JP4837960B2 - 低電力ランダムビット生成器及び乱数生成器 - Google Patents
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Description
スマートカードのようなモバイルシステムに搭載されるためには、前記乱数生成器の構造が簡単で、かつ消費電力が小さくなければならない。特に、半導体チップで前記乱数生成器を具現するときに占める面積も小さくなければならない。
図1を参照すると、前記乱数生成器は、ランダムビット生成器(Random Bit Generator;RBG)100、後処理器200及び出力バッファ300を備える。
RBG100は、アナログ信号処理部であって、ノイズソースを用いて所定のランダムビット信号を生成させる。
後処理器200は、デジタル信号処理パートであって、受信した前記ランダムビット信号に対して所定のデジタル信号処理を行う。前記デジタル信号処理によって前記ランダムビット信号のランダム性がさらに増加する。ここで、デジタル信号処理とは、前記ランダムビット信号に対する訂正及び圧縮などのアルゴリズムをデジタル方式で行うことを言う。
デジタル処理が行われた前記ランダムビット信号は、出力バッファ300を経て外部に伝えられる。
一般的に増幅器は、消費電力が大きいために、システムが消費する電力を増加させるだけでなく、チップ面積を増加させる短所を有している。また、前記増幅器は、半導体チップ上で高周波で動作する周辺のデジタルロジック回路などによるノイズ、電源電圧からのノイズ(Power Supply Noise)によってPSRR(Power Supply Rejection Ratio)特性が悪くなり、及びフリッカノイズにも脆弱である。言い換えれば、前記増幅器は、ノイズなどの影響を受け、予想していない電圧または電流を出力してしまう恐れがある。
本発明が解決しようとする他の技術的課題は、消費電力の少ないRBGを備える乱数生成器を提供するところにある。
前記MDACは、接地電圧GND、基準電圧Vref、入力信号Vin及びデジタル信号Doutを用いてなる所定のアナログ電圧Vout1を出力する。前記比較器は、前記アナログ電圧Vout1を仮想の接地電圧と比較して決定されたDC電圧Vout2を出力する。前記データ保存装置は、前記DC電圧Vout2と対応する所定のデジタル信号を保存し、前記デジタル信号Doutを出力する。
前記RBGは、所定の電圧準位を有する入力信号、基準電圧、接地電圧及び接地電圧を用いてランダムビットを生成させるDAC、前記DACのランダムビットと前記仮想の接地電圧とを比較する比較器及び前記比較器の出力データを保存するデータ保存装置を含む。前記デジタル後処理器は、前記RBGの出力データに対して訂正及び圧縮などのアルゴリズムをデジタル方式で行う。
前記RBGは、MDAC、比較器及びデータ保存装置を備える。
以下、添付した図面を参照して本発明の望ましい実施形態を説明することによって、本発明を詳細に説明する。各図面に提示された同じ参照符号は同じ部材を表す。
図2は、本発明の一実施形態による低電力ランダムビット生成器(RBG)のブロックダイアグラムである。
図2を参照すれば、前記RBGは、MDAC210、比較器230及びデータ保存装置250を備える。
MDAC210は、接地電圧GND、基準電圧Vref、入力信号Vin及びデジタル信号Doutを用いて生成された所定のアナログ電圧Vout1を出力する。
演算増幅器OP AMPは、一入力端子(正の入力端子、+)が前記接地電圧GNDに連結され、前記アナログ電圧Vout1を出力する。第1キャパシタC1は、演算増幅器OP AMPの他の一入力端子(負の入力端子、−)に一端が連結される。第2キャパシタC2は、演算増幅器OP AMPの他の一入力端子(負の入力端子、−)に一端が連結される。第1スイッチSW1は、デジタル信号Doutに応答して一端に連結された基準電圧Vref及び接地電圧GNDを選択して他端に伝達する。第2スイッチSW2は、第1制御信号CON1に応答して第1スイッチSW1の他端、入力信号Vin及びアナログ電圧Vout1のうち、何れか1つを選択して第1キャパシタC1の他端に伝達する。第3スイッチSW3は、第2制御信号CON2に応答して入力信号Vin及びアナログ電圧Vout1のうち、何れか1つを選択して第2キャパシタC2の他端に伝達する。前記第4スイッチSW4は、第3制御信号CON3に応答して、演算増幅器OP AMPの他の一入力端子−及び出力端子の間をスイッチングする。
データ保存装置250は、前記DC電圧Vout2と対応する所定のデジタル信号を保存し、前記デジタル信号Doutを出力する。
ここで使用する演算増幅器OP AMPは、一般的に2ステージ演算増幅器でもよく、前記2ステージ演算増幅器の場合、消費電力が相当少ないことを特徴とする。ここで、2ステージとは、演算増幅器が差動入力ステージ及び増幅ステージで構成されるか、差動入力ステージ及びバッファステージのように2つのステージで構成されることを意味する。比較器230も2ステージ演算増幅器を使用して具現できるために、比較器で消費される電力も減少させうる。
データ保存装置250は、一般的にD型フリップフロップを用いて具現することが望ましい。
RBG210の動作は、サンプル/ホールドモード(Sample & Hold Mode)及び増幅モード(Amplify Mode)に大別される。
サンプル/ホールドモードは、MADC210で、初めてサンプリングした電圧をホールドし、それを比較器230で接地電圧GNDと比較したデジタル信号Doutをデータ保存装置250に保存する。
図3を参照すれば、サンプリング/ホールドモードでは、第1制御信号CON1及び第2制御信号CON2によって第2スイッチSW2及び第3スイッチSW3は、各々入力信号Vinが選択される。第3制御信号CON4によって動作する第4スイッチSW4は、ターンオンされる。デジタル信号Doutによって動作する第1スイッチSW1は、この瞬間に用いられていないので、如何なる信号を選択するかは関係ない。
増幅モードでは、サンプル/ホールドモードで充電された電荷を増幅させる。
図4を参照すれば、増幅モードであるとき、第1制御信号CON1によって第2スイッチSW2は、接地電圧GNDを選択するために、第1キャパシタC1の一端は、接地電圧GNDに連結され、他端は、負の入力端子(−)に連結される。第2制御信号CON2によって第3スイッチSW3が演算増幅器OP AMPの出力端子Vout1を選択するので、第2キャパシタC2の一端は、演算増幅器OP AMPの出力端子に連結され、他端はそのまま演算増幅器OP AMPの負(−)の入力端子に連結されている。第3制御信号CON4によって動作する第4スイッチSW4は、ターンオフになる。
図4に図示した増幅モードに変換される過程を表す。
図5Aは、サンプル/ホールドモードである時の回路図である。
図5Bは、増幅モードの第1段階である時の回路図である。
図5Cは、増幅モードの第2段階である時の回路図である。
説明の便宜上、図2に図示された2個のキャパシタC1、C2は、同じキャパシタンスを有し、入力信号Vinが接地電圧GNDより高い電圧であると仮定する。
図5Bを参照すると、増幅モードの第1段階では、第2キャパシタC2が演算増幅器OP AMPの出力端子及び負の入力端子(−)の間を連結する。第1キャパシタC1の一端に連結された演算増幅器OP AMPの負の入力端子(−)が仮想の接地電圧と同じ電圧準位を有するので、出力端子Vout1は入力電圧Vinと同じ電圧準位を有する。
サンプル/ホールドモード及び増幅モードを1つのサイクルとする時、前述した内容は、回路動作の最初のサイクルについてのものである。この際、保存装置250から出力されるデジタル信号Doutによって、第1スイッチSW1は接地電圧GNDを選択する。
最初のサイクルが終了した時、データ保存装置250には、所定のデジタル信号Doutが保存されている。例えば、デジタル信号Doutが論理ハイ”1”状態である場合には、第1スイッチSW1が基準電圧Vrefに連結すされるので、MDAC210の出力電圧Vout1は、式(1)のように表示しうる(もちろん、これと逆になるように設計しても良い)。
230 比較器
250 データ保存装置
GND 接地電圧
Vref 基準電圧
Vin 入力信号
Dout デジタル信号
Vout1 アナログ電圧
OP AMP 演算増幅器
C1 第1キャパシタ
C2 第2キャパシタ
SW1 第1スイッチ
SW2 第2スイッチ
SW3 第3スイッチ
SW4 第4スイッチ
CON1 第1制御信号
CON2 第2制御信号
CON3 第3制御信号
Claims (11)
- 接地電圧、基準電圧、入力信号及びデジタル信号を用いて組成された所定のアナログ電圧を出力するMDAC(Multiplying Digital to Analog Convertor)と、
前記アナログ電圧を前記接地電圧と比較して決定されたDC電圧を出力する比較器と、
前記DC電圧と対応する所定のデジタル信号を保存し、前記デジタル信号を出力するデータ保存装置と、を備え、
サンプル/ホールドモード及び増幅モードを1つのサイクル単位で動作し、
最初のサイクル時には、前記入力信号を使用してサンプリングを行うが、以後のサイクルの時には、前記アナログ電圧をフィードバックさせて使用することを特徴とするランダムビット生成器。 - 前記MDACは、
一入力端子が前記接地電圧に連結され、前記アナログ電圧を出力する演算増幅器と、
前記演算増幅器の他の一入力端子に一端が連結された第1キャパシタと、
前記演算増幅器の他の一入力端子に一端が連結された第2キャパシタと、
前記デジタル信号に応答して、一端に連結された前記基準電圧及び前記接地電圧を選択して他端に伝達する第1スイッチと、
第1制御信号に応答して、前記第1スイッチの他端、前記入力信号及び前記アナログ電圧のうち、何れか1つを選択して前記第1キャパシタの他端に伝達する第2スイッチと、
第2制御信号に応答して、前記入力信号及び前記アナログ電圧のうち、何れか1つを選択して前記第2キャパシタの他端に伝達する第3スイッチと、
第3制御信号に応答して、前記演算増幅器の他の一入力端子及び出力端子を選択的に連結する第4スイッチと、を備えることを特徴とする請求項1に記載のランダムビット生成器。 - 前記サンプル/ホールドモードであるとき、
前記第1制御信号は、最初のサイクルである場合には、前記入力信号を選択し、その後のサイクルである場合には、前記第1スイッチの一端または前記アナログ信号を選択し、
前記第2制御信号は、最初のサイクルである場合には、前記入力信号を選択し、その後のサイクルである場合には、前記アナログ電圧を選択し、
前記第3制御信号は、最初のサイクル、またはその後のサイクルを区分せず、前記第4スイッチを閉じることを特徴とする請求項1に記載のランダムビット生成器。 - 前記増幅モードは、
第1段階及び第2段階に区分されて動作し、
前記第1段階であるとき、
前記第1制御信号は、前記サンプル/ホールドモードで選択された状態をそのまま保持し、
前記第2制御信号は、前記アナログ電圧を選択し、
前記第3制御信号は、前記第4スイッチを開け、
前記第2段階において、
前記第1制御信号は、前記接地電圧または前記基準電圧を選択し、
前記第2制御信号は、前記アナログ電圧を選択した状態をそのまま保持し、
前記第3制御信号は、前記第4スイッチが開いた状態をそのまま保持することを特徴とする請求項3に記載のランダムビット生成器。 - 前記データ保存装置は、
D型フリップフロップであることを特徴とする請求項1に記載のランダムビット生成器。 - 所定の電圧準位を有する入力信号、基準電圧、接地電圧及びデジタル信号を用いてランダムビットを生成させるDAC、前記DACのランダムビットと前記接地電圧とを比較する比較器及び前記比較器の出力データを保存し、前記デジタル信号を出力するデータ保存装置を含むランダムビット生成器と、
前記ランダムビット生成器の出力データに対して訂正及び圧縮などのアルゴリズムをデジタル方式で行うデジタル後処理器と、を備え、
前記ランダムビット生成器は、
サンプル/ホールドモード及び増幅モードを1つのサイクル単位で動作し、
最初のサイクルでは、前記入力信号を使用してサンプリングを行うが、以後のサイクルでは、前記アナログ電圧をフィードバックさせて使用することを特徴とする乱数生成器。 - 前記DACは、
一入力端子が前記接地電圧に連結され、前記アナログ電圧を出力する演算増幅器と、
前記演算増幅器の他の一入力端子に一端が連結された第1キャパシタと、
前記演算増幅器の他の一入力端子に一端が連結された第2キャパシタと、
前記デジタル信号に応答して一端に連結された前記基準電圧及び前記接地電圧を選択して他端に伝達する第1スイッチと、
第1制御信号に応答して前記第1スイッチの他端、前記入力信号及び前記アナログ電圧のうち、何れか1つを選択して前記第1キャパシタの他端に伝達する第2スイッチと、
第2制御信号に応答して前記入力信号及び前記アナログ電圧のうち、何れか1つを選択して前記第2キャパシタの他端に伝達する第3スイッチと、
第3制御信号に応答して前記演算増幅器の他の一入力端子及び出力端子との間をスイッチングする第4スイッチと、を備えることを特徴とする請求項6に記載の乱数生成器。 - 前記サンプル/ホールドモードであるとき、
前記第1制御信号は、最初のサイクルである場合には、前記入力信号を選択し、その 後のサイクルである場合には、前記第1スイッチの一端または前記アナログ信号を選択し、
前記第2制御信号は、最初のサイクルである場合には、前記入力信号を選択し、その後のサイクルである場合には、前記アナログ電圧を選択し、
前記第3制御信号は、最初のサイクルまたはその後のサイクルを区分せず、前記第4スイッチを閉じることを特徴とする請求項6に記載の乱数生成器。 - 前記増幅モードは、
第1段階及び第2段階に区分されて動作し、
前記第1段階であるとき、
前記第1制御信号は、前記サンプル/ホールドモードで選択された状態をそのまま保持し、
前記第2制御信号は、前記アナログ電圧を選択し、
前記第3制御信号は、前記第4スイッチを開け、
前記第2段階において、
前記第1制御信号は、前記接地電圧または前記基準電圧を選択し、
前記第2制御信号は、前記アナログ電圧を選択した状態をそのまま保持し、
前記第3制御信号は、前記第4スイッチを開いた状態をそのまま保持することを特徴とする請求項6に記載の乱数生成器。 - 前記データ保存装置は、
D型フリップフロップであることを特徴とする請求項6に記載の乱数生成器。 - 前記乱数生成器は、
前記後処理器の出力データの駆動能力を向上させて出力する出力バッファをさらに備えることを特徴とする請求項6に記載の乱数生成器。
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US7535391B1 (en) * | 2008-01-07 | 2009-05-19 | Freescale Semiconductor, Inc. | Analog-to-digital converter having random capacitor assignment and method thereof |
MY153036A (en) * | 2010-02-24 | 2014-12-31 | Mimos Berhad | An analog to digital converter |
KR101122734B1 (ko) * | 2010-03-23 | 2012-03-23 | 고려대학교 산학협력단 | 캐패시터의 직렬연결을 이용한 멀티플라잉 디지털 아날로그 변환기와 이를 포함하는 파이프라인 아날로그 디지털 변환기 |
TWI506541B (zh) * | 2013-10-18 | 2015-11-01 | Storart Technology Co Ltd | 自回授亂數產生器及其自回授亂數產生方法 |
US20150324171A1 (en) * | 2014-05-12 | 2015-11-12 | Qualcomm Incorporated | Entropy source |
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Family Cites Families (15)
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US4395703A (en) * | 1981-06-29 | 1983-07-26 | Motorola Inc. | Precision digital random data generator |
US4611183A (en) * | 1984-04-30 | 1986-09-09 | Motorola, Inc. | Digital decorrelating random data generator |
US5007087A (en) * | 1990-04-16 | 1991-04-09 | Loral Aerospace Corp. | Method and apparatus for generating secure random numbers using chaos |
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JP2000089672A (ja) * | 1998-09-09 | 2000-03-31 | Ntt Data Corp | 暗号化回路及びランダムパスワード発生回路 |
JP2000310942A (ja) | 1999-02-25 | 2000-11-07 | Yazaki Corp | 疑似乱数発生器、ストリーム暗号化方法、及びストリーム暗号通信方法 |
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US6362677B1 (en) * | 2000-12-12 | 2002-03-26 | Linear Technology Corporation | Apparatus and methods for performing RMS-to-DC conversion utilizing clock dithering |
JP2003216037A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-07-30 | Yazaki Corp | 暗号キー、暗号化装置、暗号化復号化装置、暗号キー管理装置及び復号化装置 |
US6931425B2 (en) * | 2002-03-08 | 2005-08-16 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for generating random numbers based on filter coefficients of an adaptive filter |
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