JP4756273B2 - オルトメタル化イリジウム錯体の製造方法ならびに製造されたイリジウム錯体からなる発光材料 - Google Patents
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Description
(1)ハロゲン化イリジウムと下記一般式(1)または(2)のいずれかで表される有機配位子とを反応させ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体を製造する方法において、該反応に用いる有機配位子の物質量が、ハロゲン化イリジウムに対して3当量以上30当量未満であることを特徴とするオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(2)反応生成物がフェイシャル体構造であることを特徴とする前記1に記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(3)ハロゲン化イリジウムが3ハロゲン化イリジウムまたは6ハロゲン化イリジウムであることを特徴とする前記1または2のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(4)該反応が160℃〜280℃で行われることを特徴とする前記1乃至3のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(5)該反応がジオール溶媒中で行われることを特徴とする前記1乃至4のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(6)該反応がマイクロ波照射下で行われることを特徴とする前記1乃至5のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(7)下記一般式(3)で表されるハロゲン架橋イリジウムダイマーと前記一般式(1)または(2)のいずれかで表される有機配位子とを反応させて、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体を製造する方法において、該反応に用いる有機配位子の物質量が、ハロゲン架橋イリジウムダイマーに対し2当量以上10当量未満であることを特徴とするオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(8)反応生成物がフェイシャル体構造であることを特徴とする前記7に記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(9)該反応が160℃〜280℃で行われることを特徴とする前記7または8に記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(10)該反応がジオール溶媒中で行われることを特徴とする前記7乃至9のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(11)該反応がマイクロ波照射下で行われることを特徴とする前記7乃至10のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
(12)メリジオナル体の含有率が、3モル%未満である前記1乃至11のいずれかに記載の方法によって得られたイリジウム錯体からなる発光材料。
(13)前記12に記載の発光材料を用いた発光素子。
環Cについては、一般式(1)中の環Aと同義であり、望ましい範囲も同じである。環Dについては、一般式(1)中の環Bと同義であり、望ましい範囲も同じである。Zについては、環Cと環Dとを連結する基であり縮合環を形成しても良い。例えば、ハロゲン原子、酸素原子、炭素数2〜30の炭化水素基、芳香族炭化水素基、脂肪族炭化水素基、または芳香族複素環が好ましく、炭素数2〜20の炭化水素基、芳香族炭化水素基、脂肪族炭化水素基、または芳香族複素環がより好ましく、炭素数2〜10の炭化水素基、芳香族炭化水素基、脂肪族炭化水素基、または芳香族複素環が特に好ましい。これらの基はフッ素で置換されても良い。
Dについてはハロゲン原子を表し、塩素原子または臭素原子が好ましい。Lについては、一般式(1)または(2)のいずれかで表される有機配位子を表す。
イリジウムに有機配位子が配位するオルトメタル化反応には有機配位子からの脱プロトン過程が存在し、反応の進行に伴いプロトンが蓄積することになる。反応系中に蓄積されたプロトンは、架橋ダイマーからオルトメタル化イリジウム錯体への反応(脱プロトン過程)を阻害することになると考えられる。したがって、該反応が効率よく進行するためには、有機配位子が単に配位子として機能するだけでなく、プロトンをトラップする能力(塩基としての役割)や、有機配位子からのプロトンの放出のされやすさ(酸としての性質)などの性質が重要であり、これらの性質がうまく調整されたときに、該反応が効率よく進行するものと考えている。
IrCl3・3H2O(0.085 mmol)、(1−1)で表される有機配位子(0.85 mmol)、エチレングリコール(10 mL)をナスフラスコに入れた。このナスフラスコをマイクロ波発振装置(Chem. Lett., 1994年, 2443頁 を参照)に入れ、反応装置の上部には還流冷却管を取り付けた。還流冷却管の上部からはテフロン(登録商標)管を通じて、この溶液にアルゴンガスを20分間通気した。その後、マイクロ波(2450MHz)を60分間照射した。この溶液を室温まで冷却した後、アルゴンガスを止め、沈殿してきたレモン色結晶をろ別し、水、メタノールで洗浄した後、減圧乾燥した。プロトンNMR(500MHz)による分析の結果、得られたレモン色結晶は所望のフェイシャル体構造のオルトメタル化イリジウム錯体(T−1)であり、代表的な副生成物であるハロゲン配位子で架橋したイリジウムダイマーやメリジオナル体は全く検出されなかった。オルトメタル化イリジウム錯体(T−1)の単離収率は81%であった。本合成の合成スキームを下記に示す。
IrCl3・3H2O(0.085 mmol)、(1−4)で表される有機配位子(0.85 mmol)、エチレングリコール(10 mL)をナスフラスコに入れた。このナスフラスコをマイクロ波発振装置(Chem. Lett., 1994年, 2443頁 を参照)に入れ、反応装置の上部には還流冷却管を取り付けた。還流冷却管の上部からはテフロン(登録商標)管を通じて、この溶液にアルゴンガスを20分間通気した。その後、マイクロ波(2450MHz)を60分間照射した。この溶液を室温まで冷却した後、アルゴンガスを止め、沈殿してきたレモン色結晶をろ別し、水、メタノールで洗浄した後、減圧乾燥した。プロトンNMR(500MHz)による分析の結果、得られたレモン色結晶は所望のフェイシャル体構造のオルトメタル化イリジウム錯体(T−2)であり、代表的な副生成物であるハロゲン配位子で架橋したイリジウムダイマーやメリジオナル体は全く検出されなかった。オルトメタル化イリジウム錯体(T−2)の単離収率は65%であった。本合成の合成スキームを下記に示す。
IrCl3・3H2O(0.085 mmol)、(2−5)で表される有機配位子(0.85 mmol)、エチレングリコール(10 mL)をナスフラスコに入れた。このナスフラスコをマイクロ波発振装置(Chem. Lett., 1994年, 2443頁 を参照)に入れ、反応装置の上部には還流冷却管を取り付けた。還流冷却管の上部からはテフロン(登録商標)管を通じて、この溶液にアルゴンガスを20分間通気した。その後、マイクロ波(2450MHz)を60分間照射した。この溶液を室温まで冷却した後、アルゴンガスを止め、沈殿してきた黄色結晶をろ別し、水、メタノールで洗浄した後、減圧乾燥した。プロトンNMR(500MHz)による分析の結果(図1)、得られた黄色結晶は所望のフェイシャル体構造のオルトメタル化イリジウム錯体(T−3)であり、代表的な副生成物であるハロゲン配位子で架橋したイリジウムダイマーやメリジオナル体は全く検出されなかった。オルトメタル化イリジウム錯体(T−3)の単離収率は78%であった。本合成の合成スキームを下記に示す。
IrCl3・3H2O(0.085 mmol)の代わりに、(NH4)3IrCl6・H2O(0.085 mmol)を用いる以外は、実施例1と同様に反応させた。フェイシャル体構造のオルトメタル化イリジウム錯体(T−1)が得られ、その単離収率は79%であった。プロトンNMR(500MHz)による分析の結果、代表的な副生成物であるハロゲン配位子で架橋したイリジウムダイマーやメリジオナル体は全く検出されなかった。本合成の合成スキームを下記に示す。
IrCl3・3H2O(0.085 mmol)の代わりに、IrBr3・H2O(0.085 mmol) を用いる以外は、実施例1と同様に反応させた。フェイシャル体構造のオルトメタル化イリジウム錯体(T−1)が得られ、その単離収率は69%であった。プロトンNMR(500MHz)による分析の結果、代表的な副生成物であるハロゲン配位子で架橋したイリジウムダイマーやメリジオナル体は全く検出されなかった。本合成の合成スキームを下記に示す。
IrCl3・3H2O(0.085 mmol)、(1−1)で表される有機配位子(0.85 mmol)、エチレングリコール(10 mL)を二口フラスコに入れ、この溶液にアルゴンガスを20分間通気した。その後、オイルバスを用いて15時間加熱還流した。この溶液を室温まで冷却した後、アルゴンガスを止め、沈殿してきたレモン色結晶をろ別し、水、メタノールで洗浄した後、減圧乾燥した。プロトンNMR(500MHz)による分析の結果、得られたレモン色結晶は所望のフェイシャル体構造のオルトメタル化イリジウム錯体(T−1)であり、代表的な副生成物であるハロゲン配位子で架橋したイリジウムダイマーやメリジオナル体は全く検出されなかった。オルトメタル化イリジウム錯体(T−1)の単離収率は80%であった。本合成の合成スキームを下記に示す。
有機配位子(1−1)の代わりに、下式(A)で表される有機配位子を用いて、実施例1と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体はほとんど得られなかった。
有機配位子(1−1)の代わりに、下式(B)で表される有機配位子を用いて、実施例1と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体はほとんど得られなかった。
有機配位子(1−1)の代わりに、下式(C)で表される有機配位子を用いて、実施例1と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体はほとんど得られなかった。
有機配位子(1−1)の代わりに、下式(D)で表される有機配位子を用いて、実施例1と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体はほとんど得られなかった。
有機配位子(1−1)の代わりに、下式(E)で表される有機配位子を用いて、実施例1と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体はほとんど得られなかった。
有機配位子(1−1)の代わりに、下式(F)で表される有機配位子を用いて、実施例1と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体はほとんど得られなかった。
有機配位子(1−1)の代わりに、下式(G)で表される有機配位子を用いて、実施例1と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体はほとんど得られなかった。
溶媒としてエチレングリコールの代わりにDMFを用いる以外、実施例1と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体(T−1)はほとんど得られなかった。
溶媒としてエチレングリコールの代わりにDMFを用いる以外、実施例2と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体(T−2)はほとんど得られなかった。
溶媒としてエチレングリコールの代わりにDMFを用いる以外、実施例3と同様に反応させたところ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体(T−3)はほとんど得られなかった。
架橋ダイマー(D−2)を(0.0396 mmol)、(1−1)で表される有機配位子(0.119 mmol)、エチレングリコール(10 mL)をナスフラスコに入れた。このナスフラスコをマイクロ波発振装置(Chem. Lett., 1994年, 2443頁 を参照)に入れ、反応装置の上部には還流冷却管を取り付けた。還流冷却管の上部からはテフロン(登録商標)管を通じて、この溶液にアルゴンガスを20分間通気した。その後、マイクロ波(2450MHz)を60分間照射した。この溶液を室温まで冷却した後、アルゴンガスを止め、沈殿してきたレモン色結晶をろ別し、水、メタノールで洗浄した後、減圧乾燥した。プロトンNMR(500MHz)による分析の結果、得られたレモン色結晶は所望のフェイシャル体構造のオルトメタル化イリジウム錯体(T−1)であり、架橋ダイマーやメリジオナル体は検出されなかった。(T−1)の単離収率は63%であった。本合成の合成スキームを下記に示す。
架橋ダイマー(D−2)を(0.0396 mmol)、(1−1)で表される有機配位子を0.72g(0.198 mmol)、エチレングリコール(10 mL)をナスフラスコに入れた。このナスフラスコをマイクロ波発振装置((Chem. Lett., 1994年, 2443頁 を参照))に入れ、反応装置の上部には還流冷却管を取り付けた。還流冷却管の上部からはテフロン(登録商標)管を通じて、この溶液にアルゴンガスを20分間通気した。その後、マイクロ波(2450MHz)を60分間照射した。この溶液を室温まで冷却した後、アルゴンガスを止め、沈殿してきたレモン色結晶をろ別し、水、メタノールで洗浄した後、減圧乾燥した。プロトンNMR(500MHz)による分析の結果、得られたレモン色結晶は所望のフェイシャル体構造のオルトメタル化イリジウム錯体(T−1)であり、架橋ダイマーやメリジオナル体は検出されなかった。(T−1)の単離収率は72%であった。本合成の合成スキームを下記に示す。
架橋ダイマー(D−2)の代わりに式(D−4)で示される架橋ダイマーを用いて、さらに、有機配位子(1−1)の代わりに式(C)で表される有機配位子を用いて、実施例10と同様に反応を行ったところ、反応はほとんど進行しなかった。本合成の合成スキームを下記に示す。
架橋ダイマー(D−2)の代わりに式(D−5)で示される架橋ダイマーを用いて、さらに、有機配位子(1−1)の代わりに式(G)で表される有機配位子を用いて、実施例10と同様に反応を行ったところ、反応はほとんど進行しなかった。本合成の合成スキームを下記に示す。
実施例3で合成した(T−3)をTHFに溶解させ、アルゴンガスを通気した後、島津製作所製RF−5300PCを用いて、298Kでの発光スペクトルを測定したところ、強い黄色発光(発光極大波長:541nm)を示した。その発光スペクトルを図2に示す。一方、従来合成法では、国際公開 WO2005/049762に記載があるようにメリジオナル体が主生成物であること、さらに、その発光極大波長は595nmであると記載されている。このように、本発明手法を用いることで、オルトメタル化イリジウム錯体はフェイシャル体に非常に高純度化され、発光スペクトルに大きな違いが見られることが明らかになった。また、前述のように、フェイシャル体の方がメリジオナル体よりも発光量子収率・安定性が高いことがこれまでに明らかにされていることから、本発明手法によって製造されたイリジウム錯体からなる発光材料を用いることで、これまでより高効率で耐久性のある発光素子を作製することができる。
b)オルトメタル化イリジウム錯体の単離収率.
Claims (11)
- ハロゲン化イリジウムと下記一般式(1)または(2)のいずれかで表される有機配位子とを反応させ、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体を製造する方法において、該反応に用いる有機配位子の物質量が、ハロゲン化イリジウムに対して3当量以上30当量未満であり、かつ該反応が塩基性物質非存在下で、160℃〜280℃で行われることを特徴とするオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- 反応生成物がフェイシャル体構造であることを特徴とする請求項1に記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- ハロゲン化イリジウムが3ハロゲン化イリジウムまたは6ハロゲン化イリジウムであることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- 該反応がジオール溶媒中で行われることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- 該反応がマイクロ波照射下で行われることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- 下記一般式(3)で表されるハロゲン架橋イリジウムダイマーと請求項1に記載された一般式(1)または(2)のいずれかで表される有機配位子とを反応させて、有機配位子が3つ配位したオルトメタル化イリジウム錯体を製造する方法において、該反応に用いる有機配位子の物質量が、ハロゲン架橋イリジウムダイマーに対し2当量以上10当量未満であり、かつ該反応が塩基性物質非存在下で、160℃〜280℃で行われることを特徴とするオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- 反応生成物がフェイシャル体構造であることを特徴とする請求項6に記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- 該反応がジオール溶媒中で行われることを特徴とする請求項6または7のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- 該反応がマイクロ波照射下で行われることを特徴とする請求項6乃至8のいずれかに記載のオルトメタル化イリジウム錯体の製造方法。
- メリジオナル体の含有率が、3モル%未満である請求項1乃至9のいずれかに記載の方法によって得られたイリジウム錯体からなる発光材料。
- 請求項10に記載の発光材料を用いた発光素子。
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