JP4908138B2 - プローブ検査装置 - Google Patents
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- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2891—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks related to sensing or controlling of force, position, temperature
Description
本発明の係る第1の実施例について、図1ないし図4を参照して説明する。なお、図1は本実施の形態のプローブ検査装置の表示画像を示す模式的な正面図、図2はプローブ検査装置の構造を示す模式的な側面図、図3はプローブ検査装置に半導体ウェハがセットされた状態を示す模式的な側面図、図4はプローブ検査装置にプローブカードがセットされた状態を示す模式的な側面図、図5はプローブ検査装置の処理動作を示すフローチャート、である。また、本実施の形態では、前後左右上下の方向を規定して説明するが、これは構成要素の相対関係を簡単に説明するために便宜的に規定したものであり、本発明を実施する場合の製造時や使用時の方向を限定するものではない。
より具体的には、本形態のプローブ検査装置100を利用する場合、詳細には後述するが、プローブ針310が電極パッドPに適切に接触しなかった部分の位置データが、キーボード操作などによりコンピュータ装置130に入力される。すると、コンピュータ装置130は、入力された位置データに対応してX/Yステージ110を動作制御するので、半導体ウェハ200とプローブカード300とで電極パッドPにプローブ針310が適切に接触しなかった部分が光学顕微鏡120に対向される。
以下、本発明に係る第2の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。本実施の形態は、パッド画像が予め定められたプローブ針の位置座標データに基づいて設定される点において第1の実施の形態とは異なる。したがって、第1の実施の形態におけるウェハ保持手段、およびウェハ撮像手段を備えていない。
110 ウェハ保持手段、カード保持手段、ウェハ移動手段、カード移動手段、として機能するX/Yステージ
121 ウェハ撮像手段およびプローブ撮像手段として機能する撮像デバイスであるCCDカメラ
130 位置入力手段、移動制御手段、画像記憶手段、として機能するとともに画像処理手段の一部として機能するコンピュータ装置
140 画像処理手段の一部として機能するディスプレイユニット
200 半導体ウェハ
300 プローブカード
310 プローブ針
400 目標プローブ針位置
401 プロービングエリア
P 電極パッド
Q 先端
Claims (9)
- 複数の電極パッドが所定配置で表面に各々形成されている多数の半導体装置が配列されて表面に形成されている半導体ウェハを保持するウェハ保持手段と、
保持された前記半導体ウェハから前記電極パッドの位置を特定できるパッド画像を撮像するウェハ撮像手段と、
撮像された前記パッド画像を記憶する画像記憶手段と、
前記半導体ウェハの表面の多数の前記半導体装置の少なくとも一部の前記電極パッドに先端が接触するように多数のプローブ針が表面に配列されているプローブカードを前記プローブ針が上方に位置する状態で保持するカード保持手段と、
保持された前記プローブカードから前記プローブ針の先端の位置を特定できるプローブ画像をリアルタイムに撮像するプローブ撮像手段と、
反転させた前記パッド画像に前記プローブ画像をリアルタイムに重ね合わせて表示する画像処理手段と、
を有しており、
前記ウェハ撮像手段と前記プローブ撮像手段とが1個の撮像デバイスからなるプローブ検査装置。 - 前記カード保持手段は、前記画像処理手段の表示画面が視認される位置で前記プローブカードを保持する請求項1に記載のプローブ検査装置。
- 複数の電極パッドが所定配置で表面に各々形成されている多数の半導体装置が配列されて表面に形成されている半導体ウェハを保持するウェハ保持手段と、
保持された前記半導体ウェハから前記電極パッドの位置を特定できるパッド画像を撮像するウェハ撮像手段と、
撮像された前記パッド画像を記憶する画像記憶手段と、
前記半導体ウェハの表面の多数の前記半導体装置の少なくとも一部の前記電極パッドに先端が接触するように多数のプローブ針が表面に配列されているプローブカードを前記プローブ針が上方に位置する状態で保持するカード保持手段と、
保持された前記プローブカードから前記プローブ針の先端の位置を特定できるプローブ画像をリアルタイムに撮像するプローブ撮像手段と、
反転させた前記パッド画像に前記プローブ画像をリアルタイムに重ね合わせて表示する画像処理手段と、
を有しており、
前記ウェハ撮像手段は、前記半導体ウェハの表面を部分的に撮像し、
前記プローブ撮像手段は、前記プローブカードの表面を部分的に撮像し、
前記ウェハ撮像手段と前記ウェハ保持手段との少なくとも一方を前記半導体ウェハの表面と平行に移動させるウェハ移動手段と、
前記プローブ撮像手段と前記カード保持手段との少なくとも一方を前記プローブカードの表面と平行に移動させるカード移動手段と、
も有しているプローブ検査装置。 - 前記プローブ針が前記電極パッドに適切に接触しなかった部分の位置データが入力される位置入力手段と、
入力された前記位置データに対応して前記ウェハ移動手段と前記カード移動手段とを動作制御する移動制御手段と、
も有している請求項3に記載のプローブ検査装置。 - 前記ウェハ撮像手段と前記プローブ撮像手段とが1個の撮像デバイスからなり、
前記ウェハ保持手段と前記カード保持手段と前記ウェハ移動手段と前記カード移動手段とが1個のX/Yステージからなる請求項3に記載のプローブ検査装置。 - 前記ウェハ撮像手段と前記プローブ撮像手段とが1個の撮像デバイスからなり、
前記ウェハ保持手段と前記カード保持手段と前記ウェハ移動手段と前記カード移動手段とが1個のX/Yステージからなり、
前記X/Yステージに保持されているのが前記半導体ウェハか前記プローブカードかが入力される保持入力手段も有しており、
前記移動制御手段は、前記半導体ウェハが保持されているか前記プローブカードが保持されているかに対応して前記位置データによる前記X/Yステージの動作制御を実行する請求項4に記載のプローブ検査装置。 - パッド配置画像を記憶するパッド配置画像の記憶手段と、
プローブ針が表面に配列されているプローブカードを前記プローブ針が上方に位置する状態で保持するカード保持手段と、
保持された前記プローブカードから前記プローブ針の先端の位置を特定できるプローブ画像をリアルタイムに撮像するプローブ撮像手段と、
前記パッド配置画像と前記プローブ画像とが同一方向で重ね合わせて表示される画像処理手段と、を有しており、
前記ウェハ撮像手段と前記プローブ撮像手段とが1個の撮像デバイスからなるプローブ検査装置。 - パッド配置画像を記憶するパッド配置画像の記憶手段と、
プローブ針が表面に配列されているプローブカードを前記プローブ針が上方に位置する状態で保持するカード保持手段と、
保持された前記プローブカードから前記プローブ針の先端の位置を特定できるプローブ画像をリアルタイムに撮像するプローブ撮像手段と、
前記パッド配置画像と前記プローブ画像とが同一方向で重ね合わせて表示される画像処理手段と、を有しており、
前記パッド配置画像が、予め定められたプローブ針の位置座標データに基づいて設定されることを特徴とするプローブ検査装置。 - 未使用のプローブカードのプローブ針の先端画像を記憶する記憶手段と、
プローブ針が表面に配列されているプローブカードを前記プローブ針が上方に位置する状態で保持するカード保持手段と、
保持された前記プローブカードから前記プローブ針の先端の位置を特定できるプローブ画像をリアルタイムに撮像するプローブ撮像手段と、
前記先端画像と前記プローブ画像とが同一方向で重ね合わせて表示される画像処理手段と、
を有しているプローブ検査装置。
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