JP4769951B2 - 半導体集積回路 - Google Patents
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Description
図1は、本実施形態に係る半導体集積回路の機能ブロック図である。図1に示すとおり、本半導体集積回路1は、遷移位置指示回路2と、この遷移位置指示回路2の出力に接続される排他的論理和ゲート3と、この排他的論理和ゲート3の出力に接続されるマルチプレクサ4と、このマルチプレクサ4の出力に接続されるテスト対象回路5と、を有しており、テスト対象回路5の出力は排他的論理和ゲート3にも接続されている。また、テスト対象回路5は、外部のテスト回路6に接続可能であって、テスト回路5の出力は、外部のテスト回路6に接続されている。
本実施形態は、実施形態1とほぼ同様の構成であるが、外部のテスト装置6とマルチプレクサ4との間にテストパターン伸長回路7を、外部のテスト装置6と遷移位置指示回路2との間に遷移位置情報伸長回路8を、テスト対象回路5の出力とテスト装置6との間にテスト応答圧縮回路9と、を有している点が主に異なる。図4に、本実施形態に係る半導体集積回路の機能ブロック図を示す。
Claims (2)
- 遷移位置指示回路と、
前記遷移位置指示回路の出力に接続される排他的論理和ゲートと、
前記排他的論理和ゲートの出力に接続されるマルチプレクサと、
前記マルチプレクサの出力に接続される直列に接続された複数のフリップフロップを有するテスト対象回路と、を有し、
前記排他的論理和ゲートは、前記テスト対象回路の前記直列に接続されたフリップフロップの出力にも接続されており、
前記マルチプレクサは、半導体集積回路外部のテスト装置の出力に接続されており、
前記遷移位置指示回路は、遷移位置情報を記憶するレジスタと、ビット数を数えるカウンタと、前記レジスタの出力と前記カウンタの出力を比較する比較器と、を有して構成されている半導体集積回路。 - テストパターン伸長回路と、
遷移位置情報伸長回路と、
前記遷移位置情報伸長回路の出力に接続された遷移位置指示回路と、
前記遷移位置指示回路の出力に接続される排他的論理和ゲートと、
前記排他的論理和ゲートの出力と前記テストパターン伸長回路の出力に接続されたマルチプレクサと、
前記マルチプレクサの出力に接続される直列に接続された複数のフリップフロップを有するテスト対象回路と、を有し、
前記遷移位置指示回路は、遷移位置情報を記憶するレジスタと、ビット数を数えるカウンタと、前記レジスタの出力と前記カウンタの出力を比較する比較器と、を有し、
前記排他的論理和ゲートは、前記テスト対象回路の前記直列に接続されたフリップフロップの出力にも接続されており、
前記テスト対象回路の出力に接続されたテスト応答圧縮回路、を有する半導体集積回路。
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2007
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