JP2007240503A - 顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 複数の撮像装置それぞれについて退避エリアを設け、かつ、それぞれの撮像ヘッドが、被測定対象物の測定ポイントの位置に移動可能なストロークを持たせ、撮像ヘッドが故障または非稼動状態である場合には、残りの撮像へッドでカバーすることが可能な顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置。
【選択図】 図1
Description
照明を被写体に照射する場合、顕微鏡から同軸落射で照射しその反射光から得られる画像を処理する反射照明方式と、顕微鏡に対し、試料の裏側から照射し、その透過光から得られる画像を処理する透過照明方式がある。
LCD( Liquid Crystal Device )基板のような透明に近い基板(以下、ガラス基板と称する)の寸法測定では、両照明手段を具備し、対象パターンに応じて使い分ける。
一方、撮像装置および照明装置を具備した顕微鏡ヘッド 81 は、上下動ステージ 83 上に設置され、画像処理装置89 により、顕微鏡画像の焦点を合わせるオートフォーカス制御に使用される。
上下動ステージ 83 は、顕微鏡ヘッド81 を移動するための X 方向移動ステージ 82 に設置され、ステージ駆動・制御装置 88 により顕微鏡ヘッド 81 を X 方向(矢印 99 )に移動する。
ステージ駆動・制御装置 88 は、Y 方向移動ステージ 87 と X 方向移動ステージ 82 を駆動するための駆動回路部、及び、ステージの移動制御と位置座標管理を行うステージ制御部から構成され、システム制御装置90 から指示された位置座標に各ステージ( Y 方向移動ステージ 87 及び X 方向移動ステージ 82 )の位置決めをする。
各ステージの移動範囲端には、機械的な衝突を防止するためのリミットセンサ(図示しない)が設置され、ステージ駆動・制御装置 88 は、その信号を検知すると、該当するステージを緊急停止する。
一方、1ポイント当たりの測定に要する時間の改善はされているものの、基板の大型化の拡張ペースに追いつかないため、所要の測定処理をこなすためには、1ラインで今まで以上に寸法測定装置台数を増やす必要があった。
寸法測定装置の台数を増やすと、投資金額が大幅に膨らむという問題がある。このような投資金額の増大を防ぐために、寸法測定装置の台数を増やさない場合には、ガラス基板の寸法測定工程でのタクトタイムの大幅な短縮が大きな課題となってきている。
これは被測定対象領域を複数分割し、分割されたひとつの領域をひとつの顕微鏡ヘッドが、受け持つようにして、同時に複数の顕微鏡で異なる位置のパターンを測定するものである。この場合、顕微鏡ヘッド、顕微鏡の動作ステージおよび画像処理装置が複数必要になるため、故障の可能性が増大し、装置の稼働率低下やラインの安定性低下の問題があった。
即ち、装置の一部、例えば顕微鏡ヘッドや顕微鏡の動作ステージの一部や画像処理装置が故障すると、故障した系統が受け持つべき分割された被測定対象領域の測定が出来なくなるため、被測定対象全域の測定が出来ない問題があった。また一部の故障により、装置アラームが発生し、装置システム全体が動作しない問題があった。また故障の復旧処理体制を整えるためには、予備部品の配備や保守体制維持費等、莫大な費用が発生する問題があった。
一方、故障の復旧処理体制が整っていない場合、長時間装置が運用できなくなるため、タクトタイムの大幅な短縮が実現しても、バックアップ装置の準備が必要であり、寸法測定装置台数を減らすことによる投資金額低減が図れない問題があった。
また好ましくは、本発明の請求項3に係る顕微鏡撮像装置は、更に上記N個の撮像ヘッドと各々対応するN個の透過照明装置と、上記透過照明装置を上記N個の撮像ヘッドの上記平面エリア上の位置に同期して移動する透過照明移動ステージとを備え、更に、上記異常検知手段は、上記N個の透過照明装置の異常を検知し、上記制御手段は、上記N個の透過照明装置のいずれかの異常を検知した場合には、当該透過照明装置を対応する撮像ヘッドと共に上記退避エリアに退避させ、上記検知手段が異常を検知していない透過照明装置に対応する撮像ヘッドによって上記被測定対象物の平面エリア全体を移動可能とするように制御するものである。
また複数の顕微鏡動作軸と照明動作軸に退避エリアの余裕を有す動作ストロークを持たせ、更に適切なソフトウェア制御をすることにより、故障時の装置バックアップ機能を充実させ、故障による装置の稼働率低下やラインの安定性低下の問題を防止することができ、信頼性が増した。
図1は、本発明の一実施例の寸法測定装置を説明するためのブロック図で、寸法測定装置を上から見た図ある。また、図2は、図1の構成の寸法測定装置の制御の方法を説明するための制御ブロック図である。
図1と図2において、LCD 基板等のガラス基板である被測定対象物86 は、Y 方向移動ステージ 87 上に固定され、ステージ駆動・制御装置88′により Y 方向(矢印 98 )に移動する。
即ち、顕微鏡ヘッド 81 と 91 は、画像処理装置 89 と 97 により、それぞれ個々に、独立して、被測定対象物の平面エリア内の測定ポイントの位置へ移動可能で、位置補正も個々に行うことができ、更に、それぞれ独立して個々に、照明調整、レンズ倍率選択、オートフォーカス制御、撮像、及び画像処理による寸法測定を行う。
このため、透過照明装置 84 及び 95 についても、それぞれが被測定エリア上を移動し得るストロークを持っており、少なくとも1つの透過照明装置が故障または非稼動状態でも、当該顕微鏡ヘッドと透過照明装置を退避位置に移動し、他の顕微鏡ヘッドと透過照明装置が被測定全エリア上を直線状に移動できる。
なお、上記制御は、システム制御装置 90′が行い、故障の検知や稼動状態か非稼動状態かの検知手段をこのシステム制御装置 90′に備えるが、別途、検知手段を持っていても良い。
また、ステージ駆動・制御装置 88′は、複数の顕微鏡ヘッド間および複数の透過照明装置間の X 方向の座標の差分を常時監視し、その差分が所定の値に以内になった時に、減速停止するようにソフトウェア制御して衝突を防止するようにしている。
各ステージの移動範囲端には、機械的な衝突を防止するためのリミットセンサが設置され、ステージ駆動・制御装置 88′は、その信号を検知すると、ステージを緊急停止する。
また更に、上記実施例では、顕微鏡ヘッド 81 、X 方向移動ステージ 82 、上下動ステージ 83 、透過照明装置 84 、透過照明装置 X 方向移動ステージ 85 、及び、画像処理装置 89 を1組の測定処理単位として制御する組合せの場合と、顕微鏡ヘッド91 、X 方向移動ステージ 92 、上下動ステージ93 、透過照明装置 95 、透過照明装置 X 方向移動ステージ96 、画像処理装置 97 、及び、Y 方向微動ステージ 94 を1組の測定処理単位として制御する組合せの場合とによって、本発明の実施例を説明した。
しかし、上記実施例のように、2つの組合せだけでなく、3つ以上の組合せであっても良く、また、Y 方向移動ステージが複数ある構成であっても良い。
このような基板1枚に1個の製品パターンしか作れない場合には、複数の撮像ヘッドで別の製品の同一パターンを測定または検査することがないため、複数ヘッドを同時に稼動させる必要がない。
したがって、1組の撮像ヘッド、画像処理装置、あるいは透過照明装置を用いるようにしておき、製品によって切替えるようにすれば、本発明は更に多数の用途の製品に適用できるので、利用範囲が広くなる。またこの場合、使用していない機器をとりはずしてメンテナンスすることも可能である。
本発明の一実施例を、図5と図6によって説明する。図5は、本発明を用いた2ヘッド方式のLCD( Liquid Crystal Display )線幅測定装置の構成を説明するための図である。図5(a) は装置を上から見た平面図、図5(b) は図5(a) の平面図を矢印 A の方向から見た図、図5(c) は装置を図5(a) の平面図を矢印 B の方向から見た図である。
2ヘッド方式 LCD 線幅測定装置は、撮像ヘッド部を2つ備えた LCD 線幅測定装置であり、N ヘッド方式 LCD 線幅測定装置とは、撮像ヘッド部を N 個備えた LCD 線幅測定装置である( N は2以上の自然数)。
撮像ヘッド部 10 は、△X1 軸のガイド 8 に搭載され、撮像ヘッド部 11 は、△X2 軸のガイド 9 に搭載されている。
撮像ヘッド部 10 は、△X1 軸のガイド 8 に沿って X 軸方向に移動し、同様に、撮像ヘッド部 11 は、△X2 軸のガイド 9 に沿って X 軸方向に移動する。
Py1 軸 12 と Py2 軸 13 は、Y 軸の梁 1 から吊り下げられた透過照明ガイド 104 に搭載され、透過照明ガイド 104 に沿って Z 軸方向に動作する。
透過照明 16 は、△Px1 軸 14 に沿って X 軸方向に移動し、同様に、透過照明 17 は、△Px2 軸 15 に沿って X 軸方向に移動する。
同様に、透過照明 17 の△Px2 軸 15 に沿った移動と、撮像ヘッド部 11 の△X2 軸 9 に沿った移動とは連動しており、例えば、透過照明 17 の照明光の出射中心軸と、撮像ヘッド部 11 の入射光軸は、同一の光軸 112 である。
実線枠 25 は、実際に搭載される試料位置であり、XY 軸方向の位置ずれ(基準点の不一致)と回転方向のずれが発生する。これらのずれは、位置補正が必要な測定エラーの発生要因となる。例えば、同じ列に配置されていた2つの製品のうち、撮像ヘッド部 10 の撮像視野内には測定座標 P1 が含まれるが、撮像ヘッド部 11 の撮像視野内には、同じ列に配置されている測定座標 P2 が含まれない場合が位置補正が必要な測定エラーと言える。以下、詳細に説明する。
△X = YP1-P2× sin θ‥‥‥式(1)
△Y = YP1-P2×( 1 − cos θ)‥‥‥式(2)
また、上記実施例では、透過照明による測定または検査であったが、反射照明による測定または検査だけの線幅測定装置であるなら、透過照明は不要であるし、もちろん撮像ヘッド部との移動に対する連動も不要である。
図7において、508 は観察用カラーカメラユニット、測定カメラユニット、電動レボルバユニット、及びレーザーオートフォーカスユニット等からなる撮像ヘッド部、509 は試料台、510 は位置補正部、512 はエアー除振台、513 は照明用電源、514 はカラーモニタ、515 は測定用モニタ、516 は測定結果表示用モニタ、517 はビデオプリンタ、518 は画像処理 PC( Personal Computer )、519 は制御 PC 、520 はステージ制御部、521 は透過照明用電源、522 は透過照明ヘッド部である。また、501 は、撮像ヘッド部 508 、試料台 509 、位置補正部 510 、エアー除振台 512 、照明用電源 513 、ステージ制御部 520 、透過照明用電源 521 、透過照明ヘッド部 522 で構成されている測定部である。
測定装置は、外部ホスト( HOST )または制御 PC 519 の指令により測定を開始する。測定は、予め設定されたレシピに基づいて、自動またはマニュアル動作で開始され、測定結果は測定結果表示用モニタ 516 に表示され、かつ測定結果は例えば制御 PC 519 内の HD( Hard Disk )等の磁気ディスクの所定のエリアに書込まれる。また、それらの測定結果データは、外部ホストの要求により、外部ホストに配信される。
なお、エアー除振台 512 によって、外部の振動が試料台 509 に伝わらないようにしている。
求めた補正量の情報を制御 PC 519 に出力し、制御 PC 519は、ステージ制御部 520 を補正量の情報に基づいて制御指示信号をする。ステージ制御部 520 は、入力された制御指示信号に対応する制御信号を位置補正部 510 に与え、位置補正を行う。
このようにして位置補正を行いながら、測定または検査を行う。
なお、Y 軸方向のずれの補正は、前述のように、Y1 軸 のガイド 4 または Y2 軸 のガイド 5 で実行しても良い。
また更に、X 軸方向、Y 方向、及び回転(θ)方向に微調できるマニュプレータを用い、制御 PC 519 によって補正することでも良い。
本発明の一実施例の位置決め動作のフローチャートは、大きく分けて4つの処理シーケンス(手順)から成っている。即ち、処理全体を司る主シーケンス部、主シーケンス部からの指示によって撮像ヘッド部 10 が撮像した画像を解析する第1の画像解析シーケンス部、主シーケンス部からの指示によって撮像ヘッド部 11 が撮像した画像を解析する第2の画像解析シーケンス部、主シーケンス部からの指示によって、線幅測定装置の制御部 501(図7に示す構成でいうと、撮像ヘッド部 508 、試料台 509 、位置補正部 510 、エアー除振台 512 、照明用電源 513 、ステージ制御部 520 、透過照明用電源 521 、及び、透過照明ヘッド部 522 から成る。)を制御するステージシーケンス部から成っている。
また、図7で示すと、主シーケンス部は制御用 PC 519 内で処理され、第1の画像解析シーケンス部と第2の画像解析シーケンス部は制御用 PC 519 からの指示を受けて画像処理 PC 518 で処理される。更に、測定部 501 の動作は、制御用 PC 519 からの指示を受けてステージ制御部 520 で処理される。
例えば、図9、図12、及び図17は、撮像ヘッド部 10 が撮った画像( Image 1 )を処理する画像 1 処理動作シーケンスのフローチャートを示し、図9、図13、及び図18は、撮像ヘッド部 11 が撮った画像( Image 2 )を処理する画像 2 処理動作シーケンスのフローチャートを示す。また、図10、図14、図15、及び図19は、測定部 501 の所要の構成部に対し、主処理動作シーケンスからの指令を受けて処理する測定部処理シーケンスを示す。
また、図10の補正テーブルには、真直度等、装置の機械的誤差を補正するための補正データが格納されており、位置座標等の補正に使用される。
また、図12〜図15と図17〜図19のシーケンス中のレーザオートフォーカス処理(Laser AF )や測定オートフォーカス処理(測定 AF )は、図7には図示していないが、周知の技術を用いる(例えば、特開2005−98970号公報、特開平7−17013号公報参照。)。
図6に示すように、理想的な搭載位置(破線枠24 )と比べて分かるように、試料台 102 上に搭載された被測定対象物(実線枠 25 )が回転方向にずれた場合の位置補正の処理動作を説明する。
この算出したずれ量 △X 22 とずれ量 △Y 23 を用いて、図20に示すシーケンスによって位置補正を行う。
これらのデータから、X 軸の移動量( X1 + XAL_offset)、Y1 軸の移動量( Y1 + YAL_offset)、Y2 軸の移動量( Y2 + YAL_offset + YAL_angle)、及び△X2 軸の移動量( X2 − X1 + YAL_offset+ YAL_angle)が制御用 PC 519 からステージ制御部 520 に送出され、各軸が移動する(ステージ移動 303 )。
これによって、撮像ヘッド部 10 と 11 の視野範囲内にそれぞれの測定ポイント P1 と P2 とが映し出される。
同様に、画像処理 PC 518 で撮像ヘッド部 11 が取得した画像 2 の一部とあらかじめ登録されているパターンとのパターンマッチング位置検出処理を行い(検出処理 306 )、測定対象を視野範囲の中心へ移動させるための補正量を算出し、Y2 軸の移動量と△X2 軸の移動量を制御用 PC 519 を介してステージ制御部 520 に送出する(処理 307 )。
現在の測定ポイント P1 、P2 を中心とした視野範囲内での線幅測定処理を終了すると、次の測定ポイントの測定位置座標データ 301 を図8の Main PC HDD から出力し、次の測定ポイントに移動する。即ち、図20の動作を繰り返す。
なお、上記実施例では、測定ポイントの移動の都度、△X2 軸の位置補正を実行しているが、1つの被測定対象物上の多数個取り製品のそれぞれの製作位置精度が良ければ、1度△X2 軸の位置補正を実行すれば、測定ポイントの移動毎に△X2 軸の位置補正を行わなくても良い。
Claims (5)
- 被測定対象物に複数の測定ポイントを有する平面エリア上の互いに交差する第1の方向と第2の方向のうち、第1の方向と平行に移動可能な第1のステージと、上記第1のステージ上を上記第2の方向と平行に移動可能で、上記第1のステージ上に設けられ、上記第2の方向と平行に各々独立に移動可能な上記被測定対象物を撮像する撮像ヘッドであって、該撮像ヘッド各々が独立に上下に移動する上下動ステージを具備し、上記平面エリア上を分割したN個のエリア(Nは2以上の整数)内の測定ポイントを別々に移動するN個の顕微鏡ヘッドと、上記N個の顕微鏡ヘッド各々について異常を検知する異常検知手段と、制御手段とを備え、
上記制御手段は、上記以上検知手段が異常を検知した場合には、当該撮像ヘッドを上記被測定対象物の平面エリアから退避エリアに退避させ、上記検知手段が異常を検知していない撮像ヘッドによって上記被測定対象物の平面エリア全体を移動可能とするように制御することを特徴とする顕微鏡撮像装置。 - 請求項1記載の顕微鏡撮像装置において、更に上記N個の撮像ヘッドと各々対応するN個の透過照明装置と、上記透過照明装置を上記N個の撮像ヘッドの上記平面エリア上の位置に同期して移動する透過照明移動ステージとを備え、上記制御手段は、上記以上検知手段が撮像ヘッドの異常を検知した場合には、対応する透過照明装置を上記被測定対象物の平面エリアから退避エリアに退避させることを特徴とする顕微鏡撮像装置。
- 請求項1記載の顕微鏡撮像装置において、更に上記N個の撮像ヘッドと各々対応するN個の透過照明装置と、上記透過照明装置を上記N個の撮像ヘッドの上記平面エリア上の位置に同期して移動する透過照明移動ステージとを備え、
更に、上記異常検知手段は、上記N個の透過照明装置の異常を検知し、
上記制御手段は、上記N個の透過照明装置のいずれかの異常を検知した場合には、当該透過照明装置を対応する撮像ヘッドと共に上記退避エリアに退避させ、上記検知手段が異常を検知していない透過照明装置に対応する撮像ヘッドによって上記被測定対象物の平面エリア全体を移動可能とするように制御することを特徴とする顕微鏡撮像装置。 - 請求項1に記載の顕微鏡撮像装置と、上記N個の撮像ヘッドに対応し、上記N個の撮像ヘッドから出力される映像信号に基づいて上記被測定対象物の複数の測定ポイントの測定を行うN個の画像処理部とを備え、
上記異常検知手段は、更に上記N個の画像処理部の異常を検知し、
上記制御手段は、上記異常検知手段が、上記N個の画像処理部のいずれかの異常を検知した場合に、上記異常を検知した画像処理部に対応する撮像ヘッドを上記退避エリアに退避させることを特徴とする寸法測定装置。 - 請求項2または請求項3のいずれかに記載の顕微鏡撮像装置と、上記N個の撮像ヘッドに対応し、上記N個の撮像ヘッドから出力される映像信号に基づいて上記被測定対象物の複数の測定ポイントの測定を行うN個の画像処理部とを備え、
上記異常検知手段は、更に上記N個の画像処理部の異常を検知し、
上記制御手段は、上記異常検知手段が、上記N個の画像処理部のいずれかの異常を検知した場合に、上記異常を検知した画像処理部に対応する撮像ヘッドと透過照明装置とを上記退避エリアに退避させることを特徴とする寸法測定装置。
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