JP4721762B2 - 試験装置 - Google Patents
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Description
Claims (8)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスの試験に用いる試験パターンを、与えられるタイミング信号に応じて前記被試験デバイスに供給する、入れ替え可能な複数のテストモジュールと、
基準クロックを生成する基準クロック生成部と、
前記複数のテストモジュールに対応して設けられ、前記基準クロックに応じて前記タイミング信号を生成し、それぞれ対応するテストモジュールに前記タイミング信号を供給する、前記複数のテストモジュールとは独立して入れ替え可能な複数のタイミング供給部と、
それぞれの前記テストモジュールが前記タイミング信号を受け取ってから前記試験パターンを出力するまでのそれぞれのテストモジュール遅延量に基づいて、前記複数のテストモジュールが出力するそれぞれの前記試験パターンのタイミングが略同一となるように、前記複数のタイミング供給部のそれぞれが前記タイミング信号を出力するタイミングを制御する制御部と
を備え、
前記複数のタイミング供給部のそれぞれは、前記基準クロックを遅延させることにより、前記タイミング信号を生成する遅延回路部を有し、
前記制御部は、前記テストモジュールの種類を検出し、検出したそれぞれの前記テストモジュールの前記テストモジュール遅延量と、当該テストモジュールと対応する前記遅延回路部のオフセット遅延量とに基づいて、前記複数のタイミング供給部が前記タイミング信号を出力するタイミングを算出し、それぞれの前記遅延回路部における遅延設定値を制御し、
前記制御部は、
それぞれの前記テストモジュールの種類と、それぞれの前記テストモジュールに対応するタイミング供給部の種類とを示すシステム構成情報を予め格納するシステム構成格納部と、
前記テストモジュールの種類毎の対応するテストモジュール遅延量と、前記タイミング供給部の種類毎のオフセット遅延量とを予め格納するモジュール情報格納部と、
前記システム構成格納部が格納した前記システム構成情報に基づいて、それぞれの前記テストモジュールの前記テストモジュール遅延量と、当該テストモジュールに対応する前記遅延回路部の前記オフセット遅延量とを、前記モジュール情報格納部から検出し、検出したそれぞれの前記テストモジュール遅延量及び前記オフセット遅延量に基づいて、それぞれの前記遅延回路部に設定するべき遅延設定値を算出する演算部と
を有する試験装置。 - 前記演算部は、それぞれの前記テストモジュールと、当該テストモジュールに対応する前記タイミング供給部とを接続する配線における配線遅延量に更に基づいて、それぞれの前記遅延回路部に設定するべき前記遅延設定値を算出する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記遅延回路部は、
前記タイミング信号を受け取り、前記基準クロックに応じて前記タイミング信号を順次次段に受け渡す縦続接続された複数のフリップフロップと、
それぞれの前記複数のフリップフロップが出力する前記タイミング信号を受け取り、受け取った複数の前記タイミング信号のうち、いずれかを選択して前記テストモジュールに供給するタイミング信号選択部と
を有し、
前記演算部は、それぞれの前記テストモジュール毎に、対応する前記タイミング信号選択部に、いずれの前記タイミング信号を選択させるかを制御する前記遅延設定値を算出する請求項1又は2に記載の試験装置。 - 前記制御部は、それぞれの前記遅延設定値に基づいて、それぞれの前記タイミング信号選択部にいずれの前記タイミング信号を選択させるかを制御する遅延設定部を更に有する請求項3に記載の試験装置。
- 前記遅延設定部は、それぞれの前記タイミング供給部が、いずれの前記テストモジュールに対応するかを、前記システム構成情報に基づいて判定し、前記演算部がそれぞれの前記テストモジュール毎に算出した前記遅延設定値を、それぞれの前記テストモジュールに対応する前記タイミング供給部に設定する
請求項4に記載の試験装置。 - それぞれの前記テストモジュールは、前記試験パターンを出力する複数の試験パターン経路を有し、
それぞれの前記タイミング供給部は、対応する前記テストモジュールの前記複数の試験パターン経路のそれぞれ毎に、前記遅延回路部を有し、
前記制御部は、対応する前記複数の試験パターン経路のそれぞれにおける前記テストモジュール遅延量に基づいて、それぞれの前記遅延回路部における前記遅延設定値を制御する
請求項1から5のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記モジュール情報格納部は、それぞれの前記テストモジュールの前記複数の試験パターン経路のそれぞれ毎の前記テストモジュール遅延量を格納し、
前記演算部は、それぞれの前記テストモジュールのそれぞれの前記複数の試験パターン経路のそれぞれ毎の前記テストモジュール遅延量と、当該テストモジュールに対応する前記タイミング供給部の前記オフセット遅延量とを、前記モジュール情報格納部から検出し、検出したそれぞれの前記テストモジュール遅延量及び前記オフセット遅延量に基づいて、それぞれの前記遅延回路部に設定するべき前記遅延設定値を算出する
請求項6に記載の試験装置。 - 前記演算部は、前記システム構成格納部が格納した前記システム構成情報が変更された場合に、変更された前記システム構成情報に基づいて、それぞれの前記遅延回路部に設定するべき前記遅延設定値を新たに算出する
請求項1から7のいずれか一項に記載の試験装置。
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