JP4879388B2 - タブレット装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子機器等に設けられる抵抗膜方式のタブレット装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年の情報処理機器等の電子機器等には、指圧等によってポイントされた位置を検出するためのタブレット装置を設けることが一般的となっている。
【0003】
図11に、抵抗膜式のタブレット装置の一例を示している。タブレット装置4は、ディスプレイ63の上面に積層された2枚の抵抗膜51、52を有している。この抵抗膜51及び52は、タブレットの入力面となっている。ディスプレイ63に積層される抵抗膜52には、長手方向であるX方向に沿った各側縁部に電極54A及び54Bがそれぞれ設けられており、また、抵抗膜52上に積層される抵抗膜51には、抵抗膜52の電極54A及び54Bと直交するY方向に沿った各側縁部に電極53A及び53Bがそれぞれ設けられている。各抵抗膜51、52の電極53A、53B及び電極54A、54Bは、それぞれスイッチ55及び56と、57及び58とを介してそれぞれ直流電源60に接続されている。そして、スイッチ55及び56をそれぞれオンにすると、抵抗膜51の電極53A及び53Bに直流電源60の電圧が印加され、抵抗膜51にX方向の電位勾配が形成される。また、スイッチ57及び58をそれぞれオンにすると、抵抗膜52の電極54A及び54Bに電圧が印加され、抵抗膜52にY方向の電位勾配が形成される。
【0004】
抵抗膜51の電極53A及び抵抗膜52の電極54Aは、それぞれスイッチ59によって、各抵抗膜51及び52の電位値をそれぞれ測定するためのAD変換器61に選択的に接続されるようになっている。AD変換器61は、抵抗膜51が押圧されて抵抗膜52と接触した押圧点の電圧を測定する。また、このAD変換器61は、AD変換器61が測定した電位値に基づいて押圧点の位置座標を演算する演算装置62に接続されている。
【0005】
上記構成のタブレット装置4の動作について説明する。
【0006】
指圧、ペン圧等により抵抗膜51が下方に押し下げられると、抵抗膜51と抵抗膜52とが指圧等により押し下げられた位置において接触した状態となる。このときに、スイッチ55及び56をオン、スイッチ57及び58をオフにして、抵抗膜51にX方向の電位勾配を形成する。この電位勾配は、抵抗膜51の電極間方向(X方向)の位置に比例している。抵抗膜52は、抵抗膜51の押し下げられた点と接触しているので、抵抗膜51の押圧点の電位を有している。スイッチ59を電極54A側に選択することにより、抵抗膜52の電位がAD変換器61によって測定され、さらに、演算装置62はAD変換器61による測定値に基づいて、押圧点のX座標を演算する。同様に、スイッチ57及び58をオン、スイッチ55及び56をオフにすることにより、抵抗膜52に直流電源60の直流電圧が印加され、スイッチ59を電極53A側に選択することにより、抵抗膜51の電位がAD変換器61によって測定され、演算装置62はAD変換器61による測定値に基づいて押圧点のY座標を演算する。
【0007】
また、特開平9−269861号公報には、タブレット押下時の力の強さを表す押圧値を検出することができるタブレット装置が開示されている。
【0008】
このタブレット装置5は、図12に示すように、抵抗膜52の電極54Aに印加される電圧の極性を切り換える一対のスイッチ57Aおよび58Aがそれぞれ接続されており、また、抵抗膜52の電極54Bに印加する電圧の極性を切り換える一対のスイッチ57B、58Bがそれぞれ接続されている。また、抵抗膜51の電極53Aは抵抗64を介して接地されている。
【0009】
抵抗膜51を押圧したときの押圧点の位置座標は、上記のタブレット装置4と同様に求められる。また、抵抗膜51が押圧された場合の押圧力の値は、スイッチ57A及び58Bをそれぞれオン、スイッチ55及び56及び57B及び58Aをそれぞれオフにし、スイッチ59を抵抗膜51の電極53A側に選択して、AD変換器61によって抵抗膜51の電位を測定し、さらに、スイッチ57B及び58Aをそれぞれオン、スイッチ55及び56と、57A及び58Bとをそれぞれオフにして、スイッチ59を抵抗膜52の電極54A側に選択し、AD変換器61により抵抗膜51の電位を測定して、これら2つの測定値を演算装置62により演算する。この場合、押圧力の値は、ノイズ源となるディスプレイ63の影響を避けるため、ディスプレイ63から遠方側に位置する抵抗膜51の電位を測定することによって求めており、精度の良い押圧力値が得られる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
タブレット装置4及び5の2枚の抵抗膜51及び52は、通常、液晶ディスプレイやバックライト等の上部に重ねて配置される。液晶ディスプレイ等はノイズを発生し、そのノイズによる影響がディスプレイ63上に配置された抵抗膜51及び52に生じる。また、抵抗膜51及び52は直流電源によって印加される単位印加電圧を小さく設定しており、ノイズによる影響を受けやすい状態となっている。特に、ディスプレイ63に近い抵抗膜52はノイズによる影響が大きい。その結果、押圧点の位置座標を求める場合や押圧力値を検出する場合に、各抵抗膜51及び52の電位値にノイズの影響による誤差が生ずる原因となっている。
【0011】
特開平9−269861号公報に開示されたタブレット装置においては、上記したように、押圧力値を測定するためにノイズ源となるディスプレイ63からの影響が少ない上側の抵抗膜51を用いることにより、ノイズによる誤差の低減を図っている。
【0012】
しかし、押圧点の位置座標を求める場合においては、ノイズ源となるディスプレイ53に近い抵抗膜52がノイズの影響を強く受け、抵抗膜52の電位を測定した場合には、ノイズの混入が大きくなり、大きな誤差が生じることとなる。このような誤差を低減したタブレット装置は、これまで開発されていない。
【0013】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、押圧点の位置座標を検出する場合に、ノイズによる誤差を小さく抑え、精度良く位置座標を検出することができるタブレット装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本願の請求項1に係る発明は、対向する一対の電極を有し、電子機器における画像表示面上に積層され、一方を押圧した際にその押圧点にて相互に接触する2枚の抵抗膜と、各抵抗膜にそれぞれ電圧を印加する電圧印加手段と、前記各抵抗膜の電位をそれぞれ測定する電位測定手段と、前記電位測定手段にて測定された測定値に基づいて前記押圧点の位置座標を演算する演算手段とを備えたタブレット装置において、前記2枚の抵抗膜はそれぞれ長方形の形状を有し、前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から遠い側の長方形形状の抵抗膜の一解像度あたりの電圧が前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から近い側の長方形形状の抵抗膜の一解像度あたりの電圧より大きくなるように、前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から遠い側の長方形形状の抵抗膜には、その短辺の両端側から、該短辺に沿って電位勾配が形成されるよう電位を印加し、前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から近い側の長方形形状の抵抗膜には、その長辺の両端側から、該長辺に沿って電位勾配が形成されるよう、前記遠い側の長方形形状の抵抗膜に印加する電圧と同じ電圧を印加することを特徴とするものである。
【0015】
本願の請求項2に係る発明は、対向する一対の電極を有し、電子機器における画像表示面上に積層され、一方を押圧した際にその押圧点にて相互に接触する2枚の抵抗膜と、各抵抗膜にそれぞれ電圧を印加する電圧印加手段と、前記各抵抗膜の電位をそれぞれ測定する電位測定手段と、前記電位測定手段にて測定された測定値に基づいて前記押圧点の位置座標を演算する演算手段とを備えたタブレット装置において、前記演算手段で演算される位置座標の基準にされる、前記電位測定手段にて測定された一解像度あたりの電圧は、前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から遠い側の抵抗膜の一解像度あたりの電圧が、前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面に近い側の抵抗膜の一解像度あたりの電圧より大きくなるよう設定されていることを特徴とするものである。
【0018】
【発明の実施の形態】
(実施の形態1)
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態を説明する。
【0019】
図1に本発明の実施の形態1のタブレット装置1の構成を示す。
【0020】
タブレット装置1は、図1に示すように、液晶ディスプレイ23の上面に積層された2枚の抵抗膜11及び12を有している。この抵抗膜11及び12はタブレットの入力面となる。液晶ディスプレイ23に積層される抵抗膜12には、X方向に沿った各側縁部に電極14A及び14Bがそれぞれ設けられており、また、抵抗膜12上に積層される抵抗膜11には、電極14A及び14Bと直交するY方向に沿った各側縁部に電極13A及び13Bがそれぞれ設けられている。
【0021】
各抵抗膜11及び12の電極13A及び13Bと、電極14A及び14Bとは、それぞれスイッチ15及び16と、17及び18とを介して直流電源20に接続されている。そして、スイッチ15及び16をそれぞれオンにすると、抵抗膜11の電極13A及び13Bに直流電源20の電圧が印加され、抵抗膜11にY方向の電位勾配が形成される。また、スイッチ17及び18をそれぞれオンにすると、抵抗膜12の電極14A及び14Bに直流電源20電圧が印加され、抵抗膜12にX方向の電位勾配が形成される。
【0022】
抵抗膜11の電極13A及び抵抗膜12の電極14Aは、それぞれスイッチ19によって、各抵抗膜11及び12の電位値をそれぞれ測定するためのAD変換器61に選択的に接続されるようになっている。AD変換器21は、抵抗膜11または抵抗膜12の電圧を測定する。また、このAD変換器21は、AD変換器21が測定した電位値に基づいて押圧点の位置座標を演算する演算装置22に接続されている。
【0023】
2枚の抵抗膜11及び12はスペーサ(図示せず)によって、通常時には、各抵抗膜11及び12を相互に接触しないように離間しており、互いに導通していない状態になっている。しかし、入力ペンや指圧により抵抗膜51の上面である入力面が下方に押された時には、抵抗膜11が下方にたわみ、抵抗膜12の上面と接触し、抵抗膜11及び抵抗膜12が導通した状態になる。
【0024】
演算装置22の出力であるタブレット押圧点の位置は、通常、図2に示すような座標空間上の2次元配列値(X、Y)として得られる。この座標空間の範囲(最大値)は、タブレットの大きさ(長さ)で一意的に決まるものではなくタブレット装置を搭載したシステムが、どの程度の情報量を必要とするかで決まるものである。
【0025】
座標空間の範囲を広くする(最大値を大きくする)と解像度が高くなり多くの情報が得られ、狭くする(最大値を小さくする)と解像度が低くなり情報量も小さくなる。
【0026】
抵抗膜11及び12の平面は、指圧等による押圧点を検出するタブレットの入力面を形成している。図2(a)の斜線部分は、位置座標空間における入力面の範囲を示している。位置座標とは、図2(a)に示すように、各抵抗膜11及び12の平面にて構成されるタブレットの入力面を解像度を示す2次元空間とみなす。この2次元空間は、抵抗膜12における電極14A及び14B間の座標軸(X軸)と抵抗膜11の電極13A及び13B間の座標軸(Y軸)の2つの座標軸を有しており、抵抗膜12における電極14Aと電極14B間のX軸上の解像度が、最大値をiとして、抵抗膜11における電極13Aと電極13B間のY軸上の解像度が、最大値をjとしてそれぞれ示され、入力面上の位置をこの座標軸上の解像度を用いた2次元配列で表している。本実施の形態のタブレット装置では、X軸とY軸の各座標軸方向に要求される解像度が異なっており、Y軸方向に比べX軸方向の単位印加電圧が小さい。すなわちY軸座標の解像度の最大値jに比べX軸座標の解像度の最大値iが大きくなっている。
【0027】
例えば、解像度320×240の場合であれば、X軸座標の解像度の最大値i=320であり、Y軸座標の解像度の最大値j=240となる。
【0028】
図2(b)と(c)は、解像度の最大値を簡略化して表した図である。
【0029】
図2(b)は、X軸座標の解像度の最大値10として、Y軸座標の解像度の最大値5としている。それに対して、図2(c)は、Y軸座標の解像度の最大値が5になっている。これにより、図2(b)の方が、X軸方向の単位印加範囲が狭くなり、単位印加電圧が小さくなる。
【0030】
AD変換器21は、抵抗膜11または抵抗膜12の電位を測定し、デジタル信号に変換する。AD変換器21によって測定された各抵抗膜の電位を表すデジタル信号は、演算装置62に入力され、押下点の位置座標が求められる。
【0031】
次に、抵抗膜11が押し下げられた位置(押圧点)の位置座標を検出する動作について説明する。
【0032】
まず、第一のステップとして、押圧点(x、y)のX軸座標を求める。この第1のステップにおいては、スイッチ17及び18はそれぞれオン、スイッチ15及び16はそれぞれオフとされ、スイッチ19は抵抗膜11の電極13A側に切り換えられる。スイッチ17及び18のオンにより、抵抗膜12には、直流電源20による電圧が印加される。この直流電圧の印加により、抵抗膜12には電極間方向(X軸方向)に電位勾配が形成される。一方、スイッチ15及び16がオフになっていることにより、抵抗膜11には直流電源20からの電圧が印加されていない。この抵抗膜11は、押圧点にて抵抗膜12に接触しており、抵抗膜12の押圧点における電位に等しい。スイッチ19が抵抗膜11の電極13A側になっており、AD変換器21により抵抗膜11の電位が測定される。AD変換器21によって測定された抵抗膜11の電位値は、演算装置22によって、押圧点(x、y)のX座標に演算される。
【0033】
第二のステップでは、押圧点(x、y)のY座標を求める。この第2のステップにおいては、スイッチ15及び16はそれぞれオン、スイッチ17及び18はそれぞれオフとされ、スイッチ19は抵抗膜12の電極14A側に切り換えられる。スイッチ15及び16のそれぞれのオンにより、抵抗膜11には、直流電源20による電圧が印加される。この直流電圧の印加により、抵抗膜11には電極間方向(Y軸方向)に電位勾配が形成される。一方、スイッチ17及び18がそれぞれオフになっていることにより、抵抗膜12には電圧が印加されていない。この抵抗膜12は、押圧点(x、y)において、抵抗膜12に接触しているので、抵抗膜12の押圧点(x、y)における電位に等しい。スイッチ19が抵抗膜12の電極14A側になっており、AD変換器21により抵抗膜12の電位が測定される。AD変換器21によって測定された抵抗膜11の電位値は、演算装置22によって、押圧点(x、y)のY座標に演算される。
【0034】
次に、AD変換器21による各抵抗膜11、12の電位測定値の押圧点(x、y)の位置座標への演算について、図3、4に基づいて説明する。
【0035】
図3は、ステップ1の等価回路図である。図3中、V2は直流電源20の正極側電位、V1は直流電源20の負極側電位、L12は電極14Aと電極14B間の距離、Lxは電極14Aから押下点までの距離、L11は電極13Aと電極13B間の距離、Lyは電極13Aから押下点までの距離、rは押下点における抵抗膜11と抵抗膜12との接触抵抗値である。
【0036】
抵抗膜12の抵抗値は距離に比例するため、抵抗膜12上の各電極14A及び14B間の抵抗値と電極14Aから押下点までの抵抗値との比は、それぞれの距離の比に等しい。抵抗膜11と抵抗膜12とは押下点で互いに接触し導通しているので、抵抗膜11には、押下点のX軸方向位置に対応した電位が現れる。
【0037】
ここで、AD変換器21の入力抵抗は非常に大きいので、抵抗膜12から抵抗膜12と抵抗膜11との接触点を通り、抵抗膜11、電極13A、AD変換器21に至る経路には電流が流れない。したがって、AD変換器21に入力される電位Vxは、抵抗膜12に印加された電圧を電極14Aから押下点までの抵抗値の比、すなわち、距離の比で分圧した値である
(Lx/L12)×(V2−V1)
に等しくなる。この電位VxをAD変換器21でデジタル値に変換し、演算装置22により演算することにより図2に示される2次元空間におけるX軸座標を得ることができる。この座標値xは
(Lx/L12)×i
と表される。
【0038】
図4は、ステップ2の等価回路図である。
【0039】
抵抗膜11と抵抗膜12とは押下点で接触し導通しているため、抵抗膜12には押下点のY軸方向位置に対応した電位が現れる。ここで、AD変換器21の入力抵抗は非常に大きいので、抵抗膜11から接触点を通り、抵抗膜12、電極14A、AD変換器21に至る経路には電流は流れない。したがって、AD変換器21に入力される電位Vyは、抵抗膜11に印加された電圧を電源13Aから押下点までの抵抗値の比、すなわち距離の比で分圧した値である
(Ly/L11)×(V2−V1)
に等しくなる。この電位VyをAD変換器21でデジタル値に変換し、演算装置22により演算することにより図2に示される2次元空間におけるY軸座標yを得ることができる。この座標値yを式で表すと、
(Ly/L11)×j
となる。
【0040】
以上の第1及び第2の2つのステップで得られたX軸座標とY軸座標とを合わせることで、タブレット入力面上における位置座標(x、y)を得ることができる。
【0041】
一般的にノイズの電圧レベルは、図5に示すように、距離の2乗に反比例して減衰することが知られており、ディスプレイ23からの距離が大きくなるにしたがいノイズの電圧値が急激に小さくなっていくことが分かっている。例えば、ディスプレイ23から抵抗膜12までの距離をT12、ディスプレイ23から抵抗膜11までの距離をT12とすると、抵抗膜12に発生するノイズの電圧N12は、抵抗膜11に発生するノイズの電圧N11よりも大きくなる。その結果、AD変換機21によって測定される電位値に含まれる誤差は、X軸方向とY軸方向とでは、異なるレベルとなる。
【0042】
ここで、ノイズ源となるディスプレイ23によって、抵抗膜11及び抵抗膜12に同じレベルのノイズが混入すれば、図6(A)に示すように、そのノイズによる電圧変動の影響は斜線で示した円の範囲で表される。すなわち、Y軸方向の1単位要素分の範囲内に収まるレベルのノイズであっても、X軸方向には複数の単位要素範囲にまたがってしまい、その結果、誤差として現れることを意味している。したがって、Y軸座標検出時にノイズが混入しても比較的誤差は現れ難いが、X軸座標の検出時にノイズが混入すると大きな誤差として現れてしまう。
【0043】
しかし、実際には、上記したように、AD変換機21によって測定される電位値に含まれる誤差は、X軸方向とY軸方向とでは、同じレベルとならないので、図6(B)に示すように、Y軸方向に含まれる誤差がX軸方向に含まれる誤差よりも大きくなる。
【0044】
本実施の形態1のタブレット装置においては、抵抗膜11の解像度iを抵抗膜12の解像度jよりも大きくすることにより、Y軸座標の単位印加電圧(V2−V1)/jが、X軸座標の単位印加電圧(V2−V1)/iよりも大きくなっている。このため、抵抗膜12の電位値Vyに大きな誤差を含んでいても、(V2−V1)/jを大きく設定しているため、電位値Vy値をY軸座標yに演算する際に位置座標の誤差を小さくすることができる。
【0045】
(実施の形態2)
図7に本発明の実施の形態2のタブレット装置の構成を示す。
【0046】
タブレット装置2では、2枚の抵抗膜11及び12に、それぞれ異なる直流電源20Y及び20Xが接続されている。また、抵抗膜11及び抵抗膜12の解像度は同じ値kを有している。さらに、直流電源20Xによる電圧の印加により、抵抗膜12の電極14B側にV2X、電極14A側にV1Xの電位が与えられ、直流電源20Yによる電圧の印加により、抵抗膜11の電極13B側にV2YD、電極13A側にV1Yの電位が与えられる。直流電源20Xと直流電源20Yとの印加電圧は互いに異なっており、直流電源20Yの印加電圧は、直流電源20Xの印加電圧よりも大きくなっている。すなわち、(V2YD−V1Y)>(V2X−V1X)となっている。
【0047】
他の構成に関しては、実施の形態1のタブレット装置1と同じ構成を有しているので、詳しい説明は省略する。
【0048】
抵抗膜11が押し下げられた位置(押圧点)の位置座標(x、y)を検出する動作についても、押圧点のX座標を求めるステップ1とY座標を求めるステップ2とを行うことにより押圧点の位置座標を求めることができ、大略、実施の形態1のタブレット装置1と同様であるので、詳しい説明は省略する。
【0049】
ステップ1において、抵抗膜11、12は押下点で接触し導通しているため、抵抗膜11には押下点のX軸方向位置に対応した電位が現れ、AD変換器21に入力される。この電位Vxは、抵抗膜12に印加された電圧を、(V2X−V1X、電極14Aから押下点までの距離の比を(Lx/L12)とすると、
Vx=(Lx/L12)×(V2X−V1X)
となる。この電位VxをAD変換器21でデジタル値に変換し、演算装置22により演算することで押下点のX軸座標xを得ることができる。
【0050】
同様にして、ステップ2において、AD変換器21に入力される電位Vyは、
Vy=(Ly/L11)×(V2YD−V1Y)
となる。この電位VyをAD変換器21でデジタル値に変換し、演算装置22により演算することで押下点のY軸座標yを得ることができる。
【0051】
以上の第1及び第2ステップで得られたX軸座標とY軸座標とを合わせることにより、タブレット入力面上における位置座標(x、y)を得ることができる。
【0052】
ここで、解像度はX軸方向、Y軸方向ともに同一の値kを有するので、X軸座標の1要素あたりに対応する電位値は、
(V2X−V1X)/k
により表され、Y軸座標の1要素あたりに対応する電位値は、
(V2YD−V1Y)/k
により表される。
【0053】
ここで、負極側の電位であるV1X、V1Yは共通であり、同電位であるので、X軸方向、Y軸方向の1要素あたりに対応する電位値、すなわち単位印加電圧の大小関係は、印加する電圧値V2YD、V2Xの大小関係によって決まる。
【0054】
図8(A)は、電位V2YDが電位V2Xと同電位であるV2Yであるとした場合の1要素あたりに対応する電位値とタブレットの位置関係を示している。横方向は抵抗膜12の電極間方向(X軸方向)を示し、縦方向は抵抗膜11の電極間方向(Y軸方向)を示している。また、格子の1マスは、位置座標の1要素分に相当している。この場合、X軸方向、Y軸方向ともに単位印加電圧、長さが等しく、印加している電圧も等しいため、X軸方向とY軸方向の1要素は同じ大きさになっている。また、ノイズ源から混入するノイズによる電圧変動を斜線で示しているが、ディスプレイ23に近い電源14Aから測定するY軸方向の電位に対して、X軸方向よりもノイズが混入しやすいため、Y軸方向に対する変動が大きく、Y軸方向は、誤差が現われるおそれが高い。
【0055】
図8(B)は、Y軸方向の印加電圧V2YDがX軸方向の印加電圧V2Xより大きい場合、すなわち、V2YD>V2Xという関係を有する場合を示している。この場合、1要素あたりに対応する電位値は、ディスプレイ23に対する距離との関係からY軸方向側が大きくなっており、ディスプレイ23に対する距離との関係からY軸方向の測定時より大きなノイズが混入しても、位置の誤差として現れる可能性が少なくなっている。
【0056】
(実施の形態3)
図9に本発明の実施の形態3のタブレット装置3の構成を示す。
【0057】
本実施の形態3の抵抗膜30、31は長方形状に形成されており、X軸方向の辺の長さm、Y軸方向の辺の長さnを有している。X軸方向に沿う方向が長手、すなわち、m>nとなっている。
【0058】
他の構成に関しては、実施の形態1のタブレット装置1と同じ構成を有しているので、詳しい説明は省略する。
【0059】
また、抵抗膜30が押し下げられた位置(押圧点)の位置座標(x、y)を検出する動作についても、押圧点のX座標を求めるステップ1とY座標を求めるステップ2とを行うことにより押圧点の位置座標を求めることができ、大略、実施の形態1のタブレット装置1と同様であるので、詳しい説明は省略する。
【0060】
ここで、AD変換器21による各抵抗膜30、31の電位測定値と押圧値(x、y)の位置座標との関係について説明する。
【0061】
ステップ1において、抵抗膜30と抵抗膜31とは押下点で接触し導通しているため、抵抗膜30には、押下点のX軸方向位置に対応した電位Vxが現われ、AD変換器21に入力される。この電位Vxは、抵抗膜31に印加された電圧を(V2−V1)、電極33Aから押下点までの距離をLxとすると、
Vx=(Lx/m)×(V2−V1)
と表される。この電位をAD変換器21でデジタル値に変換し、演算装置22により演算することでX軸座標xを得ることができる。
【0062】
同様にして、ステップ2において、抵抗膜30と抵抗膜31とは押下点で接触し導通しているため、抵抗膜31には押下点のY軸方向位置に対応した電位が現われ、AD変換器21に入力される。この電位Vyは、抵抗膜30に印加された電圧を(V2−V1)、電極32Aから押下点までの距離をLyとすると、
Vy=(Ly/n)×(V2−V1)
で表される。この電位VyをAD変換器21でデジタル値に変換し、演算装置22により演算することにより、Y軸座標yを得ることができる。
【0063】
以上の第1及び第2の2つのステップで得られたX軸座標とY軸座標とを合わせることで、タブレット入力面上における位置座標を得ることができる。
【0064】
ここで、X軸方向及びY軸方向の単位長さ当りの解像度が互いに等しい場合、単位長さ当りの解像度をhとすると、X軸座標の解像度は、h×m、Y軸座標の解像度は、h×nとなる。各抵抗膜30及び31の形状は長方形であるので(m>n)、Y軸座標の解像度h×nに比べX軸座標の解像度h×mが大きくなっている。
【0065】
X軸座標の1要素あたりの電位値は、
(V2−V1)/(h×m)
となり、Y軸座標の1要素あたりの電位値は
(V2−V1)/(h×n)
となる。
【0066】
本実施の形態3のタブレット装置3においては、入力座標面をX軸方向の長さをmとし、Y軸方向の長さをnとし、m>nとなるように形成しているので、Y軸座標の単位印加電圧、(V2−V1)/(h×n)がX軸座標の単位印加電圧、(V2−V1)/(h×m)よりも大きい。このため、抵抗膜12の電位値Vyに大きな誤差を含んでいても、(V2−V1)/(h×n)を大きく設定していたるめ、電位値Vy値をY軸座標yに演算する際に電位値Vyに含まれる誤差を小さくすることができる。
【0067】
この状態の単位印加電圧とノイズとの関係を示す図10において、横方向は抵抗膜31の電極間方向であるX軸方向を、縦方向は抵抗膜30の電極間方向であるY軸方向を表している。また、格子の1マスは、位置関係の1要素分に相当し、ノイズによる電圧変動を斜線で表示している。そして、距離の2乗に反比例するノイズの混入量を考慮して抵抗膜を配置しているため、ノイズ混入による変動を受けても、位置の誤差として現れる可能性が小さくなっている。
【0068】
本実施の形態のノイズ源については、ディスプレイを想定しているが、これに限定するものではない。その他にノイズ源として考えられるものは、ディスプレイのバックライトや、各種制御回路を有する回路基板などである。
【0069】
【発明の効果】
以上説明したことからも明らかなように、本発明は、下側の抵抗膜の解像度iが上側の抵抗膜の解像度jよりも大きくする(i>j)、あるいは、上側の抵抗膜に印加される印加電圧を下側の抵抗膜に印加される印加電圧よりも大きくなるようにすることにより、上側の抵抗膜の単位印加電圧を下側の抵抗膜の単位印加電圧よりも大きくし、ノイズの影響により、下側の抵抗膜の電位値に大きな誤差が含まれていても、位置座標に演算する際に電位値に含まれる誤差を小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態1のタブレット装置1の構成を示す構成図である。
【図2】実施の形態1のタブレット装置1の位置座標図である。
【図3】実施の形態1のステップ1の等価回路図である。
【図4】実施の形態1のステップ2の等価回路図である。
【図5】ノイズと距離との関係を示す図(グラフ)である。
【図6】実施の形態1の単位印加電圧とノイズとの関係を示す関係図であり、(A)は、抵抗膜11と抵抗膜12とでノイズの影響が同等であると仮定した場合、(B)は、実際のノイズの影響を受けた場合を示している。
【図7】実施の形態2のタブレット装置2の構成を示す構成図である。
【図8】実施の形態2の単位印加電圧とノイズとの関係を示す関係図であり、(A)は、抵抗膜11及び抵抗膜12に印加される電圧が等しい場合、(B)は、抵抗膜11に印加される電圧値を抵抗膜12に印加される電圧値より大きくした場合である。
【図9】実施の形態3のタブレット装置3の構成を示す構成図である。
【図10】実施の形態3の単位印加電圧とノイズとの関係を示す関係図である。
【図11】従来のタブレット装置4の構成を示す構成図である。
【図12】従来のタブレット装置4の構成を示す構成図である。
【符号の説明】
1 タブレット装置
11 抵抗膜
12 抵抗膜
13A 電極
13B 電極
15 スイッチ
16 スイッチ
17 スイッチ
18 スイッチ
19 スイッチ
20 直流電源
21 AD変換器
22 演算装置
23 ディスプレイ
Claims (2)
- 対向する一対の電極を有し、電子機器における画像表示面上に積層され、一方を押圧した際にその押圧点にて相互に接触する2枚の抵抗膜と、各抵抗膜にそれぞれ電圧を印加する電圧印加手段と、前記各抵抗膜の電位をそれぞれ測定する電位測定手段と、前記電位測定手段にて測定された測定値に基づいて前記押圧点の位置座標を演算する演算手段とを備えたタブレット装置において、
前記2枚の抵抗膜はそれぞれ長方形の形状を有し、
前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から遠い側の長方形形状の抵抗膜の一解像度あたりの電圧が前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から近い側の長方形形状の抵抗膜の一解像度あたりの電圧より大きくなるように、
前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から遠い側の長方形形状の抵抗膜には、その短辺の両端側から、該短辺に沿って電位勾配が形成されるよう電位を印加し、
前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から近い側の長方形形状の抵抗膜には、その長辺の両端側から、該長辺に沿って電位勾配が形成されるよう、前記遠い側の長方形形状の抵抗膜に印加する電圧と同じ電圧を印加することを特徴とするタブレット装置。 - 対向する一対の電極を有し、電子機器における画像表示面上に積層され、一方を押圧した際にその押圧点にて相互に接触する2枚の抵抗膜と、各抵抗膜にそれぞれ電圧を印加する電圧印加手段と、前記各抵抗膜の電位をそれぞれ測定する電位測定手段と、前記電位測定手段にて測定された測定値に基づいて前記押圧点の位置座標を演算する演算手段とを備えたタブレット装置において、
前記演算手段で演算される位置座標の基準にされる、前記電位測定手段にて測定された一解像度あたりの電圧は、
前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面から遠い側の抵抗膜の一解像度あたりの電圧が、前記2枚の抵抗膜のうちの前記画像表示面に近い側の抵抗膜の一解像度あたりの電圧より大きくなるよう設定されていることを特徴とするタブレット装置。
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