JPH0612512B2 - 光学式タッチパネルの受光素子の感度調整方法 - Google Patents
光学式タッチパネルの受光素子の感度調整方法Info
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- JPH0612512B2 JPH0612512B2 JP6225889A JP6225889A JPH0612512B2 JP H0612512 B2 JPH0612512 B2 JP H0612512B2 JP 6225889 A JP6225889 A JP 6225889A JP 6225889 A JP6225889 A JP 6225889A JP H0612512 B2 JPH0612512 B2 JP H0612512B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学タッチパネルの光学系に用いられる受光素
子の感度を、適正値に調整する方法に関するものであ
る。
子の感度を、適正値に調整する方法に関するものであ
る。
第３図は光学タッチパネルの説明図である。第３図にお
いて１１は発光素子列、１１ａは発光素子、１２は受光
素子列、１２ａは受光素子、１３は表示器、１４は遮光
物体である。
いて１１は発光素子列、１１ａは発光素子、１２は受光
素子列、１２ａは受光素子、１３は表示器、１４は遮光
物体である。
光学式タッチパネルはCRT等の表示器１３の表示面の周
辺に垂直と水平の方向に一定間隔で赤外線を発光する多
数の受光素子１１ａを配列した発光素子列１１と前記発
光素子１１ａと同数の赤外光を受光する受光素子１２ａ
を配列した受光素子列１２とを対向して設け、それぞれ
対向する一対の発光素子１１ａと受光素子１２ａとが連
係動作するようにして単位光学系を形成し、該単位光学
系を垂直と水平方向に順次掃引駆動して、前記表示器の
表示面に赤外光線マトリックスを形成し、該表示面にタ
ッチした遮光物体１４によって遮光される前記マトリッ
クスの交点を検出し、該交点の直交座標を該物体の位置
情報として出力するものである。
辺に垂直と水平の方向に一定間隔で赤外線を発光する多
数の受光素子１１ａを配列した発光素子列１１と前記発
光素子１１ａと同数の赤外光を受光する受光素子１２ａ
を配列した受光素子列１２とを対向して設け、それぞれ
対向する一対の発光素子１１ａと受光素子１２ａとが連
係動作するようにして単位光学系を形成し、該単位光学
系を垂直と水平方向に順次掃引駆動して、前記表示器の
表示面に赤外光線マトリックスを形成し、該表示面にタ
ッチした遮光物体１４によって遮光される前記マトリッ
クスの交点を検出し、該交点の直交座標を該物体の位置
情報として出力するものである。
第４図及び第５図により従来の光学式タッチパネルの動
作を説明する。第４図は光学式タッチパネルの従来の単
位光学系の構成説明図、第５図は第４図に示す単位光学
系の動作説明図である。
作を説明する。第４図は光学式タッチパネルの従来の単
位光学系の構成説明図、第５図は第４図に示す単位光学
系の動作説明図である。
第４図において１１ａを発光素子、１２ａは受光素子、
１５ａ，１５ｂはアナログスイッチ、１６は増幅器、１
７は負荷抵抗、１８は受光出力信号、Ｖccは電源であ
る。また、第５図において(イ)は受光素子駆動信号、(ロ)
は発光素子駆動信号、(ハ)は受光出力信号１８の波形、
(ニ)は低レベル信号読み込みパルス、(ホ)は高レベル信号
読み込みパルスである。
１５ａ，１５ｂはアナログスイッチ、１６は増幅器、１
７は負荷抵抗、１８は受光出力信号、Ｖccは電源であ
る。また、第５図において(イ)は受光素子駆動信号、(ロ)
は発光素子駆動信号、(ハ)は受光出力信号１８の波形、
(ニ)は低レベル信号読み込みパルス、(ホ)は高レベル信号
読み込みパルスである。
前記のようにこの単位光学系は複数個設けてあり、それ
ぞれの受光素子１２ａの出力は増幅器１６の入力に並列
に接続されている。
ぞれの受光素子１２ａの出力は増幅器１６の入力に並列
に接続されている。
これらの単位光学系はCPU（図示せず）のプログラムに
従って順次張引されるが、一つの単位受光系が掃引され
ると、CPUから出力される受光素子駆動信号(イ)によって
アナログスイッチ１５ａが接となり、受光素子１２ａが
動作状態になる。つづいて一定時間後に発光素子駆動信
号(ロ)によって、アナログスイッチ１５ｂが一定時間接
となって受光素子１１ａが発光する。
従って順次張引されるが、一つの単位受光系が掃引され
ると、CPUから出力される受光素子駆動信号(イ)によって
アナログスイッチ１５ａが接となり、受光素子１２ａが
動作状態になる。つづいて一定時間後に発光素子駆動信
号(ロ)によって、アナログスイッチ１５ｂが一定時間接
となって受光素子１１ａが発光する。
この過程で、アナログスイッチ１５ａが接となり、電源
Ｖccが受光素子１２ａに印加されると、受光素子１２ａ
には過渡電流が流れ、負荷抵抗１７にはパルス性ノイズ
が発生する。このノイズは急速に減衰し、受光素子１２
ａは暗電流と外乱光による電流によって負荷抵抗１７に
は低レベル信号を発生する。つづいて発光素子１１ａが
発光すると、受光素子１２ａはこの光を受けて高レベル
信号を発生し、この両信号は増幅器１６により増幅さ
れ、受光出力信号１８として第５図(ハ)に示すような波
形の信号が出力される。以上述べた動作は、CPUのプロ
グラムに従って他の単位光学系も順次掃引駆動されるの
で、各単位光学系の受光素子からも、前記(ハ)に示すよ
うな波形の信号が出力されるので増幅器１６から受光出
力信号１８が連続的に出力される。この受光出力信号１
８はA/D変換器（図示せず）によってデジタル信号に変
換され、前記(イ)及び(ロ)の駆動信号と一定のタイミング
を有する低レベル信号読み込みパルス(ニ)及び高レベル
信号読み込みパルス(ホ)によって順次、記憶装置（図示
せず）に読み込まれCPUにおいて単位光学系ごとに前記
低レベル信号と高レベル信号とを比較してレベル差を求
め、その差の有無または大小によって、前記表示面上の
遮光物体の有無を判別し、前記赤外光線マトリックスの
遮光された交点を検出し、該交点の直交座標を該物体の
位置情報として出力するようにしたものである。従っ
て、正確な位置情報を出力するには室内の照明光等の外
乱光の影響を極力少なくする必要があるので受光素子列
の前面に赤外線フィルタを設け、発光素子が不発光時の
該受光素子の受光出力信号のレベルを下げるようにして
いる。
Ｖccが受光素子１２ａに印加されると、受光素子１２ａ
には過渡電流が流れ、負荷抵抗１７にはパルス性ノイズ
が発生する。このノイズは急速に減衰し、受光素子１２
ａは暗電流と外乱光による電流によって負荷抵抗１７に
は低レベル信号を発生する。つづいて発光素子１１ａが
発光すると、受光素子１２ａはこの光を受けて高レベル
信号を発生し、この両信号は増幅器１６により増幅さ
れ、受光出力信号１８として第５図(ハ)に示すような波
形の信号が出力される。以上述べた動作は、CPUのプロ
グラムに従って他の単位光学系も順次掃引駆動されるの
で、各単位光学系の受光素子からも、前記(ハ)に示すよ
うな波形の信号が出力されるので増幅器１６から受光出
力信号１８が連続的に出力される。この受光出力信号１
８はA/D変換器（図示せず）によってデジタル信号に変
換され、前記(イ)及び(ロ)の駆動信号と一定のタイミング
を有する低レベル信号読み込みパルス(ニ)及び高レベル
信号読み込みパルス(ホ)によって順次、記憶装置（図示
せず）に読み込まれCPUにおいて単位光学系ごとに前記
低レベル信号と高レベル信号とを比較してレベル差を求
め、その差の有無または大小によって、前記表示面上の
遮光物体の有無を判別し、前記赤外光線マトリックスの
遮光された交点を検出し、該交点の直交座標を該物体の
位置情報として出力するようにしたものである。従っ
て、正確な位置情報を出力するには室内の照明光等の外
乱光の影響を極力少なくする必要があるので受光素子列
の前面に赤外線フィルタを設け、発光素子が不発光時の
該受光素子の受光出力信号のレベルを下げるようにして
いる。
しかしながら、光学式タッチパネルは多数の発光素子と
受光素子とを使用しているので、長期間動作させている
と、受光素子列の前面に設けた赤外線フィルタにほこり
が付着したり、単位光学系を形成する前記多数の両素子
のうちのいくつかは次第に性能が低下したりして、発光
時の受光素子の受光出力信号のレベルが低下する。この
ために不発光時の低レベル信号と発光時の高レベル信号
とを比較したとき両信号のレベル差が所定値に達しなく
なると遮光物体の有無の検出が不能となる場合がある。
このような場合には前記赤外線フィルタを清掃しそれで
も正常に検出できないときには、不良素子を探して交換
するために煩雑な作業と多くの時間を必要とするという
問題があった。
受光素子とを使用しているので、長期間動作させている
と、受光素子列の前面に設けた赤外線フィルタにほこり
が付着したり、単位光学系を形成する前記多数の両素子
のうちのいくつかは次第に性能が低下したりして、発光
時の受光素子の受光出力信号のレベルが低下する。この
ために不発光時の低レベル信号と発光時の高レベル信号
とを比較したとき両信号のレベル差が所定値に達しなく
なると遮光物体の有無の検出が不能となる場合がある。
このような場合には前記赤外線フィルタを清掃しそれで
も正常に検出できないときには、不良素子を探して交換
するために煩雑な作業と多くの時間を必要とするという
問題があった。
また、光学式タッチパネルはその設置場所によっては室
内の照明光その他の外来光の影響を受け、外来光が強い
と受光出力信号が飽和し、前記両信号のレベル差が殆ん
どなくなり、遮光物体の有無の検出が不能となるという
問題があった。
内の照明光その他の外来光の影響を受け、外来光が強い
と受光出力信号が飽和し、前記両信号のレベル差が殆ん
どなくなり、遮光物体の有無の検出が不能となるという
問題があった。
本発明は光学式タッチパネルを長期間使用しているとほ
こりの付着または発光素子、受光素子の性能低下が原因
となる動作不良並びに外来光の影響による動作不良を自
動的に補正し、常に遮光物体の検出が正確にできるよう
にする受光素子の感度調整方法を提供することを目的と
する。
こりの付着または発光素子、受光素子の性能低下が原因
となる動作不良並びに外来光の影響による動作不良を自
動的に補正し、常に遮光物体の検出が正確にできるよう
にする受光素子の感度調整方法を提供することを目的と
する。
本発明は前記の問題点を解決するために、予めCPUにチ
ェックプログラムを組込み、前記表示器の表示面上に遮
光物体をタッチしない状態において、前記複数の単位光
学系を順次掃引駆動してすべての単位光学系ごとに、発
光素子が不発光時と発光時の受光出力信号のレベル差を
比較してそのレベル差が所定値に達しない当該単位光学
系については、該レベル差が所定値に近づくように、当
該単位光学系の受光素子の負荷抵抗を増減する手段を設
け、該受光素子の感度を調整するようにしたものであ
る。
ェックプログラムを組込み、前記表示器の表示面上に遮
光物体をタッチしない状態において、前記複数の単位光
学系を順次掃引駆動してすべての単位光学系ごとに、発
光素子が不発光時と発光時の受光出力信号のレベル差を
比較してそのレベル差が所定値に達しない当該単位光学
系については、該レベル差が所定値に近づくように、当
該単位光学系の受光素子の負荷抵抗を増減する手段を設
け、該受光素子の感度を調整するようにしたものであ
る。
本発明は光学タッチパネルにおいて、該パネルを使用開
始前にCPUに組込まれたチェックプログラムに従って、
すべての単位光学系を順次掃引駆動して該単位光学系ご
とに発光素子が不発光時と発光時における受光素子の受
光出力信号のレベルを比較してそのレベル差が所定値に
達しない単位光学系については、該単位光学系の受光素
子の負荷抵抗を増減して前記両レベルの差が所定値に近
づくように受光素子の感度を調整するようにしたので、
前記パネル使用時には常に遮光物体の検出を正確に行う
ことができるのである。
始前にCPUに組込まれたチェックプログラムに従って、
すべての単位光学系を順次掃引駆動して該単位光学系ご
とに発光素子が不発光時と発光時における受光素子の受
光出力信号のレベルを比較してそのレベル差が所定値に
達しない単位光学系については、該単位光学系の受光素
子の負荷抵抗を増減して前記両レベルの差が所定値に近
づくように受光素子の感度を調整するようにしたので、
前記パネル使用時には常に遮光物体の検出を正確に行う
ことができるのである。
本発明は光学タッチパネルの動作状態を、使用開始前に
確認するため、予めCPUに組込まれたチェックプログラ
ムに従って、前記パネルの表示面上に遮光物体をタッチ
しない状態において該パネルを動作させ、すべての単位
光学系を掃引駆動して、不発光時と発光時の受光出力信
号のレベルを比較し、そのレベル差が所定の値に入って
いるかどうかチェックし、もし、所定の値が得られてい
ない単位光学系があれば、CPUからの命令によって当該
単位光学系の受光素子の負荷抵抗を切替えて、前記レベ
ル差が所定の値に近づくように受光感度を調整し、確実
に遮光物体の検出を行えるようにする方法である。以
下、実施例を第１図、第２図並びに前記第５図を援用し
て説明する。
確認するため、予めCPUに組込まれたチェックプログラ
ムに従って、前記パネルの表示面上に遮光物体をタッチ
しない状態において該パネルを動作させ、すべての単位
光学系を掃引駆動して、不発光時と発光時の受光出力信
号のレベルを比較し、そのレベル差が所定の値に入って
いるかどうかチェックし、もし、所定の値が得られてい
ない単位光学系があれば、CPUからの命令によって当該
単位光学系の受光素子の負荷抵抗を切替えて、前記レベ
ル差が所定の値に近づくように受光感度を調整し、確実
に遮光物体の検出を行えるようにする方法である。以
下、実施例を第１図、第２図並びに前記第５図を援用し
て説明する。
第１図は本発明の一実施例の構成説明図で光学式タッチ
パネルを構成する多数の単位光学系のうちの一つ単位光
学系の構成と他の単位光学系と共用する付属回路との接
続関係を示す。第１図において１０は単位光学系、１１
ａは発光素子、12aは受光素子、15a-1,15a-2,15b-1,15b
-2はアナログスイッチ、１６は増幅器、１６ａは入力端
子、１８は受光出力信号、１９はアナログスイッチブロ
ック、２０は負荷抵抗ブロック、２１はA/D変換器、２
２はI/Oポート、２２ａは記憶装置、２３はCPU、２４は
赤外線フィルタ、25aは受光素子駆動信号、２５ｂは発
光素子駆動信号、２６は負荷抵抗切替信号、２７は他の
単位光学系の受光素子の出力、Ｖccは電源である。
パネルを構成する多数の単位光学系のうちの一つ単位光
学系の構成と他の単位光学系と共用する付属回路との接
続関係を示す。第１図において１０は単位光学系、１１
ａは発光素子、12aは受光素子、15a-1,15a-2,15b-1,15b
-2はアナログスイッチ、１６は増幅器、１６ａは入力端
子、１８は受光出力信号、１９はアナログスイッチブロ
ック、２０は負荷抵抗ブロック、２１はA/D変換器、２
２はI/Oポート、２２ａは記憶装置、２３はCPU、２４は
赤外線フィルタ、25aは受光素子駆動信号、２５ｂは発
光素子駆動信号、２６は負荷抵抗切替信号、２７は他の
単位光学系の受光素子の出力、Ｖccは電源である。
第２図は、第１図の実施例の負荷抵抗値増減による受光
素子の感度調整効果の説明図で(a)は受光感度低下時の
受光出力信号の波形図、(b)は負荷抵抗値増加後の受光
出力信号の波形図、(c)は外乱光過大時の受光出力信号
の波形図、(d)は負荷抵抗値減少後の受光出力信号の波
形図である。
素子の感度調整効果の説明図で(a)は受光感度低下時の
受光出力信号の波形図、(b)は負荷抵抗値増加後の受光
出力信号の波形図、(c)は外乱光過大時の受光出力信号
の波形図、(d)は負荷抵抗値減少後の受光出力信号の波
形図である。
第１図に示すように単位光学系１０の発光素子１１ａと
受光素子１２ａの両者はそれぞれアナログスイッチ15b-
1,15b-2と15a-1,15a-2の一端に接続されており、アナロ
グスイッチ15b-1,15a-1の他端は電源Ｖccに接続されて
いる。また15b-2の他端は接地され、15a-2の他端はアナ
ログスイッチブロック１９の共通接続端に接続されてお
り該アナログスイッチブロック１９の個々のアナログス
イッチａ，ｂ，ｃの他端はそれぞれ負荷抵抗ブロック２
０の個々の負荷抵抗ａ，ｂ，ｃに接続され、該負荷抵抗
ａ，ｂ，ｃの他端は接地されている。また、受光素子１
２ａとアナログスイッチ15a-2との接続点Ａは増幅器１
６の入力端子１６ａに接続されている。なお入力端子１
６ａには他の単位光学系の受光素子の出力２７も接続さ
れている。増幅器１６の出力はA/D変換器２１に接続さ
れ、A/D変換器２１の出力はI/Oポート２２内の記憶装置
２２ａに接続され、I/OポートはCPUと接続されている。
受光素子１２ａの両者はそれぞれアナログスイッチ15b-
1,15b-2と15a-1,15a-2の一端に接続されており、アナロ
グスイッチ15b-1,15a-1の他端は電源Ｖccに接続されて
いる。また15b-2の他端は接地され、15a-2の他端はアナ
ログスイッチブロック１９の共通接続端に接続されてお
り該アナログスイッチブロック１９の個々のアナログス
イッチａ，ｂ，ｃの他端はそれぞれ負荷抵抗ブロック２
０の個々の負荷抵抗ａ，ｂ，ｃに接続され、該負荷抵抗
ａ，ｂ，ｃの他端は接地されている。また、受光素子１
２ａとアナログスイッチ15a-2との接続点Ａは増幅器１
６の入力端子１６ａに接続されている。なお入力端子１
６ａには他の単位光学系の受光素子の出力２７も接続さ
れている。増幅器１６の出力はA/D変換器２１に接続さ
れ、A/D変換器２１の出力はI/Oポート２２内の記憶装置
２２ａに接続され、I/OポートはCPUと接続されている。
本発明はタッチパネル使用開始前に予めCPU23に組込ま
れたチェックプログラムに従って、表示器の表示面上に
遮光物体をタッチしない状態で単位光学系を順次掃引す
る。単位光学系１０が掃引されるとCPUよりI/Oポート２
２を介して受光素子駆動信号２５ａが一定時間送出さ
れ、アナログスイッチ15a-1,15a-2が接となり、受光素
子１２ａには電源Ｖccに接続されるとともに、アナログ
スイッチブロック１９と負荷抵抗ブロック２０を介して
接地される。（本実施例では両ブロックとも３個の素子
ａ，ｂ，ｃから成り、アナログスイッチｂが接となって
負荷抵抗ｂを通して接地されている） 受光素子１２ａに電源Ｖccと負荷抵抗２０ｂが接続され
ると、受光素子１２ａには過渡電流が流れ、負荷抵抗２
０ｂにはパルス電圧を発生するが該電圧は急速に減衰
し、定常状態になり受光素子の暗電流と外来光による電
流によって低レベル信号を発生する。続いてI/Oポート
より発光素子駆動信号２５ｂが一定時間送出され、アナ
ログスイッチ15b-1,15b-2が接となり発光素子１１ａが
発光し、この光を受けて受光素子１２ａの受光電流が負
荷抵抗２０ｂに高レベル信号を発生する。受光素子駆動
信号２５ａが断となって受光素子１２ａは動作を停止す
る。この一連の動作中に単位光学系が正常であれば、前
記第５図(ハ)に示すような受光出力信号１８が増幅器１
６の出力に生じ、A/D変換器２１により受光出力信号１
８はアナログ信号からデジタル信号に変換され、前記第
５図(ニ)及び(ホ)に示す読み込みパルスによって前記低レ
ベル信号と、高レベル信号を記憶装置２２ａに順次読み
込み、CPU23において単位光学系ごとに前記両信号のレ
ベルを比較し、それぞれのレベル差が、すべて所定値内
にあれば正常に動作しているものと判定する。
れたチェックプログラムに従って、表示器の表示面上に
遮光物体をタッチしない状態で単位光学系を順次掃引す
る。単位光学系１０が掃引されるとCPUよりI/Oポート２
２を介して受光素子駆動信号２５ａが一定時間送出さ
れ、アナログスイッチ15a-1,15a-2が接となり、受光素
子１２ａには電源Ｖccに接続されるとともに、アナログ
スイッチブロック１９と負荷抵抗ブロック２０を介して
接地される。（本実施例では両ブロックとも３個の素子
ａ，ｂ，ｃから成り、アナログスイッチｂが接となって
負荷抵抗ｂを通して接地されている） 受光素子１２ａに電源Ｖccと負荷抵抗２０ｂが接続され
ると、受光素子１２ａには過渡電流が流れ、負荷抵抗２
０ｂにはパルス電圧を発生するが該電圧は急速に減衰
し、定常状態になり受光素子の暗電流と外来光による電
流によって低レベル信号を発生する。続いてI/Oポート
より発光素子駆動信号２５ｂが一定時間送出され、アナ
ログスイッチ15b-1,15b-2が接となり発光素子１１ａが
発光し、この光を受けて受光素子１２ａの受光電流が負
荷抵抗２０ｂに高レベル信号を発生する。受光素子駆動
信号２５ａが断となって受光素子１２ａは動作を停止す
る。この一連の動作中に単位光学系が正常であれば、前
記第５図(ハ)に示すような受光出力信号１８が増幅器１
６の出力に生じ、A/D変換器２１により受光出力信号１
８はアナログ信号からデジタル信号に変換され、前記第
５図(ニ)及び(ホ)に示す読み込みパルスによって前記低レ
ベル信号と、高レベル信号を記憶装置２２ａに順次読み
込み、CPU23において単位光学系ごとに前記両信号のレ
ベルを比較し、それぞれのレベル差が、すべて所定値内
にあれば正常に動作しているものと判定する。
しかしながら、光学式タッチパネルは長期間使用する
と、多数の単位光学系を構成する多数の発，受光素子の
一部のものは性能が低下したり、受光素子列前面に設け
た赤外線フィルタ２４の表面にほこりが付着して、部分
的または全面的に光の透過が悪くなり、第２図の(a)に
示すように、発光時の受光出力が低下してくる。このよ
うな単位光学系の受光出力信号を、CPU23において低レ
ベル信号と高レベル信号を比較すると、該両信号のレベ
ル差は所定値に達しないので、該レベル差が所定値に達
するように、CPU23はプログラムに従って、I/Oポート２
２を介して、一つの負荷抵抗切替信号２６を当該単位光
学系のアナログスイッチブロック１９へ送り、切替信号
に対応するアナログスイッチを駆動して負荷抵抗ブロッ
ク２０の中の抵抗値の多い抵抗に切替えて受光感度を調
整し、第２図の(b)に示すような波形が得られるように
する。一方、外乱光の受光素子列への入射が過大の場合
には第２図の(c)に示すように、不発光時の受光出力が
大きくなる。従って発光時には、受光出力は飽和してし
まい、受光出力信号１８の低レベル信号と高レベル信号
とをCPU23で比較したとき、該両信号のレベル差は、前
記の受光感度不足の場合と同様に所定値に達しないの
で、前記の場合とは逆に、当該単位光学系の受光出力を
低下させ、前記のレベル差が所定値に達するようにCPU2
3よりI/Oポート２２を介して負荷抵抗切替信号２６を当
該単位光学系のアナログスイッチブロック１９へ送り、
切替信号に対応するアナログスイッチを駆動して、負荷
抵抗ブロック２０の中の抵抗値の少ない抵抗に切替えて
受光感度を調整し第２図の(d)に示すような波形が得ら
れるようにする。
と、多数の単位光学系を構成する多数の発，受光素子の
一部のものは性能が低下したり、受光素子列前面に設け
た赤外線フィルタ２４の表面にほこりが付着して、部分
的または全面的に光の透過が悪くなり、第２図の(a)に
示すように、発光時の受光出力が低下してくる。このよ
うな単位光学系の受光出力信号を、CPU23において低レ
ベル信号と高レベル信号を比較すると、該両信号のレベ
ル差は所定値に達しないので、該レベル差が所定値に達
するように、CPU23はプログラムに従って、I/Oポート２
２を介して、一つの負荷抵抗切替信号２６を当該単位光
学系のアナログスイッチブロック１９へ送り、切替信号
に対応するアナログスイッチを駆動して負荷抵抗ブロッ
ク２０の中の抵抗値の多い抵抗に切替えて受光感度を調
整し、第２図の(b)に示すような波形が得られるように
する。一方、外乱光の受光素子列への入射が過大の場合
には第２図の(c)に示すように、不発光時の受光出力が
大きくなる。従って発光時には、受光出力は飽和してし
まい、受光出力信号１８の低レベル信号と高レベル信号
とをCPU23で比較したとき、該両信号のレベル差は、前
記の受光感度不足の場合と同様に所定値に達しないの
で、前記の場合とは逆に、当該単位光学系の受光出力を
低下させ、前記のレベル差が所定値に達するようにCPU2
3よりI/Oポート２２を介して負荷抵抗切替信号２６を当
該単位光学系のアナログスイッチブロック１９へ送り、
切替信号に対応するアナログスイッチを駆動して、負荷
抵抗ブロック２０の中の抵抗値の少ない抵抗に切替えて
受光感度を調整し第２図の(d)に示すような波形が得ら
れるようにする。
以上説明した実施例においては負荷抵抗切替信号２６に
よって切替えられるアナログスイッチと負荷抵抗の数は
それぞれ３個であるが、これに限定するものではなく、
受光素子の感度調整の細かさ、あるいは、感度調整範囲
の大小等、必要に応じて変更しうるものである。
よって切替えられるアナログスイッチと負荷抵抗の数は
それぞれ３個であるが、これに限定するものではなく、
受光素子の感度調整の細かさ、あるいは、感度調整範囲
の大小等、必要に応じて変更しうるものである。
以上詳細に説明したように、本発明によれば光学式タッ
チパネルを構成するすべての単位光学系の受光素子の負
荷抵抗を切替える手段を設け、受光出力信号の処理を行
うCPUにチェックプログラムを組込み該タッチパネル使
用開始前に、該プログラムに従って、自動的にすべての
単位光学系の動作をチェックし、性能が低下した素子を
含む単位光学系は受光素子の負荷抵抗値を増して、受光
感度を増し、外乱光が過大の場合は受光素子の負荷抵抗
値を下げて受光感度を下げるようにしたので従来、動作
を省くことができる効果があり、また外乱光の強い場所
でも支障なく使用できるように自動的に受光感度を低下
させるので、常に安定かつ、正確に作動する光学式タッ
チパネルを提供できるという効果が期待できる。
チパネルを構成するすべての単位光学系の受光素子の負
荷抵抗を切替える手段を設け、受光出力信号の処理を行
うCPUにチェックプログラムを組込み該タッチパネル使
用開始前に、該プログラムに従って、自動的にすべての
単位光学系の動作をチェックし、性能が低下した素子を
含む単位光学系は受光素子の負荷抵抗値を増して、受光
感度を増し、外乱光が過大の場合は受光素子の負荷抵抗
値を下げて受光感度を下げるようにしたので従来、動作
を省くことができる効果があり、また外乱光の強い場所
でも支障なく使用できるように自動的に受光感度を低下
させるので、常に安定かつ、正確に作動する光学式タッ
チパネルを提供できるという効果が期待できる。
第１図は本発明の一実施例の構成説明図、第２図は第１
図の実施例の負荷抵抗値増減による受光素子の感度調整
効果の説明図で(a)は受光感度低下時の受光出力信号の
波形図、(b)は負荷抵抗値増加後の受光出力信号の波形
図、(c)は外乱光過大時の受光出力信号の波形図、(d)は
負荷抵抗値減少後の受光出力信号の波形図、第３図は光
学式タッチパネルの説明図、第４図は光学式タッチパネ
ルの従来の単位光学系の構成説明図、第５図は第４図の
単位化学系の動作説明図である。 １０…単位光学系、１１…発光素子列、１１ａ…発光素
子、１２…受光素子列、１２ａ…受光素子、１３…表示
器、１４…遮光物体、１５ａ，15a-1,15a-2,15b,15b-1,
15b-2…アナログスイッチ、１６…増幅器、１７…負荷
抵抗、１８…受光出力信号、１９…アナログスイッチブ
ロック、２０…負荷抵抗ブロック、２１…A/D変換器、
２２…I/Oポート、２２ａ…記憶装置、２３…CPU、２４
…赤外線フィルタ、２５ａ…受光素子駆動信号、２５ｂ
…受光素子駆動信号、２６…負荷抵抗切替信号、２７…
他の単位光学系の受光素子の出力、Ｖccは電源である。
図の実施例の負荷抵抗値増減による受光素子の感度調整
効果の説明図で(a)は受光感度低下時の受光出力信号の
波形図、(b)は負荷抵抗値増加後の受光出力信号の波形
図、(c)は外乱光過大時の受光出力信号の波形図、(d)は
負荷抵抗値減少後の受光出力信号の波形図、第３図は光
学式タッチパネルの説明図、第４図は光学式タッチパネ
ルの従来の単位光学系の構成説明図、第５図は第４図の
単位化学系の動作説明図である。 １０…単位光学系、１１…発光素子列、１１ａ…発光素
子、１２…受光素子列、１２ａ…受光素子、１３…表示
器、１４…遮光物体、１５ａ，15a-1,15a-2,15b,15b-1,
15b-2…アナログスイッチ、１６…増幅器、１７…負荷
抵抗、１８…受光出力信号、１９…アナログスイッチブ
ロック、２０…負荷抵抗ブロック、２１…A/D変換器、
２２…I/Oポート、２２ａ…記憶装置、２３…CPU、２４
…赤外線フィルタ、２５ａ…受光素子駆動信号、２５ｂ
…受光素子駆動信号、２６…負荷抵抗切替信号、２７…
他の単位光学系の受光素子の出力、Ｖccは電源である。
Claims (1)
- 【請求項１】表示器の表示面の周辺に水平と垂直に対向
して、発光素子列と、受光素子列とを配設し、該両素子
列を形成するとともに、それぞれ対向する単一の発光素
子と受光素子とが連係動作するようにした複数の単位光
学系を、水平と垂直方向に順次掃引駆動して光マトリッ
クスを形成し、該単位光学系ごとに不発光時と受光時の
受光出力信号をA/D変換して、該受光出力信号のそれぞ
れのレベルを記憶装置に読み込み、CPUにより該両信号
のレベルを比較して求めたレベル差により表示面上にタ
ッチした遮光物体を検出し、該物体の位置の直交座標を
位置情報として出力する光学式タッチパネルの受光素子
の感度調整方法において、 予めCPUにチェックプログラムを組込み、前記表示面上
に遮光物体をタッチしない状態において、前記複数の単
位光学系を順次掃引駆動して、すべての単位光学系ごと
に受光素子が不発光時と受光時の受光出力信号のレベル
を比較して、そのレベル差が所定値に達しない当該単位
光学系については、該レベル差が所定値に近づくよう
に、当該単位光学系の受光素子の負荷抵抗を増減する手
段を設け、該受光素子の感度を調整するようにしたこと
を特徴とする光学式タッチパネルの受光素子の感度調整
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6225889A JPH0612512B2 (ja) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | 光学式タッチパネルの受光素子の感度調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6225889A JPH0612512B2 (ja) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | 光学式タッチパネルの受光素子の感度調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02242417A JPH02242417A (ja) | 1990-09-26 |
| JPH0612512B2 true JPH0612512B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=13194943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6225889A Expired - Fee Related JPH0612512B2 (ja) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | 光学式タッチパネルの受光素子の感度調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612512B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008276325A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-13 | Smk Corp | 光学式入力装置 |
| JP2009245241A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Smk Corp | 光学的検出装置 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0594255A (ja) * | 1991-03-28 | 1993-04-16 | Minato Electron Kk | 変調光ビームを利用した光学式タツチパネル |
| KR100469499B1 (ko) * | 2002-09-04 | 2005-02-02 | 엘지엔시스(주) | 적외선 방식을 이용한 터치 스크린의 수광센서 및 그의초기 셋팅방법 |
| US8344313B2 (en) * | 2005-10-07 | 2013-01-01 | Integrated Digital Technologies, Inc. | Optical input type touch system and feedback control method thereof |
| JP5103308B2 (ja) * | 2008-07-17 | 2012-12-19 | 日立オムロンターミナルソリューションズ株式会社 | タッチパネルを用いた電子装置及びタッチパネルの診断方法 |
| WO2011024347A1 (ja) * | 2009-08-25 | 2011-03-03 | シャープ株式会社 | 座標センサおよび表示装置 |
| KR101754382B1 (ko) | 2010-03-11 | 2017-07-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
| JP5889152B2 (ja) * | 2012-09-20 | 2016-03-22 | オムロンオートモーティブエレクトロニクス株式会社 | 受光回路、レーザレーダ |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62163138A (ja) * | 1986-01-13 | 1987-07-18 | Nippon Denso Co Ltd | 画像表示システムのための表示切換信号発生装置 |
-
1989
- 1989-03-16 JP JP6225889A patent/JPH0612512B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008276325A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-13 | Smk Corp | 光学式入力装置 |
| JP2009245241A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Smk Corp | 光学的検出装置 |
| JP4725901B2 (ja) * | 2008-03-31 | 2011-07-13 | Ｓｍｋ株式会社 | 光学的検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02242417A (ja) | 1990-09-26 |
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