JP4804645B2 - 非接触式超音波及び温度測定装置 - Google Patents

非接触式超音波及び温度測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4804645B2
JP4804645B2 JP2001144578A JP2001144578A JP4804645B2 JP 4804645 B2 JP4804645 B2 JP 4804645B2 JP 2001144578 A JP2001144578 A JP 2001144578A JP 2001144578 A JP2001144578 A JP 2001144578A JP 4804645 B2 JP4804645 B2 JP 4804645B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
temperature
measuring device
temperature sensor
directional microphones
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001144578A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002340872A (ja
Inventor
秀昭 湯本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tlv Co Ltd
Original Assignee
Tlv Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tlv Co Ltd filed Critical Tlv Co Ltd
Priority to JP2001144578A priority Critical patent/JP4804645B2/ja
Publication of JP2002340872A publication Critical patent/JP2002340872A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4804645B2 publication Critical patent/JP4804645B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プラントや工場などにおいて数多く設置されているトラップやバルブや回転機械などの各種設備を保守・点検するときに用いる非接触式超音波及び温度測定装置に関する。
【0002】
プラントや工場などの設備においては、最少の消費エネルギーで最大の生産量を得ると共に最高の生産品質を維持するために、定期的にその作動状況がチェックされている。
【0003】
【従来の技術】
従来の技術を特公平5−14839号公報を参照して説明する。ここに開示されたものは、振動及び温度測定表示器であり、被測定対象物に押し当てて被測定対象物の振動及び温度を検出する振動センサ及び温度センサと、両センサで検出した電気信号を処理する信号処理回路と、信号処理回路で処理した信号を出力する出力部と、両センサと信号処理回路と出力部を配設したプローブと、を具備したものである。
【0004】
【本発明が解決しようとする課題】
上記従来のものは、振動センサ及び温度センサを被測定対象物に押し当てるものであるので、センサが損傷し易いために比較的寿命が短く、結果として信頼性が低いという問題点があった。従って本発明の技術的課題は、信頼性の高い測定装置を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記の技術的課題を解決するために講じた本発明の技術的手段は、被測定対象物での発生超音波を非接触で検出する複数の指向性マイクロホンと、被測定対象物の温度を非接触で検出する温度センサと、前記複数の指向性マイクロホン及び温度センサで検出した電気信号を処理する信号処理回路と、該信号処理回路で処理した信号を可視的に及び可聴的に出力する出力部と、を外径が片手で把持できる大きさのプローブに配設し、前記複数の指向性マイクロホンを正三角形の頂点に配設し、該複数の指向性マイクロホンの中心に前記温度センサを配設した、非接触式超音波及び温度測定装置にある。
【0006】
【発明の実施の形態】
上記の本発明の技術的手段によれば、被測定対象物での発生超音波及び温度を指向性マイクロホン及び温度センサによって非接触で検出するので、指向性マイクロホン及び温度センサが損傷し難く信頼性を高めることができる。
【0007】
【実施例】
以下、添付図面を参照して本発明の実施例を説明する。図1に本発明の非接触式超音波及び温度測定装置の外観斜視図を示し、図2に本発明の非接触式超音波及び温度測定装置の電気的回路のブロック図を示す。非接触式超音波及び温度測定装置1のプローブ2は、円柱形の先端部3と、横断面がほぼ四角形で先端側と後端側が先細りとなった中央部4と、横断面がほぼ四角形の後方部5と、から成る。後方部5の外径は片手で把持できる程度の大きさである。
【0008】
プローブ2の先端部3に、被測定対象物から発せられる超音波を検出するための指向性を有するマイクロホン6,7,8と、被測定対象物の表面から発せられる赤外線の強さに応じた電荷を発生する温度センサ9と、を配設する。指向性マイクロホン6,7,8は正三角形の頂点に位置し、温度センサ9は指向性マイクロホン6,7,8の中心(正三角形の重心)に位置する。指向性マイクロホンの数は1個でもよいが、複数個設けることにより感度を上げることができ、複数の指向性マイクロホンの中心部に温度センサ9を配設することにより、被測定対象物の同一個所の超音波と温度を検出できる。プローブ2の中央部4の先端側の先細り部に、指向性マイクロホン6,7,8の指向方向と同一方向に光ビームを出射するためのレーザポインタなどの光源10,11を配設する。光源の数は1個でもよいが、複数個設けて中心部に指向性マイクロホンや温度センサを配設することにより、被測定対象物の測定個所を正確に検知できる。
【0009】
プローブ2の中央部4及び後方部5内に信号処理回路12を配設する。中央部4の外側面の一側面に信号処理回路12で処理した信号を可視的に表示するための液晶パネル構成等の表示部13を配設し、後方部5の外側面の一側面に複数の押しボタンキー構成の操作部14を配設する。後方部5に信号処理回路12で処理した信号をヘッドホン15等に可聴的に出力するための出力端子16と、パソコン17等と連結するための入出力端子18と、を配設する。表示部13とヘッドホン15が出力部を成す。
【0010】
信号処理回路12は増幅部21とフィルタ部22と検波部23と整流部24とオートボリュームコントロール部25とレーザ駆動部26と記憶部27及びCPU(中央演算処理部)28と増幅部31とA/D変換部32とからなる。超音波マイクロホン6,7,8は、増幅部21、フィルタ部22、検波部23、整流部24、CPU28を通して表示部13に連結する。また検波部23及びCPU28は、オートボリュームコントロール部25、出力端子16を通してヘッドホン15に連結する。またCPU28は、レーザ駆動部26を通して光源10,11に連結し、入出力端子18を通してパソコン17と連結する。温度センサ9は、増幅部31、A/D変換部32、CPU28を通して表示部12に連結する。
【0011】
被測定対象物の超音波及び温度測定に際して、プローブ2の後方部5を片手で把持し、プローブ2の先端部3側を被測定対象物に向け、例えば親指で操作部14の電源スイッチを押してオン状態にする。電源スイッチがオンされると、レーザ駆動部26を介してレーザポインタなどの光源10,11からレーザビームなどの光ビームが出射される。この光ビームのスポットの間に被測定対象物の測定個所が位置する。
【0012】
被測定対象物から発せられる超音波が超音波マイクロホン6,7,8によって電気信号として検出され、信号処理回路12に送られる。また被測定対象物の表面から発せられる赤外線が温度センサ9によって電気信号として検出され、信号処理回路12に送られる。
【0013】
超音波マイクロホン6,7,8によって検出された電気信号は、増幅部21で増幅され、フィルタ部22を通して検波部23で検波され、整流部24で整流され、CPU28で処理されて表示部13に表示される。また検波部23で検波された電気信号は、オートボリュームコントロール部25で一定以上の信号が絞られて出力端子16を通してヘッドホン15に出力される。このオートボリュームコントロール部25により、突然のエアーブローなどによる異常音から耳を守ることができる。温度センサ9によって検出された電気信号は、増幅部31で増幅され、A/D変換部32でA/D変換され、CPU28で処理されて表示部13に表示される。
【0014】
【発明の効果】
本発明は下記の特有の効果を生じる。
上記のように本発明によれば、被測定対象物での発生超音波及び温度を指向性マイクロホン及び温度センサによって非接触で検出するので、指向性マイクロホン及び温度センサが損傷し難く信頼性の高い非接触式超音波及び温度測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の非接触式超音波及び温度測定装置の実施例を示す外観斜視図。
【図2】本発明の非接触式超音波及び温度測定装置の電気的回路を示すブロック図。
【符号の説明】
1 非接触式超音波及び温度測定装置
2 プローブ
6,7,8 超音波マイクロホン
9 温度センサ
10,11 光源
12 信号処理回路
13 表示部
14 操作部
15 ヘッドホン
17 パソコン
21 増幅部
22 フィルタ部
23 検波部
24 整流部
25 オートボリュームコントロール部
26 レーザ駆動部
27 記憶部
28 CPU
31 増幅部
32 A/D変換部

Claims (1)

  1. 被測定対象物での発生超音波を非接触で検出する複数の指向性マイクロホンと、被測定対象物の温度を非接触で検出する温度センサと、前記複数の指向性マイクロホン及び温度センサで検出した電気信号を処理する信号処理回路と、該信号処理回路で処理した信号を可視的に及び可聴的に出力する出力部と、を外径が片手で把持できる大きさのプローブに配設し、前記複数の指向性マイクロホンを正三角形の頂点に配設し、該複数の指向性マイクロホンの中心に前記温度センサを配設した、非接触式超音波及び温度測定装置。
JP2001144578A 2001-05-15 2001-05-15 非接触式超音波及び温度測定装置 Expired - Fee Related JP4804645B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001144578A JP4804645B2 (ja) 2001-05-15 2001-05-15 非接触式超音波及び温度測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001144578A JP4804645B2 (ja) 2001-05-15 2001-05-15 非接触式超音波及び温度測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002340872A JP2002340872A (ja) 2002-11-27
JP4804645B2 true JP4804645B2 (ja) 2011-11-02

Family

ID=18990500

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001144578A Expired - Fee Related JP4804645B2 (ja) 2001-05-15 2001-05-15 非接触式超音波及び温度測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4804645B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5236890B2 (ja) * 2007-04-03 2013-07-17 株式会社アコー マイクロホンユニット、騒音計及び音響校正器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6474397A (en) * 1987-09-14 1989-03-20 Tlv Co Ltd Operation detector for steam trap
JPH029555A (ja) * 1988-03-24 1990-01-12 Omron Tateisi Electron Co 工具損傷検出装置
JP2835669B2 (ja) * 1992-10-15 1998-12-14 株式会社テイエルブイ スチ―ムトラップの作動判定装置
JP3051969B2 (ja) * 1993-08-12 2000-06-12 株式会社テイエルブイ 振動測定表示器
JPH07128201A (ja) * 1993-10-31 1995-05-19 Babcock Hitachi Kk 監視装置および方法
JP3385749B2 (ja) * 1994-10-18 2003-03-10 日本鋼管株式会社 圧力のかかる容器の異常検知方法及び装置
JPH11118592A (ja) * 1997-10-15 1999-04-30 Hitachi Ltd 機器異常診断装置およびそれを搭載したプラント装置
JP2954183B1 (ja) * 1998-07-17 1999-09-27 株式会社ミヤワキ スチームトラップの検査方法、同検査装置及び同管理システム
JP2000214052A (ja) * 1999-01-28 2000-08-04 Nichiha Corp 異常音検出システム及び記録媒体

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002340872A (ja) 2002-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20110023585A1 (en) Handheld ultrasound detection apparatus having a flexible tube
JP4804645B2 (ja) 非接触式超音波及び温度測定装置
JP4381619B2 (ja) 超音波漏洩検出装置
JP3443807B2 (ja) 超音波漏洩検出装置
JP4381582B2 (ja) 超音波漏洩量測定装置
JP7253277B2 (ja) 計測装置
TWM575104U (zh) 手持式的農作物的系統型農藥殘留程度檢測裝置
JP4342738B2 (ja) 超音波漏洩検出装置
JP2001228046A (ja) 超音波漏洩検出装置
JP3300826B2 (ja) 振動及び音測定器
JP2011038935A (ja) 超音波漏洩検出装置
JP3895643B2 (ja) 超音波漏洩検出装置
JP4614194B2 (ja) 超音波漏洩量測定装置
JP2875741B2 (ja) 光学式張力測定装置
JP2002243576A (ja) 超音波漏洩検出装置
US20220050129A1 (en) Non-contact detector
JPH075027A (ja) 振動及び温度測定表示器
JP2003222553A (ja) 音検出方法及びそれを用いた装置
JP3300825B2 (ja) 振動及び音測定器
JP3341184B2 (ja) 漏出量測定装置
JP3355382B2 (ja) 携帯用音測定表示器
JP3095456U (ja) エアー漏れ検出装置
JP3300824B2 (ja) 振動及び音測定器
JP4447760B2 (ja) 超音波漏洩量測定装置
JP2002310841A (ja) 超音波漏洩検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080319

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100720

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100901

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101130

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110308

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110404

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110809

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110810

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4804645

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140819

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees