JP4701581B2 - 蛍光顕微鏡 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術的分野】
本発明は、試料からの放射光を一部遮断するための阻止フィルタを有する蛍光顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図1に蛍光装置の付属する顕微鏡の光路を示してある。
観察補助光源(1)から出た光は防熱フィルタ(2)、レッド成分減衰フィルタ/遮光スライダ(3)および照明フィールド絞り装置(4)を経由して励起フィルタ(5)に到達する。
【0003】
当フィルタは、ダイクロイック光線分離器(6)と共に顕微鏡内反射スライダに組み込まれている。
ダイクロイック光線分離器は、この短波長励起光を反射させ、対物レンズ(7)を通過させてプレパラート(8)へと誘導する。
【0004】
発生した放射光は対物レンズ(8)に集められるが、この光が励起光より長い波長を持っていることから、その後ダイクロイック光線分離器(6)を通過することになる。さらにこの光線は放射光フィルタ(9)をも通される。そこでは励起光の残りが濾別される。
従って、当フィルタは阻止フィルタとも称されている。
鏡胴(10)および接眼レンズ(11)は通常通り顕微鏡画像を形成するが、それは蛍光から成るものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
別々の放射光フィルタ構成体(A、B)を用いての複数回照射による蛍光記録では、画像ズレ(画素シフト)を避けるために、対象物画像に関して個々の記録間で最大限完全な合一性が要求される。しかし、それには技術的に限界がある。
蛍光の適用にはフィルタの組み合わせが不可欠であるが、それを行うと、放射光フィルタ(AEM、BEM)および色フィルタの偏向楔角がそれぞれ異なることから、画像に僅かながらズレが発生する。
【0006】
そのことは図2に描かれている。
光線a,bは、対応フィルタ構成体AおよびBの放射光フィルタAEMおよびBEMに衝突する。この光線は、フィルタ自体に偏向楔角が存在するため、その組み込み位置によっては、大なり小なり反対方向へ偏向する場合がある(aおよびbは、進路経過を明確化するために、ここでは誇張して描いてある)。
【0007】
従ってその場合では、画像平面Eに衝突した画像点はぴったりとは重なり合っておらず、互に画素シフト分だけずれている。
カール・ツァイス社製フィルタ構成体の場合、僅かな画像ズレという狭い許容限界が設定されているが、それでも極僅かながらこのズレが表われる。
【0008】
【発明の実施の形態】
ところが本発明に基づけば、図3に描かれているように、フィルタの偏向楔角を互に一致するように揃えられる。
フィルタについては、顕微鏡メーカが、例えばオートコリメータにより予めその偏向楔角および当角度の方向性を測定しておき、楔作用で偏向した方向に対して、例えばその逆の側へ、例えば波線Sを引いてマーキングしておくようにする。
【0009】
当フィルタを顕微鏡のフィルタ構成体に装着する場合は、後者にもフィルタのマーキングと合せるためのマーキングを施しておく。
そうすることによって、フィルタの一定した方向性が保証される。
放射光フィルタAEMおよびBEM(図1参照)の回転調整装着により、衝突した光線aおよびbは同方向へ偏向する(aおよびb)。
【0010】
このようにして、元々極わずかな程度に過ぎない画素シフトが最小限に抑えられる。あるいは理想的な場合には解消される(画素シフトP’)。
この場合、メーカー側で偏向楔角の測定および同一偏向楔角を持つフィルタの選別を行ない、使用者側でその分類整理を行うことも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】蛍光装置の付属する顕微鏡の光路を示す
【図2】組み合わせる放射光フィルタ(AEM、BEM)と色フィルタの偏向楔角の相違から、画像平面Eに衝突した画像点が、互に画素シフト分だけずれている様子を示す
【図3】本発明によるフィルタの偏向楔角を互に一致するように揃えたもの
【符号の説明】
EM フィルタ構成体Aの放射光フィルタ
EM フィルタ構成体Bの放射光フィルタ
EMに衝突する光線
EMに衝突する光線
EMにより偏向した光線
EMにより偏向した光線
α 入射光線aとフィルタAEM通過後の偏向光線aとの角度
α 入射光線bとフィルタBEM通過後の偏向光線bとの角度
E 画像平面
画像平面Eに衝突した時の画像点間の距離(画素シフト)

Claims (3)

  1. 偏向楔角の方向性がマーキングされた、試料からの放射光を一部遮断するための阻止フィルタ付き蛍光顕微鏡
  2. 顕微鏡のフィルタ・ホルダーに施されたマーキングが、フィルタ側マーキングの明確な方向設定基準となっている、請求項1に記載された蛍光顕微鏡
  3. フィルタに偏向楔角についてのマーキングがなされている、請求項1および/または2に記載された蛍光顕微鏡
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