のシャッター群として、X方向へ移動する平板状シャッターとY方向へ移動する平板状シャッターとを用い、
第2のシャッター群として、X方向へ移動する帯状シャッターとY方向へ移動する帯状シャッターとを用い、
マスクホルダに保持されたマスクから離して設けた第1のシャッター群により、マスクの露光領域以外の領域へ照射される光の大部分を遮断し、第1のシャッター群よりも幅が小さく、第1のシャッター群よりもマスクホルダに保持されたマスクに近接して設けた第2のシャッター群を、露光領域に応じて移動して、露光領域の境界付近へ照射される光を遮断し、
マスクホルダに保持されたマスクと第1のシャッター群との間に配置したセンサーを用いて、マスクホルダに保持されたマスクとチャックに固定された基板とのギャップを検出し、またはチャックに固定された基板の位置を検出することを特徴とする露光方法。 - センサーをマスクホルダに保持されたマスクの四隅の上空に配置して、マスクホルダに保持されたマスクとチャックに固定された基板とのギャップを検出し、またはチャックに固定された基板の位置を検出することを特徴とする請求項3に記載の露光方法。
- 請求項1又は請求項2に記載の露光装置を用いて、基板上にパターンを形成することを特徴とする基板製造方法。
- 請求項3又は請求項4に記載の露光方法を用いて、基板上にパターンを形成することを特徴とする基板製造方法。
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