JP4683500B2 - 汎用フレキシブルタイマ設計 - Google Patents
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 60
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 37
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 22
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 13
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 12
- CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N lawrencium atom Chemical compound [Lr] CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N nobelium Chemical compound [No] ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 101000832443 Homo sapiens Synaptic vesicle 2-related protein Proteins 0.000 description 2
- 102100024514 Synaptic vesicle 2-related protein Human genes 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- H03K2005/00013—Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
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- H03K2005/00058—Variable delay controlled by a digital setting
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Description
Claims (20)
- 入力信号が伝送される入力チャンネルと、
第1の伝送ゲートを制御する第1の制御信号が伝送される第1の制御入力チャンネルと、
第2の伝送ゲートおよび第3の伝送ゲートを制御する第2の制御信号が伝送される第2の制御入力チャンネルと、
前記入力チャンネルと前記第3の伝送ゲートとの間に配置され、各遅延要素が単一の相互接続層の変更によって再構成される第1の遅延要素の組と、
各遅延要素が単一の相互接続層の変更によって再構成される、前記第1の伝送ゲート、前記第2の伝送ゲートおよび前記第3の伝送ゲートが前記第1の遅延要素の組と第2の遅延要素の組との間に配置されている、第2の遅延要素の組と、
第1の出力信号が伝送される第1の出力チャンネルと、
を備えるピン・プログラマブル遅延セル。 - 前記入力信号が前記第2の遅延要素の組への3本の経路のうちの1本を取るように、前記第1の制御信号および前記第2の制御信号が前記第1の伝送ゲート、前記第2の伝送ゲートおよび前記第3の伝送ゲートを設定する、請求項1に記載のピン・プログラマブル遅延セル。
- 前記入力信号が前記第1の伝送ゲート、前記第2の伝送ゲートおよび前記第2の遅延要素の組を通って伝送され、前記第1の遅延要素の組または前記第3の伝送ゲートを通って伝送されないように、前記第1の制御信号および前記第2の制御信号が前記第1の伝送ゲート、前記第2の伝送ゲートおよび前記第3の伝送ゲートを設定する、請求項2に記載のピン・プログラマブル遅延セル。
- 前記入力信号が前記第2の伝送ゲートおよび前記第2の遅延要素の組を通って伝送され、前記第1の遅延要素の組、前記第2の伝送ゲートまたは前記第3の伝送ゲートを通って伝送されないように、前記第1の制御信号および前記第2の制御信号が前記第1の伝送ゲート、前記第2の伝送ゲートおよび前記第3の伝送ゲートを設定する、請求項2に記載のピン・プログラマブル遅延セル。
- 前記入力信号が前記第1の遅延要素の組、第3の伝送ゲートおよび前記第2の遅延要素の組を通って伝送され、前記第1の伝送ゲートまたは前記第2の伝送ゲートを通って伝送されないように、前記第1の制御信号および前記第2の制御信号が前記第1の伝送ゲート、前記第2の伝送ゲートおよび前記第3の伝送ゲートを設定する、請求項2に記載のピン・プログラマブル遅延セル。
- 第3の経路に付随する伝搬遅延が第2の経路に付随する伝搬遅延より大きく、前記第2の経路に付随する伝搬遅延が第1の経路に付随する伝搬遅延より大きい、請求項2に記載のピン・プログラマブル遅延セル。
- バッファリングされた出力が伝送される第2の出力チャンネルをさらに備え、前記第2の出力チャンネルに結合された負荷容量を前記第1の出力チャンネルから分離するために、出力バッファが前記第1の出力チャンネルと前記第2の出力チャンネルとの間に配置されている、請求項1に記載のピン・プログラマブル遅延セル。
- 前記第3の伝送ゲートによって受信された制御信号が前記第2の伝送ゲートによって受信された制御信号に対して反転させられるように、前記第2の制御信号を反転させるように構成され、前記第3の伝送ゲートに結合されているインバータをさらに備える、請求項1に記載のピン・プログラマブル遅延セル。
- ピン・プログラマブル遅延セルと、
前記ピン・プログラマブル遅延セルに結合されている少なくとも1個の微調整遅延セルと、
を備えた汎用フレキシブルタイマであって、
前記ピン・プログラマブル遅延セルが、
入力信号が伝送される入力チャンネルと、
第1の伝送ゲートを制御する第1の制御信号が伝送される第1の制御入力チャンネルと、
第2の伝送ゲートおよび第3の伝送ゲートを制御する第2の制御信号が伝送される第2の制御入力チャンネルと、
前記入力チャンネルと前記第3の伝送ゲートとの間に配置され、各遅延要素が単一の相互接続層の変更によって再構成される第1の遅延要素の組と、
各遅延要素が単一の相互接続層の変更によって再構成され、前記第1の伝送ゲート、前記第2の伝送ゲートおよび前記第3の伝送ゲートが前記第1の遅延要素の組と第2の遅延要素の組との間に配置されている、第2の遅延要素の組と、
出力信号が伝送される出力チャンネルと、
バッファリングされた出力信号が伝送されるバッファ付き出力チャンネルと、
を含み、
前記微調整遅延セルの各々が、
入力信号が受信および伝送される入力チャンネルと、
単一の相互接続層の変更によって再構成される、前記入力チャンネルに結合されている第1の遅延要素および前記第1の遅延要素に結合されている第2の遅延要素と、
前記第2の遅延要素に結合されている出力ドライバと、
出力信号が伝送される出力チャンネルと、
バッファリングされた出力信号が伝送されるバッファ付き出力チャンネルと、
を含む、汎用フレキシブルタイマ。 - 基準クロック信号が前記第1の入力チャンネルを介して受信および伝送され、少なくとも前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号または前記微調整遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号が、幅および遅延が制御されたクロックパルスを生成するために前記基準クロック信号と合成される、請求項9に記載の汎用フレキシブルタイマ。
- 前記少なくとも1個の微調整遅延セルが、
第1のバッファリングされた出力信号を生成する第1の微調整遅延セルと、
第2のバッファリングされた出力信号を生成する第2の微調整遅延セルと、
第3のバッファリングされた出力信号を生成する第3の微調整遅延セルと、
を備え、
前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号が第1の個数の論理遅延によって基準クロック信号に対して遅延し、
前記第1のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第2のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第1のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第3のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第2のバッファリングされた出力信号に対して遅延している、請求項9に記載の汎用フレキシブルタイマ。 - 少なくとも前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号、前記第1のバッファリングされた出力信号、前記第2のバッファリングされた出力信号または前記第3のバッファリングされた出力信号が、幅および遅延が制御されたクロックパルスを生成するために前記基準クロック信号と合成される、請求項11に記載の汎用フレキシブルタイマ。
- 前記少なくとも1個の微調整遅延セルが、
第1のバッファリングされた出力信号を生成する第1の微調整遅延セルと、
第2のバッファリングされた出力信号を生成する第2の微調整遅延セルと、
第3のバッファリングされた出力信号を生成する第3の微調整遅延セルと、
第4のバッファリングされた出力信号を生成する第4の微調整遅延セルと、
第5のバッファリングされた出力信号を生成する第5の微調整遅延セルと、を備え、
前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号が第1の個数の論理遅延によって基準クロック信号に対して遅延し、
前記第1のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第2のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第1のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第3のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第2のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第4のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第3のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第5のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第4のバッファリングされた出力信号に対して遅延している、請求項9に記載の汎用フレキシブルタイマ。 - 少なくとも前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号、前記第1のバッファリングされた出力信号、前記第2のバッファリングされた出力信号、前記第3のバッファリングされた出力信号、前記第4のバッファリングされた出力信号または前記第5のバッファリングされた出力信号が、幅および遅延が制御されたクロックパルスを生成するために前記基準クロック信号と合成される、請求項13に記載の汎用フレキシブルタイマ。
- 前記少なくとも1個の微調整遅延セルが、
第1のバッファリングされた出力信号を生成する第1の微調整遅延セルと、
第2のバッファリングされた出力信号を生成する第2の微調整遅延セルと、
第3のバッファリングされた出力信号を生成する第3の微調整遅延セルと、
第4のバッファリングされた出力信号を生成する第4の微調整遅延セルと、
第5のバッファリングされた出力信号を生成する第5の微調整遅延セルと、
第6のバッファリングされた出力信号を生成する第6の微調整遅延セルと、
第7のバッファリングされた出力信号を生成する第7の微調整遅延セルと、を備え、
前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号が第1の個数の論理遅延によって基準クロック信号に対して遅延し、
前記第1のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第2のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第1のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第3のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第2のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第4のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第3のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第5のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第4のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第6のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第5のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第7のバッファリングされた出力信号が2個の論理遅延によって前記第6のバッファリングされた出力信号に対して遅延している、請求項9に記載の汎用フレキシブルタイマ。 - 少なくとも前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号、前記第1のバッファリングされた出力信号、前記第2のバッファリングされた出力信号、前記第3のバッファリングされた出力信号、前記第4のバッファリングされた出力信号、前記第5のバッファリングされた出力信号、前記第6のバッファリングされた出力信号または前記第7のバッファリングされた出力信号が、幅および遅延が制御されたクロックパルスを生成するために前記基準クロック信号と合成される、請求項15に記載の汎用フレキシブルタイマ。
- 複数の入力/出力回路と、
コアロジックと、
前記コアロジックに結合されたタイマと、
を備えた集積回路であって、
前記タイマが、
ピン・プログラマブル遅延セルと、
前記ピン・プログラマブル遅延セルに結合された少なくとも1個の微調整遅延セルと、を含み、
前記ピン・プログラマブル遅延セルが、
入力信号が伝送される入力チャンネルと、
第1の伝送ゲートを制御する第1の制御信号が伝送される第1の制御入力チャンネルと、
第2の伝送ゲートおよび第3の伝送ゲートを制御する第2の制御信号が伝送される第2の制御入力チャンネルと、
前記入力チャンネルと前記第3の伝送ゲートとの間に配置され、各遅延要素が単一の相互接続層の変更によって再構成される第1の遅延要素の組と、
各遅延要素が単一の相互接続層の変更によって再構成され、前記第1の伝送ゲート、前記第2の伝送ゲートおよび前記第3の伝送ゲートが前記第1の遅延要素の組と第2の遅延要素の組との間に配置されている、第2の遅延要素の組と、
出力信号が伝送される出力チャンネルと、
バッファリングされた出力信号が伝送されるバッファ付き出力チャンネルと、を含み、
前記微調整遅延セルの各々が、
入力信号が受信および伝送される入力チャンネルと、
単一の相互接続層の変更によって再構成される、前記入力チャンネルに結合されている第1の遅延要素および前記第1の遅延要素に結合されている第2の遅延要素と、
前記第2の遅延要素に結合されている出力ドライバと、
出力信号が伝送される出力チャンネルと、
バッファリングされた出力信号が伝送されるバッファ付き出力チャンネルと、を含む、集積回路。 - 基準クロック信号が前記第1の入力チャンネルを介して受信および伝送され、少なくとも前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号または前記微調整遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号が、幅および遅延が制御されたクロックパルスを生成するために前記基準クロック信号と合成される、請求項17に記載の集積回路。
- 前記少なくとも1個の微調整遅延セルが、
第1のバッファリングされた出力信号を生成する第1の微調整遅延セルと、
第2のバッファリングされた出力信号を生成する第2の微調整遅延セルと、
第3のバッファリングされた出力信号を生成する第3の微調整遅延セルと、を備え、
前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号が基準クロック信号に対して遅延し、
前記第1のバッファリングされた出力信号が前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第2のバッファリングされた出力信号が前記第1のバッファリングされた出力信号に対して遅延し、
前記第3のバッファリングされた出力信号が前記第2のバッファリングされた出力信号に対して遅延している、請求項17に記載の集積回路。 - 少なくとも前記ピン・プログラマブル遅延セルからの前記バッファリングされた出力信号、前記第1のバッファリングされた出力信号、前記第2のバッファリングされた出力信号または前記第3のバッファリングされた出力信号が、幅および遅延が制御されたクロックパルスを生成するために前記基準クロック信号と合成される、請求項19に記載の集積回路。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/838,171 US7504872B2 (en) | 2007-08-13 | 2007-08-13 | Generic flexible timer design |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009077389A JP2009077389A (ja) | 2009-04-09 |
JP4683500B2 true JP4683500B2 (ja) | 2011-05-18 |
Family
ID=40362478
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008208586A Active JP4683500B2 (ja) | 2007-08-13 | 2008-08-13 | 汎用フレキシブルタイマ設計 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7504872B2 (ja) |
JP (1) | JP4683500B2 (ja) |
KR (1) | KR101038368B1 (ja) |
CN (1) | CN101369807B (ja) |
TW (1) | TWI410049B (ja) |
Families Citing this family (5)
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-
2007
- 2007-08-13 US US11/838,171 patent/US7504872B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-08-13 CN CN2008101351531A patent/CN101369807B/zh active Active
- 2008-08-13 JP JP2008208586A patent/JP4683500B2/ja active Active
- 2008-08-13 KR KR1020080079635A patent/KR101038368B1/ko active IP Right Grant
- 2008-08-13 TW TW097130750A patent/TWI410049B/zh active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101038368B1 (ko) | 2011-06-01 |
KR20090017449A (ko) | 2009-02-18 |
US7504872B2 (en) | 2009-03-17 |
CN101369807B (zh) | 2012-04-25 |
US20090045847A1 (en) | 2009-02-19 |
JP2009077389A (ja) | 2009-04-09 |
TWI410049B (zh) | 2013-09-21 |
TW200921702A (en) | 2009-05-16 |
CN101369807A (zh) | 2009-02-18 |
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