JP4905783B2 - 有機半導体素子 - Google Patents
有機半導体素子 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4905783B2 JP4905783B2 JP2006514576A JP2006514576A JP4905783B2 JP 4905783 B2 JP4905783 B2 JP 4905783B2 JP 2006514576 A JP2006514576 A JP 2006514576A JP 2006514576 A JP2006514576 A JP 2006514576A JP 4905783 B2 JP4905783 B2 JP 4905783B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- adhesive layer
- organic
- organic semiconductor
- semiconductor element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 59
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 177
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 124
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 62
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 claims description 52
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 41
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 41
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 41
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims description 34
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 31
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 27
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 27
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 27
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 26
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 19
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 13
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 11
- -1 silicon nitrides Chemical class 0.000 claims description 11
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 10
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 9
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 7
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 6
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical class [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 claims description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 3
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 claims description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 2
- 229920002396 Polyurea Polymers 0.000 claims description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 2
- 125000006839 xylylene group Chemical group 0.000 claims description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 25
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 22
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 19
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 18
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 18
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 15
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 14
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 12
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 10
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 9
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 8
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- XCJYREBRNVKWGJ-UHFFFAOYSA-N copper(II) phthalocyanine Chemical compound [Cu+2].C12=CC=CC=C2C(N=C2[N-]C(C3=CC=CC=C32)=N2)=NC1=NC([C]1C=CC=CC1=1)=NC=1N=C1[C]3C=CC=CC3=C2[N-]1 XCJYREBRNVKWGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 4
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241000872198 Serjania polyphylla Species 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N copper tungsten Chemical compound [Cu].[W] SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 2
- 239000004831 Hot glue Substances 0.000 description 1
- 206010037660 Pyrexia Diseases 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021523 barium zirconate Inorganic materials 0.000 description 1
- DQBAOWPVHRWLJC-UHFFFAOYSA-N barium(2+);dioxido(oxo)zirconium Chemical compound [Ba+2].[O-][Zr]([O-])=O DQBAOWPVHRWLJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- KOPBYBDAPCDYFK-UHFFFAOYSA-N caesium oxide Chemical compound [O-2].[Cs+].[Cs+] KOPBYBDAPCDYFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001942 caesium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000005034 decoration Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000005338 heat storage Methods 0.000 description 1
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910001512 metal fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000005121 nitriding Methods 0.000 description 1
- 238000010943 off-gassing Methods 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 239000005871 repellent Substances 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/02—Details
- H05B33/04—Sealing arrangements, e.g. against humidity
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/841—Self-supporting sealing arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/842—Containers
- H10K50/8426—Peripheral sealing arrangements, e.g. adhesives, sealants
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/842—Containers
- H10K50/8428—Vertical spacers, e.g. arranged between the sealing arrangement and the OLED
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/87—Arrangements for heating or cooling
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/28—Web or sheet containing structurally defined element or component and having an adhesive outermost layer
- Y10T428/2848—Three or more layers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
【0001】
本発明は、膜封止構造を有する有機半導体素子、特に有機エレクトロルミネッセンス素子に関し、膜封止と放熱を両立し得る新規構造を有する有機半導体素子及びその製造方法に関するものである。
【0002】
有機半導体素子の1種である有機エレクトロルミネッセンス(以下、有機ELと称する。)素子は、自発光型の面状光源であり、薄くて軽く、広視野角であるため、照明やディスプレイ等、幅広い分野への応用が期待されている。一般的な有機EL素子は、例えば透明基板上に陽極として透明電極と少なくとも発光層を含む有機層と陰極とをこの順に積層してなる素子部を有し、有機層に電流を流すことにより発生した光を基板の裏面側から取り出す構成とされている。
【0003】
ところで、有機EL素子を構成する有機層等は一般的に極めて不安定な有機材料から構成されるため、酸素や水分等の影響を受けて容易に劣化するという欠点があり、素子の寿命が短いことが問題となっている。そこで、有機EL素子の周囲に存在する酸素や水分等の素子内部への侵入を防ぐ対策が必要である。
【0004】
一方、有機EL素子からは光だけでなく熱も発生するが、この熱が素子内部に蓄積することにより有機材料を劣化させるため、素子の放熱性も重要である。この有機EL素子の発熱の問題は、照明用の有機EL素子のように、発光エリアの大面積化等に伴ってより一層顕著となる傾向にある。
【0005】
酸素や水分等の侵入を防ぐための対策としては、例えば一般的な有機EL素子においては、有機層を含む素子部を金属又はガラス製の封止缶で封止するとともに、封止缶の内部の空隙に窒素ガス等の不活性ガスを充填した構造が採用されている。
【0006】
しかしながら、封止缶で封止した構造の有機EL素子においては、個々の素子毎に封止缶による封止を行なわなければならず、作業性や生産性、さらには製造コストの点等において問題が多い。また、有機層を含む素子部の周囲を封止缶で封止している構造上、素子の冷却が困難であるという問題もある。例えば、放熱効果を高める目的で、有機層を含む素子部に接するように熱伝導性の高い構造体を取り付けることは、素子の厚みが数百nmと薄く、機械的強度に乏しい有機EL素子において容易ではない。強いて言えば、封止缶が積層体で発生した熱を放熱させる機能を兼ねるものの、有機層を含む積層体と封止缶との間に熱伝導性の低い不活性ガスが介在するため、その放熱効果は非常に低いものである。
【0007】
封止缶を使用せずに有機EL素子を封止する構造としては、樹脂材料等からなる保護膜で有機層を含む積層体を被覆して封止する構造が提案されている(例えば、特許第3334408号公報や特許第3405335号公報等を参照)。特許第3334408号公報記載の発明では、保護層や封止層、外気遮断層等、多層構造により酸素や水分の侵入を防ぐ構造が開示されており、特許第3405335号公報記載の発明では、さらにプラスチック板や金属板等の保護層を多層膜上に重ね、機械的なダメージからの保護層とする構造が開示されている。
【0008】
また、有機EL素子の放熱構造として、有機層を含む素子部を保護膜で封止して、その上に直接放熱板を取り付ける構造が提案されている(例えば、特開平10−106746号公報や特開平10−275681号公報等を参照)。特開平10−106746号公報や特開平10−275681号公報記載の発明では、撥水性保護膜等の上に直接放熱板(ガラス、樹脂、セラミック、金属等の板)を密着させる構造が開示されている。
【0009】
しかしながら、前記特許第3334408号公報や特許第3405335号公報記載の発明においては、膜封止構造に主眼が置かれており、放熱に関してはほとんど考慮されていない。例えば、特許第3405335号公報には、膜封止構造の上にプラスチック板や金属板を重ねることが開示されているが、放熱板としての機能は全く想定していない。ましてや、効率の良い放熱を行うための構造や、膜封止と放熱を両立するための構造の最適化については、完全に想定外である。
【0010】
同様に、前記特開平10−106746号公報や特開平10−275681号公報記載の発明においては、放熱板を設けることは開示されているものの、膜封止についてはほとんど考慮されておらず、ただ単に放熱板を設けることが記載されているに過ぎない。当然、これら特開平10−106746号公報や特開平10−275681号公報記載の発明でも、膜封止と放熱を両立するための構造の最適化については、一切記載がない。
【0011】
また、封止膜上に直接放熱板を設ける場合、接着剤等を用いて放熱板を貼り付けるのが通常であるが、その場合、硬化時の環境が有機EL素子に悪影響を及ぼすことがわかってきた。例えば、光硬化性接着剤を用いた場合、接着剤の硬化のために照射された紫外線が同時に有機EL素子にも照射されており、有機EL素子部の有機物が劣化する原因となる。熱硬化性接着剤を用いた場合、硬化時に加熱する必要があるが、このとき発生するアウトガスが封止膜中に侵入して有機EL素子部にまで到達し、やはり有機EL素子部を劣化させる原因になる。従来技術では、接着の際の有機EL素子に及ぼす悪影響を全く認識しておらず、それに対する対策は講じられていない。
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【0012】
本発明は、このような従来の実情に鑑みて提案されたものであり、封止と放熱を両立し得るように構造の最適化を行うことを目的とし、酸素や水分等を確実に遮断することができ、しかも効率の良い放熱が可能な有機半導体素子を提供することを目的とする。また、本発明は、放熱板を接着する際の悪影響を抑制することができ、有機半導体素子部(有機EL素子)の劣化を抑えることが可能な有機半導体素子及びその製造方法を提供することを目的とする。
【0013】
前記の問題を解決するために、本発明に係る有機半導体素子は、基板上に形成された有機半導体素子部の表面を平坦化する平坦化層と、平坦化層上に接着層によって固定される放熱板と、前記接着層と前記平坦化層との間に形成されるシールド層とを備え、有機半導体素子部を平坦化層とシールド層の薄膜で封止するとともに、封止膜上に前記接着層を介して放熱板を貼り合わせてなり、前記接着層が光硬化性接着層である場合は、前記シールド層が前記光硬化性接着層の硬化に用いる光を遮断する接着層の光硬化性樹脂に金属類を含み、前記接着層が熱硬化性接着層である場合は、前記シールド層が前記熱硬化性接着層の硬化時に発生するガスを遮断する接着層の熱硬化性樹脂に、金属類、金属窒化物類、けい素酸化物類、又は、けい素窒化物類のいずれか1種を含むことを特徴とする有機半導体素子。
また、本発明に係る有機半導体素子の製造方法は、基板上に形成された有機半導体素子部の表面を平坦化する平坦化層と、平坦化層上に接着層によって固定される放熱板と、前記接着層と前記平坦化層との間に形成されるシールド層とからなり、前記接着層が光硬化性樹脂を硬化してなる光硬化性接着層である場合は、前記シールド層は前記光硬化性接着層の硬化に用いる光を遮断し、前記接着層が熱硬化性樹脂を硬化してなる熱硬化性接着層である場合は、前記シールド層は前記熱硬化性接着層の硬化時に発生するガスを遮断するものであり、有機半導体素子部を平坦化層とシールド層の薄膜で封止するとともに、封止膜上に前記接着層を介して放熱板を貼り合わせ、前記樹脂を硬化することを特徴とする。ここで、前記接着層が光硬化性接着層である場合は、接着層の光硬化性材料として、金属類を含み、前記接着層が熱硬化性接着層である場合は、接着層の熱硬化性樹脂に、金属類、金属窒化物類、けい素酸化物類、けい素窒化物類のいずれか1種を含むことが好ましい。
【0014】
以上のような有機半導体素子においては、有機半導体素子部を平坦化層及びシールド層といった薄膜で封止する膜封止構造をとり、それとともに、膜封止構造の上部に放熱板を接着することにより、水分や酸素等の素子内部への侵入を防ぐようにしている。
【0015】
また、有機半導体素子においては、有機半導体素子部上に封止膜として平坦化層及びシールド層が形成されるとともに、この封止膜上に接着層を介して放熱板が固定されているので、有機半導体素子部で発生した熱が封止膜を介して速やかに放熱板に伝えられ、効率の良い放熱が行なわれる。
【0016】
また、従来の膜封止構造に単に放熱板を接着しただけの構造では放熱板を接着する際に有機EL素子部に悪影響を及ぼすおそれがあるため、本発明の有機半導体素子においては、有機半導体素子部を覆う封止膜の構造を最適化している。すなわち、封止膜を有機半導体素子部を覆う平坦化層と平坦化層を覆うシールド層とに機能分離させた積層構造とし、シールド層として、放熱板の接着時の悪影響を遮断する機能を有する層を選択するようにする。有機半導体素子部と接着層との間にこのようなシールド層を配置することで、接着層を硬化する際に用いる光や、接着層の硬化時に発生するアウトガス等がシールド層で遮断され、有機EL素子部への光照射やガスの到達が防止される。したがって、有機EL素子に悪影響を及ぼすことなく、放熱板が接着される。
【0017】
例えば、前記接着層が光硬化性接着層である場合には、前記シールド層は前記光硬化性接着層の硬化に用いる光を遮断する。シールド層が接着層硬化時の光(主に紫外線)を遮断することで、シールド層下の有機半導体層に接着層硬化時の光が到達しないので、光による有機半導体層の劣化が確実に抑制される。
【0018】
さらに、前記接着層が熱硬化接着層である場合には、前記シールド層は前記熱硬化接着層の硬化時に発生するアウトガスを遮断する。シールド層が熱硬化接着層の硬化時に発生するガスを遮断することで、シールド層下の有機半導体層のガスによる劣化が確実に抑制される。
【0019】
ところで、本発明者らの検討の結果、有機半導体素子部上に直接シールド層を成膜した場合、放熱板を接着する際の悪影響を完全には遮断できないことがわかった。そこで、本発明の有機半導体素子においては、有機半導体素子部とシールド層との間に平坦化層を配置するようにしている。有機半導体素子部の表面をシールド層で被覆して有機半導体素子部表面の凹凸を平坦化した上にシールド層を設けることで、欠陥の少ない良好な膜質のシールド層が形成され、この結果、放熱板を接着する際の悪影響が確実にシールド層で遮断される。
【発明の効果】
【0020】
本発明によれば、有機半導体素子部が薄膜により封止されるとともに、封止膜上に放熱板が接着されることにより、有機半導体素子内部への酸素や水分等の侵入を確実に遮断し、効率の良い放熱が実現される。このため、有機半導体素子内部での異常発熱や酸素及び水分等の侵入に起因する有機半導体素子部の劣化が抑制され、さらなる長寿命化が実現された有機半導体素子を提供することが可能である。
【0021】
また、本発明の有機半導体素子によれば、有機半導体素子部上に設ける封止膜として平坦化層及びシールド層を設けることで、放熱板を固定する際の悪影響をシールド層で遮断して有機半導体素子部へ及ぶことを確実に抑制し、放熱板を固着する際の有機半導体素子部の劣化を確実に抑えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【0022】
【図1】図1は、本発明を適用した有機EL素子の一例を示す概略断面図である。
【図2】図2は、本発明を適用した有機EL素子の他の例を示す概略断面図である。
【図3】図3は、接着層にUV硬化性エポキシ樹脂を用いた有機EL素子の、電流密度−輝度特性を示す特性図である。
【図4】図4は、接着層に熱硬化性樹脂を用い、シールド層(Al)が形成された有機EL素子の発光状態を示す写真である。
【図5】図5は、接着層に熱硬化型樹脂を用い、シールド層が形成されていない有機EL素子の発光状態を示す写真である。
【図6】図6は、放熱板の外周端部とシールド層の外周端部とが平面から見て一致するような位置関係とされた有機EL素子の、初期の発光状態を示す写真である。
【図7】図7は、図6に示す有機EL素子の、加速試験後の発光状態を示す写真である。
【図8】図8は、ガラスキャップを封止に用いた有機EL素子及び放熱板を封止に用いた有機EL素子の電流密度−表面温度特性を示す特性図である。
【図9】図9は、UV硬化性接着剤を使用した有機EL素子とシート状の熱硬化性接着剤を使用した有機EL素子のバリア性の相違を示す写真である。
【図10】図10は、有機EL素子の熱処理温度を110℃及び120℃とした時の経時による特性変化の様子を示す写真である。
【発明を実施するための最良の形態】
【0023】
以下、本発明を適用した有機半導体素子について、図面を参照しながら詳細に説明する。以下では、有機半導体素子として有機エレクトロルミネッセンス(以下、単に有機ELと称する。)素子を例に挙げて説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、封止及び放熱対策が必要なあらゆる有機半導体素子に適用可能であることは言うまでもない。
【0024】
図1は、本発明の有機EL素子1の断面図である。有機EL素子1は、基板2上に陽極3、1種類以上の有機材料により多層成膜される有機層4及び陰極5をこの順に積層してなる素子部6と、素子部6の表面を被覆するように成膜された平坦化層7と、平坦化層7上に積層されたシールド層8と、シールド層8上に設けられた接着層9と、接着層9の表面に接着された放熱板10とを備えている。この有機EL素子1は、有機層4中の発光層からの発光を、矢印Aに示すように有機EL素子1の基板2の裏面から取り出すようにしている。
【0025】
基板2としては特に限定されないが、例えばガラス、プラスチック等の光透過性を有する基板が用いられる。
【0026】
基板2上に形成される素子部6は、例えば陽極3、有機層4及び陰極5をこの順に積層することにより構成される。ここで、陽極3は、ITO(インジウム錫酸化物)やインジウム亜鉛酸化物等の光透過性を有する導電材料が例えばスパッタ等により成膜されて構成される。
【0027】
陽極3上に重ねられる有機層4は、例えば陽極3側から、正孔注入層、発光層及び電子注入層等が順次積層されたものである。また、有機層4は、発光層と正孔注入層との間に正孔輸送層が存在する構 成や、発光層と電子注入層との間に電子輸送層が存在する構成、さらには単層でもよい。さらに、有機層4としては前述の構造に限定されず、種々の構造をとることが可能である。
【0028】
有機層4上に重ねられる陰極5は、例えばアルミニウム等の金属や合金等がスパッタや蒸着等により成膜されて構成される。
【0029】
本発明の有機EL素子1は、陽極3、有機層4及び陰極5が例えばべた一面に形成され、陽極3、有機層4及び陰極5が重なり合う領域の面積(発光面積)が、例えば100mm2(例えば10mm×10mm角)以上とされる。このような大面積の有機EL素子では、例えば小面積の有機EL素子に比べて、発熱量の増大や蓄熱による有機EL層の劣化の問題が顕著になるので、薄膜による封止構造及び放熱板10を取り付けることによる放熱対策が極めて有効である。
【0030】
素子部6を覆う平坦化層7は、その上に形成されるシールド層8の膜質を良好にしてシールド層8のバリア性を高める観点から、素子部6の表面の段差や凹凸、ピンホール等を均一に被覆する平滑性が要求される。それとともに、平坦化層7には、素子部6を酸素や水分等から保護するためのガスバリア性、及び素子部6から発生した熱を速やかに放熱板10へ伝えるために高い熱伝導性を有することが好ましい。これらの観点から、キシリレン系高分子化合物、ポリイミド系高分子化合物、アクリル系高分子化合物、エポキシ系高分子化合物、ポリ尿素系高分子化合物等の有機絶縁材料を、プラズマCVD等のCVD法や抵抗加熱蒸着等のPVD法などの気相法(ドライプロセス)により成膜して平坦化層7を形成することが好ましい。例えば、塗布等のウェットプロセスにより平坦化層を形成する方法もあるが、平坦化層7を形成する材料を溶かすために使用する溶媒及びその溶媒に含まれる水分等が素子部6に悪影響を及ぼすおそれがある。
【0031】
平坦化層7上には、シールド層8が積層される。本発明においては、接着層9の硬化時に有機層4等の素子部6の受ける悪影響を遮断する機能がシールド層8に要求される。例えば接着層9がUV硬化樹脂や可視光硬化樹脂等の光硬化性樹脂を硬化してなる光硬化性接着層である場合には、光硬化性接着層の硬化に使用されるUV光や可視光等の光を吸収又は反射して遮断するように、シールド層8を形成することが好ましい。光硬化性接着層の硬化に使用される光を遮断する材料としては、アルミニウム、金、銀等の金属類、酸化亜鉛、酸化チタン、酸化セシウム等の金属酸化物類、硫酸バリウム等の金属硫酸化物類、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム等から少なくとも1種を用いることができる。中でも、バリア性に優れることから、アルミニウム、金、銀等の金属類を用いることが好ましい。光硬化性接着層の硬化に使用されるUV光等の光をシールド層8で遮断することで、接着層9の光硬化時に使用する光から素子部6が保護され、放熱板10を固着する際に有機層4等が劣化することを抑えられる。
【0032】
また、接着層9が熱硬化性樹脂を硬化してなる熱硬化性接着層である場合には、熱硬化性接着層の硬化時に熱硬化性樹脂から発生するアウトガスを遮断するようにシールド層8を形成することが好ましい。熱硬化性樹脂から発生するガスを遮断する、ガスバリア性を有する材料としては、前述の光硬化性接着層の硬化時に使用する光を遮断する材料や、フッ化マグネシウム、フッ化カルシウム、フッ化リチウム等の金属フッ化物類、窒化アルミニウム等の金属窒化物類、二酸化けい素等のけい素酸化物類、窒化けい素等のけい素窒化物類等から少なくとも1種を用いることができる。中でも、バリア性に優れ、硬化時のアウトガスを防ぐ効果が高いことから、アルミニウム、金、銀等の金属類、窒化アルミニウム等の金属窒化物類、二酸化けい素等のけい素酸化物類、窒化けい素等のけい素窒化物類を用いることが好ましい。このように、熱硬化性接着層の硬化時に発生するアウトガスをシールド層8で遮断することで、接着層9の硬化時に発生するガスから素子部6が保護され、放熱板10を固定する際に有機層4等が劣化することを抑えられる。
【0033】
前述の平坦化層7及びシールド層8の膜構成としては、基本的には1層の平坦化層7上に1層のシールド層8を積層すればよいが、これに限らず、平坦化層7やシールド層8のいずれか一方、あるいは双方を2層以上とすることも可能である。具体的には、シールド層8、平坦化層7、シールド層8の順に3層積層したり、平坦化層7、シールド層8、平坦化層7の順に3層積層する等の膜構成を挙げることができる。さらには、平坦化層7とシールド層8を1組として、これらを複数組繰り返し積層することも可能である。
【0034】
次に、この上に形成される接着層9であるが、接着層9には、光硬化性樹脂や熱硬化性樹脂等の樹脂材料、具体的には、アクリル系高分子化合物、エポキシ系高分子化合物等を用いることができる。これらの中では、後述の放熱板10の選択の幅が広がり、高い熱伝導性を有する金属及び合金の板等を用いることが可能であること、その結果、保管寿命(バリア性)も良好になること等の理由により、熱硬化性樹脂からなる熱硬化性接着剤を用いることが好ましい。
【0035】
特に、シート状とされた熱硬化性接着剤(いわゆるホットメルト接着剤)を用いることにより、例えば発光面積の大きな有機EL素子においても、均一な厚さの接着層9を形成することができ、また接着層9の形成に際して、液状接着剤を塗布する場合に発生するエアかみの問題を解消することができ、素子面積拡大に伴う塗布時間の増加を抑えることが可能である。
【0036】
前記シート状の熱硬化性接着剤は、加熱によって流動性を示し、接着性を発揮する。ここで、有機EL素子では、素子構造が薄膜の多段構成となっており、良好な被覆性を得るためには、高い流動性が必要となる。したがって、前記シート状の熱硬化性接着剤は、流動開始温度や粘度が低いことが必要である。一方で、有機EL素子は、耐熱温度が110℃程度であり、これを超える温度での熱処理は、有機EL素子の特性を劣化させる要因となる。これらの事項を加味すると、前記シート状の熱硬化性接着剤は、110℃以下の環境下で被覆に十分な流動性が得られることが必要であり、接着層9の形成に際しては、硬化温度を110℃以下とすることが好ましいことになる。
【0037】
接着層9には、高い熱伝導性を有するフィラー、ガス吸着性を有するフィラー、吸湿性を有するフィラー等のフィラーが分散されていることが好ましい。接着層9にフィラーを含有させることで、フィラーの種類に応じて、有機EL素子1の放熱性、酸素や水分等に対するバリア性等をさらに高めることができる。
【0038】
なお、前記接着層9は、水平方向からの酸素や水分の侵入を抑えるためには、なるべく薄い方が良いが、接着層9の厚さを例えば20μm以下にすることは困難である。このような場合、前記フィラーの粒径は接着層9の厚さの制約を受け、フィラーの平均粒径は接着層9の厚みよりも小さいことが好ましい。さらに、フィラーを前記シート状の熱硬化性接着剤中に混入する場合には、シート成形の品質管理上、シート状の熱硬化性接着剤(接着層9)の厚さの半分以下、すなわち10μm以下とすることが好ましい。
【0039】
放熱板10は、素子部6上に密着形成された膜の表面に固定されることにより、素子部6から発生した熱を速やかに放熱させる機能を有するものである。また、放熱板10は、酸素や水分等が素子内部へ侵入することを抑える封止材としての機能を有するものであり、封止膜のガスバリア性を補強する機能も兼ねるものである。厚み方向のガスバリア性をより一層高めるためには、放熱板10の面積は素子部6の面積より大とされることが好ましい。放熱板10としては、例えばガラス板や、アルミニウム、銅、ステンレス、窒化アルミニウム、銅タングステン等の高い熱伝導性を有する金属及び合金の板等が用いられる。なお、放熱板10は板状でなくてもよく、例えば、ガスバリア性を有するプラスチックシート等のシート状でもよい。また、放熱板10は、シート状に限らず、任意の形状をとることができる。
【0040】
接着層9が光硬化性接着層であるとき、放熱板10は、シールド層8上に光硬化性樹脂を塗布等した後に表面に密着され、この状態で放熱板10の表面に光を照射することにより接着層9上に固定される。すなわち、放熱板10を透過してきた光により光硬化性接着層の硬化が行なわれることから、放熱板10としては、例えばガラス基板、ガスバリア性を有するプラスチックシート等の硬化時に用いる光に対して透過性を有する材料を用いることが好ましい。
【0041】
また、接着層9が熱硬化性接着層であるとき、放熱板10は、シールド層8上に熱硬化性樹脂を塗布等した後に表面に密着され、この状態で加熱することにより接着層9上に固定される。このため、接着層9が熱硬化性接着層であるときには、接着層9が光硬化性接着層であるときに比べて放熱板10の材料を幅広く選択でき、放熱板10として、例えばガラス板、アルミニウム、銅、ステンレス、窒化アルミニウム、銅タングステン等の高い熱伝導性を有する金属及び合金、ガスバリア性を有するプラスチックシート等の光透過性を有する材料等を使用できる。
【0042】
ところで、素子部6の厚み方向のガスバリア性は放熱板10により確保されているが、酸素や水素等の有機EL素子1内への侵入を確実に防ぐ観点からは、素子部6の基板面に平行な方向のガスバリア性を高めることも重要である。そこで、平面から見て素子部6が放熱板10より内側に位置するとともに、放熱板10の外周端部とシールド層8の外周端部との基板面に平行な方向での距離、又は接着層9の外周端部とシールド層8の外周端部との基板面に平行な方向での距離のうち、短いほうの一方が1mm以上であることが好ましい。例えば図1においては、放熱板10及び接着層9の外周端部とシールド層8の外周端部との距離Bが1mm以上であることが好ましい。素子部6の基板面に平行な方向に平坦化層7、シールド層8、接着層9等が前記のように充分に存在することで水分や酸素等が有機層4まで到達し難くなり、有機層4等の素子部6の劣化がより確実に抑制される。また、素子部6の劣化をさらに確実に抑制するためには、放熱板10の外周端部とシールド層8の外周端部との基板面に平行な方向での距離、又は接着層9の外周端部とシールド層8の外周端部との基板面に平行な方向での距離のうち、短いほうの一方が2mm以上であることが好ましい。
【0043】
このような有機EL素子1は、例えば、次に説明するように作製される。最初に、基板2上に通常の方法にしたがって陽極3、有機層4及び陰極5を有する素子部6を形成する。続いて、例えば気相法により有機絶縁材料を成膜して素子部6の表面を覆い、平坦化層7を形成する。次に、平坦化層7を覆うようにシールド層8を成膜する。次に、シールド層8を覆うように接着層9を構成する樹脂材料を塗布し、放熱板10を接着層9を構成する樹脂材料の上に密着させる。その状態で適当な方法により硬化を行って接着層9とし、放熱板10を接着層9上に固着する。この結果、図1に示す有機EL素子1が得られる。
【0044】
有機EL素子1は、前述したように素子部6の発光面積を例えば100mm2以上の大面積とすることで、例えば装飾用照明等の照明装置として利用することができる。また、有機EL素子1は、基板2と放熱板10との間に複数の素子部6を配置することで、有機ELディスプレイとすることもできる。
【0045】
以上のように、本発明の有機EL素子1によれば、素子部6を平坦化層7及びシールド層8の薄膜で封止するとともに、封止膜上に放熱板10を取り付けるようにしているので、素子内部への酸素や水分等の素子内への侵入が確実に遮断され、素子部6の劣化を抑制することができる。また、素子部6上に平坦化層7及びシールド層8の封止膜が形成され、放熱板10が取り付けられることにより、熱伝導性の低い不活性ガス等が介在しないので、効率的な放熱が可能である。
【0046】
また、有機EL素子1には、酸素や水分等を遮断するガスバリア性及び放熱性を両立する目的で放熱板10が取り付けられるが、この放熱板10を接着する際の悪影響を遮断するためのシールド層8を設けることで、有機EL素子1の放熱性及び水分や酸素等に対するガスバリア性を確保しつつ、放熱板10を接着する際の有機層4等の素子部6の劣化を抑制することができる。また、シールド層8下に平坦化層7を設けることで、シールド層8の膜質を良好なものとし、シールド層8の持つ効果が最大限に発揮される。以上のように、素子部6を膜封止するとともに放熱板10を取り付ける構造の有機EL素子1においては、機能分離された各層の構成を最適化することにより、膜封止と放熱性とが両立され、さらには、放熱板10を固定する際の悪影響から素子部6が保護され、有機層4を含む素子部6の劣化を抑えることができる。
【0047】
さらにまた、封止缶で有機EL素子を封止する場合には、強度を確保する観点から、有機EL素子の大型化に伴って封止缶の厚みを増加させる必要があるため、有機EL素子そのものの厚みも増大してしまう。これに対して本発明の有機EL素子1においては、複数の膜及び放熱板10を素子部6に密着させて封止しているので、有機EL素子1の薄型化の効果も期待できる。また、平坦化層7及びシールド層8は通常の薄膜プロセスで形成できるため、多数の素子部6を一括して封止することができ、放熱板10を接着するプロセスも極めて簡単である。したがって、従来の封止缶で封止した構造の有機EL素子に比べて、作業性や生産性に優れ、安価な製造コストにて有機EL素子1の製造が可能である。
【0048】
なお、本発明の有機EL素子1は、前述のような図1に示す構造に限らず、図2に示すように、素子部6の外周に、基板2と放熱板10との間隔を規制するスペーサ層11を設けた構造でもよい。放熱板10の表面に力が加わると、放熱板10が素子部6に接触して素子部6に損傷を与えるおそれがあるが、スペーサ層11を設けることで、基板2と放熱板10との間隔を一定に保ち、素子部6の損傷を軽減できる。スペーサ層11の高さは例えば50μm以下であることが好ましい。スペーサ層11は、例えば接着層9の樹脂と同じ樹脂により構成される。また、スペーサ層11には、微小な球状のガラススペーサ等が含有されていてもよい。
【0049】
スペーサ層11は、例えば次のように形成される。最初に、シールド層8を覆うように接着層9を構成する樹脂材料を塗布した後、この樹脂材料の外側を囲むように、基板2上にスペーサ層11を構成する樹脂材料を線状に塗布し、接着層9を構成する樹脂材料及びスペーサ層11を構成する樹脂材料の上に放熱板10を密着させ、その状態で適当な方法により硬化を行って接着層9及びスペーサ11とする。
【0050】
以下、本発明を適用した有機EL素子の具体的な実施例について、実験結果に基づいて説明する。
【0051】
実験1
本実験では、接着層にUV硬化性樹脂を用いた有機EL素子のシールド層の影響について検討を行なった。先ず、洗浄したITO付ガラス基板(厚み0.7mm)上に、CuPc(厚み200Å)、α−NPD(厚み200Å)、Alq(厚み500Å)、LiF(厚み10Å)、Al(厚み2000Å)の順に抵抗加熱法にて蒸着し、有機層及び陰極を形成した。次に、平坦化層としてポリモノクロロパラキシリレン(2μm)を熱CVD法にて成膜し、次にシールド層としてAl(厚み6000Å)を抵抗加熱により蒸着した。次に、UV硬化性エポキシ樹脂を塗布後、放熱板としてガラス板(厚み0.7mm)を貼り付け、樹脂を硬化させることにより、有機EL素子を作製した。なお、UV硬化性エポキシ樹脂の硬化は、メタルハライドランプを用い、このランプに含まれる波長365nmのUV光を6000mJ/cm2になるように照射して行い、また、アフターキュアを温度80℃、1時間にて行なった。デバイスサイズ(発光面積)は、縦1mm×横1.5mmとした。また、シールド層としてSiOx(6000Å)をスパッタ法にて成膜したこと以外は同様にして、比較例となる有機EL素子を作製した。
【0052】
以上のように作製した有機EL素子について、それぞれ電流密度−輝度特性を測定した。結果を図3に示す。図3より、シールド層にAlを用いた場合には、低い電流密度で高い輝度が得られたのに対し、シールド層にSiOxを用いた場合、メタルハライドランプからのUV光を遮断しきれなかったために素子部の有機材料が劣化し、実施例1に比して輝度特性が損なわれていることが確認された。
【0053】
実験2
本実験では、接着層に熱硬化性アクリル系樹脂を用いた場合のシールド層の影響について検討を行なった。先ず、洗浄したITO付ガラス基板(厚み0.7mm)上にCuPc(厚み200Å)、α−NPD(厚み200Å)、Alq(厚み500Å)、LiF(厚み10Å)、Al(厚み2000Å)の順に抵抗加熱法にて蒸着し、有機層及び陰極を形成した。次に、平坦化層としてポリモノクロロパラキシリレン(2μm)を熱CVD法にて成膜し、次にシールド層としてAl(3μm)を抵抗加熱法にて成膜した。次に、熱硬化性アクリル系樹脂を塗布後、放熱板としてガラス板(厚み0.7mm)を貼り付け、温度90度、1時間の条件で硬化させることにより、有機EL素子を作製した。デバイスサイズ(発光面積)は、縦1mm×横1.5mmとした。この有機EL素子においては、平面から見てシールド層の外周端部が放熱板の外周端部より1mm以上内側に位置している。また、比較例として、シールド層を形成しないこと以外は同様の構造を有する有機EL素子を作製した。
【0054】
以上のように作製した有機EL素子に電流を流し、素子の発光状態を観察した。シールド層(Al)が形成されている場合の写真を図4に、シールド層が形成されていない場合の写真を図5に示す。図4及び図5から明らかなように、シールド層が形成されていない場合、熱硬化性エポキシ樹脂の硬化時のアウトガスの影響を受けて素子が劣化し、多数のダークスポットの発生が観察された。
【0055】
実験3
本実験では、放熱板と素子との位置関係について検討した。先ず、洗浄したITO付ガラス基板(厚み0.7mm)上にCuPc(厚み200Å)、α−NPD(厚み200Å)、Alq(厚み500Å)、LiF(厚み10Å)、Al(厚み2000Å)の順に抵抗加熱法にて蒸着し、有機層及び陰極を形成した。次に、平坦化層としてポリモノクロロパラキシリレン(2μm)を熱CVD法にて成膜し、次にシールド層としてAl(3000Å)を抵抗加熱法にて成膜した。次に、UV硬化性エポキシ樹脂を塗布後、放熱板としてガラス板(厚み0.7mm)を貼り付け、樹脂を硬化させることにより、有機EL素子を作製した。なお、UV硬化性エポキシ樹脂の硬化は、メタルハライドランプを用い、このランプに含まれる波長365nmのUV光を6000mJ/cm2になるように照射して行い、また、アフターキュアを温度80℃、1時間にて行なった。デバイスサイズ(発光面積)は、縦1mm×横1.5mmとした。
【0056】
本実験で作製した有機EL素子は、放熱板の外周端部とシールド層の外周端部とが平面から見て一致するような位置関係とし、詳しくは、平坦化層と有機層の外周端を、シールド層及び平坦化層の外周端よりそれぞれ0.5mm内側に入り込んだ位置とした。すなわち、平面から見た各層の外周端部の位置関係は、外側から放熱板=シールド層、平坦化層、有機層の順とされている。
【0057】
以上のように作製した有機EL素子に電流を流し、作製直後の初期の発光状態を観察した(図6)。また、作製した有機EL素子を温度60℃、相対湿度90%RHの条件で恒温恒湿槽に10時間保管した(加速試験)後に発光させた発光状態を観察した(図7)。
【0058】
図6から明らかなように、陰極の外周端部と有機層の外周端部とを平面から見て一致させた領域(左側)においては、最適化された構造の素子(図4)に比べ、バリア性が悪いため、加速試験を行なう前の時点ですでにダークスポットが発生している。さらに、図7から明らかなように、陰極の外周端部と有機層の外周端部とを平面から見て一致させた領域(左側)からダークエリアの侵食が始まり、加速試験後にはダークエリアが大幅に拡大した。
【0059】
また、平面から見てシールド層の外周端部が放熱板の外周端部より1mm以上内側に位置するような有機EL素子を作製し、前記と同様の検討を行なった。この有機EL素子では、加速試験後においても図7のようなダークエリアの拡大は観察されず、加速試験前の状態がほぼ維持されたことを確認した(図示せず)。
【0060】
実験4
次に、放熱板による封止と封止缶による封止のそれぞれの放熱特性について検討した。先ず、放熱板により封止した有機EL素子を作製した。洗浄済みのITO付ガラス基板(厚み0.7mm)上にCuPc(厚み200Å)、α−NPD(厚み200Å)、Alq(厚み500Å)、LiF(厚み10Å)、Al(厚み2000Å)の順に抵抗加熱法にて蒸着し、有機層及び陰極を形成した。次に、平坦化層としてポリモノクロロパラキシリレン(2μm)を熱CVD法にて成膜し、次にシールド層としてAl(6000Å)を抵抗加熱法にて成膜した。次に、UV硬化性エポキシ樹脂を塗布後、放熱板としてガラス板(厚み0.7mm)を貼り付け、樹脂を硬化させることにより、有機EL素子を作製した。なお、UV硬化性エポキシ樹脂の硬化は、メタルハライドランプを用い、このランプに含まれる波長365nmのUV光で6000mJ/cm2になるように照射して行い、また、アフターキュアを温度80℃、1時間にて行なった。デバイスサイズ(発光面積)は、縦20mm×横30mmとした。なお、有機EL素子部で発生した熱による放熱板の温度上昇を放熱温度計で測定するため、放熱板の表面を黒体スプレーにて黒く塗装した。
【0061】
また、封止缶で封止した有機EL素子を作製した。先ず、前記の方法と同様にして、ITO付ガラス基板上に有機層及び陰極を形成した。次に、この素子部を封止缶(ガラスキャップ)を用いて窒素ガス雰囲気(含有酸素及び水分濃度:10PPMV以下)で封止した。このとき、封止缶の内部の空隙には熱伝導性の低い窒素ガスが充満することになる。基板と封止缶との接着にはUV硬化性樹脂を用い、硬化は、波長365nmのUV光で6000mJ/cm2になるように照射して行い、また、アフターキュアを温度80℃、1時間にて行なった。なお、有機EL素子部で発生した熱による封止缶の温度上昇を放熱温度計で測定するため、封止缶の表面を黒体スプレーにて黒く塗装した。
【0062】
以上のように作製した有機EL素子の放熱板又は封止缶の温度上昇について測定した。温度測定は、電流値を変更した後、5分間待ち温度が安定してから行なった。図8に示すように、有機EL素子の封止に放熱板を用いた場合、素子部で発生した熱が効率よく放熱板に伝わり空気中に発散されるため、電流値を増加させても放熱板の表面温度は上昇しにくいことがわかった。このとき、素子部の温度と放熱板の温度とはほぼ同じか、又は素子部の方が多少高温になっていると考えられる。
【0063】
これに対し、有機EL素子の封止にガラスキャップを用いた場合、放熱板を用いた場合に比べて温度の上昇が著しかった。この温度上昇の原因は、素子で発生した熱が熱伝導性の低い窒素ガスを介してガラスキャップに伝達し、その後発散されるため、キャップに伝わる熱量に比べて素子部の発熱量が勝り、素子内に蓄熱するためと考えられる(素子温度≫ガラスキャップ温度)。有機EL材料は熱に弱いため、素子の温度上昇は素子寿命の点から望ましくないが、素子を高輝度化するためには電流値を上げる必要がある。つまり、既存の封止缶による封止では高輝度化に限界があり、さらなる高輝度化を図るためには、本発明のような放熱板を用いた放熱構造の採用が有効であることがわかった。
【0064】
実験5
本実験では、接着層9をUV硬化性接着剤により形成した場合と、シート状の熱硬化性接着剤により形成した場合における保管寿命(バリア性)の相違について検討した。作製した有機EL素子の構造は、実験1(UV硬化性接着剤)、あるいは実験2(熱硬化性接着剤:ただし、シート状)と同様である。
【0065】
図9(a)はUV硬化性接着剤を使用した有機EL素子のバリア性を示すものであり、図9(b)はシート状の熱硬化性接着剤を使用した有機EL素子のバリア性を示すものである。バリア性の評価は、初期状態と100時間後、192時間後の発光状態を比較することにより行った。その結果、シート状の熱硬化性接着剤を用いた場合には、192時間後にもほとんど劣化していないのに対して、UV硬化性接着剤を用いた場合には、時間経過に伴って特性の劣化(発光領域の減少)が認められる。
【0066】
また、本実験においては、シート状の熱硬化性接着剤の硬化温度を決定するための予備実験として、有機EL素子の熱処理温度による特性の劣化を調べた。結果を図10に示す。図10(a)は有機EL素子を110℃で熱処理した場合、図10(b)は有機EL素子を120℃で熱処理した場合である。110℃で熱処理した場合には、40時間の熱処理の後にも特性の劣化は僅かである。これに対して、120℃で熱処理した場合には、40時間の熱処理後には、大きく特性が劣化していることがわかる。したがって、前記シート状の熱硬化性接着剤を用いて有機EL素子を作製する場合には、その硬化温度を110℃以下に設定することが好ましいと言える。
Claims (11)
- 基板上に形成された有機半導体素子部の表面を平坦化する平坦化層と、平坦化層上に接着層によって固定される放熱板と、前記接着層と前記平坦化層との間に形成されるシールド層とを備え、有機半導体素子部を平坦化層とシールド層の薄膜で封止するとともに、封止膜上に前記接着層を介して放熱板を貼り合わせてなり、
前記接着層が光硬化性接着層である場合は、前記シールド層が前記光硬化性接着層の硬化に用いる光を遮断する接着層の光硬化性樹脂に金属類を含み、前記接着層が熱硬化性接着層である場合は、前記シールド層が前記熱硬化性接着層の硬化時に発生するガスを遮断する接着層の熱硬化性樹脂に、金属類、金属窒化物類、けい素酸化物類、又は、けい素窒化物類のいずれか1種を含むことを特徴とする有機半導体素子。 - 前記熱硬化性接着層がシート状の熱硬化性接着剤により形成されていることを特徴とする請求項1記載の有機半導体素子。
- 前記平坦化層に含まれる有機絶縁材料が、キシリレン系高分子化合物、ポリイミド系高分子化合物、アクリル系高分子化合物、エポキシ系高分子化合物、ポリ尿素系高分子化合物から選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする請求項1記載の有機半導体素子。
- 前記接着層がフィラーを含有し、前記フィラーの平均粒径が前記接着層の厚さよりも小さいことを特徴とする請求項1記載の有機半導体素子。
- 平面から見て前記有機半導体素子部が前記放熱板より内側に位置するとともに、前記放熱板の外周端部とシールド層の外周端部との基板面に平行な方向での距離、又は接着層の外周端部とシールド層の外周端部との基板面に平行な方向での距離のいずれか短い方が1mm以上であることを特徴とする請求項1記載の有機半導体素子。
- 前記有機半導体素子部の外周端部と前記放熱板の外周端部との間に配置され、前記基板と前記放熱板との間隔を規制するスペーサ層を有することを特徴とする請求項1記載の有機半導体素子。
- 前記有機半導体素子部が、一対の電極間に少なくとも1層の有機層を挟んでなる有機エレクトロルミネッセンス素子部であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項記載の有機半導体素子。
- 前記有機エレクトロルミネッセンス素子部の発光面積が100mm2以上であることを特徴とする請求項7記載の有機半導体素子。
- 基板上に形成された有機半導体素子部の表面を平坦化する平坦化層と、平坦化層上に接着層によって固定される放熱板と、前記接着層と前記平坦化層との間に形成されるシールド層とからなり、
前記接着層が光硬化性樹脂を硬化してなる光硬化性接着層である場合は、前記シールド層は前記光硬化性接着層の硬化に用いる光を遮断し、前記接着層が熱硬化性樹脂を硬化してなる熱硬化性接着層である場合は、前記シールド層は前記熱硬化性接着層の硬化時に発生するガスを遮断するものであり、
有機半導体素子部を平坦化層とシールド層の薄膜で封止するとともに、封止膜上に前記接着層を介して放熱板を貼り合わせ、前記樹脂を硬化することを特徴とする有機半導体素子の製造方法。 - 前記接着層が光硬化性接着層である場合は、接着層の光硬化性材料として、金属類を含み、前記接着層が熱硬化性接着層である場合は、接着層の熱硬化性樹脂に、金属類、金属窒化物類、けい素酸化物類、けい素窒化物類のいずれか1種を含むことを特徴とする請求項9記載の有機半導体素子の製造方法。
- 前記熱硬化性接着層がシート状の熱硬化性接着剤により形成され、前記シート状の熱硬化性接着剤の硬化温度が110℃以下であることを特徴とする請求項9記載の有機半導体素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006514576A JP4905783B2 (ja) | 2004-06-11 | 2005-06-10 | 有機半導体素子 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004174854 | 2004-06-11 | ||
JP2004174854 | 2004-06-11 | ||
PCT/JP2005/010656 WO2005122644A1 (ja) | 2004-06-11 | 2005-06-10 | 有機半導体素子 |
JP2006514576A JP4905783B2 (ja) | 2004-06-11 | 2005-06-10 | 有機半導体素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2005122644A1 JPWO2005122644A1 (ja) | 2008-04-10 |
JP4905783B2 true JP4905783B2 (ja) | 2012-03-28 |
Family
ID=35503545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006514576A Expired - Fee Related JP4905783B2 (ja) | 2004-06-11 | 2005-06-10 | 有機半導体素子 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8072138B2 (ja) |
JP (1) | JP4905783B2 (ja) |
KR (1) | KR101141659B1 (ja) |
CN (1) | CN100559908C (ja) |
TW (1) | TWI383527B (ja) |
WO (1) | WO2005122644A1 (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1804310B1 (en) | 2005-12-30 | 2016-10-19 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emiting device and method of manufacturing the same |
WO2008078648A1 (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-03 | Sharp Kabushiki Kaisha | 有機エレクトロルミネセンスパネル、有機エレクトロルミネセンスディスプレイ、有機エレクトロルミネセンス照明、及び、それらの製造方法 |
US8716850B2 (en) * | 2007-05-18 | 2014-05-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
EP2202059B1 (en) * | 2007-10-18 | 2013-09-25 | Ulvac, Inc. | Method for lamination of decorative metal film on resin base material, and resin base material having decorative metal film thereon |
JP5289835B2 (ja) * | 2008-06-25 | 2013-09-11 | シャープ株式会社 | 発光装置およびその製造方法 |
KR101574125B1 (ko) * | 2008-07-16 | 2015-12-04 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
CN102100126B (zh) * | 2008-09-01 | 2014-04-16 | 夏普株式会社 | 有机电致发光面板、有机电致发光显示器、有机电致发光照明装置和它们的制造方法 |
CN102341931A (zh) * | 2009-03-04 | 2012-02-01 | 思研(Sri)国际顾问与咨询公司 | 有机电装置的封装方法 |
KR101086880B1 (ko) * | 2009-05-28 | 2011-11-24 | 네오뷰코오롱 주식회사 | 게터층을 갖는 유기전계발광표시장치 제조방법 |
KR101267534B1 (ko) * | 2009-10-30 | 2013-05-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광소자의 제조방법 |
WO2012030421A1 (en) * | 2010-05-25 | 2012-03-08 | Qd Vision, Inc. | Devices and methods |
KR20140026647A (ko) | 2011-06-30 | 2014-03-05 | 오스람 옵토 세미컨덕터스 게엠베하 | 광전자 부품을 위한 캡슐화 구조물 및 광전자 부품을 캡슐화하는 방법 |
DE102011079160B4 (de) | 2011-07-14 | 2023-05-17 | Osram Oled Gmbh | Verkapselungsstruktur für ein optoelektronisches bauelement und verfahren zum verkapseln eines optoelektronischen bauelements |
DE102011080620B4 (de) * | 2011-08-08 | 2014-06-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren für die Beschichtung eines Isolationsbauteils und Isolationsbauteil sowie elektrisch leitfähiges Heizkabel |
TWI500198B (zh) * | 2012-09-19 | 2015-09-11 | Innocom Tech Shenzhen Co Ltd | 顯示面板 |
KR101993332B1 (ko) * | 2012-10-04 | 2019-06-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 평판 표시 장치 |
JP5708624B2 (ja) * | 2012-12-03 | 2015-04-30 | ソニー株式会社 | 表示装置、表示装置の製造方法、および電子機器 |
US20140191218A1 (en) * | 2013-01-07 | 2014-07-10 | Beck Radiological Innovations Inc | X-ray-sensitive devices and systems using organic pn junction photodiodes |
KR102147843B1 (ko) * | 2014-01-02 | 2020-08-26 | 삼성디스플레이 주식회사 | 플렉시블 유기 발광 표시 장치 및 그 제조방법 |
KR102151722B1 (ko) * | 2014-02-17 | 2020-10-26 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광표시장치 및 그 제조방법 |
KR102119087B1 (ko) * | 2014-02-17 | 2020-06-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광표시장치 |
KR102154489B1 (ko) * | 2014-05-28 | 2020-09-11 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광소자 |
CN108630829B (zh) * | 2017-03-17 | 2019-11-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板的制作方法、显示面板及显示装置 |
CN107068905B (zh) * | 2017-04-19 | 2019-01-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | Oled封装结构、oled封装方法及显示面板 |
CN108690355B (zh) * | 2018-06-26 | 2021-05-14 | 浙江三元电子科技有限公司 | 一种柔性热传导片及其制备方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10106746A (ja) * | 1996-09-27 | 1998-04-24 | Pioneer Electron Corp | エレクトロルミネセンス素子及びエレクトロルミネセンス素子の製造方法 |
JPH10275681A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-13 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 有機el素子 |
JP2000068050A (ja) * | 1998-08-24 | 2000-03-03 | Casio Comput Co Ltd | 電界発光素子及びその製造方法 |
JP4393004B2 (ja) * | 2001-02-06 | 2010-01-06 | 三菱化学株式会社 | ポリエステル樹脂 |
JP3576990B2 (ja) * | 2001-03-29 | 2004-10-13 | キヤノン化成株式会社 | クリーニングブレード、電子写真装置、クリーニングブレードの製造方法 |
JP4647134B2 (ja) * | 2001-05-18 | 2011-03-09 | ローム株式会社 | 有機el表示装置 |
KR100413450B1 (ko) * | 2001-07-20 | 2003-12-31 | 엘지전자 주식회사 | 표시소자의 보호막 구조 |
JP2003317953A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-07 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造装置及び電子機器 |
JP2004039468A (ja) | 2002-07-04 | 2004-02-05 | Tdk Corp | 有機elカラーディスプレイ |
DE60317282T2 (de) * | 2002-09-17 | 2008-02-14 | Mitsubishi Gas Chemical Co., Inc. | Polyesterharzzusammensetzung |
JP4138672B2 (ja) * | 2003-03-27 | 2008-08-27 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の製造方法 |
JP4561201B2 (ja) * | 2003-09-04 | 2010-10-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び電子機器 |
US7342356B2 (en) * | 2004-09-23 | 2008-03-11 | 3M Innovative Properties Company | Organic electroluminescent device having protective structure with boron oxide layer and inorganic barrier layer |
-
2005
- 2005-06-02 TW TW094118173A patent/TWI383527B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-06-10 US US11/628,863 patent/US8072138B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-06-10 KR KR1020067023322A patent/KR101141659B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2005-06-10 JP JP2006514576A patent/JP4905783B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-06-10 CN CNB2005800188255A patent/CN100559908C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-06-10 WO PCT/JP2005/010656 patent/WO2005122644A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2005122644A1 (ja) | 2005-12-22 |
US8072138B2 (en) | 2011-12-06 |
US20080050585A1 (en) | 2008-02-28 |
TWI383527B (zh) | 2013-01-21 |
KR20070030194A (ko) | 2007-03-15 |
JPWO2005122644A1 (ja) | 2008-04-10 |
KR101141659B1 (ko) | 2012-05-04 |
CN1973579A (zh) | 2007-05-30 |
TW200605421A (en) | 2006-02-01 |
CN100559908C (zh) | 2009-11-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4905783B2 (ja) | 有機半導体素子 | |
US8638032B2 (en) | Organic optoelectronic device coated with a multilayer encapsulation structure and a method for encapsulating said device | |
WO2016033923A1 (zh) | 有机电致发光器件及其制备方法、显示装置 | |
JP5144041B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス発光装置及び有機エレクトロルミネッセンス照明装置 | |
US8456084B2 (en) | Organic light-emitting device | |
US20140246665A1 (en) | Encapsulation for an Organic Electronic Device | |
US9172057B2 (en) | Encapsulation structure for an opto-electronic component | |
JP5319420B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
RU2413338C2 (ru) | Электролюминесцентное устройство | |
JP2010257957A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス装置 | |
TW200414791A (en) | Protected organic electronic devices and methods for making the same | |
JPWO2005027582A1 (ja) | 表示装置及びその製造方法 | |
JP6676530B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
JP2004119317A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス表示装置 | |
TW201945403A (zh) | 有機電致發光顯示元件用密封劑 | |
JP4449341B2 (ja) | 封止構造 | |
JP4745181B2 (ja) | 有機el発光装置、及び有機el発光装置の製造方法 | |
JP2002359070A (ja) | 有機発光素子およびそれを用いた表示パネル | |
JP2011076759A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法およびパッシベーション層成膜用マスク | |
KR102013730B1 (ko) | Oled 조명 애플리케이션을 위한 엔캡슐레이션 방법 | |
KR20040073695A (ko) | 흡습제층을 포함하는 유기전계발광 표시패널 | |
KR100628074B1 (ko) | 보호막과 보호캡슐을 갖는 유기전계발광표시패널 | |
JP2003086357A (ja) | 発光素子及びその製造方法 | |
JP5163619B2 (ja) | 封止構造 | |
JP5303199B2 (ja) | 有機el素子及び有機el素子の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080514 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20080529 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20080529 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20110615 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20110622 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110705 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110905 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110915 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20111017 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20111017 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111201 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111228 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150120 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110905 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150120 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |