JP2002340872A - 非接触式超音波及び温度測定装置 - Google Patents

非接触式超音波及び温度測定装置

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JP2002340872A JP2001144578A JP2001144578A JP2002340872A JP 2002340872 A JP2002340872 A JP 2002340872A JP 2001144578 A JP2001144578 A JP 2001144578A JP 2001144578 A JP2001144578 A JP 2001144578A JP 2002340872 A JP2002340872 A JP 2002340872A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 信頼性の高い非接触式超音波及び温度測定装
置を提供する。 【解決手段】 非接触式超音波及び温度測定装置1は、
被測定対象物での発生超音波を非接触で検出する指向性
マイクロホン6,7,8と、被測定対象物の温度を非接
触で検出する温度センサ9と、指向性マイクロホン6,
7,8及び温度センサ9を配設したプローブ2と、指向
性マイクロホン6,7,8及び温度センサ9で検出した
電気信号を処理する信号処理回路12と、信号処理回路
12で処理した信号を出力する表示部13及びヘッドホ
ン15と、を具備する。被測定対象物での発生超音波及
び温度を指向性マイクロホン6,7,8及び温度センサ
9によって非接触で検出するので、指向性マイクロホン
6,7,8及び温度センサ9が損傷し難く信頼性の高い
非接触式超音波及び温度測定装置を提供することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラントや工場な
どにおいて数多く設置されているトラップやバルブや回
転機械などの各種設備を保守・点検するときに用いる非
接触式超音波及び温度測定装置に関する。
【0002】プラントや工場などの設備においては、最
少の消費エネルギーで最大の生産量を得ると共に最高の
生産品質を維持するために、定期的にその作動状況がチ
ェックされている。
【0003】
【従来の技術】従来の技術を特公平5−14839号公
報を参照して説明する。ここに開示されたものは、振動
及び温度測定表示器であり、被測定対象物に押し当てて
被測定対象物の振動及び温度を検出する振動センサ及び
温度センサと、両センサで検出した電気信号を処理する
信号処理回路と、信号処理回路で処理した信号を出力す
る出力部と、両センサと信号処理回路と出力部を配設し
たプローブと、を具備したものである。
【0004】
【本発明が解決しようとする課題】上記従来のものは、
振動センサ及び温度センサを被測定対象物に押し当てる
ものであるので、センサが損傷し易いために比較的寿命
が短く、結果として信頼性が低いという問題点があっ
た。従って本発明の技術的課題は、信頼性の高い測定装
置を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の技術的課題を解決
するために講じた本発明の技術的手段は、被測定対象物
での発生超音波を非接触で検出する指向性マイクロホン
と、被測定対象物の温度を非接触で検出する温度センサ
と、前記指向性マイクロホン及び温度センサを配設した
プローブと、前記指向性マイクロホン及び温度センサで
検出した電気信号を処理する信号処理回路と、該信号処
理回路で処理した信号を出力する出力部と、を具備し
た、非接触式超音波及び温度測定装置にある。
【0006】
【発明の実施の形態】上記の本発明の技術的手段によれ
ば、被測定対象物での発生超音波及び温度を指向性マイ
クロホン及び温度センサによって非接触で検出するの
で、指向性マイクロホン及び温度センサが損傷し難く信
頼性を高めることができる。
【0007】
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の実施例を
説明する。図1に本発明の非接触式超音波及び温度測定
装置の外観斜視図を示し、図2に本発明の非接触式超音
波及び温度測定装置の電気的回路のブロック図を示す。
非接触式超音波及び温度測定装置1のプローブ2は、円
柱形の先端部3と、横断面がほぼ四角形で先端側と後端
側が先細りとなった中央部4と、横断面がほぼ四角形の
後方部5と、から成る。後方部5の外径は片手で把持で
きる程度の大きさである。
【0008】プローブ2の先端部3に、被測定対象物か
ら発せられる超音波を検出するための指向性を有するマ
イクロホン6,7,8と、被測定対象物の表面から発せ
られる赤外線の強さに応じた電荷を発生する温度センサ
9と、を配設する。指向性マイクロホン6,7,8は正
三角形の頂点に位置し、温度センサ9は指向性マイクロ
ホン6,7,8の中心(正三角形の重心)に位置する。
指向性マイクロホンの数は1個でもよいが、複数個設け
ることにより感度を上げることができ、複数の指向性マ
イクロホンの中心部に温度センサ9を配設することによ
り、被測定対象物の同一個所の超音波と温度を検出でき
る。プローブ2の中央部4の先端側の先細り部に、指向
性マイクロホン6,7,8の指向方向と同一方向に光ビ
ームを出射するためのレーザポインタなどの光源10,
11を配設する。光源の数は1個でもよいが、複数個設
けて中心部に指向性マイクロホンや温度センサを配設す
ることにより、被測定対象物の測定個所を正確に検知で
きる。
【0009】プローブ2の中央部4及び後方部5内に信
号処理回路12を配設する。中央部4の外側面の一側面
に信号処理回路12で処理した信号を可視的に表示する
ための液晶パネル構成等の表示部13を配設し、後方部
5の外側面の一側面に複数の押しボタンキー構成の操作
部14を配設する。後方部5に信号処理回路12で処理
した信号をヘッドホン15等に可聴的に出力するための
出力端子16と、パソコン17等と連結するための入出
力端子18と、を配設する。表示部13とヘッドホン1
5が出力部を成す。
【0010】信号処理回路12は増幅部21とフィルタ
部22と検波部23と整流部24とオートボリュームコ
ントロール部25とレーザ駆動部26と記憶部27及び
CPU(中央演算処理部)28と増幅部31とA/D変
換部32とからなる。超音波マイクロホン6,7,8
は、増幅部21、フィルタ部22、検波部23、整流部
24、CPU28を通して表示部13に連結する。また
検波部23及びCPU28は、オートボリュームコント
ロール部25、出力端子16を通してヘッドホン15に
連結する。またCPU28は、レーザ駆動部26を通し
て光源10,11に連結し、入出力端子18を通してパ
ソコン17と連結する。温度センサ9は、増幅部31、
A/D変換部32、CPU28を通して表示部12に連
結する。
【0011】被測定対象物の超音波及び温度測定に際し
て、プローブ2の後方部5を片手で把持し、プローブ2
の先端部3側を被測定対象物に向け、例えば親指で操作
部14の電源スイッチを押してオン状態にする。電源ス
イッチがオンされると、レーザ駆動部26を介してレー
ザポインタなどの光源10,11からレーザビームなど
の光ビームが出射される。この光ビームのスポットの間
に被測定対象物の測定個所が位置する。
【0012】被測定対象物から発せられる超音波が超音
波マイクロホン6,7,8によって電気信号として検出
され、信号処理回路12に送られる。また被測定対象物
の表面から発せられる赤外線が温度センサ9によって電
気信号として検出され、信号処理回路12に送られる。
【0013】超音波マイクロホン6,7,8によって検
出された電気信号は、増幅部21で増幅され、フィルタ
部22を通して検波部23で検波され、整流部24で整
流され、CPU28で処理されて表示部13に表示され
る。また検波部23で検波された電気信号は、オートボ
リュームコントロール部25で一定以上の信号が絞られ
て出力端子16を通してヘッドホン15に出力される。
このオートボリュームコントロール部25により、突然
のエアーブローなどによる異常音から耳を守ることがで
きる。温度センサ9によって検出された電気信号は、増
幅部31で増幅され、A/D変換部32でA/D変換さ
れ、CPU28で処理されて表示部13に表示される。
【0014】
【発明の効果】本発明は下記の特有の効果を生じる。上
記のように本発明によれば、被測定対象物での発生超音
波及び温度を指向性マイクロホン及び温度センサによっ
て非接触で検出するので、指向性マイクロホン及び温度
センサが損傷し難く信頼性の高い非接触式超音波及び温
度測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の非接触式超音波及び温度測定装置の実
施例を示す外観斜視図。
【図2】本発明の非接触式超音波及び温度測定装置の電
気的回路を示すブロック図。
【符号の説明】
1 非接触式超音波及び温度測定装置 2 プローブ 6,7,8 超音波マイクロホン 9 温度センサ 10,11 光源 12 信号処理回路 13 表示部 14 操作部 15 ヘッドホン 17 パソコン 21 増幅部 22 フィルタ部 23 検波部 24 整流部 25 オートボリュームコントロール部 26 レーザ駆動部 27 記憶部 28 CPU 31 増幅部 32 A/D変換部
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) F16T 1/48 F16T 1/48 D Fターム(参考) 2G024 AA15 AD02 AD22 BA27 CA13 CA17 EA14 FA20 2G047 AC05 BA05 BC00 GG09 GG15 GG17 2G064 AA12 AB13 AB22 BA17 BD02 CC13 CC19 DD06 2G066 AA01 AC09 AC16 BC07 BC15 CA14 CB05

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定対象物での発生超音波を非接触で
    検出する指向性マイクロホンと、被測定対象物の温度を
    非接触で検出する温度センサと、前記指向性マイクロホ
    ン及び温度センサを配設したプローブと、前記指向性マ
    イクロホン及び温度センサで検出した電気信号を処理す
    る信号処理回路と、該信号処理回路で処理した信号を出
    力する出力部と、を具備した、非接触式超音波及び温度
    測定装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008256433A (ja) * 2007-04-03 2008-10-23 Akoo:Kk マイクロホンユニット、騒音計及び音響校正器

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH029555A (ja) * 1988-03-24 1990-01-12 Omron Tateisi Electron Co 工具損傷検出装置
JPH0514839B2 (ja) * 1987-09-14 1993-02-26 Tlv Co Ltd
JPH06129600A (ja) * 1992-10-15 1994-05-10 Tlv Co Ltd スチ―ムトラップの作動判定装置
JPH0755548A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Tlv Co Ltd 振動測定表示器
JPH07128201A (ja) * 1993-10-31 1995-05-19 Babcock Hitachi Kk 監視装置および方法
JPH08114580A (ja) * 1994-10-18 1996-05-07 Nkk Corp 圧力のかかる容器の異常検知方法及び装置
JPH11118592A (ja) * 1997-10-15 1999-04-30 Hitachi Ltd 機器異常診断装置およびそれを搭載したプラント装置
JP2000035378A (ja) * 1998-07-17 2000-02-02 Miyawaki Inc スチームトラップの検査方法、同検査装置及び同管理システム
JP2000214052A (ja) * 1999-01-28 2000-08-04 Nichiha Corp 異常音検出システム及び記録媒体

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0514839B2 (ja) * 1987-09-14 1993-02-26 Tlv Co Ltd
JPH029555A (ja) * 1988-03-24 1990-01-12 Omron Tateisi Electron Co 工具損傷検出装置
JPH06129600A (ja) * 1992-10-15 1994-05-10 Tlv Co Ltd スチ―ムトラップの作動判定装置
JPH0755548A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Tlv Co Ltd 振動測定表示器
JPH07128201A (ja) * 1993-10-31 1995-05-19 Babcock Hitachi Kk 監視装置および方法
JPH08114580A (ja) * 1994-10-18 1996-05-07 Nkk Corp 圧力のかかる容器の異常検知方法及び装置
JPH11118592A (ja) * 1997-10-15 1999-04-30 Hitachi Ltd 機器異常診断装置およびそれを搭載したプラント装置
JP2000035378A (ja) * 1998-07-17 2000-02-02 Miyawaki Inc スチームトラップの検査方法、同検査装置及び同管理システム
JP2000214052A (ja) * 1999-01-28 2000-08-04 Nichiha Corp 異常音検出システム及び記録媒体

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008256433A (ja) * 2007-04-03 2008-10-23 Akoo:Kk マイクロホンユニット、騒音計及び音響校正器

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