JP4703327B2 - 画像欠陥検査装置及び画像欠陥検査方法 - Google Patents
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Description
図3に示す例では、基準画像ブロック50rは、検査画像ブロック50dから、繰り返しパターンのX方向繰り返し周期px0の整数倍分の画素数pi(=n×px0:nは整数)分だけX方向に移動した位置に選択される。そして基準画像ブロック50rと検査画像ブロック50dとの間において、同じブロック内位置の画素同士のグレイレベル差信号を演算する。
そして平均値が所定値以下となるX座標の領域(例えばx1〜x2)を暗い画素部分61に、所定値を超えるX座標の領域(例えばx3〜x4)を明るい画素部分62にグループ分けし、画素のX座標に応じてその画素がいずれのグループに属するかを決定する。
そして平均値が所定値以下となるY座標の領域(例えばy1〜y2)を暗い画素部分61に、所定値を超えるY座標の領域(例えばy3〜y4)を明るい画素部分62にグループ分けし、画素のY座標に応じてその画素がいずれのグループに属するかを決定する。
そして、その各分類結果を各画素のそれぞれの画素ブロック内位置に対応して記憶する。
その後、他の画素ブロック内の各画素について、当該位置と同じブロック内位置に対応して記憶された分類結果を読み出して、この画素についての分類結果として決定する。
最後に、各位置についてそれぞれ決定された分類結果に応じてこの画素における欠陥検出条件を変更する。
検査画像をそれよりも小さい画素ブロックに分割して、グループ分けの分類結果をある画素ブロックの分のみ記憶し、この記憶された分類結果を読み出して他の画素ブロック内の各画素の分類結果を決定することにより、分類結果を記憶するためのメモリを節約することが可能となる。
このような画素ブロックを、検査画像をその繰り返し周期の整数倍の画素数毎に分割して定めることにより、各画素ブロック内において、同じブロック内位置の画素が繰り返しパターンの同じ部分を表すことになる。このように画素ブロックを定めることにより、ある画素ブロックの分のみ記憶された分類結果を読み出して他の画素ブロックの分の分類結果を決定する際の座標計算を不要とする。
または、検査画像の微分画像又は2つの検査画像の差画像の微分画像を作成する微分画像作成部を画像欠陥検査装置に設け、分類部は、検査画像の各画素に対応する微分画像の画素のそれぞれのグレイレベル値に応じて、各画素をグループ分けすることとしてよい。
または、検査画像の微分画像又は2つの検査画像の差画像の微分画像を作成して、検査画像の各画素に対応する微分画像の画素のそれぞれのグレイレベル値に応じて、各画素をグループ分けすることとしてよい。
図示するとおり、外観検査装置10は、グループ分類部21と、グループ記憶部22と、グループ決定部23とを備える。
グループ記憶部22は、グループ分類部21がグループ分けした分類結果を、グループ分けを行った各画素それぞれの作業用ブロック内位置(以下「ブロック内位置」と記す)に対応して記憶する。
グループ決定部23は、各作業用ブロック内の各画素についてのそれぞれの分類結果を、各画素が属する作業用ブロック内におけるブロック内位置に対応してグループ記憶部22から読み出して決定し、この分類結果を欠陥検出部8に出力する。
ステップS1において、1次元のCCDカメラ(TDIセンサ等)を備えた撮像装置4を撮像素子の画素の配列方向に垂直方向に沿って半導体ウエハ3に対して相対的にスキャンさせ、得られた画像信号を多値のディジタル信号(グレイレベル信号)に変換し、検査画像として画像記憶部5に記憶する。画像記憶部5には、図7に示すような、撮像装置4の撮像素子の幅Wsと同じ幅の帯状の検査画像が記憶される。
ここで作業用ブロック70r1、70r2、70r3…のX方向及びY方向の画素数を、繰り返しパターンの繰り返し周期画素数の整数倍の画素数と定めるので、図7に示すように、分割された作業用ブロック70r1、70r2、70r3…はいずれも同じパターンを同じ位置に有する画像となる。そしてグループ分類部21は、分割された作業用ブロック70r1、70r2、70r3…のうちのいずれかの作業用ブロック(例えば作業用ブロック70r1)を選択する。
このとき、作業用ブロック70r1内の各画素について分類した分類結果は、グループ記憶部22内において、各画素のそれぞれのブロック内位置をアドレスに使用して記憶してよい。このために、ウエハ上位置算出部32から各画素のウエハ上絶対座標を入力して、作業用ブロック70r1内のブロック内座標を求めてアドレス信号として使用してよい。
検査画像ブロック50dの各画素と、これに対応する基準画像ブロック50r内の画素とのグレイレベル差が、検出閾値計算部7に順次入力されると、まず、グループ決定部23は、グループ分類部21がステップS2において基準画像ブロック50rを作業用ブロック70r1、70r2、70r3…に分割したのと同様に、画像記憶部5に記憶された検査画像の検査画像ブロック50dを、繰り返しパターンの繰り返し周期画素数(px0、py0)の整数倍の画素数毎に分割して作業用ブロック70d1、70d2、70d3…に分割する。以下、作業用ブロック70d1、70d2、70d3…を総称して作業用ブロック70dと記す。
また、作業用ブロック70dのX方向及びY方向の画素数を、繰り返しパターンの繰り返し周期画素数の整数倍の画素数と定めるので、検査画像ブロック50dについて分割された作業用ブロック70dもまたいずれも同じパターンを同じ位置に有する画像となる。
図5に示す第1実施例ではグループ分類部21は、作業用ブロック70r内の各画素をそれぞれの画素のグレイレベル値に応じて分類したが、本実施例においては、画像記憶部5に記憶された検査画像の微分画像を作成し(ステップS11)、グループ分類部21は、作業用ブロック70r内の各画素を、この画素に対応する微分画像の画素のそれぞれのグレイレベル値に応じて分類する(ステップS12)。このため外観検査装置10は、画像記憶部5に記憶された検査画像の微分画像を作成する画像フィルタ24を備える。図9に含まれる他の要素は図5に示した第1実施例の要素と同じであるため、説明を省略する。
本実施例においては、ステップS21において、基準画像ブロック50r及び検査画像ブロック50dを含むx方向画素長(x1〜x4)の検査画像が、画像記憶部5に記憶されたとき、グループ分類部21は、作業用ブロック70r1内の各画素と、これら画素に対応する検査画像ブロック50d内の各画素との間のグレイレベル差に応じて、作業用ブロック70r1内の各画素を分類する。図11に含まれる他の要素は図5に示した第1実施例の要素と同じであるため、説明を省略する。
本実施例においては、ステップS31において、基準画像ブロック50r及び検査画像ブロック50dを含むx方向画素長(x1〜x4)の検査画像が、画像記憶部5に記憶されたとき、グループ分類部21は、作業用ブロック70r1内の各画素とこれら画素に対応する検査画像ブロック50d内の各画素との間のグレイレベル差を各画素の画素値とする差画像を、差画像記憶部25に保存する。そして、この差画像の微分画像を作成する。
そしてステップS32において、グループ分類部21は、作業用ブロック70r内の各画素を、この画素に対応する微分画像の画素のそれぞれのグレイレベル値に応じて分類する。
2 試料台
3 ウエハ
4 撮像装置
5 画像記憶部
6 差分検出部
7 検出閾値計算部
8 欠陥検出部
21 グループ分類部
22 グループ記憶部
23 グループ決定部
Claims (10)
- 繰り返しパターンを含む2つの検査画像である第1検査画像と第2検査画像との間の対応する画素同士のグレイレベル差を検出し、そのグレイレベル差が欠陥検出条件を満たすとき、前記2つの検査画像のうちいずれかの前記画素が欠陥であると判定する画像欠陥検査装置において、
前記第1検査画像の繰り返し周期の整数倍の画素数毎に前記第1検査画像を分割して定まる複数の画素ブロックのいずれかである第1画素ブロック内の各画素を複数のグループに分類する分類部と、
前記分類部による各分類結果を、前記第1画素ブロック内における各画素のそれぞれのブロック内位置に対応して記憶する記憶部と、
前記画素数毎に前記第2検査画像を分割して定まる複数の画素ブロックのいずれかである第2画素ブロック内の各画素についてのそれぞれの分類結果を、前記第2画素ブロック内における各画素のブロック内位置に対応して前記記憶部から読み出して決定するグループ決定部と、を備え、
各前記画素についてそれぞれ決定された分類結果に応じて、この画素に対する前記欠陥検出条件を変えることを特徴とする画像欠陥検査装置。 - 前記分類部は、前記検査画像の前記各画素のそれぞれグレイレベル値に応じて、これら各画素をグループ分けすることを特徴とする請求項1に記載の画像欠陥検査装置。
- 前記検査画像の微分画像を作成する微分画像作成部を、さらに備え、
前記分類部は、前記検査画像の前記各画素に対応する前記微分画像の画素のそれぞれのグレイレベル値に応じて、前記各画素をグループ分けすることを特徴とする請求項1に記載の画像欠陥検査装置。 - 前記分類部は、前記検査画像の前記各画素についてそれぞれ検出された前記グレイレベル差に応じて、前記各画素をグループ分けすることを特徴とする請求項1に記載の画像欠陥検査装置。
- 前記グレイレベル差を画素とする前記2つの検査画像の差画像の微分画像を作成する微分画像作成部を、さらに備え、
前記分類部は、前記検査画像の前記各画素に対応する前記微分画像の画素のそれぞれのグレイレベル値に応じて、前記各画素をグループ分けすることを特徴とする請求項1に記載の画像欠陥検査装置。 - 繰り返しパターンを含む2つの検査画像である第1検査画像と第2検査画像と間の対応する画素同士のグレイレベル差を検出し、そのグレイレベル差が欠陥検出条件を満たすとき、前記2つの検査画像のうちいずれかの前記画素が欠陥であると判定する画像欠陥検査方法において、
前記第1検査画像の繰り返し周期の整数倍の画素数毎に前記第1検査画像を分割して定まる複数の画素ブロックのいずれかである第1画素ブロック内の各画素を複数のグループに分類し、
前記の分類による各分類結果を、前記第1画素ブロック内における各画素のそれぞれのブロック内位置に対応して記憶し、
前記画素数毎に前記第2検査画像を分割して定まる複数の画素ブロックのいずれかである第2画素ブロック内の各画素について、該各画素と同じブロック内位置に対応して記憶された前記分類結果を読み出して、前記第2画素ブロック内の各画素についての分類結果として決定し、
各前記画素についてそれぞれ決定された分類結果に応じて、この画素に対する前記欠陥検出条件を変えることを特徴とする画像欠陥検査方法。 - 前記検査画像の前記各画素のそれぞれグレイレベル値に応じて、これら各画素をグループ分けすることを特徴とする請求項6に記載の画像欠陥検査方法。
- 前記検査画像の微分画像を作成し、
前記検査画像の前記各画素に対応する前記微分画像の画素のそれぞれのグレイレベル値に応じて、前記各画素をグループ分けすることを特徴とする請求項6に記載の画像欠陥検査方法。 - 前記検査画像の前記各画素についてそれぞれ検出された前記グレイレベル差に応じて、前記各画素をグループ分けすることを特徴とする請求項6に記載の画像欠陥検査方法。
- 前記グレイレベル差を画素とする前記2つの検査画像の差画像の微分画像を作成し、
前記検査画像の前記各画素に対応する前記微分画像の画素のそれぞれのグレイレベル値に応じて、前記各画素をグループ分けすることを特徴とする請求項6に記載の画像欠陥検査方法。
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