JP4775996B2 - 金属酸化物膜の製造方法 - Google Patents

金属酸化物膜の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4775996B2
JP4775996B2 JP2005093501A JP2005093501A JP4775996B2 JP 4775996 B2 JP4775996 B2 JP 4775996B2 JP 2005093501 A JP2005093501 A JP 2005093501A JP 2005093501 A JP2005093501 A JP 2005093501A JP 4775996 B2 JP4775996 B2 JP 4775996B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal
film
oxide film
amine compound
metal oxide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005093501A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006274333A (ja
Inventor
隆一 東海林
真 岩井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Priority to JP2005093501A priority Critical patent/JP4775996B2/ja
Publication of JP2006274333A publication Critical patent/JP2006274333A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4775996B2 publication Critical patent/JP4775996B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は金属酸化物膜の製造方法に関するものである。
高屈折率膜はレンズ材料などの光学用途に利用されている。例えば酸化ニオブ(Nb)膜は高屈折率であるので、レンズ材料として期待される。酸化ニオブ膜を成膜するためには、例えば、有機金属気相成長法(MOCVD法)により、ペンタエトキシニオブ(Nb(OC)を原料(プリカーサ)として使用し、ガラス基板上に成膜することが考えられる。
しかし、上記のようにして有機金属化学的気相成長法によって酸化ニオブ膜を成膜する場合、一般的な原料であるペンタエトキシニオブを原料として使用すると、成膜温度は600℃程度と高くなる。この結果、基板を構成するガラスと、酸化ニオブ膜との間の熱膨張率差により、膜にひずみが生ずる。
一方、成膜温度を例えば500℃程度に下げた場合には、ガラス基板と酸化ニオブ膜との間の熱膨張率差に起因する歪みは防止できるが、成膜速度が0.1μm/時間程度にまで低下し、また膜の屈折率が2.2(波長633nm)未満まで低下するという問題がある。
本発明の課題は、酸化ニオブを主体する金属酸化物膜を成膜するのに際して、低温での成膜時にも成膜速度を大きくし、膜の屈折率を高く保持できるようにすることである。
第一の本発明は、金属アミン系化合物と金属アルコキシドとを原料として使用し、有機金属化学的気相成長法によって金属酸化物膜を製造する方法であって、
金属アミン系化合物がハフニウムを含有しており、金属アルコキシドがニオブを含有していることを特徴とする。
また、第二の発明は、非金属アミン化合物と金属アルコキシドとを原料として使用し、有機金属化学的気相成長法によって金属酸化物膜を製造する方法であって、
非金属アミン化合物がジエタノールアミンであり、金属アルコキシドがニオブを含有しており、金属酸化物膜が酸化ニオブ膜であることを特徴とする。
本発明者は、有機金属化学的気相成長法による成膜時の原料として、ニオブを含有している金属アルコキシド、ハフニウムを含有している金属アミン系化合物を併用することを想到した。この結果、従来よりも低温で、屈折率の高い金属酸化物膜を成膜可能であることを見いだし、本発明に到達した。
また、有機金属化学的気相成長法による成膜時の原料として、ジエタノールアミンとニオブ金属アルコキシドとを併用することを想到した。この結果、従来よりも低温で、屈折率の高い金属酸化物膜を成膜可能であることを見いだし、本発明に到達した。
第一の発明では、金属アルコキシドがニオブを含有し、金属アミン系化合物がハフニウムを含有する。
金属アルコキシド系化合物がニオブを含有する場合には、この化合物は以下のように表される。
(Nb(OX))(ここで、Xはアルキル基である)。
このXのアルキル基の炭素数は特に限定されないが、5以下が好ましく、3以下が更に好ましい。特に好ましくはメチル基、エチル基である。
金属アミン系化合物がハフニウムを含有する場合には、この化合物として、以下を例示できる。
ジアルキルアミノハフニウム、ジアルキルアミノチタン、ジアルキルアミノタンタル
このアルキル基の炭素数は限定されないが、例えば5以下が好ましく、3以下が特に好ましい。このアルキル基としてはメチル基、エチル基が特に好ましい。
第二の発明においては、ジエタノールアミンとニオブ含有アルコキシドとを原料として使用し、有機金属化学的気相成長を行う。
ニオブ含有アルコキシドは、以下のように表される。
(Nb(OX))(ここで、Xはアルキル基である)。
このXのアルキル基の炭素数は特に限定されないが、5以下が好ましく、3以下が更に好ましい。特に好ましくはメチル基、エチル基である。
好ましくは成膜温度が500℃以下であり、特に好ましくは450℃以下である。これによって、得られた金属酸化物膜と下地基板との熱膨張率差に起因する歪みを低減できる。また、成膜温度の下限は特にないが、成膜速度を上昇させるという観点からは、300℃以上が好ましく、350℃以上が更に好ましい。本発明によれば、比較的に低い成膜温度でも成膜が可能となる。
好適な実施形態においては、アミン系化合物(金属アミン系化合物またはジエタノールアミン)、金属アルコキシドおよびキャリアガスを成長室内に導入する際の全ガス流量が1000sccm以下である。これによって、成膜速度を向上させ、屈折率を高くすることができる。この観点からは、前記全ガス流量を600sccm以下とすることが一層好ましい。全ガス流量の下限は特にないが、成膜促進の観点からは、100sccm以上が好ましい。
好適な実施形態においては、成長室内の圧力を30Torr以上、60Torr以下とする。これによって成膜速度を向上させ、膜の屈折率を高くすることができる。成膜速度を一層向上させるという観点からは、成長室内の圧力を40Torr以上とすることが更に好ましい。また,膜の屈折率を高くするという観点からも、成長室内の圧力を40Torr以上とすることが更に好ましい。気相反応による副生成物の基板上への堆積防止の観点からは60Torr以下が好ましい。
好適な実施形態においては、アミン系化合物(金属アミン系化合物、あるいはジエタノールアミン)、金属アルコキシドおよびキャリアガスを成長室内に導入する際の金属アルコキシド原料に対するアミン系化合物原料のモル比率(アミン系化合物/金属アルコキシド)を0.3以上、0.5以下とする。これによって成膜速度を高くし、また膜の屈折率も高く保持できる。
本発明の金属酸化物膜の用途は特に限定されないが、例えば光学材料であってよい。光学材料として、高屈折率膜として利用でき、具体的な用途としてはマイクロレンズを例示できる。
(実施例1)
有機金属気相成長法により金属酸化物膜を作製した。具体的には、原料として、テトラキスジエチルアミノハフニウムとペンタエトキシニオブとを使用した。これらを各専用原料容器に充填した後、テトラキスジエチルアミノハフニウムを90℃に加熱し、ペンタエトキシニオブを100℃に加熱し、各ガスを、流量制御したアルゴンキャリアガスを用いて、反応室内に導入した。テトラキスジエチルアミノハフニウムの原料容器圧力を80Torrとし、流量を40sccmとした。ペンタエトキシニオブの原料容器圧力を100Torrとし、流量を140sccmとした。アルゴンガスで原料をバブリングし、成長室内に導入した。アルゴンガスの全流量は200sccmとし、酸素ガスの流量を800sccmとし、全ガス流量を1000sccmとした。成長室内の圧力を30Torrとし、500℃で2時間成膜したところ、無色透明の膜が得られた。得られた膜の屈折率を測定したところ、波長633nmにおいて2.335であり、成膜速度は1μm/時間であった。
(比較例1)
原料をペンタエトキシニオブのみとした。これ以外は実施例1と同様に成膜実験を行ったところ、基板上には何も成膜されなかった。
(実施例2)
有機金属気相成長法により金属酸化物膜を作製した。具体的には、原料として、テトラキスジエチルアミノハフニウムとペンタエトキシニオブとを使用した。これらを各専用原料容器に充填した後、テトラキスジエチルアミノハフニウムを90℃に加熱し、ペンタエトキシニオブを100℃に加熱し、各ガスを、流量制御したアルゴンキャリアガスを用いて、反応室内に導入した。テトラキスジエチルアミノハフニウムの原料容器圧力を150Torrとし、流量を40sccmとした。ペンタエトキシニオブの原料容器圧力を200Torrとし、流量を140sccmとした。アルゴンガスで原料をバブリングし、成長室内に導入した。全ガス導入流量は、図1に示すように、500〜1500sccmの間で変化させた。成長室内の圧力を40Torrとした。500℃で2時間成膜したところ、それぞれ無色透明の膜が得られた。
得られた各膜の屈折率は、波長633nmにおいて、全流量が500sccmのときには2.317であり、全流量が1500sccmのときには2.301であった。また、成膜速度は、全流量が500sccmのときには1.43μm/時間であり、全流量が1500sccmのときには0.63μm/時間であった。
(実施例3)
有機金属気相成長法により金属酸化物膜を作製した。具体的には、原料として、テトラキスジエチルアミノハフニウムとペンタエトキシニオブとを使用した。これらを各専用原料容器に充填した後、テトラキスジエチルアミノハフニウムを90℃に加熱し、ペンタエトキシニオブを100℃に加熱し、各ガスを、流量制御したアルゴンキャリアガスを用いて、反応室内に導入した。テトラキスジエチルアミノハフニウムの原料容器圧力を100Torrとし、流量を100sccmとした。ペンタエトキシニオブの原料容器圧力を200Torrとし、流量を100sccmとした。アルゴンガスで原料をバブリングし、成長室内に導入した。アルゴンガスの流量は300sccmとし、酸素ガスの流量は1000sccmとした。成長室内の圧力は、図2に示すように20Torrから60Torrまで変化させた。450℃で2時間成膜したところ、それぞれ無色透明の膜が得られた。
得られた各膜の屈折率は、波長633nmにおいて、成長室内圧力が20Torrの場合には2.20であり、圧力が60Torrと場合には2.32であった。また、成膜速度は、成長室内圧力が30〜40Torrのときに最も高く、約1.1μm/時間となった。
また、上記の成膜条件において、成長室内圧力を70Torrにすると、膜内の異物が多くなり、透明な膜が得られなかった。
(実施例4)
有機金属気相成長法により金属酸化物膜を作製した。具体的には、原料として、テトラキスジエチルアミノハフニウムとペンタエトキシニオブとを使用した。これらを各専用原料容器に充填した後、テトラキスジエチルアミノハフニウムを90℃に加熱し、ペンタエトキシニオブを100℃に加熱し、各ガスを、流量制御したアルゴンキャリアガスを用いて、反応室内に導入した。アルゴンガスで原料をバブリングし、成長室内に導入した。アルゴンガスの流量は200sccmとし、酸素ガスの流量は400sccmとした。成長室内の圧力は40Torrとした。導入したハフニウム原料とニオブ原料とのmol比(Hfアミン/Nbアルコキシド)を、図3に示すように0.1から1.25まで変化させた。450℃で2時間成膜したところ、それぞれ無色透明の膜が得られた。
この結果、ハフニウムアミンとニオブアルコキシドとの供給mol比(Hfアミン/Nbアルコキシド)が0.3〜0.5のときに、成膜速度が最も高くなることが分かった。またハフニウムアミンの比率が高くなるにつれて、得られた膜の屈折率が低下する傾向が見られた。
(実施例5)
実験1と同様にして成膜を行った。ただし、原料であるテトラキスジエチルアミノハフニウムをジエタノールアミンに変更したが、成膜可能であり、無色透明の膜が得られた。得られた膜の屈折率を測定したところ、波長633nmにおいて2.35であり、成膜速度は1μm/時間であった。
成長室内に供給するガスの全流量と、成膜速度および膜の屈折率との関係を示すグラフである。 成長室内圧力と、成膜速度および膜の屈折率との関係を示すグラフである。 ハフニウムアミン原料とニオブアルコキシド原料との供給mol比(Hfアミン/Nbアルコキシド)と、成膜速度および膜の屈折率との関係を示すグラフである。

Claims (6)

  1. 金属アミン系化合物と金属アルコキシドとを原料として使用し、有機金属化学的気相成長法によって金属酸化物膜を製造する方法であって、
    前記金属アミン系化合物がハフニウムを含有しており、前記金属アルコキシドがニオブを含有していることを特徴とする、金属酸化物膜の製造方法。
  2. 非金属アミン化合物と金属アルコキシドとを原料として使用し、有機金属化学的気相成長法によって金属酸化物膜を製造する方法であって、
    前記非金属アミン化合物がジエタノールアミンであり、前記金属アルコキシドがニオブを含有しており、前記金属酸化物膜が酸化ニオブ膜であることを特徴とする、金属酸化物膜の製造方法。
  3. 成膜温度が300〜500℃であることを特徴とする、請求項1または2記載の方法。
  4. 前記アミン系化合物、前記金属アルコキシドおよびキャリアガスを成長室内に導入する際の全ガス流量が1500sccm以下であることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一つの請求項に記載の方法。
  5. 成長室内の圧力を30Torr以上、60Torr以下とすることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一つの請求項に記載の方法。
  6. 前記アミン系化合物、前記金属アルコキシドおよびキャリアガスを成長室内に導入する際の金属アルコキシドに対する前記アミン系化合物のモル比率を0.3以上、0.5以下とすることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一つの請求項に記載の方法。
JP2005093501A 2005-03-29 2005-03-29 金属酸化物膜の製造方法 Expired - Fee Related JP4775996B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005093501A JP4775996B2 (ja) 2005-03-29 2005-03-29 金属酸化物膜の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005093501A JP4775996B2 (ja) 2005-03-29 2005-03-29 金属酸化物膜の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006274333A JP2006274333A (ja) 2006-10-12
JP4775996B2 true JP4775996B2 (ja) 2011-09-21

Family

ID=37209367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005093501A Expired - Fee Related JP4775996B2 (ja) 2005-03-29 2005-03-29 金属酸化物膜の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4775996B2 (ja)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3967455B2 (ja) * 1998-03-30 2007-08-29 Dowaホールディングス株式会社 カリウム含有薄膜及びその製法
JP3624822B2 (ja) * 2000-11-22 2005-03-02 株式会社日立製作所 半導体装置およびその製造方法
JP4928706B2 (ja) * 2002-12-03 2012-05-09 株式会社東芝 光学薄膜形成用Nbスパッタリングターゲットの製造方法
JP4312006B2 (ja) * 2003-08-25 2009-08-12 株式会社Adeka 希土類金属錯体、薄膜形成用原料及び薄膜の製造方法
JP4823069B2 (ja) * 2004-11-02 2011-11-24 株式会社Adeka 金属化合物、薄膜形成用原料及び薄膜の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006274333A (ja) 2006-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6871161B2 (ja) ケイ素含有膜の堆積のための組成物及びそれを使用した方法
KR102289064B1 (ko) 기판 구조물 및 이의 제조 방법
US8568530B2 (en) Use of cyclopentadienyl type hafnium and zirconium precursors in atomic layer deposition
KR102095710B1 (ko) 표면 보호 물질을 이용한 박막 형성 방법
US20140272194A1 (en) Organoaminosilane precursors and methods for making and using same
CN102296280A (zh) 成膜方法及成膜装置
JP5491512B2 (ja) Cvd前駆体
JP2016500762A (ja) シリコン含有薄膜の製造方法
JP2012524406A (ja) 相変化材料の形成方法ならびに相変化メモリ回路の形成方法
KR102029071B1 (ko) 13족 금속 전구체, 이를 포함하는 박막증착용 조성물 및 이를 이용하는 박막의 제조방법
JP4775996B2 (ja) 金属酸化物膜の製造方法
CN110804731B (zh) 一种原子层沉积技术生长MnxN薄膜的方法
KR20120131114A (ko) 실리콘 화합물 증착용 화합물 및 전구체 조성물
JP2016037654A (ja) 膜形成材料および膜形成方法
JPH08124798A (ja) ジルコニウム(Zr)系有機金属前駆体及びその製造方法
JP2020176104A5 (ja)
US20200055887A1 (en) Compound, raw material for forming thin film, method for manufacturing thin film, and amidine compound
KR20180027714A (ko) 실리콘 함유 박막증착용 조성물 및 이의 용도
WO2013105310A1 (ja) アルミニウム化合物、薄膜形成用原料及び薄膜の製造方法
KR20230016215A (ko) N-알킬 치환된 퍼하이드리도사이클로트리실라잔으로부터의 실리콘-기반 박막
JPH0940683A (ja) 高純度Ti錯体及びその製造方法並びにBST膜形成用液体組成物
KR102251040B1 (ko) 아미노실란 전구체 화합물 및 이를 사용하는 박막 형성 방법
JP3991815B2 (ja) 酸化亜鉛結晶膜の育成方法
KR20150026747A (ko) 유무기 혼성 박막 및 이의 제조 방법
KR102574475B1 (ko) 4족 금속 원소-함유 전구체 화합물을 포함하는 막 증착용 조성물, 및 이를 이용한 막 형성 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080108

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100714

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110404

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110627

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110627

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140708

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees