JP4676728B2 - 電子部品用セパレータ及びその製造方法 - Google Patents
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Description
また、本発明の電子部品用セパレータの製造方法は、樹脂フィルムの一面に、シート状多孔質基材を載置する工程、該シート状多孔質基材の上に、多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液を塗工する工程、形成された塗工層を乾燥して溶媒を除去することによってシート状多孔質基材の表面及び/又は内部に多孔質構造体を形成した積層体を得る工程、その後該積層体から樹脂フィルムを剥離する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる2種類のフィラー粒子を含み平均粒子径がaのフィラー粒子Aが、平均粒子径がbのフィラー粒子Bよりも大きい粒子であり、前記フィラー粒子A3個が隣接することによって形成される間隙の面積S A よりもフィラー粒子B1個の面積S B の方が大きいことを特徴とする。
また、第2の製造方法は、樹脂フィルム上の一面に、多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液を塗工する工程、シート状多孔質基材を前記工程で得られた塗工層に重ね合わせる工程、その後、乾燥して溶媒を除去することによってシート状多孔質基材の表面及び/又は内部に多孔質構造体を形成した積層体を得る工程、その後該積層体から樹脂フィルムを剥離する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる2種類のフィラー粒子を含み平均粒子径がaのフィラー粒子Aが、平均粒子径がbのフィラー粒子Bよりも大きい粒子であり、前記フィラー粒子A3個が隣接することによって形成される間隙の面積S A よりもフィラー粒子B1個の面積S B の方が大きいことを特徴とする。
また、第3の製造方法は、多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液に、シート状多孔質基材を含浸した後に余剰な塗布液を除去する工程、その後、乾燥して溶媒を除去するか、又は前記良溶媒及び貧溶媒を置換する液体中に浸漬して前記良溶媒及び貧溶媒を除去した後に更に乾燥により該良溶媒及び貧溶媒を置換する液体を除去する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる2種類のフィラー粒子を含み平均粒子径がaのフィラー粒子Aが、平均粒子径がbのフィラー粒子Bよりも大きい粒子であり、前記フィラー粒子A3個が隣接することによって形成される間隙の面積S A よりもフィラー粒子B1個の面積S B の方が大きいことを特徴とする。
本発明の電子部品用セパレータは、多孔質構造体及び平均粒子径が異なる少なくとも2種類以上のフィラー粒子を含有した電子部品用セパレータであって、前記フィラー粒子の平均粒子径を大きい順にa、b、c、・・・m、nとした場合に、隣り合う平均粒子径の関係がb≧{(2√3−3)/3}a、c≧{(2√3−3)/3}b、・・・n≧{(2√3−3)/3}mであることを特徴とする。
互いに隣接するこのような2種類の平均粒子径の関係を有するフィラー粒子を図示すると図1の通りである。すなわち、図1に示すように平均粒子径がaのフィラー粒子A3個によって形成される間隙の面積SAよりも平均粒子径がbのフィラー粒子B1個の面積SBの方が大きい。そのためフィラー粒子A間にフィラー粒子Bが入り込まなくなる。その結果、フィラー粒子Aとフィラー粒子Bとの間で生じた間隙がフィラー粒子Aのみから構成される間隙よりも小さくなるため、マイクロショートに繋がる貫通孔の発生を抑えることが可能となる。また、フィラー粒子間の間隙が小さいため溶融されたフィラー粒子がその間隙を十分に埋めることができ良好なシャットダウン性を有する。平均粒子径がbのフィラー粒子が、{2√3−3}/3}aよりも小さい場合では、平均粒子径がaのフィラー粒子によって形成される間隙に、平均粒子径のbのフィラー粒子が入り込んでしまうため、平均粒子径がaのフィラー粒子によって形成される間隙がそのまま電子部品用セパレータに生じてフィラー粒子間の間隙が大きく貫通孔が生じてマイクロショートが発生する。
また、本発明においては、上記平均粒子径がaのフィラー粒子及び平均粒子径がbのフィラー粒子に加えて更に、平均粒子径が異なる第3のフィラー粒子や第4のフィラー粒子を加えてもよい。このような場合では、平均粒子径が異なるフィラー粒子を大きい順に対比して、隣り合うフィラー粒子の関係が前記関係を有すればよい。すなわち、複数のフィラー粒子の平均粒子径の関係がa>b>c>・・・m>nであった場合は、b≧{(2√3−3)/3}a、c≧{(2√3−3)/3}b・・・n≧{(2√3−3)/3}mでなければならない。平均粒子径が異なる第3のフィラー粒子や第4のフィラー粒子を加えた場合では、更にフィラー粒子間の間隙が小さくなるため、マイクロショートに繋がる貫通孔の発生を抑えることが可能となり、また、フィラー粒子間の間隙が小さいため溶融されたフィラー粒子がその間隙を十分に埋めることができ良好なシャットダウン性を有する。本発明におけるフィラー粒子の平均粒子径とは、一次粒子の平均値をいう。
すなわち、本発明では0.15デニール以下の繊維を少なくとも1重量%以上、より好ましくは5重量%以上含むことが好ましい。0.15デニール以下の繊維が1重量%未満の場合は、目開きを小さくする効果が薄れるので好ましくないが、不織布の目開きが比較的大きい場合においても、本発明のフィラー粒子を用いる場合は、0.15デニール以下の繊維が必ずしも含まれていなくても、短絡の発生を抑えることが可能である。
本発明においては、図2に示す微多孔樹脂フィルム1を形成する貫通孔2の直径Xが0.01〜50μm、より好ましくは0.1〜30μmであることが好ましい。Xが0.01μm未満であるとイオン伝導性を阻害しやすい。一方、Xが50μmを越える範囲であると、後述する多孔質構造体と複合しても電子部品の通常使用環境化でも短絡を起こしやすく望ましくない。
本発明に用いる微多孔樹脂フィルムは、隣接する前記貫通孔どうしの周囲間の最短距離Yが0.01〜100μmが好ましく、より好ましくは0.1〜50μmである。Yが0.01μm未満の場合は、微多孔樹脂フィルムの機械的強度が劣る場合があり捲回時に破断しやすくなるなどの不都合を生じる場合がある。一方、Yが50μmを越す場合には、上記の機械的強度は問題ないものの、貫通孔の孔径が小さい場合には、イオン伝導性が低下する不都合が生じる場合がある。
本発明の第1の製造方法は、樹脂フィルムの一面に、シート状多孔質基材を載置する工程、該シート状多孔質基材の上に、多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液を塗工する工程、形成された塗工層を乾燥して溶媒を除去することによってシート状多孔質基材の表面及び/又は内部に多孔質構造体を形成した積層体を得る工程、その後該積層体から樹脂フィルムを剥離する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる少なくとも2種類以上のフィラー粒子を含み前記フィラー粒子の平均粒子径を大きい順にa、b、c、・・・m、nとした場合に、隣り合う平均粒子径の関係がb≧{(2√3−3)/3}a、c≧{(2√3−3)/3}b、・・・n≧{(2√3−3)/3}mであることを特徴とする。
また、第2の製造方法は、樹脂フィルム上の一面に、多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液を塗工する工程、シート状多孔質基材を前記工程で得られた塗工層に重ね合わせる工程、その後、乾燥して溶媒を除去することによってシート状多孔質基材の表面及び/又は内部に多孔質構造体を形成した積層体を得る工程、その後該積層体から樹脂フィルムを剥離する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる少なくとも2種類以上のフィラー粒子を含み前記フィラー粒子の平均粒子径を大きい順にa、b、c、・・・m、nとした場合に、隣り合う平均粒子径の関係がb≧{(2√3−3)/3}a、c≧{(2√3−3)/3}b、・・・n≧{(2√3−3)/3}mであることを特徴とする。
また、第3の製造方法は、多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液に、シート状多孔質基材を含浸した後に余剰な塗布液を除去する工程、その後、乾燥して溶媒を除去するか、又は前記良溶媒及び貧溶媒を置換する液体中に浸漬して前記良溶媒及び貧溶媒を除去した後に更に乾燥により該良溶媒及び貧溶媒を置換する液体を除去する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる少なくとも2種類以上のフィラー粒子を含み前記フィラー粒子の平均粒子径を大きい順にa、b、c、・・・m、nとした場合に、隣り合う平均粒子径の関係がb≧{(2√3−3)/3}a、c≧{(2√3−3)/3}b、・・・n≧{(2√3−3)/3}mであることを特徴とする。
前記良溶媒及び貧溶媒は、共沸や、乾燥の温度差及び蒸気圧の差が大きい組み合わせは、ピンホールに代表される貫通孔の発生頻度を高める点で好ましくなく、また製造効率上も望ましくない。良溶媒と貧溶媒の沸点差は、50℃以内、特に30℃以内とすることが製造効率上好ましい。50℃を超す場合には、製造のプロセス速度があげられないほか、乾燥エネルギーが大きくなり好ましくない。また、50℃を超す場合は、乾燥条件を段階的に設定する場合に、プロセス方向への瞬時の条件切り替えが実質的に不可能となるために、大量生産には不向きであるという問題もある。
また、本発明では、前記塗布液に多孔質構造体を形成するための樹脂を溶解する良溶媒を少なくとも2種以上含み、かつ、前記樹脂を溶解しない貧溶媒を少なくとも1種以上含んでもよい。塗布液のハンドリング性からは、塗布液粘度をある程度低くすることが重要であるため、比較的低粘度である補助的な良溶媒を、これとは異なる主たる良溶媒と併用して、塗布液粘度を低減することが望ましい。このような補助的良溶媒の選択は、上記の溶媒粘度のほか、貧溶媒との乾燥バランスや、溶媒同士の共沸性を考慮して選択すればよい。本発明における補助的良溶媒は1種類に限らず複数種用いてもよい。
本発明者らの検討によれば、多孔質構造体を形成する樹脂として、例えばポリフッ化ビニリデンを用いた場合においては、塗布量が多い場合において、溶媒置換法ではセパレータの表面にスキン層を生じやすく、従って、透気度が高くなってしまう不具合が発生する場合があったが、上記のようにセパレータの表層部に残る塗布層が溶媒除去後に目安として片面で1〜2μm程度、両面で2〜4μm程度であれば、上記の溶媒置換法でもスキン層を生じにくく、従って、低透気度を有する均一なセパレータを得ることが可能である。また、上記のように、極く薄膜の多孔質構造体を形成する場合には、溶媒置換される塗布液中の溶媒量は少ないために、抽出された溶媒の処理は比較的容易である点も利点である。
この電子部品用セパレータを電子顕微鏡で観察したところ、ピンホールなどの貫通孔は存在せず、前記多孔質構造体は、セパレータの片面からもう一方の面に多数の細孔の繋がりによって通じており、各細孔の平均孔径はセパレータの厚さより小さかった。また、セパレータの厚さ方向で孔径分布の傾斜は認められず、厚さ方向に均質な多孔質構造であることを確認した。
この電子部品用セパレータを電子顕微鏡で観察したところ、ピンホールなどの貫通孔は存在せず、前記多孔質構造体は、セパレータの片面からもう一方の面に多数の細孔の繋がりによって通じており、各細孔の孔径はセパレータの厚さより小さかった。また、セパレータの厚さ方向で孔径分布の傾斜は殆ど認められなかった。
この電子部品用セパレータを電子顕微鏡で観察したところ、ピンホールなどの貫通孔は存在せず、前記多孔質構造体は、セパレータの片面からもう一方の面に多数の細孔の繋がりによって通じており、各細孔の孔径はセパレータの厚さより小さかった。セパレータの厚さ方向で孔径分布の傾斜は認められず、厚さ方向に均質な多孔質構造であることを確認した。
この電子部品用セパレータを電子顕微鏡で観察したところ、ピンホールなどの貫通孔は存在せず、前記多孔質構造体は、セパレータの片面からもう一方の面に多数の細孔の繋がりによって通じており、各細孔の孔径はセパレータの厚さより小さかった。また、セパレータの厚さ方向で孔径分布の傾斜は認められず、厚さ方向に均質な多孔質構造であることを確認した。
この電子部品用セパレータを電子顕微鏡で観察したところ、ピンホールなどの貫通孔は存在せず、前記多孔質構造体は、セパレータの片面からもう一方の面に多数の細孔の繋がりによって通じており、各細孔の孔径はセパレータの厚さより小さかった。また、セパレータの厚さ方向で孔径分布の傾斜は認められず、厚さ方向に均質な多孔質構造であることを確認した。
この電子部品用セパレータを電子顕微鏡で観察したところ、ピンホールなどの貫通孔は存在せず、前記多孔質構造体は、セパレータの片面からもう一方の面に多数の細孔の繋がりによって通じており、各細孔の孔径はセパレータの厚さより小さかった。また、セパレータの厚さ方向で孔径分布の傾斜は認められず、厚さ方向に均質な多孔質構造であることを確認した。
この電子部品用セパレータを電子顕微鏡で観察したところ、ピンホールなどの貫通孔は存在せず、前記多孔質構造体は、セパレータの片面からもう一方の面に多数の細孔の繋がりによって通じており、各細孔の孔径はセパレータの厚さより小さかった。また、セパレータの厚さ方向で孔径分布の傾斜は認められず、厚さ方向に均質な多孔質構造であることを確認した。
この電子部品用セパレータを電子顕微鏡で観察したところ、ピンホールなどの貫通孔は存在せず、前記多孔質構造体は、セパレータの片面からもう一方の面に多数の細孔の繋がりによって通じており、各細孔の孔径はセパレータの厚さより小さかった。また、セパレータの厚さ方向で孔径分布の傾斜は認められず、厚さ方向に均質な多孔質構造であることを確認した。
厚さ20μmのポリエチレンテレフタレート繊維よりなる不織布のみを比較用の電子部品用セパレータとした。
[比較例2]
実施例1において、一次平均粒子径が5μmのポリエチレン粒子だけを用いた以外は、実施例1と同様にして比較用の電子部品用セパレータを得た。この電子部品用セパレータの厚さは17μmであった。
[比較例3]
実施例1において、一次平均粒子径が1μmのポリエチレン粒子の代わりに一次平均粒子径が0.05μmで融点が113℃のポリエチレン粒子に変えた以外は、実施例1と同様にして比較用の電子部品用セパレータを得た。この電子部品用セパレータの厚さは18μmであった。
〔イオン伝導度〕
上記実施例1〜12及び比較例1〜3で得られた電子部品用セパレータを使用してコイン型セルを作製し、そのイオン伝導度を測定した。その結果を表1に示す。なお、測定環境、測定装置は次の通りである。
測定環境:20℃50%RH
測定装置:Solartron社製 SI 1287 1255B
上記実施例1〜3、6〜8、11及び比較例2、3で得られた電子部品用セパレータを使用してコイン型セルを作製し、そのシャットダウン性を確認した。その結果を表2に示す。試験方法としては、満充電したコイン型セルに更に充電を行い、その際の電池内部の温度変化を測定し、温度が下がり始めた点をシャットダウン温度とした。
ステンレス製の平板上に10cm×10cmの正方形に切り出した上記実施例1〜12及び比較例1〜3で得られた電子部品用セパレータを置き、同じくステンレス製の底面積が0.5cm2の円筒形の圧子を用いて30kgの力で押したときのステンレス板とステンレス円筒間の電気的な短絡を確認した。その結果を表3に示し、○は短絡が生じなかったことを示し、×は短絡が生じたことを示す。
実施例3、5、9、10及び12の電子部品用セパレータについて、その寸法安定性を確認したところ、いずれも200℃の雰囲気下、10時間放置後においても寸法変化が殆どみられず、また、透気度などの変化も確認されないことから、耐熱性が良好であることを確認した。
2 貫通孔
3 多孔質構造体
A フィラー粒子
B フィラー粒子
Claims (11)
- 多孔質構造体及び平均粒子径が異なる2種類のフィラー粒子を含有した電子部品用セパレータであって、平均粒子径がaのフィラー粒子Aが、平均粒子径がbのフィラー粒子Bよりも大きい粒子であり、前記フィラー粒子A3個が隣接することによって形成される間隙の面積S A よりもフィラー粒子B1個の面積S B の方が大きいことを特徴とする電子部品用セパレータ。
- 前記フィラー粒子の少なくとも1種類の融点が80℃以上であることを特徴とする請求項1に記載の電子部品用セパレータ。
- シート状多孔質基材を含むことを特徴とする請求項1に記載の電子部品用セパレータ。
- 前記シート状多孔質基材が不織布か、又はフィルム面の垂直方向に貫通した実質上遮蔽構造を有しない平均孔径が0.01〜50μmの貫通孔を有し、隣接する貫通孔間の最短距離の平均が0.01〜100μmである微多孔樹脂フィルムであることを特徴とする請求項3に記載の電子部品用セパレータ。
- 前記シート状多孔質基材の融点が180℃を超すことを特徴とする請求項3に記載の電子部品用セパレータ。
- 樹脂フィルムの一面に、シート状多孔質基材を載置する工程、該シート状多孔質基材の上に、多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液を塗工する工程、形成された塗工層を乾燥して溶媒を除去することによってシート状多孔質基材の表面及び/又は内部に多孔質構造体を形成した積層体を得る工程、その後該積層体から樹脂フィルムを剥離する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる2種類のフィラー粒子を含み平均粒子径がaのフィラー粒子Aが、平均粒子径がbのフィラー粒子Bよりも大きい粒子であり、前記フィラー粒子A3個が隣接することによって形成される間隙の面積S A よりもフィラー粒子B1個の面積S B の方が大きいことを特徴とする電子部品用セパレータの製造方法。
- 樹脂フィルム上の一面に、多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液を塗工する工程、シート状多孔質基材を前記工程で得られた塗工層に重ね合わせる工程、その後、乾燥して溶媒を除去することによってシート状多孔質基材の表面及び/又は内部に多孔質構造体を形成した積層体を得る工程、その後該積層体から樹脂フィルムを剥離する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる2種類のフィラー粒子を含み平均粒子径がaのフィラー粒子Aが、平均粒子径がbのフィラー粒子Bよりも大きい粒子であり、前記フィラー粒子A3個が隣接することによって形成される間隙の面積S A よりもフィラー粒子B1個の面積S B の方が大きいことを特徴とする電子部品用セパレータの製造方法。
- 多孔質構造体を形成する樹脂と少なくとも該樹脂を溶解する良溶媒または良溶媒と貧溶媒の両方を含む塗布液に、シート状多孔質基材を含浸した後に余剰な塗布液を除去する工程、その後、乾燥して溶媒を除去するか、又は前記良溶媒及び貧溶媒を置換する液体中に浸漬して前記良溶媒及び貧溶媒を除去した後に更に乾燥により該良溶媒及び貧溶媒を置換する液体を除去する工程を有し、前記シート状多孔質基材及び/又は前記塗布液に平均粒子径が異なる2種類のフィラー粒子を含み平均粒子径がaのフィラー粒子Aが、平均粒子径がbのフィラー粒子Bよりも大きい粒子であり、前記フィラー粒子A3個が隣接することによって形成される間隙の面積S A よりもフィラー粒子B1個の面積S B の方が大きいことを特徴とする電子部品用セパレータの製造方法。
- 前記塗布液中に含まれる水分量がカールフィッシャー法による測定で0.7重量%以下であることを特徴とする請求項6乃至8のいずれか1項に記載の電子部品用セパレータの製造方法。
- 前記塗布液に含まれる貧溶媒の沸点が良溶媒の沸点よりも高いことを特徴とする請求項6乃至8のいずれか1項に記載の電子部品用セパレータの製造方法。
- 前記積層体から樹脂フィルムを剥離する強度が0.1〜75g/20mmであることを特徴とする請求項6または7に記載の電子部品用セパレータの製造方法。
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