JP4961885B2 - 積層電子部品 - Google Patents
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Description
[積層セラミックコンデンサの製造]
まず、キャリアフィルムであるポリエチレンテレフタレートフィルム上に、セラミックペーストをドクターブレード法によって塗布した後、乾燥して厚さ5μmのセラミックグリーンシートを得た。セラミックペーストは、MgOに換算して2モル%、MnOに換算して3モル%、CaOに換算して3モル%、SiO2に換算して6モル%、Y2O3に換算して2モル%の組成を有するチタン酸バリウム(BaTiO3)系のセラミック材料、バインダーであるポリビニルブチラール樹脂及び溶剤であるエタノールを含む有機ビヒクル、及び、可塑剤であるフタル酸ジオクチルと混合・混錬して調製したものを用いた。
得られた積層セラミックコンデンサのバンプに対して、シェア強度試験装置を用いて、接合強度(シェア強度)の測定を、露出面積の異なるビアに接合した各バンプそれぞれ20個について行った。試験条件は、シェア幅:100μm、シェア速度:0.1mm/秒、積層体からのシェア高さ:5μm(バンプ高さの10%に相当)とした。結果を表1に示す。なお表中の接合強度は平均値を示す。
Claims (14)
- 誘電体層及び導体層が交互に積層され、少なくとも一方の最外層が前記誘電体層からなる最外誘電体層を具備した積層体と、
前記積層体の内部において複数の異なる前記導体層同士を接続し、導電材料から主として構成されるビアと、
前記ビアと接合し、導電材料から主として構成されるバンプと、を備える積層電子部品であって、
前記ビアは、前記積層電子部品に、その積層方向に貫通して設けられ、
前記積層電子部品の主表面に露出した前記ビアを含む導体の露出面積S1が、前記積層体の内部における前記ビアの前記積層方向に直交した断面積S2よりも大きく、
前記ビアを含む前記導体は、前記ビアと、前記ビアの外周側で少なくとも前記最外誘電体層に埋設されるとともに前記積層電子部品の主表面に露出した、導電材料から主として構成される補強用導体と、を含有し、
前記バンプは、前記積層電子部品の主表面に露出した前記ビア及び前記補強用導体の露出面に接合しており、
前記補強用導体は、前記ビアと離隔して設けられている積層電子部品。 - 前記補強用導体は柱状であり、その端面が前記積層電子部品の主表面に露出している、請求項1に記載の積層電子部品。
- 前記バンプは、前記ビアを含む前記導体への接合面積と前記最外誘電体層の主表面への接合面積との合計面積S4に対する前記露出面積S1の比が0.25以上となるように設けられている、請求項1又は2に記載の積層電子部品。
- 両方の最外層が前記最外誘電体層である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の積層電子部品。
- 前記最外誘電体層はシート工法によって形成されており、かつ、8〜30μmの厚さを有する、請求項1〜4のいずれか一項に記載の積層電子部品。
- 前記誘電体層はセラミック層である、請求項1〜5のいずれか一項に記載の積層電子部品。
- 前記セラミック層は、主材料として高誘電率セラミック材料を含有する、請求項6記載の積層電子部品。
- 前記高誘電率セラミック材料は、チタン酸バリウム系材料、鉛複合ペロブスカイト化合物系材料及びチタン酸ストロンチウム系材料からなる群より選ばれる1種以上の材料である、請求項7記載の積層電子部品。
- 前記誘電体層は1〜25μmの厚さを有する、請求項1〜8のいずれか一項に記載の積層電子部品。
- 前記導体層は、主材料としてNi又はNi合金を含有する、請求項1〜9のいずれか一項に記載の積層電子部品。
- 前記導体層は、1〜25μmの厚さを有する、請求項1〜10のいずれか一項に記載の積層電子部品。
- 前記ビアにおける前記導電材料は金属である、請求項1〜11のいずれか一項に記載の積層電子部品。
- 前記金属は、Ag、Au、Ni、Cu、Pt及びPd、並びにこれらを主成分とする合金からなる群より選ばれる1種以上である、請求項12記載の積層電子部品。
- 積層コンデンサとして用いられる、請求項1〜13のいずれか一項に記載の積層電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006212267A JP4961885B2 (ja) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | 積層電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006212267A JP4961885B2 (ja) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | 積層電子部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008041828A JP2008041828A (ja) | 2008-02-21 |
JP4961885B2 true JP4961885B2 (ja) | 2012-06-27 |
Family
ID=39176535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006212267A Active JP4961885B2 (ja) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | 積層電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4961885B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102010036270B4 (de) * | 2010-09-03 | 2018-10-11 | Epcos Ag | Keramisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines keramischen Bauelements |
US9076600B2 (en) * | 2012-03-27 | 2015-07-07 | Tdk Corporation | Thin film capacitor |
CN108292914B (zh) | 2015-12-11 | 2021-11-02 | 株式会社村田制作所 | 弹性波装置 |
KR102427926B1 (ko) * | 2017-05-29 | 2022-08-02 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그의 제조 방법 |
WO2024009899A1 (ja) * | 2022-07-04 | 2024-01-11 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6289118A (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-23 | Mitsubishi Electric Corp | 数値制御装置 |
JP2004095685A (ja) * | 2002-08-29 | 2004-03-25 | Kyocera Corp | 積層コンデンサ及びその製造方法 |
JP2004153040A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 積層コンデンサ |
JP2005085995A (ja) * | 2003-09-09 | 2005-03-31 | Ngk Spark Plug Co Ltd | セラミック基板の製造方法 |
JP2005123415A (ja) * | 2003-10-17 | 2005-05-12 | Ngk Spark Plug Co Ltd | コンデンサの製造方法およびコンデンサ |
JP4596892B2 (ja) * | 2004-11-18 | 2010-12-15 | 京セラ株式会社 | 積層コンデンサ |
-
2006
- 2006-08-03 JP JP2006212267A patent/JP4961885B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008041828A (ja) | 2008-02-21 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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