JP4944514B2 - 印刷版の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、液晶表示装置の製造方法に係り、特に、微細パターンを実現できる印刷版の製造方法に関する。
近来、ディスプレイ装置として、CRTと遜色ないレベルにまで画像を具現できる上、軽薄短小化・超小型化が実現できる液晶表示装置が開発されてきた。
一般に、液晶表示装置(LCD)は、複数のゲートラインとデータラインとが直交配列されてなるマトリクス形態の単位画素を有し、それぞれの単位画素の領域上には、スイッチングの機能を果たすTFTと透明金属からなる画素電極とが形成されているアレイ基板と、このアレイ基板の画素電極と対向するように透明絶縁基板上にRGBカラーフィルタ層とブラックマトリクスが形成されているカラーフィルタ基板とが液晶分子を介在して合着された構造となっている。
このアレイ基板とカラーフィルタ基板はそれぞれ独立して作製、すなわち、別の基板として作製され、これら両基板を合着する前に、配向膜塗布工程、ラビング工程、スペーサ散布工程、シール印刷工程がなされる。
これら工程が終わると、アレイ基板とカラーフィルタ基板とを向かい合わせた後、熱と紫外線照射によって合着させる。
ここで、アレイ基板に対して行われるシール印刷工程は、両基板を合着させる役割のほか、液晶注入時に液晶分子が流出しないように封止する役割も果たす。
このようなシール形成工程には次のような三つの方法が用いられる。
その一つは、印刷法による厚膜形成技術であり、生産設備が簡単で、材料利用効率が高い点から、LCD、PDPなどの製造に用いられている。
すなわち、マスクを利用したスクリーン印刷は、パターニングされたスクリーンを一定間隔を維持しながら基板上に置き、隔壁形成に必要なペーストで圧着・転写して所望の形状を基板に印刷する方法によって行われる。
この方法は、通常、1回の印刷で焼成前に20μm程度の高さが得られ、よって、50μm乃至100μmの隔壁を得るには5回乃至10回重なって印刷し数回の乾燥工程を行わねばならず、生産性が低く、ガラス基板の変形による低い再現性及び高精細化が実現し難いという欠点がある。
第二の方法は、基板上に隔壁物質を広く塗布した後、部分的にこれを除去することによって隔壁を形成するサンドブラスト方法であり、近来、大型パネルの製造工程において高精細用隔壁の形成のために多く用いられている。
例えば、電極の形成されている基板全面に、スクリーン印刷法によって隔壁材料を印刷し、この隔壁材料上に感光性フィルムを覆った後、露光及び現像作業を経て隔壁材料を保護する感光性フィルムが残るようにする。
そして、研磨剤を噴射し、感光性フィルムに保護されていない部分を物理的に除去することで隔壁を形成する。このとき、研磨剤は、Al、SiC、ガラス微粒子などが使用され、圧縮した空気や窒素ガスによって噴射される。
このサンドブラスト法は、70μm以下の隔壁を大面積の基板に形成することはできるが、基板ガラスに物理的衝撃を与えて焼成時に基板の亀裂を招くことがあり、工程が複雑で、また、設備投資に高コストがかかるほか、多い材料の消耗による生産単価の上昇、粉塵による公害発生の恐れがある。
第三の方法は、マスク製造に用いられるCADの配線データによって厚膜ペーストを空気圧力を用いて基板上に直接吐出してパターンを形成するディスペンサ法であり、マスク製造費が節減され、厚膜の形成に対して大きい自由度も持ち、工程が簡単であるという長所を有し、大型LCDやPDPなどにおけるシール剤に好適に適用できる技術である。
以下、一般的な印刷ロールを用いて基板上にパターンを形成する方法を説明する。
図1A乃至図1Cは、従来の印刷ロール及び印刷版を用いて基板上にパターンを形成する工程を示した工程断面図である。
図1Aに示すように、印刷ノズル10を用いてパターン物質30を印刷ロール20に塗布する。
次いで、図1Bに示すように、所定形状に刻み込まれた印刷版40上に、パターン物質30が塗布された印刷ロール20を回転させ、印刷版40の突出部に一部のパターン物質30bを転写し、印刷ロール20には、残りのパターン物質30aが残存するようにして、印刷ロール20に所定形状のパターンを形成する。
次いで、図1Cに示すように、基板50上にパターン物質30aの残存する印刷ロール20を回転させ、基板50上に残りのパターン物質30aを転写する。
上記のように、印刷ロールを用いたパターン形成方法には、印刷版が必要となる。
しかしながら、図1A乃至図1Cにおいては、一つの印刷ロール及び印刷版を用いて、液晶表示素子の多様な構成要素を多様な形態でパターニングするために長い工程時間が要されるので、一度に多様な構成要素をパターニングできる4色(カラーフィルタ層(R、G、B)及びブラックマトリックス層形成用)印刷装備が提案されている。
以下、添付の図面を参照して従来技術による印刷版の製造方法について説明する。
図2A乃至図2Eは、従来技術による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。
図2Aに示すように、絶縁基板51上にハードマスク用金属膜52を蒸着し、この金属膜52上にフォトレジスト53を塗布する。
ここで、金属膜52は、CrまたはMoなどの金属物質からなる。
続いて、フォト及び露光工程によってフォトレジスト53を選択的にパターニングしてパターン領域を定義する。
図2Bに示すように、パターニングされたフォトレジスト53をマスクとして金属膜52を選択的に除去し、金属膜パターン52aを形成する。
図2Cに示すように、フォトレジスト53を除去する。
ここで、金属膜パターン52aを形成するためにマスクとして用いたフォトレジスト53を除去する方法としては、酸素ガスプラズマによる方法、及び種々の酸化剤を使用した方法が知られている。
まず、酸素ガスプラズマによる方法は、一般に、真空及び高電圧下で酸素ガスを注入することによって酸素ガスプラズマを発生させ、この酸素ガスプラズマとフォトレジス
トとの反応によってフォトレジストを分解し除去する方法である。
図2Dに示すように、金属膜パターン52aをマスクとして露出された絶縁基板51を選択的にエッチングし、表面から約20μmの深さを有するトレンチ54を形成する。
このとき、絶縁基板51のエッチングは、HF系エッチング液(エッチャント)を用いた等方性エッチングによって行う。
図2Eに示すように、金属膜パターン52aを除去することによって従来の印刷版の形成工程を完了する。
上記のようにして製造された印刷版を図1の印刷装置に組み合わせ、所望の顔料をアニロックスロールにコーティングした後に、アニロックスロール上の顔料を印刷版に部分的に印刷し基板に転写することによって、パターンを有する印刷結果物を得る。
しかしながら、上記の従来技術による印刷版の製造方法には次のような問題点があった。
すなわち、金属膜パターンをマスクとして絶縁基板を一括エッチングして所望の深さを有するトレンチを形成するため、等方性エッチングの特性の上、エッチングCD(critical dimension)が大きく発生し精密な印刷版製作が難しかった。
すなわち、絶縁基板のエッチング厚が5μmである場合には、図2DのAに示すように、理論的に両側を基準にして10μm以下の線幅具現が不可能である。
本発明は上記の問題点を解決するためのもので、その目的は、エッチングCDの変化を最小化して微細パターンを形成できるようにする印刷版の製造方法を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明に係る印刷版の製造方法は、絶縁基板上に開口部を有するハードマスクを形成する段階と、前記ハードマスクで前記絶縁基板に第1深さを有する第1トレンチを形成する段階と、前記第1トレンチを含む絶縁基板の全面に、第1エッチング防止層及び第1フォトレジストを順に形成する段階と、前記ハードマスクをマスクとして前記第1フォトレジストに全面露光及び現像を行ってパターニングする段階と、前記ハードマスクをマスクとして前記絶縁基板に前記第1深さよりも深い第2深さを有する第2トレンチを形成する段階と、前記第2トレンチを含む絶縁基板の全面に第2エッチング防止層及び第2フォトレジストを順に形成する段階と、前記ハードマスクをマスクとして前記第2フォトレジストに全面露光及び現像を行ってパターニングする段階と、前記ハードマスクをマスクとして前記絶縁基板に前記第2深さよりも深い第3深さを有する第3トレンチを形成する段階と、前記ハードマスク、第1及び第2エッチング防止層、及び第1及び第2フォトレジストを除去する段階と、を備えることを特徴とする。
本発明に係る印刷版の製造方法によれば、ハードマスクとエッチング防止層の形成、フォトレジストの塗布、全面露光及び現像工程によって所望の深さを有するトレンチを段階的に分けて形成し、1回につきのエッチング厚さを調節できるため、エッチングCDによる誤差を減らし、微細で精密な印刷版を製作することが可能になる。
以下、添付の図面を参照し、本発明による印刷版の製造方法について詳細に説明する。
図3A乃至図3Gは、本発明による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。
ガラス等の絶縁基板61上に、ハードマスク用金属膜62を蒸着し、この金属膜62上に第1フォトレジスト63を塗布する。
ここで、金属膜62は、CrまたはMoなどの金属物質からなる。
続いて、フォト及び露光工程によって第1フォトレジスト63を選択的にパターニングしてパターン領域を定義する。
図3Bに示すように、パターニングされた第1フォトレジスト63をマスクとして金属膜62を選択的に除去して金属膜パターン62aを形成し、第1フォトレジスト63を除去する。このとき、金属膜パターン62aは金属膜62が除去された少なくとも1つの領域を含んでいる。この金属膜62が除去された少なくとも1つの領域は、第1トレンチ64が形成されるように少なくとも1つのホール、開口部、或いはギャップとして形成してもよい。尚、その他の実施形態として、第1トレンチ64が形成される絶縁基板61の表面に1つ以上の開口部が設けられるとしてもよい。
ここで、上記のように金属膜パターン62aを形成するためにマスクとして用いた第1フォトレジスト63を除去する方法には、酸素ガスプラズマによる方法及び種々の酸化剤を使用した方法が知られている。
まず、酸素ガスプラズマによる方法は、一般に、真空及び高電圧下で酸素ガスを注入することによって酸素ガスプラズマを発生させ、この酸素ガスプラズマとフォトレジストとの反応によってフォトレジストを分解し除去する方法のことをいう。
また、その他の実施形態として、第1フォトレジスト63が除去されないとしても良い。しかしながら、図3Bに示したように、第1フォトレジスト63が除去され、金属膜62が選択的に除去されたときに、第1フォトレジスト63は金属膜パターン62aとして残留する。この実施例においては、第1フォトレジスト63は製造工程を通して金属膜パターン62aとして残留する。以下には、第1フォトレジスト63が除去される実施形態を記載するが、第1フォトレジスト63が残留してもよいことが理解されるべきである。
図3Cに示すように、金属膜パターン62aをマスクとし、露出された絶縁基板61を選択的にエッチングして表面から2〜6μm深さを有する第1トレンチ64を形成する。
このとき、絶縁基板61のエッチングには、HF系エッチング液(エッチャント)を用いた等方性エッチングを用いる。
第1トレンチ64を形成する時に、等方性エッチングの特性上、第1トレンチ64の側面に延長してエッチングが進行されるが、第1トレンチ64の形成深さを浅くすることによって、その分だけ側面にエッチングされる量を減らすことが出来る。
図3Dに示すように、第1トレンチ64を含む絶縁基板61の全面に、第1エッチング防止層65を形成し、この第1エッチング防止層65を含む絶縁基板61の全面に、第2フォトレジスト66を塗布する。
ここで、第1エッチング防止層65は、ITO、Mo、Cuなどの不透明金属や透明金属を0.01〜0.3μmの厚さで形成して使用する。
また、第2フォトレジスト66の塗布には、スピンコート、スプレーコート、ディップコートなどの方法が使用可能であるが、ウエハを真空でチャックし高速回転させながら行うスピンコートが安全性及び均一性の面から最も一般に用いられている。
一般に、フォトレジストには、ネガティブフォトレジストとポジティブフォトレジストとがある。
まず、ネガティブフォトレジストは、硬化ゴム系樹脂とビスジアジド系化合物の混合物を有機溶剤中に含有したものが一般的であり、後者は、感光性があり、架橋剤として働く。
ネガティブフォトレジストでは、光照射部分が架橋剤によって網目構造に硬化し、未照射部分との間に現像に対する溶解度の差を起こさせる点を用いてパターンが形成される。
ポジティブフォトレジストでは、光照射部分は現像液(アルカリ系)に溶け、未露光部が不溶性であるため、ネガティブフォトレジストと同様に溶解度の差を用いてパターンが形成される。
ポジティブフォトレジストは、通常、キノンジアジド系の感光剤、アルカリ可溶のフェノール系樹脂及び有機溶剤からなっており、混合物自体はアルカリに不溶であるものの、光照射によってアルカリ可溶となる。
尚、本実施形態では、フォトレジストにポジティブフォトレジストを使用する。
図3Eに示すように、金属膜パターン62aをマスクとして第2フォトレジスト66に全面露光を実施して現像する。
このとき、第2フォトレジスト66を絶縁基板61の全面に塗布すると、第1トレンチ64を形成するために等方性エッチング時に金属膜パターン62a下部が一定部分エッチングされるが、この時、第2フォトレジスト66が金属膜パターン62aの下部に対応する第1トレンチ64の両端を埋める。
ここで、第2フォトレジスト66の現像方法には、浸漬によるものとスプレーによるものとがある。前者では温度、濃度、経時変化などの管理に困るが、後者では比較的管理が容易である。現在は、スプレー方式でインライン化した装置が使用可能である。
そして、第2フォトレジスト66を全面露光すると、金属膜パターン62a下部の第2フォトレジスト66は露光されずに第1トレンチ64の内側に残留し、この残留した部分以外の部分は現像工程によって除去される。また、このパターニングされた第2フォトレジスト66をマスクとして使用し、第1エッチング防止層65が選択的に除去される。
続いて、金属膜パターン62aをマスクとして絶縁基板61を選択的に除去し、第1深さを有する第1トレンチ64に、第1深さよりも深い第2深さを有する第2トレンチ67を形成する。
ここで、第2トレンチ67を形成する時に、前述の如く、等方性エッチングの特性上、第2トレンチ67の側面に延びてエッチングが行われるが、第1トレンチ64の側面、すなわち、金属膜パターン62a下部には第1エッチング防止層65及び第2フォトレジスト66が残留するため、側面にエッチングされるのを防止しながら第2トレンチ67を形成することができる。
本実施形態においては、第2トレンチ67は、第1トレンチ64より2〜6μm深く形成される。
図3Fに示すように、第2トレンチ67を含む絶縁基板61の全面に第2エッチング防止層68を形成し、この第2エッチング防止層68を含む絶縁基板61の全面に、第3フォトレジスト69を塗布する。
ここで、第2エッチング防止層68は、ITO、Mo、Cuなどの不透明金属や透明金属を0.01〜0.3μmの厚さで形成して使用する。
続いて、金属膜パターン62aをマスクとして全面露光及び現像工程を実施して金属膜パターン62aの下部に第3フォトレジスト69を残留させる。また、第2エッチング防止層68は、パターニングされた第2フォトレジスト66をマスクとして使用して選択的に除去される。
そして、金属膜パターン62aと、上述したようにパターニングされた第3フォトレジスト69と、第2エッチング防止層68とをマスクとして、絶縁基板61に選択的にエッチング工程を行い、第2深さよりも深い第3深さを有する第3トレンチ70を形成する。
ここで、第3トレンチ70を形成する時に、前述の如く、等方性エッチングの特性の上、第3トレンチ70の側面に延びてエッチングが行われるが、金属膜パターン62aの下部には第2エッチング防止層68及び第3フォトレジスト69が残留しており、その分だけ側面へのエッチング量が減る。
また、第3トレンチ70は、第2トレンチ67から2〜6μmの深さで形成する。
また、第2フォトレジスト66及び第3フォトレジスト69はポジティブフォトレジストを使用する。
尚、本実施形態における印刷版の製造方法は、上記のように第1トレンチ64を形成した後、全面への第1及び第2エッチング防止層65,68の形成及びフォトレジストの塗布、全面露光及び現像工程を繰返し行いながら金属膜パターン62aと残留するフォトレジストをマスクとして所望の深さを有する最終的なトレンチを形成する。
図3Gに示すように、金属膜パターン62aを除去し、第2及び第3フォトレジスト66,69と第1及び第2エッチング防止層65,68を除去する。
続いて、絶縁基板61の全面に洗浄工程を行いエッチング中に発生した異物を除去することで、本実施形態における印刷版の形成工程を完了する。
尚、本実施形態における印刷版の製造では、ポジティブフォトレジストを繰返し塗布し、全面に対して自己整合型の露光及び現像工程を実施してパターニングし、ハードマスク用金属膜パターン62aと残留するフォトレジストとをマスクとして使用し、1回につきエッチングされる深さを調節して段階的にエッチング工程を行うことで、絶縁基板61に所望の深さを有するトレンチを形成している。
ここで、第1、第2及び第3トレンチ64、67、70を形成する際に、金属膜パターン62aの下部に残留する第1及び第2エッチング防止層65,68と第2及び第3フォトレジスト66,69は、最終的な洗浄工程で同時に除去しても良く、各トレンチの形成工程が終了する度にそれぞれ除去しても良い。
上記のようにして本実施形態において製造された印刷版を図1A〜図1Cに示した印刷装置に組み合わせ、所望の顔料をアニロックスロールにコーティングした後、アニロックスロール上の顔料を印刷版に選択的に印刷して基板に転写させることによって、パターンを有する印刷結果物を得ることができる。
要するに、従来は、絶縁基板にフォトレジストまたはハードマスクを用いて一括エッチングを行って所望の深さを有するトレンチを形成することで印刷版を製造してきたが、本発明では、ハードマスクと反復的なエッチング防止層の形成、フォトレジストの塗布、全面露光及び現像工程によって段階的に分けてエッチング工程を施し、所望の深さを有するトレンチを形成することで印刷版を製造する。
したがって、本発明の実施形態では、3段階に分けて最終的に所望の深さを有するトレンチを形成する例を説明しているが、最終的な所望の深さを有するトレンチを形成するに要する段階は3段階に限定されるものではない。
また、図3A〜図3Gには、第1、第2、又は第3トレンチ64、67、70が形成された1つのホール又は1つの領域を示したが、異なる位置に形成された第1、第2、第3トレンチ64、67、70の各々少なくとも1つを取り上げて製造工程を実施した少なくとも1つのホールであると理解されるべきである。上述した実施例における印刷版の製造方法では、好ましい深さのトレンチは、ハードマスクの反復形成、エッチング防止、フォトレジストの蒸着、全面露光及び現像工程を用いる数回のエッチング工程によって、絶縁基板61に形成される。すなわち、各エッチング工程によってエッチングされる第1、第2、第3トレンチ64、67、70の深さは、エッチングの限界範囲の変化を最小にするように制御され、印刷版の良好かつ精密なパターンを形成する。
以上説明してきた実施形態及び添付の図面に本発明が限定されるものではなく、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で種々の置換、変形及び変更が可能であるということは、本発明の属する技術分野における通常の知識を持つ者にとって明白である。
関連技術としての印刷ロール及び印刷版を用いて基板上にパターンを形成する工程を示した工程断面図である。 関連技術としての印刷ロール及び印刷版を用いて基板上にパターンを形成する工程を示した工程断面図である。 関連技術としての印刷ロール及び印刷版を用いて基板上にパターンを形成する工程を示した工程断面図である。 従来技術による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 従来技術による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 従来技術による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 従来技術による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 従来技術による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 本発明による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 本発明による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 本発明による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 本発明による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 本発明による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 本発明による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。 本発明による印刷版の製造方法を示す工程断面図である。
符号の説明
61 絶縁基板
62a 金属膜パターン
63 第1フォトレジスト
64 第1トレンチ
65 第1エッチング防止層
66 第2フォトレジスト
67 第2トレンチ
68 第2エッチング防止層
69 第3フォトレジスト
70 第3トレンチ

Claims (7)

  1. 絶縁基板上に開口部を有するハードマスクを形成する段階と、
    前記ハードマスクをマスクとして前記絶縁基板を等方性エッチングして前記絶縁基板に第1深さを有する第1トレンチを形成する段階と、
    前記第1トレンチを含む絶縁基板の全面に、第1エッチング防止層及び第1ポジティブフォトレジストを順に形成する段階と、
    前記ハードマスクをマスクとして前記第1ポジティブフォトレジストに全面露光及び現像を行ってパターニングする段階と、
    前記ハードマスクをマスクとして前記絶縁基板を等方性エッチングして前記絶縁基板に前記第1深さよりも深い第2深さを有する第2トレンチを形成する段階と、
    前記第2トレンチを含む絶縁基板の全面に第2エッチング防止層及び第2ポジティブフォトレジストを順に形成する段階と、
    前記ハードマスクをマスクとして前記第2ポジティブフォトレジストに全面露光及び現像を行ってパターニングする段階と、
    前記ハードマスクをマスクとして前記絶縁基板を等方性エッチングして前記絶縁基板に前記第2深さよりも深い第3深さを有する第3トレンチを形成する段階と、
    前記ハードマスク、第1及び第2エッチング防止層、及び第1及び第2ポジティブフォトレジストを除去する段階と、を備え、
    前記第1乃至第3トレンチは、HF系列のエッチング液を用いて前記絶縁基板を選択的に除去してなり、
    前記ハードマスク層は、金属膜を使用し、
    前記第1及び第2エッチング防止層は透明金属または不透明金属で形成され、0.01〜0.3μmの厚さで形成されることを特徴とする印刷版の製造方法。
  2. 前記金属膜は、CrまたはMoからなることを特徴とする請求項に記載の印刷版の製造方法。
  3. 前記第2トレンチを形成した後、前記残留する第1ポジティブフォトレジストを除去する段階をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の印刷版の製造方法。
  4. 前記第3トレンチを形成した後、前記残留する第2ポジティブフォトレジストを除去する段階をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の印刷版の製造方法。
  5. 前記第1及び第2ポジティブフォトレジストは、前記ハードマスク層を除去した後に、同時に除去する段階をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の印刷版の製造方法。
  6. 前記第1及び第2エッチング防止層は、ITO、Mo、Cuのいずれか一つからなることを特徴とする請求項1に記載の印刷版の製造方法。
  7. 前記第1乃至第3トレンチはそれぞれ、2〜6μmの深さで形成することを特徴とする請求項1に記載の印刷版の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100652062B1 (ko) * 2005-06-30 2006-12-01 엘지.필립스 엘시디 주식회사 인쇄판의 제조방법
KR101232137B1 (ko) * 2005-11-21 2013-02-12 엘지디스플레이 주식회사 인쇄판, 인쇄판의 제조방법 및 그를 이용한 액정표시소자제조방법
KR101274713B1 (ko) * 2009-12-07 2013-06-12 엘지디스플레이 주식회사 인쇄판의 제조 방법 및 그를 이용한 박막 패턴의 제조 방법
CN110515485B (zh) * 2019-07-31 2022-05-10 芜湖伦丰电子触摸屏产业技术研究院有限公司 一种采用小网版制备大尺寸触摸屏功能片的方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59138334A (ja) * 1983-01-28 1984-08-08 Oki Electric Ind Co Ltd 微細パタ−ンの形成方法
JPH0612767B2 (ja) * 1984-01-25 1994-02-16 株式会社日立製作所 溝およびそのエッチング方法
JP2874233B2 (ja) * 1989-12-26 1999-03-24 ソニー株式会社 ドライエッチング方法
JP2800476B2 (ja) * 1991-07-11 1998-09-21 凸版印刷株式会社 凹版の製造方法
JP2504662B2 (ja) * 1992-02-28 1996-06-05 株式会社ジーティシー 印刷版およびその製造方法
JP2848200B2 (ja) * 1993-06-30 1999-01-20 凸版印刷株式会社 凹版の製造方法
JP3080036B2 (ja) * 1997-06-20 2000-08-21 日本電気株式会社 マスク形成方法及び該方法により形成したマスク
US6190988B1 (en) * 1998-05-28 2001-02-20 International Business Machines Corporation Method for a controlled bottle trench for a dram storage node
JP2001093779A (ja) 1999-09-27 2001-04-06 Tdk Corp グラビア印刷版ロールの製造方法並びに積層セラミック電子部品
JP2001267298A (ja) * 2000-03-17 2001-09-28 Toshiba Corp 微細パターン形成方法
US20030060037A1 (en) * 2001-09-27 2003-03-27 Joseph Wu Method of manufacturing trench conductor line
FR2834382B1 (fr) 2002-01-03 2005-03-18 Cit Alcatel Procede et dispositif de gravure anisotrope du silicium a haut facteur d'aspect
JP2004079901A (ja) * 2002-08-21 2004-03-11 Nec Electronics Corp 半導体装置及びその製造方法
JP4220229B2 (ja) * 2002-12-16 2009-02-04 大日本印刷株式会社 荷電粒子線露光用マスクブランクスおよび荷電粒子線露光用マスクの製造方法
US7344992B2 (en) * 2003-12-31 2008-03-18 Dongbu Electronics Co., Ltd. Method for forming via hole and trench for dual damascene interconnection
TWI259935B (en) * 2004-01-08 2006-08-11 Samsung Electronics Co Ltd Method of adjusting deviation of critical dimension of patterns
KR100652062B1 (ko) * 2005-06-30 2006-12-01 엘지.필립스 엘시디 주식회사 인쇄판의 제조방법

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