JP4839976B2 - 集積回路装置及び電子機器 - Google Patents
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Description
このESDイミュニティ試験は、帯電した操作者からの直接或いは近接した物体を介しての静電気放電にさらされる電子機器に対する試験である。
が入力され、その第2の入力に前記I/O回路からの出力信号が入力され、前記第2のイネーブル信号に基づいて前記第1、第2の入力のいずれかを選択して出力信号を出力するセレクタとを含んでもよい。
まれる電子機器の誤動作を防止できる。
図1(A)に、表示パネル8と集積回路装置10(表示ドライバ)が組み込まれた表示モジュール6(広義には電子機器)に対するESDイミュニティ試験を概念的に示す。表示パネル8を駆動する集積回路装置10には、各種信号が入力されると共に電源が供給され、動作状態になっている。この状態で、静電気印加装置4により表示モジュール6に対して静電気を印加する。具体的には、正極性の静電気試験電圧(XkV)を印加し、その後に除電する操作を複数回(例えば10回)繰り返す。次に、負極性の静電気試験電圧(−XkV)を印加し、その後に除電する操作を複数回(例えば10回)繰り返す。そしてこれらの操作による試験をクリアした場合には、試験電圧(XkV)を例えば1kVステップで上昇させて、同様の試験を行う。
以上のような問題を解決できる本実施形態の集積回路装置の構成例を図2(A)に示す。図2(A)に示すように集積回路装置は、I/O回路20、誤動作防止回路30、回路ブロック50を含む。
図3(A)にI/O回路20、22、誤動作防止回路30の詳細な構成例を示す。なおI/O回路、誤動作防止回路の構成は図3(A)に限定されず、図3(A)の構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を付加するなどの種々の変形実施が可能である。
ィルタ処理の一方のみを行ってもよいし、両方を行ってもよい。
誤動作防止回路30は、データ信号の一部のビットのみに設けてもよいし、全てのビットに設けてもよい。例えば図6(A)では、集積回路装置は、I/O回路20-7〜20-0(広義には第1〜第JのI/O回路)と誤動作防止回路30-7〜30-0(広義には第1〜第Jの誤動作防止回路)を含む。そしてI/O回路20-7〜20-0は、イネーブル信号ENBがHレベルである場合に、パッド18-7〜18-0からのデータ信号D7〜D0をバッファリングして出力する。また誤動作防止回路30-7〜30-0は、期間T1、T2では、電源VDDCにより電圧レベルに設定される出力信号QP7〜QP0(広義には第1〜第Jの出力信号)を回路ブロック50に出力する。一方、期間T3では、I/O回路20-7〜20-0からの出力信号QI7〜QI0に応じた出力信号QP7〜QP0を回路ブロック50に出力する。
誤動作防止回路は回路ブロック間に設けることもできる。例えば図7(A)において集積回路装置は、イネーブル信号ENBがHレベル(第2の電圧レベル)である場合に、有効な出力信号QIを出力する回路ブロック60(第Kの回路ブロック)と、回路ブロック60からの出力信号が入力される回路ブロック90(第Lの回路ブロック)と、誤動作防止回路70を含む。なお誤動作防止回路70を回路ブロック60や90に含ませてもよい。
が回路ブロック90に伝わらないようになる。従って、ESDのノイズにより、調整データの誤書き込みが行われる事態を防止でき、ESDイミュニティの耐圧を向上できる。
図10に本実施形態の集積回路装置が表示ドライバである場合の詳細な回路構成例を示す。表示パネル512は、複数のデータ線(ソース線)と、複数の走査線(ゲート線)と、データ線及び走査線により特定される複数の画素を有する。そして各画素領域における電気光学素子(狭義には、液晶素子)の光学特性を変化させることで、表示動作を実現する。この表示パネル512は、TFT、TFDなどのスイッチング素子を用いたアクティブマトリクス方式のパネルにより構成できる。なお表示パネル512は、アクティブマトリクス方式以外のパネルであってもよいし、液晶パネル以外のパネル(有機ELパネル等)であってもよい。
図12に集積回路装置10の配置例を示す。この集積回路装置10は、D1方向に沿って配置される第1〜第Nの回路ブロックCB1〜CBN(Nは2以上の整数)を含む。また集積回路装置10は、第1〜第Nの回路ブロックCB1〜CBNのD2方向側に辺SD4に沿って設けられる出力側I/F領域12(広義には第1のインターフェース領域)を含む。また第1〜第Nの回路ブロックCB1〜CBNのD4方向側に辺SD2に沿って設けられる入力側I/F領域14(広義には第2のインターフェース領域)を含む。より具体的には、出力側I/F領域12(第1のI/O領域)は、回路ブロックCB1〜CBNのD2方向側に、例えば他の回路ブロック等を介さずに配置される。また入力側I/F領域14(第2のI/O領域)は、回路ブロックCB1〜CBNのD4方向側に、例えば他の回路ブロック等を介さずに配置される。即ち少なくともデータドライバブロックが存在する部分において、D2方向において1つの回路ブロック(データドライバブロック)だ
けが存在する。なお集積回路装置10をIP(Intellectual Property)コアとして用いて他の集積回路装置に組み込む場合等には、I/F領域12、14の少なくとも一方を設けない構成とすることもできる。
本実施形態では図15に示すように、回路ブロックCB1〜CBNが、電源電圧の調整データの設定を行うロジック回路ブロックLB(広義には第Kの回路ブロック)と、設定された調整データに基づいて電源電圧を生成する電源回路ブロックPB(広義には第Lの回路ブロック。1≦K<L≦N)を含む。またデータ線を駆動するためのデータドライバブロックDB1〜DB4(広義には少なくとも1つのデータドライバブロック)を含む。そして図15では、ロジック回路ブロックLBと電源回路ブロックPBの間に他の回路ブロックが配置される。具体的には、LBとPBの間に他の回路ブロックであるデータドライバブロックDB1〜DB4が配置される。
図16(A)(B)に本実施形態の集積回路装置10を含む電子機器(電気光学装置)の例を示す。なお電子機器は図16(A)(B)に示されるもの以外の構成要素(例えばカメラ、操作部又は電源等)を含んでもよい。また本実施形態の電子機器は携帯電話機には限定されず、デジタルカメラ、PDA、電子手帳、電子辞書、プロジェクタ、リアプロジェクションテレビ、或いは携帯型情報端末などであってもよい。
18、18-7〜18-0 パッド、20、20-7〜20-0、22 I/O回路、
24 入力制御回路、30、30-7〜30-0 誤動作防止回路、50 回路ブロック、
60 回路ブロック(第Kの回路ブロック)、70、72 誤動作防止回路、
90 回路ブロック(第Lの回路ブロック)、92 レジスタ部
Claims (6)
- イネーブル信号が第2の電圧レベルである場合に、パッドからの入力信号をバッファリングして出力するI/O回路と、
前記I/O回路からの出力信号が入力される回路ブロックと、
前記イネーブル信号が第1の電圧レベルである第1の期間と、前記イネーブル信号が前記第1の電圧レベルから前記第2の電圧レベルに遷移する期間を含む第2の期間では、第1の電源により電圧レベルが設定される出力信号を前記回路ブロックに出力し、前記第2の期間に続く期間であって前記イネーブル信号が前記第2の電圧レベルとなる第3の期間では、前記I/O回路からの出力信号に応じた出力信号を前記回路ブロックに出力する誤動作防止回路と、
を含むことを特徴とする集積回路装置。 - 請求項1において、
前記誤動作防止回路は、
前記イネーブル信号を受け、前記イネーブル信号に対して信号遅延処理及びフィルタ処理の少なくと一方を施した信号を第2のイネーブル信号として出力する信号処理回路と、
その第1の入力に前記第1の電源の電圧レベルが入力され、その第2の入力に前記I/O回路からの出力信号が入力され、前記第2のイネーブル信号に基づいて前記第1、第2の入力のいずれかを選択して出力信号を出力するセレクタとを含むことを特徴とする集積回路装置。 - 請求項1又は2において、
前記第1の電源は、前記I/O回路に供給される電源とは異なる電源であることを特徴とする集積回路装置。 - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記イネーブル信号が第2の電圧レベルである場合に、第1〜第Jのパッドからの第1〜第Jの入力信号をバッファリングして出力する第1〜第JのI/O回路と、
前記第1、第2の期間では、前記第1の電源により電圧レベルに設定される第1〜第Jの出力信号を前記回路ブロックに出力し、前記第3の期間では、前記第1〜第JのI/O回路からの出力信号に応じた第1〜第Jの出力信号を前記回路ブロックに出力する第1〜第Jの誤動作防止回路とを含むことを特徴とする集積回路装置。 - 請求項4において、
前記第1〜第Jのパッドからの第1〜第Jの入力信号の信号レベルの各組み合わせに対して、集積回路装置に対する各コマンドが割り当てられている場合に、
前記第1〜第Jの誤動作防止回路は、
前記第1、第2の期間では、その信号レベルの組み合わせが前記コマンドに割り当てられていない組み合わせとなる第1〜第Jの出力信号を、前記回路ブロックに出力することを特徴とする集積回路装置。 - 請求項1乃至5のいずれかに記載の集積回路装置と、
前記集積回路装置により駆動される表示パネルと、
を含むことを特徴とする電子機器。
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