JP4725901B2 - 光学的検出装置 - Google Patents

Description

本発明は、表示器の表示面上での物体による遮光位置を検出する光学的検出装置に関する。

従来、この種の光学的検出装置は、複数の発光素子を所定ピッチで配列して発光素子列を構成し、複数の受光素子を所定ピッチで配列して受光素子列を構成し、これら発光素子列と受光素子列は遮光する物体が置かれる表示面上の両側に一般には配置される。これら発光素子列と受光素子列は、対となる発光素子の発光を受光素子が受光できるように対向配置している。また、場合によっては、発光素子列と受光素子列とを表示面上の同じ側に発光素子と受光素子とが対として交互に並ぶように配置し、表示面上の反対側には反射物体を配置し、発光素子が発した光を反射物体に反射させて受光素子に受光させるようにする場合もある。

これら発光素子列と受光素子列は、各素子の特性のばらつき、実装の際の光軸のずれ、または縦軸と横軸との交点で位置を検出するタイプの場合は縦方向と横方向の両素子間の距離の違いによる受光量のばらつき等がある。

ばらつき量は、各素子の特性や実装状態に起因するものは数倍の変化になり、縦方向と横方向の両素子間の距離の違いによるものはその距離の２乗の変化になる。

受光素子の出力レベルから指先等の物体で遮光された位置を精度よく検出するには、遮光されていない非遮光状態での受光素子の出力レベルが一定でないと、判断レベルを素子毎に変える必要が生ずる。さらに、近接した受光素子の出力レベルから受光素子の配列間隔よりも狭い（高い）精度の位置情報を算出する場合には演算が複雑になる。そのため、非遮光状態での受光素子の出力レベルが一定であることが望ましい。

このため光学的検出装置は、表示器の表示面の周辺に、複数の発光素子と複数の受光素子とを対応する発光素子の発光を受光素子が受光できるようにして発光素子列と受光素子列とを配置し、それぞれ対応する各発光素子と各受光素子を各単位光学系とし、各単位光学系を順次掃引駆動して単位光学系毎に発光された光をそれぞれ受光して、前記表示面上で物体により前記光が遮光された位置を検出する光学的検出装置で、予め前記表示器の表示面上に前記物体による遮光がない場合の前記各受光素子毎の受光量が揃うように感度調整した後に、前記表示器の表示面上での前記物体による遮光位置を検出するようになっている。

従来の発光素子を駆動する発光素子駆動回路の構成を示すと、図５に示すとおりである。図において、１は発光素子としての発光ダイオード（ＬＥＤ）、２，３はそれぞれトランジスタ、４，５は抵抗である。トランジスタ２と発光ダイオード１とトランジスタ３と抵抗４とは直列接続されている。トランジスタ２のエミッタには電源が接続され、抵抗４の他端は接地されている。６はマイコン（マイクロコンピュータ）、８は演算増幅器、９は抵抗である。

マイコン６は駆動信号を抵抗５を介してトランジスタ２のベースに与え、また演算増幅器８のプラス端子に電圧の演算信号を与えるようになっている。また、抵抗４に誘起される電圧の演算信号を演算増幅器８のマイナス端子に与えるようになっている。

このような構成で発光ダイオード１の電流値を制御して、発光ダイオード１の発光量を制御するようになっている。

次に、従来の受光素子が受光した信号の受光処理回路の構成を示すと、図６に示すとおりである。図において、１０は発光素子としての発光ダイオード１が出す光を受光する受光素子としてのフォトトランジスタ、１１は抵抗である。フォトトランジスタ１０と抵抗１１は直列接続され、フォトトランジスタ１０のコレクタには電源が接続され、抵抗１１の他端は接地されている。１２はフォトトランジスタ１０と抵抗１１との接続点に接続されて出力インピーダンスを下げるバッファ回路である。このバッファ回路１２は、演算増幅器１３で構成され、フォトトランジスタ１０と抵抗１１との接続点に発生する電圧の演算信号をプラス端子に与え、このバッファ回路１２の出力をマイナス端子に与えるようになっている。

１４はバッファ回路１２の出力端に接続されてフォトトランジスタ１０が受光した出力から太陽光や照明光等の外乱光成分を保持するホールド回路である。このホールド回路１４は、発光ダイオード１が光を出していない時にマイコン６からの信号で閉となって演算増幅器１３の出力を通すスイッチ１５と、このスイッチ１５に一端が接続された抵抗１６と、抵抗１６の他端と接地間に接続されて抵抗１６を経て与えられる電荷を蓄積するコンデンサ１７と、抵抗１６とコンデンサ１７との接続点に接続された演算増幅器１８とで構成されている。演算増幅器１８は、抵抗１６とコンデンサ１７との接続点に発生する電圧をプラス端子に与え、この演算増幅器１８の出力をマイナス端子に与えるようになっている。

１９は外乱光成分を除いたフォトトランジスタ１０の受光量を得て増幅を行う差分（減算）増幅回路である。この差分増幅回路１９は、抵抗２０〜２３と演算増幅器２４とで構成されている。演算増幅器２４のマイナス端子には外乱光成分を保持するホールド回路１４の出力が抵抗２０を介して与えられ、演算増幅器２４のプラス端子にはバッファ回路１２を介してフォトトランジスタ１０の受光信号が抵抗２１と抵抗２２で分圧されて与えられ、この演算増幅器２４の出力がそのマイナス端子に与えられるようになっている。

２５は外乱光成分を除いたフォトトランジスタ１０の受光信号を増幅する増幅率の変更を実質的に行う積分（増幅率変更）回路である。この積分回路２５は、スイッチ２６，２７と抵抗２８とコンデンサ２９と演算増幅器３０とで構成されている。コンデンサ２９は、抵抗２８を経て与えられる電荷を蓄積するようになっている。スイッチ２６と抵抗２８とは直列接続されていて、演算増幅器２４の出力端と演算増幅器３０のプラス端子との間に接続され、スイッチ２７はスイッチ２６と抵抗２８との接続点と接地点と間に接続されている。

コンデンサ２９は、抵抗２８と演算増幅器３０のプラス端子との接続点と接地点と間に接続されている。演算増幅器２４の出力端は、この演算増幅器２４のマイナス端子に接続されている。スイッチ２６，２７は、マイコン６で制御されるようになっている。スイッチ２６とスイッチ２７は、マイコン６によりスイッチ２６がオンのとき、スイッチ２７がオフ、次にスイッチ２６がオフのとき、スイッチ２７がオンとなるように繰り返し、コンデンサ２９にスイッチ２６がオンのときの電荷が蓄積されて増加し、演算増幅器３０のプラス端子に入力され、実質的に増幅率を変更して増幅するようになっている。

この積分回路２５の出力端は、前述したマイコン６に接続されている。このマイコン６に入力された出力信号は、図示しないアナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器でＡ／Ｄ変換されて処理されるようになっている。

この受光処理回路では、発光ダイオード１が光を出していない時にマイコン６からの信号でスイッチ１５を閉として外乱光によりフォトトランジスタ１０が受光した外乱光成分をホールド回路１４のコンデンサ１７で保持して、演算増幅器１８の出力を差分増幅回路１９の演算増幅器２４のマイナス端子に入力し、次にスイッチ１５を開とし、マイコン６からの信号で発光ダイオード１を発光させ、フォトトランジスタ１０が受光した出力をホールド回路１４を介さないで演算増幅器２４のプラス端子に入力する。演算増幅器２４では、外乱光成分を除いたフォトトランジスタ１０の受光量を得る。得られた受光量は、積分回路２５のスイッチ２６，２７のオン、オフで増幅率を最適に変更して増幅し、マイコン６に入力する。

このような光学的検出装置では、ある方向に整列した発光素子列と受光素子列の各素子もマイコン６の制御で受光量のばらつきを揃えて、ある方向の表示器の表示面上での物体による遮光位置を検出することができる。

また、縦軸方向と横軸方向に発光素子列と受光素子列とをそれぞれ配置して、マイコン６の制御で受光量のばらつきを揃えて、縦軸方向と横軸方向の表示器の表示面上での物体による遮光位置を検出することができる（例えば、特許文献１参照。）。

このような光学的検出装置で、発光素子と受光素との対からなる各素子による受光量のばらつきの調整の仕方としては、次の２つの方法があった。
（Ａ）発光側で、発光素子電流を変えて受光量のばらつきを揃える。
（Ｂ）受光側で、受光量の増幅率を変えて受光量のばらつきを揃える。
特公平６−１２５１２号公報

しかしながら、これらの方法では、次のような問題点があった。

上記（Ａ）の、発光側で発光素子電流を変えて受光量のばらつきを揃える方法では、現状では発光素子が許容する最大値近くの電流領域で使用しているので、発光素子電流の調整範囲を広くできない。また、発光素子電流を低い値にして使用すると、外乱光の影響を受け易くなるため、ばらつきを補うための発光素子電流の調整範囲を広くできない。

また、上記（Ｂ）の、受光側で受光量の増幅率を変えて受光量のばらつきを揃える方法では、積分回路２５を使用しているので、広い範囲のばらつきに対応するためには、スイッチ２６，２７をオン、オフしての必要な受光時間も長くなり、応答性が悪くなる。

本発明の目的は、発光素子電流の調整範囲を広くでき、また受光時間も短くなって応答性のよい光学的検出装置を提供することにある。

本発明の他の目的は、ばらつきの調整をより正確に短時間に行える光学的検出装置を提供することにある。

本発明の他の目的は、縦軸方向及び横軸方向の位置決め時に、発光素子電流の調整範囲を広くでき、また受光時間も短くなって応答性のよい光学的検出装置を提供することにある。

上述の如き従来の問題を解決し、所期の目的を達成する請求項１に記載の発明の特徴は、表示器の表示面の周辺に、複数の発光素子と複数の受光素子とを対応する前記発光素子の発光を前記受光素子が受光できるようにして発光素子列と受光素子列とを配置し、それぞれ対応する前記各発光素子と前記各受光素子を各単位光学系とし、前記各単位光学系を順次掃引駆動して前記単位光学系毎に発光された光をそれぞれ受光して、前記表示面上で物体により前記光が遮光された位置を検出する光学的検出装置で、予め前記表示器の表示面上に前記物体による遮光がない場合の前記各受光素子毎の受光量が揃うように感度調整した後に、前記表示器の表示面上での前記物体による遮光位置を検出する光学的検出装置であって、予め前記表示器の表示面上に前記物体による遮光がない場合における、前記各受光素子毎の受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行って、前記各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が設定した値を超えた最初Ａ／Ｄ変換の回数を前記各受光素子毎にメモリに記憶し、前記表示器の表示面上での前記物体による遮光の検出時に、前記メモリに記憶された前記各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数に基づいて前記各受光素子毎のＡ／Ｄ変換をそれぞれ行うことを特徴とする光学的検出装置。

請求項２に記載の発明の特徴は、請求項１の構成に加え、前記各発光素子毎に該発光素子の発光出力電流を調整することにある。

請求項3に記載の発明の特徴は、請求項１又は２の何れか1の請求項の構成に加え、前記発光素子列と前記受光素子列とは、縦軸と横軸との双方に配置されていることにある。

本発明においては、表示器の表示面上に物体による遮光がない場合に、各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行って、各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が相互に揃うＡ／Ｄ変換の回数を各受光素子毎にメモリに記憶し、表示器の表示面上での物体による遮光の検出時に、メモリに記憶された各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数に基づいて各受光素子毎のＡ／Ｄ変換をそれぞれ行うので、次のような効果を得ることができる。

（２ａ）受光側でばらつきの調整を行うことができ、このため発光側で発光素子電流の調整を行う場合でも発光素子電流の調整範囲を狭くすることができて、発光素子電流の調整範囲を広くすることができる。また、発光素子電流を低い値にして使用する必要がなくなり、外乱光の影響を受け難くなり、ばらつきを補うための発光素子電流の調整範囲を広くすることができる。

（２ｂ）受光側では各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行って、各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が相互に揃うＡ／Ｄ変換の回数を各受光素子毎にメモリに記憶し、表示器の表示面上での物体による遮光の検出時に、メモリに記憶された各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数に基づいて各受光素子毎のＡ／Ｄ変換をそれぞれ行うことによりばらつきの調整を行っているので、積分回路が不要になり、従来のように広い範囲のばらつきに対応するためにスイッチをオン、オフしての長い受光時間が不要になり、応答性を従来に比べて改善することができる。

（２ｃ）各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数がそれぞれ異なるので、最低のＡ／Ｄ変換の回数でばらつきを揃えることができ、検出を最短の時間で行うことができる。

本発明において、各発光素子側で各発光素子毎に電流調整することにより、ばらつきの調整をより正確に短時間に行うことができる。また、このときの電流の調整範囲は狭くてよい利点がある。

更に、本発明において、発光素子列と受光素子列とは、縦軸と横軸との双方に配置させることにより、縦軸方向及び横軸方向の位置決め時に、発光素子電流の調整範囲を広くでき、また受光時間も短くなって応答性がよい利点がある。

以下、本発明に係る光学的検出装置の最良の形態を、図に示す実施例を参照して詳細に説明する。

図１は本発明に係る光学的検出装置の第１実施例を示したブロック図である。図において、３１は発光ダイオード（ＬＥＤ）の如き複数の発光素子が所定ピッチで一方向に配列された発光素子列、３２はフォトダイオード（ＰＴｒ）の如き複数の受光素子が所定ピッチで一方向に配列された受光素子列である。これら発光素子列３１と受光素子列３２とは、図示しないＣＲＴ等の表示器における表示面の縦軸と横軸のそれぞれ両側に対向配置されている。

３３は発光素子列３１の各発光素子を１素子ずつ順次選んで電源を供給する電源供給制御部、３４は発光素子列３１の各発光素子に対する電流を定電流制御する電流制御部、３５は受光素子列３２の各受光素子を１素子ずつ順次選んで電源を供給する電源供給制御部である。３６は電源供給制御部３３，３５を選んで 所定の発光素子を１つ選んで点灯させるデマルチプレクサ、３７は発光素子列３１の各発光素子を選んで電流を制御するマルチプレクサ、３８は受光素子列３２の各受光素子を選んでその出力を取り出すマルチプレクサ、３９はマルチプレクサ３８から出力される受光素子列３２の各受光素子からの出力信号から前述したようにして外乱光を除去して受光量電圧を出力する受光処理回路、４０はマイコン（マイクロコンピュータ）である。

このマイコン４０は、デマルチプレクサ３６とマルチプレクサ３５，３８により、所定の受光素子を１つ選択する制御信号を出力する。またこのマイコン４０は、受光処理回路３９から出力される各受光素子からの外乱光を除去した受光量電圧を入力として、表示器の表示面上に物体による遮光がない場合に、各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行って、各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算することにより加算値をそれぞれ得、各加算値を用いて各受光素子毎の受光量が揃うように感度調整した後に、表示器の表示面上での物体による遮光位置を検出する操作を行うようになっている。

具体例を示すと、このマイコン４０は、表示器の表示面上に物体による遮光がない場合に、各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行って、各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が相互に揃うＡ／Ｄ変換の回数を各受光素子毎にこのマイコン４０内のメモリ（例えば、Ｅ２ＰＲＯＭ）４１に記憶し、表示器の表示面上での物体による遮光の検出時に、メモリ４１に記憶された各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数に基づいて各受光素子毎のＡ／Ｄ変換をそれぞれ行うようになっている。４２はホストコンピュータにつなぐホストインターフェース、４３はホストコンピュータのコネクタである。

このような構成の光学的検出装置では、縦軸と横軸のそれぞれ両側の発光素子列３１と受光素子列３２でそれぞれ次のことを行う。マイコン４０の制御により、表示器の表示面上に物体による遮光がない場合に、各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行って、各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が相互に揃うＡ／Ｄ変換の回数を各受光素子毎にマイコン４０内のメモリ４１に記憶する。

次に、表示器の表示面上での物体による遮光の検出時に、メモリ４１に記憶された各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数に基づいて各受光素子毎のＡ／Ｄ変換をそれぞれ行う。

図２は本例の光学的検出装置による動作のステップを示すフローチャートである。

ステップＳＴ２では、受光発光素子対ごとの設定条件を初期化により受発光量・回数をクリアする。

ステップＳＴ３では、発光素子点灯、受光素子出力から外乱光除去後の値をＡ／Ｄ変換出力して受発光処理をする。

ステップＳＴ４では、ステップＳＴ３で得られた値を加算して受光量を積算する。

ステップＳＴ５では、設定より大きいか否かで、まだ値が小さい場合はステップＳＴ３に進み、大きい場合はステップＳＴ６に進む。

ステップＳＴ６では、これまで行った回数をカウンタでＲＡＭ又は書き換え可能なＲＯＭに記録する。

ステップＳＴ７では、全素子対に対して終了したか否かを判断し、終了していなければステップＳＴ３に戻り、終了していれば受光量均一化処理を終了する。

このようなステップは、縦軸と横軸のそれぞれ両側の発光素子列３１と受光素子列３２での各対に対して１つずつ行う。

図３（Ａ）〜（Ｇ）は本例の場合の制御タイミングのタイムチャートである。本例の光学的検出装置では、図３（Ａ）〜（Ｇ）の制御タイミングで動作を行う。

図４は本例の場合の受光処理回路３９の構成を示す回路図である。なお、前述した図６と対応する部分に同一符号を付けて示している。

本例の受光処理回路３９では、前述した図６の従来例で用いている積分回路２５は存在していない。積分回路２５が省略されていても、本発明では各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行うので、問題がない。

各受光素子毎に複数回行うＡ／Ｄ変換の所要時間は、例えば３．３μＳ程度である。また、縦横全列の全素子に対する掃引時間は、例えば１０ｍＳ程度である。積分回路２５を使用した掃引時間（例えば、２５ｍＳ程度）に比べて非常に短い。

このようにして光学的検出を行うと、次のような効果を得ることができる。
（１ａ）受光側でばらつきの調整を行うことができ、このため発光側で発光素子電流の調整を行う場合でも発光素子電流の調整範囲を狭くすることができて、発光素子電流の調整範囲を広くすることができる。また、発光素子電流を低い値にして使用する必要がなくなり、外乱光の影響を受け難くなり、ばらつきを補うための発光素子電流の調整範囲を広くすることができる。

（１ｂ）受光側では各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行って、各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が相互に揃うＡ／Ｄ変換の回数を各受光素子毎にメモリに記憶し、表示器の表示面上での物体による遮光の検出時に、メモリに記憶された各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数に基づいて各受光素子毎のＡ／Ｄ変換をそれぞれ行うことによりばらつきの調整を行っているので、積分回路が不要になり、従来のように広い範囲のばらつきに対応するためにスイッチをオン、オフしての長い受光時間が不要になり、応答性を従来に比べて改善することができる。

（１ｃ）各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数がそれぞれ異なるので、最低のＡ／Ｄ変換の回数でばらつきを揃えることができ、検出を最短の時間で行うことができる。

このような実施例の実施にあたり、各発光素子側で各発光素子毎に電流調整する。このようにすると、ばらつきの調整をより正確に短時間に行うことができる。また、このときの電流の調整範囲は狭くてよい。

または／及び、各受光素子側で各受光素子毎に受光信号に各受光素子毎の補正係数を掛ける。このようにすると、ばらつきの調整をより正確に短時間に行うことができる。

次に、本発明に係る光学的検出装置の第２実施例について説明する。

本実施例の光学的検出装置の構成も図１と同様である。本実施例の光学的検出装置では、マイコン４０は、受光処理回路３９から出力される各受光素子からの外乱光を除去した受光量電圧を入力として、表示器の表示面上に物体による遮光がない場合に、各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ同じ回数行って、各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が相互に揃う補正係数を各受光素子毎に求め、各補正係数を各受光素子毎にマイコン４０内のメモリ４１に記憶する。

次に、表示器の表示面上での物体による遮光の検出時に、各受光素子毎の同じ回数のＡ／Ｄ変換の加算値に、メモリ４１に記憶された各受光素子毎の補正係数をそれぞれ乗算する。その他の構成は、第１実施例と同様である。

このようにして光学的検出を行うと、下記のような効果を得ることができる。
（２ａ）受光側でばらつきの調整を行うことができ、このため発光側で発光素子電流の調整を行う場合でも発光素子電流の調整範囲を狭くすることができて、発光素子電流の調整範囲を広くすることができる。また、発光素子電流を低い値にして使用する必要がなくなり、外乱光の影響を受け難くなり、ばらつきを補うための発光素子電流の調整範囲を広くすることができる。

（２ｂ）受光側では各受光素子毎に受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ同じ回数行って、各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が相互に揃う補正係数を各受光素子毎に求め、各補正係数を各受光素子毎にメモリに記憶し、表示器の表示面上での物体による遮光の検出時に、各受光素子毎の同じ回数のＡ／Ｄ変換の加算値に、メモリに記憶された各受光素子毎の補正係数をそれぞれ乗算するので、積分回路が不要になり、従来のように広い範囲のばらつきに対応するためにスイッチをオン、オフしての長い受光時間が不要になり、応答性を従来に比べて改善することができる。

（２ｃ）各受光素子毎の受光量のＡ／Ｄ変換回数が同じなので、それぞれの検出時間を揃えることができる。

このような実施例の実施にあたり、各発光素子側で各発光素子毎に電流調整する。このようにすると、ばらつきの調整をより正確に短時間に行うことができる。また、このときの電流の調整範囲は狭くてよい。

または／及び、各受光素子側で各受光素子毎に受光信号に各受光素子毎の補正係数を掛ける。このようにすると、ばらつきの調整をより正確に短時間に行うことができる。

本発明に係る光学的検出装置の第１実施例を示したブロック図である。 本例の光学的検出装置による動作のステップを示すフローチャートである。 （Ａ）〜（Ｇ）は本例の場合の制御タイミングのタイムチャートである。 本例の場合の受光処理回路の構成を示す回路図である。 従来の受光素子が受光した信号の受光処理回路の構成を示す回路図である。 従来の受光素子が受光した信号の受光処理回路の構成を示す回路図である。

１ 発光素子としての発光ダイオード（ＬＥＤ）
２，３ トランジスタ
４，５ 抵抗
６ マイコン（マイクロコンピュータ）
７ スイッチ
８ 演算増幅器
９ 抵抗
１０ 受光素子としてのフォトトランジスタ
１１ 抵抗
１２ バッファ回路
１４ ホールド回路
１９ 差分（減算）増幅回路
３１ 発光素子列
３２ 受光素子列
３３ 電源供給制御部
３４ 電流制御部
３５ 電源供給制御部
３６ デマルチプレクサ
３７ マルチプレクサ
３８ マルチプレクサ
３９ 受光処理回路
４０ マイコン（マイクロコンピュータ）

Claims (3)

1. 表示器の表示面の周辺に、複数の発光素子と複数の受光素子とを対応する前記発光素子の発光を前記受光素子が受光できるようにして発光素子列と受光素子列とを配置し、それぞれ対応する前記各発光素子と前記各受光素子を各単位光学系とし、前記各単位光学系を順次掃引駆動して前記単位光学系毎に発光された光をそれぞれ受光して、前記表示面上で物体により前記光が遮光された位置を検出する光学的検出装置で、予め前記表示器の表示面上に前記物体による遮光がない場合の前記各受光素子毎の受光量が揃うように感度調整した後に、前記表示器の表示面上での前記物体による遮光位置を検出する光学的検出装置であって、
   予め前記表示器の表示面上に前記物体による遮光がない場合における、前記各受光素子毎の受光量のＡ／Ｄ変換をそれぞれ複数回行って、前記各受光素子毎のＡ／Ｄ変換値を加算し、各加算値が設定した値を超えた最初のＡ／Ｄ変換の回数を前記各受光素子毎にメモリに記憶し、前記表示器の表示面上での前記物体による遮光の検出時に、前記メモリに記憶された前記各受光素子毎のＡ／Ｄ変換の回数に基づいて前記各受光素子毎のＡ／Ｄ変換をそれぞれ行うことを特徴とする光学的検出装置。
2. 前記各発光素子毎に該発光素子の発光出力電流を調整することを特徴とする請求項１に記載の光学的検出装置。
3. 前記発光素子列と前記受光素子列とは、縦軸と横軸との双方に配置されていることを特徴とする請求項１又は２のいずれか１項に記載の光学的検出装置。

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