JP4665774B2 - X線検査装置 - Google Patents
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Description
また、最近はII、CCDカメラからなるX線検出器に代えて、フラットパネルX線検出器を使用したX線検査装置も利用されている。
しかしながら、上述したように、透視X線像は被測定物の局所的な画像であるため、印刷されたX線画像を見ただけでは被測定物のどの位置をどの方向から見た画像であるかを知ることが困難なことがある。
そこで、本発明は、透視X線像を印刷出力する際に、後で、どの部分の透視X線像であるかが容易に把握できるように出力するX線検査装置を提供することを目的とする。
また、被測定物を載置するステージと、ステージを移動することによりX線測定光学系に対する被測定物の位置を3次元方向に移動するステージ駆動機構と、ステージとX線測定光学系との相対位置に応じて変化するX線画像の拡大率に対応させて表示させるマーカの形状を調整するマーカ調整部とを備えているので、被測定物とX線測定光学系との位置関係によって変化するX線画像の拡大率に応じてマーカの形状を調整することにより、光学カメラ画像上で、拡大率ごとにX線画像範囲に合わせた適切な形状のマーカを表示させることができる。
また、CPU21が処理する機能をブロック化して説明すると、X線画像作成部31、光学カメラ画像作成部32、マーカ付き光学カメラ画像作成部33、画像記憶部34、表示制御部35、駆動信号発生部36、画像印刷制御部37、マーカ調整部38とに分けられる。
また、メモリ25には、X線画像記憶領域51、マーカ付き光学カメラ画像記憶領域52、各種設定条件を記憶する設定条件記憶領域53とが設けられている。
ステージ駆動機構15は、XYZ方向の3軸方向駆動用モータ、回転駆動用モータが搭載され、CPU21からのステージ駆動のための駆動信号に基づいてステージ14を並進移動したり、回転移動したりする。
X線画像作成部31は、X線検出器12から送られてきた透視X線像の映像信号を、次々とデジタル画像に変換し、X線画像のコマ画像データを作成する制御を行う。
光学カメラ画像作成部32は、光学カメラ16により撮影した映像信号を、次々とデジタル画像に変換し、光学カメラ画像のコマ画像データを作成する。この光学カメラ画像は、X線画像よりも広い視野で撮影され、試料Sの全体像が写しだされている。
用紙61にはX線画像62が印刷されるとともに、同じ用紙の他の部分にマーカ付き光学カメラ画像63が印刷される。マーカ付き光学カメラ画像63には、X線画像62を撮影した領域に相当する部分に、マーカ64が付されている。通常、X線画像62の印刷データを見ただけでは、どの部分を透視したX線画像であるかを判断するのは困難であるが、同時に印刷されたマーカ付き光学カメラ画像63の印刷データを見ることにより、X線画像62の被測定物Sにおける撮影部分が一目瞭然となる。
11: X線発生装置(X線源)
12: X線検出器
13: X線測定光学系
14: ステージ
15: ステージ駆動機構
16: 光学カメラ
20: 制御系
21: CPU
24: 表示装置
25: メモリ
26: プリンタ
31: X線画像作成部
32: 光学カメラ画像作成部
33: マーカ付き光学カメラ画像作成部
34: 画像記憶部
37: 画像印刷制御部
38: マーカ調整部
51: X線画像記憶領域
52: マーカ付き光学カメラ画像記憶領域
53: 設定条件記憶領域
Claims (1)
- 被測定物を載置するステージと、
透視用X線を照射するX線源と被測定物の透視X線像を撮影するX線検出器とからなるX線測定光学系と、
ステージを移動することによりX線測定光学系に対する被測定物の位置を3次元方向に移動するステージ駆動機構と、
X線検出器に隣接し透視X線測定に支障をきたさないようにX線の測定視野から離れた位置に固定され、X線検出器による透視X線像より広い視野での被測定物の光学像を前記X線の視野とは異なる方向から直接撮影する光学カメラと、
透視X線像からX線画像を作成するX線画像作成部と、
光学像から光学カメラ画像を作成する光学カメラ画像作成部と、
同時に撮影された透視X線像と光学像とにより作成された一対のX線画像と光学カメラ画像との関係付けを行い、光学カメラとX線検出器との位置関係に基づいて、光学カメラ画像中における当該光学カメラ画像と関連付けがなされたX線画像の撮影位置を抽出し該当位置にマーカを付したマーカ付き光学カメラ画像を作成するマーカ付き光学カメラ画像作成部と、
ステージとX線測定光学系との相対位置に応じて変化するX線画像の拡大率に対応させてマーカの大きさを調整するマーカ調整部と、
X線画像および当該X線画像の撮影位置にマーカを付したマーカ付き光学カメラ画像とを蓄積する画像記憶部と、
プリンタと、
蓄積されたX線画像をプリンタにより印刷する際にそのX線画像に関係付けられたマーカ付き光学カメラ画像も印刷する画像印刷制御部とを備えたことを特徴とするX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006014016A JP4665774B2 (ja) | 2006-01-23 | 2006-01-23 | X線検査装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006014016A JP4665774B2 (ja) | 2006-01-23 | 2006-01-23 | X線検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2007198740A JP2007198740A (ja) | 2007-08-09 |
JP4665774B2 true JP4665774B2 (ja) | 2011-04-06 |
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Country Status (1)
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JP (1) | JP4665774B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10172578B2 (en) | 2015-07-23 | 2019-01-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray apparatus and system |
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-
2006
- 2006-01-23 JP JP2006014016A patent/JP4665774B2/ja not_active Expired - Fee Related
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US10542949B2 (en) | 2015-07-23 | 2020-01-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray apparatus and system |
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---|---|
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A621 | Written request for application examination |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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