JP4975387B2 - 電力半導体装置 - Google Patents

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Description

本発明は、例えば、汎用インバータ装置、電力コンバータ等に適用可能な電力半導体装置に関する。
図7は、従来のパワー半導体モジュールの内部構成の一例を示す図である。図8は、図7のパワー半導体モジュールのW相に関する回路図である。ここでは、交流電力を整流した片極性電力を三相(U相、V相、W相)の交流電力に変換する場合を例示する。
パワー半導体モジュールMは、電気絶縁性の基板上に、導電性材料からなるフレームF1〜F5が設けられている。フレームF1,F5には外部から片極性電力が供給される。例えば、フレームF1の端子Pには交流電力の整流回路の正ラインが接続され、フレームF5の端子Nには、交流電力の整流回路の負ラインが接続される。
フレームF2の端子Wは、W相の交流電力を外部へ出力する。フレームF3の端子Vは、V相の交流電力を外部へ出力する。フレームF4の端子Uは、U相の交流電力を外部へ出力する。
フレームF1の上には、例えば、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等のスイッチング素子S4〜S6と、フライホイールダイオードD4〜D6とが搭載されている。各スイッチング素子S4〜S6のコレクタおよび各ダイオードD4〜D6のカソードがフレームF1と電気接続される。
スイッチング素子S4のエミッタおよびダイオードD4のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL4によってフレームF4と電気接続されている。同様に、スイッチング素子S5のエミッタおよびダイオードD5のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL5によってフレームF3と電気接続されている。スイッチング素子S6のエミッタおよびダイオードD6のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL6によってフレームF2と電気接続されている。
一方、フレームF2の上には、IGBT等のスイッチング素子S3と、フライホイールダイオードD3とが搭載されている。スイッチング素子S3のコレクタおよびダイオードD3のカソードがフレームF2と電気接続される。スイッチング素子S3のエミッタおよびダイオードD3のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL3によってフレームF5と電気接続されている。
フレームF3の上には、IGBT等のスイッチング素子S2と、フライホイールダイオードD2とが搭載されている。スイッチング素子S2のコレクタおよびダイオードD2のカソードがフレームF3と電気接続される。スイッチング素子S2のエミッタおよびダイオードD2のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL2によってフレームF5と電気接続されている。
フレームF4の上には、IGBT等のスイッチング素子S1と、フライホイールダイオードD1とが搭載されている。スイッチング素子S1のコレクタおよびダイオードD1のカソードがフレームF4と電気接続される。スイッチング素子S1のエミッタおよびダイオードD1のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL1によってフレームF5と電気接続されている。
なお、図面の複雑さを回避するため、IGBTのゲートおよび該ゲートに接続される接続ワイヤの図示を省いている。
こうした構成により、片極性電力が供給されるフレームF1,F5の間には、スイッチング素子S6とスイッチング素子S3が直列接続されて交流電力のW相を制御し、さらにスイッチング素子S5とスイッチング素子S2が直列接続されて交流電力のV相を制御し、さらにスイッチング素子S4とスイッチング素子S1が直列接続されて交流電力のU相を制御する。
こうしたパワー半導体モジュールMの外部には、出力される交流電力に発生するサージ電圧を抑制するためのスナバ回路が接続される。スナバ回路は、一般に、キャパシタ、ダイオード、抵抗等で構成される。
例えば、交流電力のW相に注目すると、図8に示すように、端子Pと端子Wの間にスナバ回路SN1が接続され、端子Nと端子Wの間にスナバ回路SN2が接続される。あるいは、スナバ回路SN1,SN2の代わりに、端子Pと端子Nの間にスナバ回路SN3を接続することもある。
交流電力の他のU相およびV相についても、W相と同様に、スナバ回路SN1,SN2あるいはスナバ回路SN3が接続される。
特開2000−82775号公報 特開平3−136412号公報 特開平8−32021号公報 特開2004−112999号公報
上述のようなパワー半導体モジュールMの内部構成では、接続ワイヤL1〜L6を用いてフレームと半導体素子を接続しているため、主回路電流が流れる配線経路が比較的長くなる傾向がある。そのため、配線経路のインダクタンスに起因して、スイッチング素子S1〜S6のスイッチ動作時に比較的高いサージ電圧が発生し易くなる。高いサージ電圧が発生すると、スイッチング素子S1〜S6のスイッチング損失を増加させたり、素子破壊を引き起こす可能性がある。
図8に示したように、パワー半導体モジュールMの外部に、スナバ回路SN1,SN2あるいはスナバ回路SN3を接続することにより、ある程度サージ電圧を抑制することができる。
しかし、従来のパワー半導体モジュールMでは、接続ワイヤL1〜L6のインダクタンスが著しく大きい場合、モジュール内部に発生するサージ電圧を外部のスナバ回路で充分に抑制することが困難になる。
本発明の目的は、外部のスナバ回路を用いて、モジュール内部に発生するサージ電圧を充分に抑制することができる電力半導体装置を提供することである。
上記目的を達成するために、本発明に係る電力半導体装置は、片極性電力を外部から供給するための第1および第2フレームと、
第1フレームと第2フレームとの間に直列的に接続される第1および第2スイッチングユニットと、
各スイッチングユニットの導通および遮断によって生成される交流電力を外部へ出力するための出力フレームと、
第1フレームと第1スイッチングユニットの間、第1スイッチングユニットと出力フレームの間、出力フレームと第2スイッチングユニットの間、および第2スイッチングユニットと第2フレームの間のうち少なくとも1つを電気接続するための接続ワイヤと、
出力フレームに近接して配置され、外部にてスナバ回路を接続するための第3フレームと、
第1スイッチングユニットまたは第2スイッチングユニットと第3フレームの間を電気接続するための分岐ワイヤと、を備えることを特徴とする。
また本発明に係る電力半導体装置は、片極性電力を外部から供給するための第1および第2フレームと、
第1フレームと第2フレームとの間に直列的に接続される第1および第2スイッチングユニットと、
各スイッチングユニットの導通および遮断によって生成される交流電力を外部へ出力するための出力フレームと、
第1フレームと第1スイッチングユニットの間、第1スイッチングユニットと出力フレームの間、出力フレームと第2スイッチングユニットの間、および第2スイッチングユニットと第2フレームの間のうち少なくとも1つを電気接続するための接続ワイヤと、
第1および第2フレームのうちの一方に近接して配置され、外部にてスナバ回路を接続するための第3フレームと、
出力フレームと第3フレームの間を電気接続するための分岐ワイヤと、を備えることを特徴とする。
また本発明に係る電力半導体装置は、片極性電力を外部から供給するための第1および第2フレームと、
第1フレームと第2フレームとの間に直列的に接続される第1および第2スイッチングユニットと、
各スイッチングユニットの導通および遮断によって生成される交流電力を外部へ出力するための出力フレームと、
第1フレームと第1スイッチングユニットの間、第1スイッチングユニットと出力フレームの間、出力フレームと第2スイッチングユニットの間、および第2スイッチングユニットと第2フレームの間のうち少なくとも1つを電気接続するための接続ワイヤと、
第1および第2フレームのうちの一方に近接して配置され、外部にてスナバ回路を接続するための第3フレームと、
第1および第2フレームのうちの他方と第3フレームの間を電気接続するための分岐ワイヤと、を備えることを特徴とする。

本発明によれば、出力フレーム、第1および第2フレームとは別個に、これらに近接して第3フレームを追加的に配置し、接続ワイヤとは別個の分岐ワイヤを第3フレームと接続している。この第3フレームに外部スナバ回路を接続することによって、スナバ回路を含む閉ループ回路の配線長さおよびループ面積を低減できるため、スナバ回路によるサージ電圧の抑制効果を向上させることができる。
実施の形態1.
図1は、本発明の第1実施形態に係るパワー半導体モジュールの内部構成の一例を示す図である。図2は、図1のパワー半導体モジュールのW相に関する回路図である。ここでは、交流電力を整流した片極性電力を三相(U相、V相、W相)の交流電力に変換する場合を例示する。
パワー半導体モジュールMは、電気絶縁性の基板上に、導電性材料からなるフレームF1〜F5が設けられ、さらに追加のフレームF6がフレームF2に近接して配置されている。フレームF1,F5には外部から片極性電力が供給される。例えば、フレームF1の端子Pには交流電力の整流回路の正ラインが接続され、フレームF5の端子Nには、交流電力の整流回路の負ラインが接続される。
フレームF2の端子Wは、W相の交流電力を外部へ出力する。フレームF3の端子Vは、V相の交流電力を外部へ出力する。フレームF4の端子Uは、U相の交流電力を外部へ出力する。
フレームF1の上には、例えば、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等のスイッチング素子S4〜S6と、フライホイールダイオードD4〜D6とが搭載されている。各スイッチング素子S4〜S6のコレクタおよび各ダイオードD4〜D6のカソードがフレームF1と電気接続される。
スイッチング素子S4のエミッタおよびダイオードD4のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL4によってフレームF4と電気接続されている。同様に、スイッチング素子S5のエミッタおよびダイオードD5のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL5によってフレームF3と電気接続されている。スイッチング素子S6のエミッタおよびダイオードD6のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL6によってフレームF2と電気接続されている。
一方、フレームF2の上には、IGBT等のスイッチング素子S3と、フライホイールダイオードD3とが搭載されている。スイッチング素子S3のコレクタおよびダイオードD3のカソードがフレームF2と電気接続される。スイッチング素子S3のエミッタおよびダイオードD3のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL3によってフレームF5と電気接続されている。
フレームF3の上には、IGBT等のスイッチング素子S2と、フライホイールダイオードD2とが搭載されている。スイッチング素子S2のコレクタおよびダイオードD2のカソードがフレームF3と電気接続される。スイッチング素子S2のエミッタおよびダイオードD2のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL2によってフレームF5と電気接続されている。
フレームF4の上には、IGBT等のスイッチング素子S1と、フライホイールダイオードD1とが搭載されている。スイッチング素子S1のコレクタおよびダイオードD1のカソードがフレームF4と電気接続される。スイッチング素子S1のエミッタおよびダイオードD1のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL1によってフレームF5と電気接続されている。
本実施形態では、追加のフレームF6は、接続ワイヤL3を分岐するように分岐ワイヤJ1によってダイオードD3のアノードと電気接続されている。
なお、図面の複雑さを回避するため、IGBTのゲートおよび該ゲートに接続される接続ワイヤの図示を省いている。
こうした構成により、片極性電力が供給されるフレームF1,F5の間には、スイッチング素子S6とスイッチング素子S3が直列接続されて交流電力のW相を制御し、さらにスイッチング素子S5とスイッチング素子S2が直列接続されて交流電力のV相を制御し、さらにスイッチング素子S4とスイッチング素子S1が直列接続されて交流電力のU相を制御する。
本実施形態では、図2に示すように、W相を出力するフレームF2の端子Wと、追加のフレームF6の端子T1との間に外部のスナバ回路SN2が接続される。よって、スナバ回路SN2は、端子T1、フレームF6、分岐ワイヤJ1、スイッチング素子S3(ダイオードD3)、フレームF2および端子Wを含む閉ループ回路内に存在することになる。
一方、従来のパワー半導体モジュールでは、図7および図8に示したように、スナバ回路SN2は、端子N、フレームF5、接続ワイヤL3、スイッチング素子S3(ダイオードD3)、フレームF2および端子Wを含む閉ループ回路内に存在している。
従って、本実施形態は、スナバ回路SN2を含む閉ループ回路の配線長さおよびループ面積を低減できるため、スナバ回路SN2によるサージ電圧の抑制効果をより向上させることができる。
ここでは、交流電力のW相に関するサージ抑制について詳細に説明したが、交流電力のU相の場合も同様に、追加のフレームをフレームF4に近接配置し、該フレームとダイオードD1の間に分岐ワイヤを接続し、該フレームの端子とフレームF4の端子Uの間に外部スナバ回路を接続すれば、W相と同様な効果が得られる。また、交流電力のV相の場合も同様に、追加のフレームをフレームF3に近接配置し、該フレームとダイオードD2の間に分岐ワイヤを接続し、該フレームの端子とフレームF3の端子Vの間に外部スナバ回路を接続すれば、W相と同様な効果を達成できる。
また、以上の説明では、交流電力を出力するフレームF2〜F4と、片極性電力の負ラインであるフレームF5との間に接続されるスナバ回路SN2の閉ループ回路について説明したが、フレームF2〜F4と片極性電力の正ラインであるフレームF1との間に接続されるスナバ回路SN1の閉ループ回路についても同様に改善することができる。
実施の形態2.
図3は、本発明の第2実施形態に係るパワー半導体モジュールの内部構成の一例を示す図である。図4は、図3のパワー半導体モジュールのW相に関する回路図である。ここでは、交流電力を整流した片極性電力を三相(U相、V相、W相)の交流電力に変換する場合を例示する。
パワー半導体モジュールMは、電気絶縁性の基板上に、導電性材料からなるフレームF1〜F5が設けられ、さらに追加のフレームF7がフレームF5に近接して配置されている。フレームF1,F5には外部から片極性電力が供給される。例えば、フレームF1の端子Pには交流電力の整流回路の正ラインが接続され、フレームF5の端子Nには、交流電力の整流回路の負ラインが接続される。
フレームF2の端子Wは、W相の交流電力を外部へ出力する。フレームF3の端子Vは、V相の交流電力を外部へ出力する。フレームF4の端子Uは、U相の交流電力を外部へ出力する。
フレームF1の上には、例えば、IGBT等のスイッチング素子S4〜S6と、フライホイールダイオードD4〜D6とが搭載されている。各スイッチング素子S4〜S6のコレクタおよび各ダイオードD4〜D6のカソードがフレームF1と電気接続される。
スイッチング素子S4のエミッタおよびダイオードD4のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL4によってフレームF4と電気接続されている。同様に、スイッチング素子S5のエミッタおよびダイオードD5のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL5によってフレームF3と電気接続されている。スイッチング素子S6のエミッタおよびダイオードD6のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL6によってフレームF2と電気接続されている。
一方、フレームF2の上には、IGBT等のスイッチング素子S3と、フライホイールダイオードD3とが搭載されている。スイッチング素子S3のコレクタおよびダイオードD3のカソードがフレームF2と電気接続される。スイッチング素子S3のエミッタおよびダイオードD3のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL3によってフレームF5と電気接続されている。
フレームF3の上には、IGBT等のスイッチング素子S2と、フライホイールダイオードD2とが搭載されている。スイッチング素子S2のコレクタおよびダイオードD2のカソードがフレームF3と電気接続される。スイッチング素子S2のエミッタおよびダイオードD2のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL2によってフレームF5と電気接続されている。
フレームF4の上には、IGBT等のスイッチング素子S1と、フライホイールダイオードD1とが搭載されている。スイッチング素子S1のコレクタおよびダイオードD1のカソードがフレームF4と電気接続される。スイッチング素子S1のエミッタおよびダイオードD1のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL1によってフレームF5と電気接続されている。
本実施形態では、追加のフレームF7は、分岐ワイヤJ2によってフレームF2と電気接続されている。
なお、図面の複雑さを回避するため、IGBTのゲートおよび該ゲートに接続される接続ワイヤの図示を省いている。
こうした構成により、片極性電力が供給されるフレームF1,F5の間には、スイッチング素子S6とスイッチング素子S3が直列接続されて交流電力のW相を制御し、さらにスイッチング素子S5とスイッチング素子S2が直列接続されて交流電力のV相を制御し、さらにスイッチング素子S4とスイッチング素子S1が直列接続されて交流電力のU相を制御する。
本実施形態では、図4に示すように、フレームF5の端子Nと、追加のフレームF7の端子T2との間に外部のスナバ回路SN2が接続される。よって、スナバ回路SN2は、端子T2、フレームF7、分岐ワイヤJ2、フレームF2、スイッチング素子S3(ダイオードD3)、接続ワイヤL3、フレームF5および端子Nを含む閉ループ回路内に存在することになる。
従って、本実施形態は、スナバ回路SN2を含む閉ループ回路の配線長さおよびループ面積を低減できるため、スナバ回路SN2によるサージ電圧の抑制効果をより向上させることができる。
ここでは、交流電力のW相に関するサージ抑制について詳細に説明したが、交流電力のU相およびV相の場合も同様に、追加のフレームをフレームF5にそれぞれ近接配置し、各フレームとフレームF3,F4の間に分岐ワイヤをそれぞれ接続し、各フレームの端子とフレームF5の端子Nの間に外部スナバ回路をそれぞれ接続すれば、W相と同様な効果が得られる。
また、以上の説明では、交流電力を出力するフレームF2〜F4と、片極性電力の負ラインであるフレームF5との間に接続されるスナバ回路SN2の閉ループ回路について説明したが、フレームF2〜F4と片極性電力の正ラインであるフレームF1との間に接続されるスナバ回路SN1の閉ループ回路についても同様に改善することができる。
実施の形態3.
図5は、本発明の第3実施形態に係るパワー半導体モジュールの内部構成の一例を示す図である。図6は、図5のパワー半導体モジュールのW相に関する回路図である。ここでは、交流電力を整流した片極性電力を三相(U相、V相、W相)の交流電力に変換する場合を例示する。
パワー半導体モジュールMは、電気絶縁性の基板上に、導電性材料からなるフレームF1〜F5が設けられ、さらに追加のフレームF8がフレームF1に近接して配置されている。フレームF1,F5には外部から片極性電力が供給される。例えば、フレームF1の端子Pには交流電力の整流回路の正ラインが接続され、フレームF5の端子Nには、交流電力の整流回路の負ラインが接続される。
フレームF2の端子Wは、W相の交流電力を外部へ出力する。フレームF3の端子Vは、V相の交流電力を外部へ出力する。フレームF4の端子Uは、U相の交流電力を外部へ出力する。
フレームF1の上には、例えば、IGBT等のスイッチング素子S4〜S6と、フライホイールダイオードD4〜D6とが搭載されている。各スイッチング素子S4〜S6のコレクタおよび各ダイオードD4〜D6のカソードがフレームF1と電気接続される。
スイッチング素子S4のエミッタおよびダイオードD4のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL4によってフレームF4と電気接続されている。同様に、スイッチング素子S5のエミッタおよびダイオードD5のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL5によってフレームF3と電気接続されている。スイッチング素子S6のエミッタおよびダイオードD6のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL6によってフレームF2と電気接続されている。
一方、フレームF2の上には、IGBT等のスイッチング素子S3と、フライホイールダイオードD3とが搭載されている。スイッチング素子S3のコレクタおよびダイオードD3のカソードがフレームF2と電気接続される。スイッチング素子S3のエミッタおよびダイオードD3のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL3によってフレームF5と電気接続されている。
フレームF3の上には、IGBT等のスイッチング素子S2と、フライホイールダイオードD2とが搭載されている。スイッチング素子S2のコレクタおよびダイオードD2のカソードがフレームF3と電気接続される。スイッチング素子S2のエミッタおよびダイオードD2のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL2によってフレームF5と電気接続されている。
フレームF4の上には、IGBT等のスイッチング素子S1と、フライホイールダイオードD1とが搭載されている。スイッチング素子S1のコレクタおよびダイオードD1のカソードがフレームF4と電気接続される。スイッチング素子S1のエミッタおよびダイオードD1のアノードは、短い接続ワイヤによって互いに電気接続され、さらに比較的長い接続ワイヤL1によってフレームF5と電気接続されている。
本実施形態では、追加のフレームF8は、分岐ワイヤJ3によってフレームF5と電気接続されている。
なお、図面の複雑さを回避するため、IGBTのゲートおよび該ゲートに接続される接続ワイヤの図示を省いている。
こうした構成により、片極性電力が供給されるフレームF1,F5の間には、スイッチング素子S6とスイッチング素子S3が直列接続されて交流電力のW相を制御し、さらにスイッチング素子S5とスイッチング素子S2が直列接続されて交流電力のV相を制御し、さらにスイッチング素子S4とスイッチング素子S1が直列接続されて交流電力のU相を制御する。
本実施形態では、図6に示すように、フレームF1の端子Pと、追加のフレームF8の端子T3との間に外部のスナバ回路SN3が接続される。よって、スナバ回路SN3は、端子T3、フレームF8、分岐ワイヤJ3、フレームF5、スイッチング素子対、フレームF1および端子Pを含む閉ループ回路内に存在することになる。
一方、従来のパワー半導体モジュールでは、図7および図8に示したように、スナバ回路SN3は、端子N、フレームF5、スイッチング素子対、フレームF1および端子Pを含む閉ループ回路内に存在している。
従って、本実施形態は、スナバ回路SN3を含む閉ループ回路の配線長さおよびループ面積を低減できるため、スナバ回路SN3によるサージ電圧の抑制効果をより向上させることができる。
以上の説明では、片極性電力の正ラインであるフレームF1に追加のフレームF8を近接配置して、両者間をスナバ回路SN3で接続した例を説明したが、片極性電力の負ラインであるフレームF5に追加のフレームを近接配置して、両者間をスナバ回路SN3で接続した場合も同様に改善することができる。
本発明の第1実施形態に係るパワー半導体モジュールの内部構成の一例を示す図である。 図1のパワー半導体モジュールのW相に関する回路図である。 本発明の第2実施形態に係るパワー半導体モジュールの内部構成の一例を示す図である。 図3のパワー半導体モジュールのW相に関する回路図である。 本発明の第3実施形態に係るパワー半導体モジュールの内部構成の一例を示す図である。 図5のパワー半導体モジュールのW相に関する回路図である。 従来のパワー半導体モジュールの内部構成の一例を示す図である。 図7のパワー半導体モジュールのW相に関する回路図である。
符号の説明
M パワー半導体モジュール、 P,N,U,V,W,T1〜T3 端子、
F1〜F8 フレーム、 L1〜L6 接続ワイヤ、 J1〜J3 分岐ワイヤ、
S1〜S6 スイッチング素子、 D1〜D6 フライホイールダイオード、
SN1〜SN3 スナバ回路。




Claims (6)

  1. 片極性電力を外部から供給するための第1および第2フレームと、
    第1フレームと第2フレームとの間に直列的に接続される第1および第2スイッチングユニットと、
    各スイッチングユニットの導通および遮断によって生成される交流電力を外部へ出力するための出力フレームと、
    第1フレームと第1スイッチングユニットの間、第1スイッチングユニットと出力フレームの間、出力フレームと第2スイッチングユニットの間、および第2スイッチングユニットと第2フレームの間のうち少なくとも1つを電気接続するための接続ワイヤと、
    出力フレームに近接して配置され、外部にてスナバ回路を接続するための第3フレームと、
    第1スイッチングユニットまたは第2スイッチングユニットと第3フレームの間を電気接続するための分岐ワイヤと、を備えることを特徴とする電力半導体装置。
  2. 片極性電力を外部から供給するための第1および第2フレームと、
    第1フレームと第2フレームとの間に直列的に接続される第1および第2スイッチングユニットと、
    各スイッチングユニットの導通および遮断によって生成される交流電力を外部へ出力するための出力フレームと、
    第1フレームと第1スイッチングユニットの間、第1スイッチングユニットと出力フレームの間、出力フレームと第2スイッチングユニットの間、および第2スイッチングユニットと第2フレームの間のうち少なくとも1つを電気接続するための接続ワイヤと、
    第1および第2フレームのうちの一方に近接して配置され、外部にてスナバ回路を接続するための第3フレームと、
    出力フレームと第3フレームの間を電気接続するための分岐ワイヤと、を備えることを特徴とする電力半導体装置。
  3. 片極性電力を外部から供給するための第1および第2フレームと、
    第1フレームと第2フレームとの間に直列的に接続される第1および第2スイッチングユニットと、
    各スイッチングユニットの導通および遮断によって生成される交流電力を外部へ出力するための出力フレームと、
    第1フレームと第1スイッチングユニットの間、第1スイッチングユニットと出力フレームの間、出力フレームと第2スイッチングユニットの間、および第2スイッチングユニットと第2フレームの間のうち少なくとも1つを電気接続するための接続ワイヤと、
    第1および第2フレームのうちの一方に近接して配置され、外部にてスナバ回路を接続するための第3フレームと、
    第1および第2フレームのうちの他方と第3フレームの間を電気接続するための分岐ワイヤと、を備えることを特徴とする電力半導体装置。
  4. 出力フレームと第3フレームとの間に、スナバ回路が接続されることを特徴とする請求項1記載の電力半導体装置。
  5. 第1および第2フレームのうちの一方と第3フレームとの間に、スナバ回路が接続されることを特徴とする請求項2記載の電力半導体装置。
  6. 第1および第2フレームのうちの一方と第3フレームとの間に、スナバ回路が接続されることを特徴とする請求項3記載の電力半導体装置。
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