CN104898072B - 照明检测方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种照明检测方法及装置。其中,该方法包括:在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态,在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式,根据待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到待测灯具的第二运行状态。本发明解决了相关技术在进行照明系统性能优劣的检测时,大多是检测照明系统正常工作运行状态下的相关性能参数,没有对电压暂降等电网异常情况下,照明系统对抗电压扰动能力的特性测试的技术问题。

Description

照明检测方法及装置
技术领域
本发明涉及电力系统领域,具体而言,涉及一种照明检测方法及装置。
背景技术
随着照明系统的扩大化发展,及时掌握照明系统的运行状态,提升照明系统的安全可靠性及照明质量日渐成为人们关注的热点。相关技术在进行照明系统性能优劣的检测时,大多是检测照明系统正常工作运行状态下的相关性能参数,没有对电压暂降等电网异常情况下,照明系统对抗电压扰动能力的特性测试。
针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种照明检测方法及装置,以至少解决相关技术在进行照明系统性能优劣的检测时,大多是检测照明系统正常工作运行状态下的相关性能参数,没有对电压暂降等电网异常情况下,照明系统对抗电压扰动能力的特性测试的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种照明检测方法,包括:在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态;在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式;根据待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到待测灯具的第二运行状态。
进一步地,在输入信号为电源跌落电压时,测试待测灯具对应的第一运行状态的步骤包括:通过电压跌落仪测试多个照明负荷熄灭时的电压跌落相角;在电压跌落相角下,选择各个电压跌落幅值;依据各个电压跌落幅值触发待测灯具的照明状态的测试;依据测试中各个电压跌落幅值与待测灯具的照明状态的关系,得到待测灯具的第一运行状态,其中,第一运行状态为电压跌落幅值下待测灯具对应的最长照明持续时间。
进一步地,在输入信号为高频电压,和/或,干扰信号时,测试待测灯具对应的第三运行状态的步骤包括:通过在电源输入端叠加高频电压,和/或,干扰信号,测试得到待测灯具对应的第三运行状态;其中,第三运行状态为待测灯具的抗电磁干扰性能;其中,抗电磁干扰性能包括:静电放电抗干扰性能、脉冲群抗扰度性能和浪涌抗扰度性能。
进一步地,在抗电磁干扰性能为静电放电抗干扰性能的情况下,测试得到待测灯具对应的第三运行状态包括:通过在电源输入端叠加高频电压,并在多相位放电,使得在作用于待测灯具的外壳、螺钉、外壳缝隙处,测试得到待测灯具对应的第三运行状态;其中,第三运行状态为待测灯具的静电放电抗干扰性能。
进一步地,在抗电磁干扰性能为脉冲群抗扰度性能的情况下,测试得到待测灯具对应的第三运行状态包括:通过在电源输入端叠加高频电压,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,高频电压为高频电压脉冲群;其中,第三运行状态为待测灯具的脉冲群抗扰度性能。
进一步地,在抗电磁干扰性能为浪涌抗扰度性能的情况下,测试得到待测灯具对应的第三运行状态包括:通过在电源输入端叠加干扰信号,并且在多相位放电,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,干扰信号为差模干扰信号,和/或,共模干扰信号;其中,第三运行状态为待测灯具的浪涌抗扰度性能。
进一步地,在输入信号为工频电压时,测试待测灯具对应的第四运行状态的步骤包括:在工频电压下叠加N次谐波分量,测试得到待测灯具对应的第四运行状态,其中,第四运行状态为待测灯具的谐波耐受性能,其中,N为整数。
进一步地,在输入信号为工频电压时,测试待测灯具对应的第四运行状态之后,方法还包括:测试待测灯具对应的第五运行状态,其中,第五运行状态包括:待测灯具产生的各次谐波电压分量、各次谐波电流分量和总谐波量;根据第五运行状态评估待测灯具对电网的影响。
根据本发明实施例的另一方面,还提供了一种照明检测装置,包括:第一测试单元,用于在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态;第一处理单元,用于在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式;第一获取单元,用于根据待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到待测灯具的第二运行状态。
进一步地,在输入信号为电源跌落电压时,第一测试单元包括:第一子测试单元,用于通过电压跌落仪测试多个照明负荷熄灭时的电压跌落相角;第一子选择单元,用于在电压跌落相角下,选择各个电压跌落幅值;第一子触发单元,用于依据各个电压跌落幅值触发待测灯具的照明状态的测试;第一子获取单元,用于依据测试中各个电压跌落幅值与待测灯具的照明状态的关系,得到待测灯具的第一运行状态,其中,第一运行状态为电压跌落幅值下待测灯具对应的最长照明持续时间。
进一步地,在输入信号为高频电压,和/或,干扰信号时,第一测试单元包括:第二子测试单元,用于通过在电源输入端叠加高频电压,和/或,干扰信号,测试得到待测灯具对应的第三运行状态;其中,第三运行状态为待测灯具的抗电磁干扰性能;其中,抗电磁干扰性能包括:静电放电抗干扰性能、脉冲群抗扰度性能和浪涌抗扰度性能。
进一步地,在抗电磁干扰性能为静电放电抗干扰性能的情况下,第一测试单元包括:第三子测试单元,用于通过在电源输入端叠加高频电压,并在多相位放电,使得在作用于待测灯具的外壳、螺钉、外壳缝隙处,测试得到待测灯具对应的第三运行状态;其中,第三运行状态为待测灯具的静电放电抗干扰性能。
进一步地,在抗电磁干扰性能为脉冲群抗扰度性能的情况下,第一测试单元包括:第四子测试单元,用于通过在电源输入端叠加高频电压,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,高频电压为高频电压脉冲群;其中,第三运行状态为待测灯具的脉冲群抗扰度性能。
进一步地,在抗电磁干扰性能为浪涌抗扰度性能的情况下,第一测试单元包括:第五子测试单元,用于通过在电源输入端叠加干扰信号,并且在多相位放电,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,干扰信号为差模干扰信号,和/或,共模干扰信号;其中,第三运行状态为待测灯具的浪涌抗扰度性能。
进一步地,在输入信号为工频电压时,第一测试单元包括:第六子测试单元,用于在工频电压下叠加N次谐波分量,测试得到待测灯具对应的第四运行状态,其中,第四运行状态为待测灯具的谐波耐受性能,其中,N为整数。
进一步地,在输入信号为工频电压时,第一测试单元还包括:第七子测试单元,用于测试待测灯具对应的第五运行状态,其中,第五运行状态包括:待测灯具产生的各次谐波电压分量、各次谐波电流分量和总谐波量;第一评估单元,用于根据第五运行状态评估待测灯具对电网的影响。
在本发明实施例中,采用在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态,在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式,根据待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到待测灯具的第二运行状态的方式,从而实现了照明异常状态下对照明系统工作性能的实时、准确的技术效果,进而解决了相关技术在进行照明系统性能优劣的检测时,大多是检测照明系统正常工作运行状态下的相关性能参数,没有对电压暂降等电网异常情况下,照明系统对抗电压扰动能力的特性测试的技术问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1是根据本发明实施例一的一种照明检测方法的流程示意图;以及
图2是根据本发明实施例二的一种照明检测装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
实施例一
根据本发明实施例,提供了一种照明检测的方法实施例,需要说明的是,在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行,并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
图1是根据本发明实施例一的一种照明检测方法的流程示意图,如图1所示,该方法包括如下步骤:
步骤S102,在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态。
上述步骤S102中,本发明实施例的测试方法可以在电能需求的特级保障客户处实施开展,对特级保障客户使用的灯具进行测试,具体地,通过调整特级保障客户的电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态。
步骤S104,在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式。
上述步骤S104中,上级电网的故障可以有如下类型:220KV层面电源线路发生永久故障、220KV层面电源线路发生瞬时故障、220KV变电站主变故障、110KV层面电源线路发生永久故障、110KV变电站主变故障以及10KV电源线路故障。
具体地,在上级电网发生220KV层面电源线路发生永久故障时,选择线路主保护或后备保护切除故障,重合闸动作再次掉闸,变电站进行开关无压跳闸,母联开关自投合闸,相对应的切除故障时间为0秒(或重合闸1秒后)切除故障,变电站无压跳2.5秒,自投0.3秒;在上级电网发生220KV层面电源线路发生瞬时故障时,选择线路主保护或后备保护切除故障,重合闸动作恢复供电,相对应的切除故障时间为0秒(或1秒)切除故障;在上级电网发生220KV变电站主变故障时,选择主变压器主保护动作,相对应的切除故障时间为0秒切除故障,110KV侧0.3秒闭合母联开关,10KV侧1.5秒闭合母联开关;在上级电网发生110KV层面电源线路发生永久故障时,选择线路主保护或后备保护切除故障,变电站进行开关无压跳闸,母联开关自投合闸,相对应的切除故障时间为0秒(或0.6秒)切除故障,变电站无压跳3.3秒,自投0.3秒或1.5秒;在上级电网发生110KV变电站主变故障时,选择主变压器主保护动作,相对应的切除故障时间为0秒切除故障,10KV侧1.5秒闭闭合母联开关;在上级电网发生10KV电源线路故障时,选择线路主保护或后备保护切除故障,开闭站进行开关无压跳闸,投备用进行开关,投不上时母联开关自投合闸,相对应的切除故障时间为0.5秒(或1秒)切除故障,开闭站无压跳,自投0.3秒。
步骤S106,根据待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到待测灯具的第二运行状态。
上述步骤S106中,根据对特级保障客户使用的灯具进行测试所得到的待测灯具的第一运行状态和上述上级电网各类型故障相对应的故障切除时间,得到待测灯具的第二运行状态,通过本发明实施例的方法可以实现,当上级电网发生各类型故障时,实时地检测到用户侧的响应情况。
通过上述步骤,可以采用在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态,在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式,根据待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到待测灯具的第二运行状态的方法,从而实现了照明异常状态下对照明系统工作性能的实时、准确的检测,解决了相关技术在进行照明系统性能优劣的检测时,大多是检测照明系统正常工作运行状态下的相关性能参数,没有对电压暂降等电网异常情况下,照明系统对抗电压扰动能力的特性测试的技术问题。
可选地,在本发明实施例中,在输入信号为电源跌落电压时,测试待测灯具对应的第一运行状态的步骤包括:
步骤S1021,通过电压跌落仪测试多个照明负荷熄灭时的电压跌落相角。
上述步骤S1021中,本发明实施例的测试方法,在对特级保障客户使用的灯具进行测试时,可以通过电压跌落仪测试:150瓦的LED舞台灯、170瓦的LED舞台灯、200瓦的LED数字化聚光灯、400瓦的LED数字化聚光灯、72瓦的LED隧道灯、64瓦的LED隧道灯、100瓦的白炽灯、400瓦的高压钠灯以及400瓦的金卤灯。具体地,在测试时需要使用电压跌落仪经过多次测试,找出引起多个照明负荷熄灭时的最敏感的电压跌落相角。
步骤S1022,在电压跌落相角下,选择各个电压跌落幅值。
上述步骤S1022中,在步骤S1021找出的引起多个照明负荷熄灭时的最敏感的电压跌落相角下,选择各个电压跌落幅值,例如,72瓦的LED隧道灯可以在市电电压的基础上,选择电压跌落至0%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、41%、42%、43%、44%、45%、46%、47%、48%、49%。
步骤S1023,依据各个电压跌落幅值触发待测灯具的照明状态的测试。
上述步骤S1023中,对于72瓦的LED隧道灯可以依据步骤S1022中选择的电压跌落幅值进行测试。
步骤S1024,依据测试中各个电压跌落幅值与待测灯具的照明状态的关系,得到待测灯具的第一运行状态,其中,第一运行状态为电压跌落幅值下待测灯具对应的最长照明持续时间。
上述步骤S1024中,依据测试中各个电压跌落幅值与待测灯具的照明状态的关系,可以得到待测灯具的第一运行状态,其中根据不同电压跌落幅值下待测灯具不熄灭的最长持续时间得到待测灯具相对应的,不同类型照明负荷的允许跌落幅值和不熄灭状态持续时间的极值。
可选地,在本发明实施例中,在输入信号为高频电压,和/或,干扰信号时,测试待测灯具对应的第三运行状态的步骤包括:
步骤S11,通过在电源输入端叠加高频电压,和/或,干扰信号,测试得到待测灯具对应的第三运行状态。其中,第三运行状态为待测灯具的抗电磁干扰性能;其中,抗电磁干扰性能包括:静电放电抗干扰性能、脉冲群抗扰度性能和浪涌抗扰度性能。
可选地,在本发明实施例中,在抗电磁干扰性能为静电放电抗干扰性能的情况下,测试得到待测灯具对应的第三运行状态包括:
步骤S110,通过在电源输入端叠加高频电压,并在多相位放电,使得在作用于待测灯具的外壳、螺钉、外壳缝隙处,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,第三运行状态为待测灯具的静电放电抗干扰性能。
可选地,在本发明实施例中,在抗电磁干扰性能为脉冲群抗扰度性能的情况下,测试得到待测灯具对应的第三运行状态包括:
步骤S112,通过在电源输入端叠加高频电压,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,高频电压为高频电压脉冲群,其中,第三运行状态为待测灯具的脉冲群抗扰度性能。
可选地,在本发明实施例中,在抗电磁干扰性能为浪涌抗扰度性能的情况下,测试得到待测灯具对应的第三运行状态包括:
步骤S114,通过在电源输入端叠加干扰信号,并且在多相位放电,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,干扰信号为差模干扰信号,和/或,共模干扰信号,其中,第三运行状态为待测灯具的浪涌抗扰度性能。
这里需要说明的是,在本发明实施例中,通过上述抗电磁干扰性能的测试,试验结果显示LED舞台灯1、LED舞台灯2的抗电磁干扰性能良好,其静电放电、瞬变脉冲群、浪涌(冲击)抗扰度试验均通过3级测试,测试结果达到国家标准中最优值(GB/T17626)。在对特级保障客户使用的灯具进行测试时得到,所使用的LED舞台灯的抗电磁干扰性能符合国家标准及国家电网公司企业标准要求(Q/GDW651-2011)。
可选地,在本发明实施例中,在输入信号为工频电压时,测试待测灯具对应的第四运行状态的步骤包括:
步骤S13,在工频电压下叠加N次谐波分量,测试得到待测灯具对应的第四运行状态,其中,第四运行状态为待测灯具的谐波耐受性能,其中,N为整数。
在上述步骤S13中,在对特级保障客户使用的灯具进行测试时,在输入工频电压下叠加4%的3次、5次、7次谐波的情况下,测试得到电流总谐波畸变率最大为0.7%,LED舞台灯保持正常工作状态。
可选地,在本发明实施例中,在输入信号为工频电压时,测试待测灯具对应的第四运行状态之后,方法还包括:
步骤S15,测试待测灯具对应的第五运行状态,其中,第五运行状态包括:待测灯具产生的各次谐波电压分量、各次谐波电流分量和总谐波量。
在上述步骤S15中,在对特级保障客户使用的灯具进行测试时,所使用的LED舞台灯电压谐波测试结果显示最大电压谐波分量为5次谐波2.89V,仅为企业标准限值的32.9%,电流谐波测试结果显示最大电流谐波分量为9次谐波7.74A,仅为企业标准限值的14.7%。
步骤S151,根据第五运行状态评估待测灯具对电网的影响。
在上述步骤S151中,根据步骤S15中测得的第五运行状态进行评估得出,待测灯具在运行过程中,不会对电网产生谐波污染。
在本发明实施例中,通过采用上述照明检测方法对特级保障客户使用的灯具进行测试时得到,根据待测灯具对抗电压扰动能力的敏感曲线和上级电网不同类型故障的切除时间,用户侧将出现短时间的闪动现象。
需要说明的是,对于前述的各方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例的方法。
实施例二
根据本发明实施例,还提供了一种照明检测装置,图2是根据本发明实施例二的一种照明检测装置的结构示意图,如图2所示,该照明检测装置包括:
第一测试单元20,用于在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态。
可选地,可以在电能需求的特级保障客户处实施开展,对特级保障客户使用的灯具进行测试,具体地,上述第一测试单元20,通过调整特级保障客户的电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态。
第一处理单元22,用于在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式。
可选地,上级电网的故障可以有如下类型:220KV层面电源线路发生永久故障、220KV层面电源线路发生瞬时故障、220KV变电站主变故障、110KV层面电源线路发生永久故障、110KV变电站主变故障以及10KV电源线路故障。
具体地,在上级电网发生220KV层面电源线路发生永久故障时,选择线路主保护或后备保护切除故障,重合闸动作再次掉闸,变电站进行开关无压跳闸,母联开关自投合闸,相对应的切除故障时间为0秒(或重合闸1秒后)切除故障,变电站无压跳2.5秒,自投0.3秒;在上级电网发生220KV层面电源线路发生瞬时故障时,选择线路主保护或后备保护切除故障,重合闸动作恢复供电,相对应的切除故障时间为0秒(或1秒)切除故障;在上级电网发生220KV变电站主变故障时,选择主变压器主保护动作,相对应的切除故障时间为0秒切除故障,110KV侧0.3秒闭合母联开关,10KV侧1.5秒闭合母联开关;在上级电网发生110KV层面电源线路发生永久故障时,选择线路主保护或后备保护切除故障,变电站进行开关无压跳闸,母联开关自投合闸,相对应的切除故障时间为0秒(或0.6秒)切除故障,变电站无压跳3.3秒,自投0.3秒或1.5秒;在上级电网发生110KV变电站主变故障时,选择主变压器主保护动作,相对应的切除故障时间为0秒切除故障,10KV侧1.5秒闭合母联开关;在上级电网发生10KV电源线路故障时,选择线路主保护或后备保护切除故障,开闭站进行开关无压跳闸,投备用进行开关,投不上时母联开关自投合闸,相对应的切除故障时间为0.5秒(或1秒)切除故障,开闭站无压跳,自投0.3秒。
第一获取单元24,用于根据待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到待测灯具的第二运行状态。
可选地,根据对特级保障客户使用的灯具进行测试所得到的待测灯具的第一运行状态和上述上级电网各类型故障相对应的故障切除时间,得到待测灯具的第二运行状态,通过本发明实施例的方法可以实现,当上级电网发生各类型故障时,实时地检测到用户侧的响应情况。
在本发明实施例中,采用第一测试单元20,用于在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态,第一处理单元22,用于在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式,第一获取单元24,用于根据待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到待测灯具的第二运行状态的方式,实现了照明异常状态下对照明系统工作性能的实时、准确的检测,解决了相关技术在进行照明系统性能优劣的检测时,大多是检测照明系统正常工作运行状态下的相关性能参数,没有对电压暂降等电网异常情况下,照明系统对抗电压扰动能力的特性测试的技术问题。
可选地,在本发明实施例中,在输入信号为电源跌落电压时,第一测试单元20可以包括:
第一子测试单元,用于通过电压跌落仪测试多个照明负荷熄灭时的电压跌落相角。
可选地,在对特级保障客户使用的灯具进行测试时,第一子测试单元,用于通过电压跌落仪测试:150瓦的LED舞台灯、170瓦的LED舞台灯、200瓦的LED数字化聚光灯、400瓦的LED数字化聚光灯、72瓦的LED隧道灯、64瓦的LED隧道灯、100瓦的白炽灯、400瓦的高压钠灯以及400瓦的金卤灯。具体地,在测试时需要使用电压跌落仪经过多次测试,找出引起多个照明负荷熄灭时的最敏感的电压跌落相角。
第一子选择单元,用于在电压跌落相角下,选择各个电压跌落幅值。
可选地,在第一子测试单元找出的引起多个照明负荷熄灭时的最敏感的电压跌落相角下,选择各个电压跌落幅值,例如,72瓦的LED隧道灯可以在市电电压的基础上,选择电压跌落至0%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、41%、42%、43%、44%、45%、46%、47%、48%、49%。
第一子触发单元,用于依据各个电压跌落幅值触发待测灯具的照明状态的测试。
可选地,对于72瓦的LED隧道灯可以依据第一子触发单元中选择的电压跌落幅值进行测试。
第一子获取单元,用于依据测试中各个电压跌落幅值与待测灯具的照明状态的关系,得到待测灯具的第一运行状态,其中,第一运行状态为电压跌落幅值下待测灯具对应的最长照明持续时间。
可选地,依据测试中各个电压跌落幅值与待测灯具的照明状态的关系,可以得到待测灯具的第一运行状态,其中根据不同电压跌落幅值下待测灯具不熄灭的最长持续时间得到待测灯具相对应的,不同类型照明负荷的允许跌落幅值和不熄灭状态持续时间的极值。
可选地,在本发明实施例中,在输入信号为高频电压,和/或,干扰信号时,第一测试单元20可以包括:
第二子测试单元,用于通过在电源输入端叠加高频电压,和/或,干扰信号,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,第三运行状态为待测灯具的抗电磁干扰性能。其中,抗电磁干扰性能包括:静电放电抗干扰性能、脉冲群抗扰度性能和浪涌抗扰度性能。
可选地,在本发明实施例中,在抗电磁干扰性能为静电放电抗干扰性能的情况下,第一测试单元20可以包括:
第三子测试单元,用于通过在电源输入端叠加高频电压,并在多相位放电,使得在作用于待测灯具的外壳、螺钉、外壳缝隙处,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,第三运行状态为待测灯具的静电放电抗干扰性能。
可选地,在本发明实施例中,在抗电磁干扰性能为脉冲群抗扰度性能的情况下,第一测试单元20可以包括:
第四子测试单元,用于通过在电源输入端叠加高频电压,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,高频电压为高频电压脉冲群,其中,第三运行状态为待测灯具的脉冲群抗扰度性能。
可选地,在本发明实施例中,在抗电磁干扰性能为浪涌抗扰度性能的情况下,第一测试单元20可以包括:
第五子测试单元,用于通过在电源输入端叠加干扰信号,并且在多相位放电,测试得到待测灯具对应的第三运行状态,其中,干扰信号为差模干扰信号,和/或,共模干扰信号,其中,第三运行状态为待测灯具的浪涌抗扰度性能。
这里需要说明的是,在本发明实施例中,通过上述抗电磁干扰性能的测试,试验结果显示LED舞台灯1、LED舞台灯2的抗电磁干扰性能良好,其静电放电、瞬变脉冲群、浪涌(冲击)抗扰度试验均通过3级测试,测试结果达到国家标准中最优值(GB/T17626)。在对特级保障客户使用的灯具进行测试时得到,所使用的LED舞台灯的抗电磁干扰性能符合国家标准及国家电网公司企业标准要求(Q/GDW651-2011)。
可选地,在本发明实施例中,在输入信号为工频电压时,第一测试单元20可以包括:
第六子测试单元,用于在工频电压下叠加N次谐波分量,测试得到待测灯具对应的第四运行状态,其中,第四运行状态为待测灯具的谐波耐受性能,其中,N为整数。
可选地,第六子测试单元在对特级保障客户使用的灯具进行测试时,在输入工频电压下叠加4%的3次、5次、7次谐波的情况下,测试得到电流总谐波畸变率最大为0.7%,LED舞台灯保持正常工作状态。
可选地,在本发明实施例中,在输入信号为工频电压时,第一测试单元20还包括:
第七子测试单元,用于测试待测灯具对应的第五运行状态,其中,第五运行状态包括:待测灯具产生的各次谐波电压分量、各次谐波电流分量和总谐波量。
可选地,第七子测试单元用于在对特级保障客户使用的灯具进行测试时,所使用的LED舞台灯电压谐波测试结果显示最大电压谐波分量为5次谐波2.89V,仅为企业标准限值的32.9%,电流谐波测试结果显示最大电流谐波分量为9次谐波7.74A,仅为企业标准限值的14.7%。
第一评估单元,用于根据第五运行状态评估待测灯具对电网的影响。
可选地,第一评估单元用于根据第七子测试单元中测得的第五运行状态进行评估得出,待测灯具在运行过程中,不会对电网产生谐波污染。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
在本发明的上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的技术内容,可通过其它的方式实现。其中,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如所述单元的划分,可以为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,单元或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种照明检测方法,其特征在于,包括:
在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态;
在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与所述各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式;
根据所述待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到所述待测灯具的第二运行状态;
其中,在所述输入信号为电源跌落电压时,测试待测灯具对应的第一运行状态的步骤包括:
通过电压跌落仪测试多个照明负荷熄灭时的电压跌落相角;
在所述电压跌落相角下,选择各个电压跌落幅值;
依据所述各个电压跌落幅值触发所述待测灯具的照明状态的测试;
依据所述测试中所述各个电压跌落幅值与待测灯具的照明状态的关系,得到所述待测灯具的第一运行状态,其中,所述第一运行状态为电压跌落幅值下所述待测灯具对应的最长照明持续时间;
其中,在所述输入信号为高频电压,和/或,干扰信号时,测试所述待测灯具对应的第三运行状态的步骤包括:
通过在所述电源输入端叠加所述高频电压,和/或,所述干扰信号,测试得到所述待测灯具对应的所述第三运行状态;
其中,所述第三运行状态为所述待测灯具的抗电磁干扰性能;
其中,所述抗电磁干扰性能包括:静电放电抗干扰性能、脉冲群抗扰度性能和浪涌抗扰度性能;
其中,在所述输入信号为工频电压时,测试待测灯具对应的第四运行状态的步骤包括:
在工频电压下叠加N次谐波分量,测试得到所述待测灯具对应的所述第四运行状态,其中,所述第四运行状态为所述待测灯具的谐波耐受性能,其中,N为整数。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述抗电磁干扰性能为所述静电放电抗干扰性能的情况下,测试得到所述待测灯具对应的所述第三运行状态包括:
通过在所述电源输入端叠加所述高频电压,并在多相位放电,使得在作用于所述待测灯具的外壳、螺钉和外壳缝隙处,测试得到所述待测灯具对应的所述第三运行状态;
其中,所述第三运行状态为所述待测灯具的所述静电放电抗干扰性能。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述抗电磁干扰性能为所述脉冲群抗扰度性能的情况下,测试得到所述待测灯具对应的所述第三运行状态包括:
通过在所述电源输入端叠加所述高频电压,测试得到所述待测灯具对应的所述第三运行状态,其中,所述高频电压为高频电压脉冲群;
其中,所述第三运行状态为所述待测灯具的所述脉冲群抗扰度性能。
4.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述抗电磁干扰性能为所述浪涌抗扰度性能的情况下,测试得到所述待测灯具对应的所述第三运行状态包括:
通过在所述电源输入端叠加所述干扰信号,并且在多相位放电,测试得到所述待测灯具对应的所述第三运行状态,其中,所述干扰信号为差模干扰信号,和/或,共模干扰信号;
其中,所述第三运行状态为所述待测灯具的所述浪涌抗扰度性能。
5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述输入信号为工频电压时,测试待测灯具对应的第四运行状态之后,所述方法还包括:
测试所述待测灯具对应的第五运行状态,其中,所述第五运行状态包括:所述待测灯具产生的各次谐波电压分量、各次谐波电流分量和总谐波量;
根据所述第五运行状态评估所述待测灯具对电网的影响。
6.一种照明检测装置,其特征在于,包括:
第一测试单元,用于在调整电源输入端的输入信号之后,测试得到待测灯具的第一运行状态;
第一处理单元,用于在上级电网发生各类型故障的情况下,选择与所述各类型故障相对应的切除故障时间以及相对应的保护方式;
第一获取单元,用于根据所述待测灯具的第一运行状态和上级电网各类型故障的切除时间,得到所述待测灯具的第二运行状态;
其中,在所述输入信号为电源跌落电压时,所述第一测试单元包括:
第一子测试单元,用于通过电压跌落仪测试多个照明负荷熄灭时的电压跌落相角;
第一子选择单元,用于在所述电压跌落相角下,选择各个电压跌落幅值;
第一子触发单元,用于依据所述各个电压跌落幅值触发所述待测灯具的照明状态的测试;
第一子获取单元,用于依据所述测试中所述各个电压跌落幅值与待测灯具的照明状态的关系,得到所述待测灯具的第一运行状态,其中,所述第一运行状态为电压跌落幅值下所述待测灯具对应的最长照明持续时间;
其中,在所述输入信号为高频电压,和/或,干扰信号时,所述第一测试单元包括:
第二子测试单元,用于通过在所述电源输入端叠加所述高频电压,和/或,所述干扰信号,测试得到所述待测灯具对应的第三运行状态;
其中,所述第三运行状态为所述待测灯具的抗电磁干扰性能;
其中,所述抗电磁干扰性能包括:静电放电抗干扰性能、脉冲群抗扰度性能和浪涌抗扰度性能;
其中,在所述输入信号为工频电压时,所述第一测试单元包括:
第六子测试单元,用于在工频电压下叠加N次谐波分量,测试得到所述待测灯具对应的第四运行状态,其中,所述第四运行状态为所述待测灯具的谐波耐受性能,其中,N为整数。
7.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,在所述抗电磁干扰性能为所述静电放电抗干扰性能的情况下,所述第一测试单元包括:
第三子测试单元,用于通过在所述电源输入端叠加所述高频电压,并在多相位放电,使得在作用于所述待测灯具的外壳、螺钉和外壳缝隙处,测试得到所述待测灯具对应的第三运行状态;
其中,所述第三运行状态为所述待测灯具的所述静电放电抗干扰性能。
8.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,在所述抗电磁干扰性能为所述脉冲群抗扰度性能的情况下,所述第一测试单元包括:
第四子测试单元,用于通过在所述电源输入端叠加所述高频电压,测试得到所述待测灯具对应的第三运行状态,其中,所述高频电压为高频电压脉冲群;
其中,所述第三运行状态为所述待测灯具的所述脉冲群抗扰度性能。
9.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,在所述抗电磁干扰性能为所述浪涌抗扰度性能的情况下,所述第一测试单元包括:
第五子测试单元,用于通过在所述电源输入端叠加所述干扰信号,并且在多相位放电,测试得到所述待测灯具对应的所述第三运行状态,其中,所述干扰信号为差模干扰信号,和/或,共模干扰信号;
其中,所述第三运行状态为所述待测灯具的所述浪涌抗扰度性能。
10.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,在所述输入信号为工频电压时,所述第一测试单元还包括:
第七子测试单元,用于测试所述待测灯具对应的第五运行状态,其中,所述第五运行状态包括:所述待测灯具产生的各次谐波电压分量、各次谐波电流分量和总谐波量;
第一评估单元,用于根据所述第五运行状态评估所述待测灯具对电网的影响。
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