JP4894918B2 - イオントラップ質量分析装置 - Google Patents
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Description
a)前記イオントラップを構成する複数の電極の少なくとも1つに、該イオントラップ内にイオンを捕捉するための交流電圧を印加する電圧印加手段と、
b)前記イオントラップ内にイオンを捕捉した状態で該イオントラップ内に前記イオン供 給源から供給されたイオンを追加的に導入するべく、複数の電極の1つに交流電圧を印加することにより前記イオントラップ内にイオンを捕捉した状態で、前記イオン供給源からパルス状に供給されたイオンが前記イオントラップのイオン導入口に達するときに、前記 交流電圧の振幅を一定として周波数を一時的に上昇させるように、又は、前記交流電圧の 周波数を一定として振幅を一時的に小さくするように、前記電圧印加手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴としている。
前記イオン供給源は分析対象試料由来のイオンと質量較正用試料由来のイオンとを選択的に供給するものであり、
前記イオン供給源から分析対象試料由来のイオン又は質量較正用試料由来のイオンのいずれか一方を供給して、これを前記イオントラップ内に捕捉した状態で、前記イオン供給源から分析対象試料由来のイオン又は質量較正用試料由来のイオンのいずれか他方を供給して、これを前記イオントラップ内に追加的に導入し、分析対象試料由来のイオンと質量較正用試料由来のイオンとの混合イオンを前記イオントラップにより又は該イオントラップから吐き出した後に質量分析する分析制御手段と、
前記分析制御手段による制御の下に得られた質量スペクトルデータの中で質量較正用試料由来のイオンのデータを用いて質量較正を行うデータ処理手段と、
をさらに備える構成とすることができる。
分析対象試料由来のイオンを先行して前記イオントラップ内に捕捉し、前記イオン選別手段により特定の質量を持つイオンを該イオントラップ内に残した後に、前記開裂促進手段によりその残したイオンの開裂を促進し、その後に、質量較正用試料由来のイオンを前記イオントラップ内に追加的に導入する構成とすることができる。
分析対象試料由来のイオンを先行して前記イオントラップ内に捕捉し、前記イオン選別手段により特定の質量を持つイオンを該イオントラップ内に残した後に、質量較正用試料由来のイオンを前記イオントラップ内に追加的に導入する構成としてもよい。
2…サンプル
2A…分析対象試料
2B…質量較正用試料
3…レーザ照射部
4…反射鏡
13…アパーチャ
14…アインツェルレンズ
20…イオントラップ
21…リング電極
22…入口側エンドキャップ電極
23…出口側エンドキャップ電極
24…捕捉領域
25…イオン導入口
26…イオン排出口
27…入口側電場補正用電極
28…引き出し電極
29…クーリングガス供給部
30…イオン検出器
31…コンバージョンダイノード
32…二次電子増倍管
40…制御部
42…捕捉電圧発生部
43…補助電圧発生部
44…データ処理部
51…試料台
52…試料台駆動部
53…CIDガス供給部
d2r/dt2+(z/mr0 2)(U−VcosΩt)r=0 …(1)
d2Z/dt2+(2z/mr0 2)(U−VcosΩt)Z=0 …(2)
なお、mはイオンの質量、zはイオンの電荷、r0はリング電極21の内接半径である。いま、az,ar,qz,qrを(3)及び(4)式のように定義すると、
az=−2ar=−8U/[(m/z)r0 2 Ω2] …(3)
qz=−2qr=4V/[(m/z)r0 2 Ω2] …(4)
上記運動方程式(1)及び(2)式は、次の(5)及び(6)式のマチウ(Mathieu)方程式の形で表すことができる。
d2r/dζ2+(ar−2qr・cos2ζ)r=0 …(5)
d2Z/dζ2+(az−2qz・cos2ζ)Z=0 …(6)
但し、ζ=(Ωt)/2
V=(1/2)(V1−V2) …(7)
U=(1/2)V1+(1/2)V2 …(8)
である。つまりVは矩形波電圧の振幅である。(4)式から、マチウパラメータqzは矩形波電圧の振幅に比例し、周波数に反比例することが分かる。したがって、周波数を高くするか又は振幅を小さくすると、マチウパラメータqzは低くなる。
(π2/48)・V・qz …(9)
である。したがって、マチウパラメータqzが低くなると、ポテンシャル井戸も浅くなる。
本発明の一実施例(第1実施例)であるマトリックス支援レーザ脱離イオン化デジタルイオントラップ型質量分析装置(MALDI−DIT−MS)について、構成と動作とを詳細に説明する。図1は本実施例によるMALDI−DIT−MSの全体構成図である。
次に、本発明の他の実施例(第2実施例)として、上述したイオントラップへのイオンの追加導入の機能を質量較正に利用したMALDI−DIT−MSについて説明する。一般的に質量分析装置において高い質量精度のデータを得るためには、質量電荷比が既知である標準試料を用いた質量較正が不可欠である。従来のMALDI−IT−MSにおける質量較正は、イオントラップを搭載しない、例えばMALDI−TOFMSと同様の手法で行われている。一般的にMALDI−TOFMSで質量較正を行う場合、外部標準法と内部標準法という2つの方法がある。
Claims (15)
- パルス状にイオンを供給するイオン供給源と、複数の電極で囲まれる空間に形成される電場によりイオンを捕捉するイオントラップと、を具備し、前記イオン供給源より供給されたイオンを前記イオントラップに導入して捕捉し、該イオントラップにより又は該イオントラップから吐き出した後に質量分析するイオントラップ質量分析装置において、
a)前記イオントラップを構成する複数の電極の少なくとも1つに、該イオントラップ内にイオンを捕捉するための交流電圧を印加する電圧印加手段と、
b)前記イオントラップ内にイオンを捕捉した状態で該イオントラップ内に前記イオン供給源から供給されたイオンを追加的に導入するべく、複数の電極の1つに交流電圧を印加することにより前記イオントラップ内にイオンを捕捉した状態で、前記イオン供給源からパルス状に供給されたイオンが前記イオントラップのイオン導入口に達するときに、前記交流電圧の振幅を一定として周波数を一時的に上昇させるように、又は、前記交流電圧の周波数を一定として振幅を一時的に小さくするように、前記電圧印加手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記交流電圧は矩形波電圧であることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項1に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記イオントラップは、リング電極と一対のエンドキャップ電極とを有する3次元四重極イオントラップであることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項3に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記イオン供給源は、試料にパルス状のレーザ光を照射して該試料又は該試料中の成分をイオン化するレーザイオン源であることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項4に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記イオン供給源はマトリックス支援レーザ脱離イオン源であることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項5に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記イオン供給源から供給されたイオンを前記イオントラップまで輸送するために静電レンズによるイオン輸送手段をさらに備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項6に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記静電レンズはアインツァルレンズ(単電位レンズ)であることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項1に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記イオントラップ内にイオンを捕捉した後に、前記交流電圧の周波数又は振幅を変化させることにより該イオントラップにおいて特定の質量電荷比を有するイオンを選択的に該イオントラップから排出し、その排出されたイオンを検出器により検出することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項1に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記イオントラップ内にイオンを捕捉した後に、捕捉されているイオンを該イオントラップから一斉に排出し、その排出されたイオンを質量分析器に導入して質量分析した後に検出器により検出することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項1に記載のイオントラップ質量分析装置であって、
前記イオン供給源は分析対象試料由来のイオンと質量較正用試料由来のイオンとを選択的に供給するものであり、
前記イオン供給源により分析対象試料由来のイオン又は質量較正用試料由来のイオンのいずれか一方を供給し、これを前記イオントラップ内に捕捉した状態で、前記イオン供給源により分析対象試料由来のイオン又は質量較正用試料由来のイオンのいずれか他方を供給して、これを前記イオントラップ内に追加的に導入し、分析対象試料由来のイオンと質量較正用試料由来のイオンとの混合イオンを前記イオントラップにより又は該イオントラップから吐き出した後に質量分析する分析制御手段と、
前記分析制御手段による制御の下に得られた質量スペクトルデータの中で質量較正用試料由来のイオンのデータを用いて質量較正を行うデータ処理手段と、
をさらに備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項10に記載のイオントラップ質量分析装置であって、
前記イオン供給源は、分析対象試料と質量較正用試料とを異なる位置に有する試料プレートと、試料にパルス状のレーザ光を照射して該試料中の成分をイオン化するレーザ光照射手段と、該レーザ照射手段によるレーザ光照射位置に分析対象試料と質量較正用試料とを選択的に位置させるべく前記試料プレートを移動させる移動手段と、を含むことを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項11に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記イオン供給源はマトリックス支援レーザ脱離イオン源であることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項12に記載のイオントラップ質量分析装置であって、前記レーザ光照射手段は、分析対象試料をイオン化するときと質量較正用試料をイオン化するときとでレーザ光強度を変化させることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
- 請求項12に記載のイオントラップ質量分析装置であって、
前記イオントラップ内に捕捉したイオンのうちの特定の質量を持つイオンを残し他のイオンをイオントラップ内から除去するように前記イオントラップを構成する複数の電極の少なくとも1つに電圧を印加するイオン選別手段と、前記イオントラップ内に捕捉したイオンの開裂を促進させる開裂促進手段と、をさらに備え、
分析対象試料由来のイオンを先行して前記イオントラップ内に捕捉し、前記イオン選別手段により特定の質量を持つイオンを該イオントラップ内に残した後に、前記開裂促進手段によりその残したイオンの開裂を促進し、その後に、質量較正用試料由来のイオンを前記イオントラップ内に追加的に導入するようにしたことを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項12に記載のイオントラップ質量分析装置であって、
前記イオントラップ内に捕捉したイオンのうちの特定の質量を持つイオンを残し他のイオンをイオントラップ内から除去するように前記イオントラップを構成する複数の電極の少なくとも1つに電圧を印加するイオン選別手段をさらに備え、
分析対象試料由来のイオンを先行して前記イオントラップ内に捕捉し、前記イオン選別手段により特定の質量を持つイオンを該イオントラップ内に残した後に、質量較正用試料由来のイオンを前記イオントラップ内に追加的に導入するようにしたことを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
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Cited By (1)
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Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008072326A1 (ja) * | 2006-12-14 | 2008-06-19 | Shimadzu Corporation | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
US8173961B2 (en) * | 2007-04-09 | 2012-05-08 | Shimadzu Corporation | Ion trap mass spectrometer |
GB0817433D0 (en) * | 2008-09-23 | 2008-10-29 | Thermo Fisher Scient Bremen | Ion trap for cooling ions |
JPWO2010116396A1 (ja) * | 2009-03-30 | 2012-10-11 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ装置 |
JP5146411B2 (ja) * | 2009-06-22 | 2013-02-20 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
JP2011034900A (ja) * | 2009-08-05 | 2011-02-17 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP5293562B2 (ja) * | 2009-10-30 | 2013-09-18 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
JP5482135B2 (ja) * | 2009-11-17 | 2014-04-23 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
JP5890782B2 (ja) * | 2009-12-23 | 2016-03-22 | アカデミア シニカAcademia Sinica | 携帯用質量分析のための装置および方法 |
JP2012003898A (ja) * | 2010-06-15 | 2012-01-05 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 二次元イメージング装置および方法 |
JP5440449B2 (ja) * | 2010-08-30 | 2014-03-12 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
JP5533612B2 (ja) * | 2010-12-07 | 2014-06-25 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
WO2013008086A2 (en) * | 2011-07-11 | 2013-01-17 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method to control space charge in a mass spectrometer |
WO2015177886A1 (ja) * | 2014-05-21 | 2015-11-26 | 株式会社島津製作所 | 高周波電圧生成装置 |
US9425033B2 (en) * | 2014-06-19 | 2016-08-23 | Bruker Daltonics, Inc. | Ion injection device for a time-of-flight mass spectrometer |
EP3001445A1 (en) * | 2014-09-26 | 2016-03-30 | Centre National de la Recherche Scientifique (C.N.R.S.) | Non-destructive detection method of charged particles without mass limitation |
CN104599919A (zh) * | 2014-12-16 | 2015-05-06 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种电场电位梯度发生装置及其控制方法 |
EP3926340A1 (en) * | 2015-04-23 | 2021-12-22 | Micromass UK Limited | Separating ions in an ion trap |
GB201615132D0 (en) * | 2016-09-06 | 2016-10-19 | Micromass Ltd | Quadrupole devices |
EP3543686A4 (en) * | 2016-11-18 | 2019-11-13 | Shimadzu Corporation | ION ANALYZER |
CN110383418B (zh) | 2017-03-07 | 2021-06-25 | 株式会社岛津制作所 | 离子阱装置 |
CN109300767B (zh) * | 2018-08-23 | 2024-01-30 | 金华职业技术学院 | 一种光反应探测装置 |
CN109300768B (zh) * | 2018-08-23 | 2023-09-26 | 金华职业技术学院 | 一种光反应探测方法 |
KR102362175B1 (ko) | 2018-08-30 | 2022-02-11 | 주식회사 엘지화학 | Maldi 질량 분석을 이용한 고분자의 상대적 정량분석방법 |
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JP7225743B2 (ja) | 2018-12-05 | 2023-02-21 | 株式会社島津製作所 | スペクトル演算処理装置、スペクトル演算処理方法、スペクトル演算処理プログラム、イオントラップ質量分析システムおよびイオントラップ質量分析方法 |
GB2583694B (en) * | 2019-03-14 | 2021-12-29 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Ion trapping scheme with improved mass range |
JP7452348B2 (ja) | 2020-09-23 | 2024-03-19 | 株式会社島津製作所 | イオントラップへのイオン導入方法、イオントラップ質量分析装置、及び、イオントラップ質量分析用プログラム |
CN114235937B (zh) * | 2021-11-30 | 2023-08-01 | 清华大学深圳国际研究生院 | 一种在质谱仪离子阱中同时检测正离子与负离子的方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5397594A (en) * | 1990-02-19 | 1995-03-14 | New Oji Paper Co., Ltd. | Process for producing heat-sensitive recording material |
JPH04138650A (ja) | 1990-09-28 | 1992-05-13 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 磁場型質量分折装置 |
US5397894A (en) | 1993-05-28 | 1995-03-14 | Varian Associates, Inc. | Method of high mass resolution scanning of an ion trap mass spectrometer |
US5448061A (en) | 1992-05-29 | 1995-09-05 | Varian Associates, Inc. | Method of space charge control for improved ion isolation in an ion trap mass spectrometer by dynamically adaptive sampling |
JP3413079B2 (ja) | 1997-10-09 | 2003-06-03 | 株式会社日立製作所 | イオントラップ型質量分析装置 |
JP3386048B2 (ja) | 2000-12-14 | 2003-03-10 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ型質量分析装置 |
GB0031342D0 (en) * | 2000-12-21 | 2001-02-07 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | Method and apparatus for ejecting ions from a quadrupole ion trap |
JP4631219B2 (ja) | 2001-06-26 | 2011-02-16 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ型質量分析装置 |
DE10325581B4 (de) * | 2003-06-05 | 2008-11-27 | Bruker Daltonik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für das Einspeichern von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen |
GB0524042D0 (en) * | 2005-11-25 | 2006-01-04 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB0526043D0 (en) * | 2005-12-22 | 2006-02-01 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US8173961B2 (en) * | 2007-04-09 | 2012-05-08 | Shimadzu Corporation | Ion trap mass spectrometer |
-
2008
- 2008-03-28 EP EP08720678.5A patent/EP2136389B1/en active Active
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9384957B2 (en) | 2012-11-09 | 2016-07-05 | Shimadzu Corporation | Mass analysis device and mass calibration method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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EP2136389A1 (en) | 2009-12-23 |
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US8022363B2 (en) | 2011-09-20 |
US20100065740A1 (en) | 2010-03-18 |
WO2008129850A1 (ja) | 2008-10-30 |
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