KR101074376B1 - 실시간 탐침 정렬장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 실시간 정밀 탐침 정렬장치 및 방법을 설명하기 위한 구성도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 실시간 정렬 장치의 구성을 기구적으로 도시한 도면.
50: 영상 통합 제어장치(퍼스널 컴퓨터) 60: 디스플레이장치(모니터)
Claims (11)
- 기준 마스크를 조준하여 상기 기준 마스크의 영상을 취득하기 위한 제1 카메라;
프로브 카드를 조준하여 상기 프로브 카드의 영상을 취득하기 위한 제2 카메라;
상기 1 카메라와 상기 제2 카메라로부터 각각 취득한 영상들을 통합하기 위한 영상 통합 제어장치; 및
상기 영상 통합 제어장치에서 통합된 영상을 작업자에게 보여주기 위한 디스플레이장치를 포함하는 실시간 탐침 정렬장치. - 청구항 1에 있어서, 상기 제1 카메라와 상기 제2 카메라 각각에는 고배율의 확대 렌즈가 장착된 것을 특징으로 하는 실시간 탐침 정렬장치.
- 청구항 1에 있어서, 상기 제1 카메라와 상기 제2 카메라가 함께 장착되는 동축 프레임을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실시간 탐침 정렬장치.
- 청구항 3에 있어서, 상기 제1 카메라와 상기 제2 카메라는, 상호 간에 간격 조정이 가능하도록, 상기 동축 프레임을 따라 독립적으로 좌우 이동가능하게 설치된 것을 특징으로 하는 실시간 탐침 정렬장치.
- 청구항 1에 있어서, 상기 기준 마스크와 상기 프로브 카드가 모두 놓여, 상기 기준 마스크와 상기 프로브 카드를 함께 이동시키기 위한 동일 스테이지를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실시간 탐침 정렬장치.
- 청구항 5에 있어서, 상기 프로브 카드의 정밀 조정을 위해, X-Y-Z-θ 방향으로 이송 가능한 정밀 조정 스테이지를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실시간 탐침 정렬장치.
- 실시간 탐침 정렬 방법으로서,
제1 카메라와 제2 카메라를 이용하여 기준 마스크의 영상과 프로브 카드의 영상을 취득하는 단계;
영상 통합 제어장치를 이용하여, 상기 1 카메라와 상기 제2 카메라로부터 각각 취득한 영상들을 통합하는 단계; 및
상기 영상 통합 제어장치에서 하나로 통합된 영상을 디스플레이장치를 통해 작업자에게 보여주는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 실시간 탐침 정렬방법. - 청구항 7에 있어서, 상기 영상을 취득하는 단계 전에, 상기 제1 카메라와 상기 제2 카메라 사이의 간격을 조정하는 것을 특징으로 하는 실시간 탐침 정렬방법.
- 청구항 7에 있어서, 상기 영상을 취득하든 단계 전에, 상기 기준 마스크와 상기 프로브 카드가 함께 놓인 동일 스테이지를 움직이고, X-Y-Z-θ 방향으로 이송 가능한 정밀 조정 스테이지를 이용하여, 상기 기준 마스크에 대해 상기 프로브 카드의 위치를 정밀하게 조정하는 것을 특징으로 하는 실시간 탐침 정렬방법.
- 정렬이 필요한 자재의 고정밀 실시간 정렬을 위해,
기준 마스크의 영상을 취득하기 위한 제1 카메라;
상기 자재의 영상을 취득하기 위한 제2 카메라;
상기 제1 카메라와 상기 제2 카메라가 취득한 영상들을 통합하기 위한 영상 통합 제어장치;
상기 영상 통합 제어장치에서 통합된 영상을 작업자에게 보여주기 위한 디스플레이장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 실시간 정렬장치. - 정렬이 필요한 자재의 영상을 취득하기 위한 카메라;
가상의 기준 마스크 또는 기준 위치 좌표를 만들고, 상기 자재의 영상을 처리하는 영상 통합 제어장치; 및
상기 영상 통합 제어장치로부터 제공되는 상기 기준 마스크 또는 기준 좌표와 상기 자재의 영상과 오버랩하여 표시하는 디플레이장치를 포함하는 실기간 정렬장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020100059442A KR101074376B1 (ko) | 2010-06-23 | 2010-06-23 | 실시간 탐침 정렬장치 및 방법 |
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KR101074376B1 true KR101074376B1 (ko) | 2011-10-17 |
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ID=45032951
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KR1020100059442A KR101074376B1 (ko) | 2010-06-23 | 2010-06-23 | 실시간 탐침 정렬장치 및 방법 |
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KR (1) | KR101074376B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101839693B1 (ko) | 2016-08-23 | 2018-03-16 | 한국기초과학지원연구원 | 영상정보를 이용한 하전입자소스모듈 정렬 장치 및 정렬방법 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2001264392A (ja) | 2000-03-21 | 2001-09-26 | Mitsubishi Materials Corp | コンタクトプローブの位置調整装置 |
JP2007184538A (ja) | 2005-12-09 | 2007-07-19 | Nec Electronics Corp | プローブ検査装置 |
KR100786463B1 (ko) | 2000-11-09 | 2007-12-17 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 두 물체의 위치 정렬 방법, 두 물체의 중첩 상태의 검출방법 및 두 물체의 위치 정렬 장치 |
-
2010
- 2010-06-23 KR KR1020100059442A patent/KR101074376B1/ko active IP Right Grant
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